JPH05133942A

JPH05133942A - 無軌道式超音波探傷走行装置

Info

Publication number: JPH05133942A
Application number: JP3300737A
Authority: JP
Inventors: Kunihiro Mori; 邦弘森; Munenori Tsuge; 宗紀拓植; Yusuke Takemura; 祐介武村; Hiroyoshi Mogi; 寛悦茂木; Takahiro Arakawa; 敬弘荒川; Toshio Nakamura; 寿夫中村; Toshiaki Suzuki; 利昭鈴木; Fumio Sato; 文男佐藤; Yasuhito Tanaka; 康仁田中; Kayoko Hayakawa; 佳代子早川
Original assignee: IHI Corp; Tokyo Gas Co Ltd
Current assignee: IHI Corp; Tokyo Gas Co Ltd
Priority date: 1991-11-15
Filing date: 1991-11-15
Publication date: 1993-05-28

Abstract

(57)【要約】【目的】溶接ビード全体の探傷時間を大巾に減少させ
ることを可能とする。【構成】検査アーム１０の先端側に探触子走査アーム
１２を台車走行方向と交叉する方向に移動可能に装置
し、この探触子走査アーム１２に、溶接ビード６におけ
る欠陥箇所を広幅ビームで探索する粗探用超音波探触子
１３と、探索された欠陥箇所における溶接ビード６の実
際の傷の位置，大きさ等を狭幅ビームで探傷する精探用
超音波探触子１４とを設け、粗探用超音波探触子１３を
溶接ビード６に沿った直線走査で欠陥箇所を探索し、欠
陥箇所が判明してから精探用超音波探触子１４を矩形走
査して精密探傷を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、溶接ビード上を溶接線
に沿って走行し溶接ビードの超音波探傷を行う無軌道式
超音波探傷走行装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、タンク，原子炉，船舶，橋梁な
どの溶接部の非破壊検査は、これら溶接部の品質管理及
び品質評価を行う上で重要であり、溶接ビード上を溶接
線に沿って走行し溶接ビードの超音波探傷を行う装置に
おいて、永久磁石車輪を具備する自走台車に探触子走査
アームを台車走行方向と交叉する方向に移動可能に装置
した無軌道式の超音波探傷走行装置が提案されている。

【０００３】従来、この種の超音波探傷走行装置は、図
１２（ａ）に示すように主ビームに対して狭幅の絞られ
た超音波ビーム６２を放射する１種類の超音波探触子６
１を有し、この超音波ビーム６２を溶接ビード６に当て
且つビーム６２を振ることにより、即ち超音波探触子６
１を矢印６３方向に移動させることにより、１回に一定
体積分の超音波探傷を行っている。従って、溶接ビード
６の全長に亘る全体の検査をする場合、探傷走行装置を
上記一定体積分の前後に一部重なるように少しづつ徐々
に前進させながら、超音波探触子６１の位置移動（走
査）を行わせ、結果的に図１２（ｂ）に示すように超音
波探触子６１を矩形状の走査パターン６４で走査するこ
とになる。

【０００４】しかし、これでは溶接ビード全体を検査し
終えるのに相当の検査時間を必要とし、溶接ビードに欠
陥が全く無いか１箇所程度しか存在しない場合でも、同
じように長時間をかけて精密検査を実施しなければなら
ない。そこで、従来、超音波探触子６１の感度を下げた
状態（超音波ビーム６２のビーム幅は変えない）で、走
査パターン６４に従って走査して行くことでおおまかな
探傷を行い、必要箇所で精密探傷を行う技術が知られて
いる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の探傷走
行装置は、１種類の超音波探触子の感度を切り替えるだ
けであり、溶接ビード６の全長に渡る検査のためには、
おまかな探傷の場合にも精密検査の場合と同じ矩形状の
走査パターン６４を取らなければならず、走査長さは精
密探傷のみの場合と変わらない。従って、溶接ビード６
の全長全体を検査し終えるのに、やはり相当の検査時間
を必要とした。

