JPS59114460A - 超音波探傷装置 - Google Patents

超音波探傷装置

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Publication number
JPS59114460A
JPS59114460A JP57225221A JP22522182A JPS59114460A JP S59114460 A JPS59114460 A JP S59114460A JP 57225221 A JP57225221 A JP 57225221A JP 22522182 A JP22522182 A JP 22522182A JP S59114460 A JPS59114460 A JP S59114460A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flaw detection
probe
ultrasonic flaw
detected
detection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57225221A
Other languages
English (en)
Inventor
Ichiro Furumura
古村 一朗
Kuniharu Uchida
内田 邦治
Satoshi Nagai
敏 長井
Taiji Hirasawa
平沢 泰治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP57225221A priority Critical patent/JPS59114460A/ja
Publication of JPS59114460A publication Critical patent/JPS59114460A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/26Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は金属材料の溶接部等に存在する欠陥を非破壊検
査するための自動超音波探傷装置において、特に探傷す
べき部位と常に一定の位置関係を保ちつつ動作する探触
子操作機構を備えた超音波探傷装置に関する。
〔発明の技術的背景〕
近年ミ金属材料等の材料内部に存在する欠陥を検出すべ
く行なわれる超音波探傷においては、探傷効率の向上や
連続的な記録を目的として、自動探傷の実施に対する要
求が増カルしてきている。そして従来、構造物の溶接部
等を検査する場合は、一般に第1図および第2図に示す
如き自動超音波探傷装置および探傷方法が採用されてい
る。即ち、第1図において被探傷面1に自動超音波探傷
装置の走行レール2が取付けられ、この走行レール2上
を探傷用走行台車3が移動する。また、この探傷用走行
台車3に取付けられている前後方向駆動部4が走行レー
ル2と直角方向に移動し、さらにその先端に例えば斜角
探触子5が取付けられている。従って、探触子5は第2
図(、) (b)に示す如く溶接部等の探傷対象領域6
に対して前後操作を行ないつつ走行レール2に沿って横
方向に移動し、操作線7に沼って探傷対象領域6の全範
囲を検査してゆく。
〔背景技術の問題点〕
さて、このような従来の自動超音波探傷においては、探
触子5の前後操作の範囲8は探傷装置に予め設定された
値によシ決められているが、このような方法では例えば
探傷すべき溶接部が直線でなく、蛇行している場合や走
行レール2の設置状況が適切でない場合には、探傷部6
と探触子5の相対的な位置関係が走行レール2上の位置
によシ異なってくる。従って、超音波ビームのビーム路
程が変化するために、欠陥の位置標定精度の低下をもた
らしたり、或いは探傷装置の監視範囲よシはずれてしま
う結果となる。
〔発明の目的〕
本発明は上記のような事情に鑑みて成されたもので、そ
の目的は探触子と探傷すべき対象部位との相対的な位置
関係を自動的に常に一定に保ちつつ確実な探傷を行なう
ことが可能な超音波探傷装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するために本発明では、溶接部等の被探
傷面に対して、探触子を前進、後退方向および該方向と
略直角方向に移動させて非破壊検査を自動的に行なう自
動超音波探傷装置において、前記探触子と一体に移動し
て被探傷面の探傷すべき対象部位を検出し且つこの検出
信号を前記前進移動から後退移動への反転信号として出
力する手段を具備したことを特徴とする。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を図面に示す一実施例について説明する。
第3図は、本発明による自動超音波探傷装置の構成例を
示すもので、第1図と同一部分には同一符号を付してそ
の説明を省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べ
る。図において、探傷用走行台車3上の前後方向駆動部
4には、探触子5と共に発光ダイオード等からなる発光
器9と、フォトトランジスタ等からなる受光器10を取
付けておシ、さらに探傷すべき対象部位表面上の基準と
なる位置に、光を反射する銀紙状のチーfilを貼シ付
けている。
またこの場合、前後方向駆動部4の前進操作によって探
触子5と共に発光器9および受光器10が探傷部位に前
進して近づいて行き、光ビーム12がチー7’JJによ
シ反射して受光器10によシ光が検出された時点で、探
触子5の後退開始の指令信号を探傷装置コントローラ1
3に送シ、且つ後退を開始した探触子5が探傷装置コン
トローラ13内に、予め設定された前後操作範囲の設定
値まで後退を行なったとき前進動作に反転するように構
成している。
かかる構成の超音波探傷装置とすることによシ、例えば
第4図に示す如く探傷すべき溶接部6等の対象部位が蛇
行している場合においても、探触子5と探傷す゛べき対
象部位の相対的な位置関係を常に一定に保ちつつ、操作
線7に沼って探傷することが可能となる。その結果、探
触子5よりみた探傷対象部位がビーム路程上で常に一定
の範囲内にあるため、欠陥の位置標定めるいは欠陥の大
きさ判定に際して精度良く探傷することが可能となり、
また探傷装置の監視範囲内の特定の位置にダートを設け
、このダート内のエコーのみに注目して検査する場合に
も極めて有効的である。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、次
のようにしても実施することができるものである。
まず、例えば第5図に示すように、特に溶接部を自動探
傷する場合に探傷すべき対象部位即ち溶接線を検知する
ために、前後方向駆動部4に探触子5と共に渦流探傷用
プローブ等の材料の電磁気的性質を検知する検出器14
を取付ける構成としてもよい。即ち本実施例は、金属材
料め溶接部において一般に溶着金属と母材部の電磁気的
性質が異なることに着自し、この差異を検知して探触子
5の前進操作を後退操作に反転させることによシ、探傷
すべき対象部位と探触子5の相対的な位置関係の定まっ
た探傷を行なうことを可能とするものである。
また、第6図は溶接線の余盛ちが存在す−る場合に有効
的な実施例であシ、前後方向駆動部4には探触子5と共
にマイクロスイッチ15を取シ付けている。このマイク
ロスイッチ15は、通常は被探傷表面1よシ若干間隔を
設けて取シ付けられるが、探触子5の前進動作によって
マイクロスイッチ15が余盛り16に接触し、溶接部を
検知して後退動作に反転させることKよシ、探傷すべき
溶接線と探触子5の相対的な位置関係の定まった探傷を
行なうことが可能となる。
更に、本発明は上述は各実施例に限定されるものではな
く、その他の方法によシ探傷すべき対象部位を検知する
手段を具備し、探触子5の前後操作をコントロールする
ものであれば、その容旨を変更しない範囲で種々に変形
して実施することが可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、探触子と共に前後
動作して探傷すべき対象部位を検知する手段を備えるよ
うにしたので、探傷すべき溶接線等が直線でなく蛇行し
ている場合や溶接線等の探傷方向に沿って設置した走行
レールの設置状況が最適でない場合においても、探傷す
べき対象部位と探触子の相対的な位置関係を自動的に常
に一定に保ちつつ確実な探傷を行゛なうことが可能な信
頼性の高い超音波探傷装置が提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図(a) (b)は従来の自動超音波
探傷装置の構成および探傷方法を示す図、第3図は本発
明の一実施例を示す構成図、第4図は本発明の詳細な説
明するための図、第5図および第6図は本発明の他の実
施例を示す構成図である。 2・・・走行レール、3・・・探傷用走行台車、4・・
・前後方向駆動部、5・・・探触子、6・・・探傷対象
領域、8・・・、操作線、9・・・発光器、10・・・
受光器、11・・・光反射チーブ、14・・・電磁気特
性検出ゾローブ、15・・・マイクロスイッチ。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第2図  (
a) 落 4 口