【０００６】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
で、精密探傷が必要な有欠陥箇所を探索しながら溶接線
に沿って直線的に走行し、その有欠陥箇所が判明してか
ら当該位置で精密探傷を行うことを可能とし、全体の溶
接ビードの探傷時間を大巾に減少できる無軌道式超音波
探傷走行装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の無軌道式超音波探傷走行装置は、溶接ビー
ド上を溶接線に沿って走行し溶接ビードの超音波探傷を
行う装置において、永久磁石車輪を具備する自走台車に
探触子走査アームを台車走行方向と交叉する方向に移動
可能に装置し、この探触子走査アームに、溶接ビードに
おける有欠陥箇所を探索する粗探用超音波探触子と、探
索された有欠陥箇所における溶接ビードの実際の欠陥の
位置，大きさ等を探傷する精探用超音波探触子とを、そ
れぞれ押付け機構によって披検査面まで下降できるよう
に設けた構成のものである（請求項１）。

【０００８】上記粗探用超音波探触子は、被検査壁の片
面から広幅の超音波ビームを放射し溶接ビードの深さ方
向領域の前記片面と反対側部分を探傷する第１の探触子
と、前記被検査壁の片面から広幅の超音波ビームを放射
し前記片面と反対側の面で反射した超音波ビームにより
溶接ビードの深さ方向領域の前記片面側部分を探傷する
第２の探触子の双方、又はその一方を設けて構成する
（請求項２〜４）。

【０００９】

【作用】探傷走行装置は、押付け機構により粗探用超音
波探触子を披検査面まで下降することで、精密な検査
（精探）を行うべき有欠陥箇所があるかどうかを超音波
探傷法で大まかにチェック（粗探）しながら、タンク等
の溶接ビード上を溶接線に沿って直線的に移動すること
ができる。また、精探が必要な溶接ビード箇所を検出し
たときは、押付け機構により粗探用超音波探触子に代っ
て精探用超音波探触子を披検査面まで下降すことで、探
触子走査アームを台車走行方向と交叉する方向に移動さ
せながら、超音波探傷法により精密な溶接ビードの探傷
を行なうことができる。粗探で欠陥の存在が発見されな
い限り、探傷走行装置は溶接線に沿って直線的に走行す
るので、矩形走査パターンで連続的に探傷を行なう場合
に比べ、溶接ビードの全長に渡る検査に要する時間を大
巾に短縮することができる。

【００１０】上記第１の探触子（請求項１）は、溶接ビ
ードの深さ方向領域につき、探触子とは反対側の部分を
粗探傷するものであるから、例えば被検査壁の裏表のう
ち裏面側を探傷する用途に適する。また第２の探触子
（請求項３）は、溶接ビードの深さ方向領域につき、探
触子と同じ側の部分を粗探傷するものであるから、例え
ば被検査壁の裏表のうち表面側を探傷する用途に適す
る。第１，第２の両探触子を具備する場合は、被検査壁
の表側及び裏面側を同時に探傷することができる（請求
項４）。

【００１１】

【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づい
て詳述する。

【００１２】図１に示す探傷装置は、永久磁石車輪式の
探傷走行装置１と、これにケーブル２を介して接続され
た制御装置３と、探傷結果をドットによりグラフ化して
記録するプリンタ４とで構成されている。ここでの探傷
走行装置１は、精密探傷を行うべき有欠陥箇所の有無を
チェック（粗探探傷）しながら、球形タンク壁５の溶接
ビード６上を溶接線に沿って直線的に移動し、精密探傷
が必要な溶接ビード箇所を検出したときは当該位置に停
止して精密探傷を行い、その精密探傷後は、再び溶接線
に沿って有欠陥箇所を捜しながら移動し、必要位置で停
止して同様に精密探傷を行うといった操作を繰り返し、
以て球形タンクの全ての溶接ビードを検査することを目
的としている。

【００１３】探傷走行装置１は、被検査壁たるタンク壁
５に強力に磁気吸着する永久磁石車輪８を具備する自走
台車７と、それに設けられた軸９（図３）で枢支され図
３矢印Ａ方向に傾動可能な検査アーム１０とを有する。
この検査アーム１０の先端側には、ガイド板１１が走行
方向と交叉する方向に延在して且つ所定角度範囲（図２
のθ）内で旋回可能に設けられ、このガイド板１１の下
面には、粗探用超音波探触子１３及び精探用超音波探触
子１４（図２）を担持した探触子走査アーム１２が、ガ
イド板１１に沿って即ち台車走行方向と交叉する方向に
移動可能に装置されている。更に、検査アーム１０に
は、探触子走査アーム１２の前側と後側に、溶接ビード
位置センサ１５がそれぞれ１つ配設されている。

【００１４】探傷走行装置１は検査アーム１０を図３の
破線位置へ上げた状態で所要位置まで走行される。そし
て、検査すべき溶接ビード６上に来てから、検査アーム
１０が軸９を中心として前（図３矢印Ａ＋方向）に傾動
され、その先端側が球形タンク壁５に対し所定の下位置
（図３の実線位置）まで下げられる。この下位置を定め
る目的で、検査アーム１０には、上記探触子走査アーム
１２と溶接ビード位置センサ１５との間において、アー
ム支持ローラ１６（図３）が設けられている。大きな凹
凸に対して転がり要素で対応するため追従性が良く、ま
た押し付け機構１７，１８のストロークを有効に利用で
きるように探触子操作アーム１２の高さをほぼ一定に保
つことができる。

【００１５】粗探用超音波探触子１３は、溶接ビード６
における欠陥箇所の存在（傷の有無）だけを探索する粗
探用、また精探用超音波探触子１４は溶接ビード６にお
ける実際の傷の位置，大きさまでを探傷する精探用であ
り、互いに台車走行方向に前後した位置に配置され、そ
れぞれ斜角法により溶接ビード６の深さ方向の異なる位
置を探傷できるようになっている。本実施例では、粗探
用超音波探触子１３は探触子走査アーム１２の両側に２
個ずつ計４個設けられ、また精探用超音波探触子１４は
探触子走査アーム１２の両側に１個ずつ計２個設けられ
ている。尚、粗探用超音波探触子１３の方を精探用超音
波探触子１４よりも台車走行方向前側に配置している
が、精探用超音波探触子１４の方を前側に配置すること
もできる。

【００１６】上記２種類の超音波探触子１３，１４は放
射する超音波ビームの幅が相違しており、精探用超音波
探触子１４は主ビームに近い狭幅の超音波ビームを放射
するのに対し、粗探用超音波探触子１３は、図１１
（ａ）に示すように、主ビーム５１に対し拡がりのある
広幅の超音波ビーム５２を放射する。計４個の粗探用超
音波探触子１３の配置は、図１１（ａ）に示すように、
内側の粗探用超音波探触子（第１の探触子）１３１から
の超音波ビーム５２が溶接ビード６の深さ方向領域の背
面側約１／２を無反射でカバーし、外側の粗探用超音波
探触子（第２の探触子）１３２からの超音波ビーム５２
が溶接ビード６の深さ方向領域の表面側約１／２を、球
形タンク壁５で１回反射した後にカバーする関係になっ
ている。

【００１７】上記の個々の粗探用及び精探用超音波探触
子１３，１４は、専用の押付け機構１７，１８によって
個別に球形タンク壁５まで下降できるようになってい
る。１９はそれらの押付け機構１７，１８を構成する押
付けシリンダであり、更にリニアガイドベアリング２０
も使用されている。

【００１８】詳述するに、図４及び図５（ａ）（ｂ）に
おいて、探触子走査アーム１２を図４のＳ方向に摺動可
能に吊架するため、ガイド板１１の下面には探触子走査
アーム１２の板側縁に臨ませて４箇所（図２参照）に溝
付ローラ２１が設けてあり、他方、探触子走査アーム１
２上には、これらの溝付ローラ２１の溝内に係合する係
合縁２３を有するガイド板２２が固定されている。本実
施例では、探触子走査アーム１２は断面Ｕ字状に形成さ
れ、係合縁２３はこのＵ字断面の立縁上に板側縁に沿っ
て固定されている。