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)溶接部等の被探傷面に対して、探触子を前進、後
    退方向および該方向と略直角方向に移動させて非破壊検
    査を自動的に行なう自動超音波探傷装置において、前記
    探触子と一体に移動して被探傷面の探傷すべき対象部位
    を検出し且つこの検出信号を前記前進移動から後退移動
    への反転信号として出力する手段を具備したことを特徴
    とする超音波探傷装置。
  2. (2)探傷すべき対象部位の基準となる位置に光を反射
    する銀紙状のテープを貼シ付け、且つ自動操作する探触
    子と連結して取付けた発光器および受光器によシ該テー
    プの位置である探傷すべき部位を検出するようにした特
    許請求の範囲第(1)項記載の超音波探傷装置。
  3. (3)  自動操作する探触子と連結して取付けた渦流
    探傷用プローブ等の電磁気的性質を検知する検出器の出
    力により探傷すべき部位を検出するようにした特許請求
    の範囲第(1)項記載の超音波探傷装置。
  4. (4)溶接部等の余盛シ等に接触することによって動作
    するマイクロスイ、テを自動操作する探触子と連結して
    取付けることにより探傷すべき部位を検出するようにし
    た特許請求の範囲第(1)項記載の超音波探傷装置。
JP57225221A 1982-12-22 1982-12-22 超音波探傷装置 Pending JPS59114460A (ja)

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JPS59114460A true JPS59114460A (ja) 1984-07-02

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ID=16825883

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JP57225221A Pending JPS59114460A (ja) 1982-12-22 1982-12-22 超音波探傷装置

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