【００１９】一方、ガイド板１１を検査アーム１０に対
して旋回可能に取付け且つ上記探触子走査アーム１２の
走査駆動系を構成するため、ガイド板１１は検査アーム
１０に設けたベース部材２４に大径の軸受け２５を介し
て対接されると共に、その中央には両部材間を貫いて回
転軸２６が設けられ、軸受け２７によりガイド板１１及
びベース部材２４に対して回転可能となっている。この
回転軸２６には、検査アーム１０内においてスプロケッ
ト２８が、また探触子走査アーム１２のＵ字断面内にお
いてギヤ２９が固定され、両部材で上下からサンドイッ
チすることによりガイド板１１を検査アーム１０に支持
している。前者のスプロケット２８は、図４に示すよう
に、モータＭにより駆動されるスプロケット３０との間
に巻き掛けたチェーン３１により回転される。後者のギ
ヤ２９は探触子走査アーム１２の内側壁に固定したラッ
ク３２と噛合しており、従ってモータＭにより検査アー
ム１０に対して左右方向（図２のＳ方向）にガイド板１
１を移動することができる。

【００２０】図６及び図７において、上記探触子走査ア
ーム１２の下面には、上述した粗探用押付け機構１７を
構成する４つの押付けシリンダ１９と、精探用押付け機
構１８を構成する２つの押付けシリンダ１９とが取り付
けられ、そのピストンロッド１９ａの先端に、粗探用超
音波探触子１３又は精探用超音波探触子１４の取付部材
３３，３３′が軸３４，３４′により揺動自在に取り付
けられている。粗探用及び精探用超音波探触子１３，１
４は、この各取付部材３３，３３′及び軸３４，３４′
より成るジンバル支持機構により揺動自在に枢支され、
検査面に密接できるようになっている。粗探用超音波探
触子１３の数を精探用超音波探触子１４よりも多くした
のは、探触子走査アーム１２をＳ方向に移動（探触子を
走査）することなしに、精密探傷すべき傷のある箇所を
検出可能とするためである。探触子１３，１４は共に斜
角法による探傷を行うため、被検査面に密に対接するシ
ューに探触子本体を斜めに取り付けた構成となってい
る。尚、ガイド板１１は下面に吊架された探触子走査ア
ーム１２と共に、その全体が図２のθの範囲内で旋回で
きるため、台車走行方向に対する探触子走査アーム１２
の移動方向（走査方向）を修正できる。

【００２１】さて、上記超音波探傷走行装置１は、永久
磁石車輪８により球形タンク壁５に磁気的に吸着しつ
つ、溶接ビード６上を溶接線に沿って移動する。このと
き、探触子走査アーム１２はアーム支持ローラ１６によ
りほぼ一定の高さ位置に保持されており、粗探用超音波
探触子１３がタンク壁５に対接するまで下げられてい
る。超音波探傷走行装置１は一定の速度で走行（前進）
し、このとき粗探用超音波探触子１３の走査は図１１
（ｂ）に示すように直線走査パターン５４となり、この
粗探用超音波探触子１３により、自走台車７の前側に在
る溶接ビード６中に精密探傷すべき有欠陥箇所が在るか
否かが検出される。

【００２２】精密探傷が必要な有欠陥箇所が検出される
と、超音波探傷走行装置１は粗探用超音波探触子１３が
当該箇所を検出した時点で粗探用超音波探触子１３を上
げ、必要ならば少し前進して、精探用超音波探触子１４
が当該欠陥箇所の手前となる位置で停止する。そして、
精探用超音波探触子１４を下げて、図１１（ｂ）に示す
矩形走査パターン５５により精密な超音波探傷を行う。
この精密探傷においては、モータＭによる探触子走査ア
ーム１２の図２Ｓ方向走査と、超音波探傷走行装置１の
前進移動により、検査体積が規定ピッチで探傷走査さ
れ、これにより溶接ビード６における当該欠陥の実際の
位置及び傷の大きさまでが探傷される。その後、必要な
らば少し後進して、超音波探傷走行装置１は上記直線走
査パターン５４による粗探探傷を行いながら更に溶接線
６に沿って移動し、精密探傷が必要な有欠陥箇所が検出
されればその位置に停止し、同様に矩形走査パターン５
５による超音波精密探傷を行う。この操作を繰り返なが
ら、球形タンクの全ての溶接ビードを検査する。

【００２３】このように直線走査による粗探用超音波探
触子１３で精密探傷すべき箇所の有無を確認し、当該箇
所のみで精探用超音波探触子１４による溶接ビードの精
密探傷の矩形走査を実施すれば、溶接ビード全長に渡り
矩形走査による精密探傷のみ又は矩形走査による粗探と
精密探傷を行う場合に比べ、探傷に要する時間は激減す
る。

【００２４】上記探傷結果は、探傷走行装置１からケー
ブル２を介して制御装置３へ送られプリンタ４にてリア
ルタイムで出力される。このプリンタ４は、探傷結果を
ドットによりＡ，Ｂ，Ｃスコープとして記録する。Ａス
コープは波高値（パーセント）を，Ｂスコープは深さ方
向位置（ｍｍ）を，Ｃスコープは平面方向位置（ｍｍ）
を台車の移動距離に合わせてプリントアウトするもので
ある。

【００２５】溶接ビード位置センサ１５は、図８に示す
ように、“１”〜“４１”の番号を付した計４１個のコ
イル４１を平面的且つ千鳥状に密接に配列したコイルボ
ード４０を有している。電気的には、図９に示すよう
に、コイル４１と、その励磁用交流電源４３（図１０）
となる励磁回路（発振回路）４２との間にスイッチング
回路４４を設け、これをタイミング発生回路４５でスイ
ッチングして、図１０に示すような差動検出回路を順次
形成し、その出力をアンプ４６を通して検波回路４７に
導くようになっている。ここでコイル４１は、励磁コイ
ルＬ０１，励磁コイルＬ０２及び検出コイルＬ０３用と
して同時に３個が一単位として選択され、次のタイミン
グでは、この３個のうち一端側の１個のコイル４１が切
り離され且つ同時に他端側の１個のコイル４１が選択さ
れて新たに加えられるというようにして、順次に３個づ
つ選択されながら切り替えられて行く。従って、同じ１
個のコイル４１であっても、励磁コイルＬ０１，励磁コ
イルＬ０２，検出コイルＬ０３として機能することとな
る。両励磁コイルＬ０１，Ｌ０２の磁束は差動的に加え
られ、検出コイルＬ０３の出力は通常ゼロである。

【００２６】全てのコイル４１を上記のように順次切り
替えた場合、渦流探傷法の原理に基づき、下方の容器壁
表面の領域がスキャンされ、同期検波回路４７からは、
各検出コイルＬ０３につき当該スキャン領域中の部分部
分に応じた電圧が出力される。この１スキャン分の検出
アナログ信号（溶接ビード６の位置を中心として正負に
ピークが交叉する波形）は、制御装置３に送られる前又
は送られた後にＡ／Ｄ変換器によりディジタル信号に変
換され、データ処理されて、１スキャン領域中に存在す
る溶接ビード６が認識されると共に、その位置と現地点
まで走行装置１が走行してきた位置とのずれ量が把握さ
れる。このため、溶接ビード６に対し直角に超音波ビー
ムを当てる状態を保持することが可能となる。

【００２７】上記実施例では球形タンクを例にして説明
したが、本発明はこれに限定されるものではなく、原子
炉，船舶，橋梁などの任意の溶接部の非破壊検査におい
て溶接線の位置を検出するのに使用できる。また、アー
ム１０側に走行する前進探傷で説明したが後進探傷も可
能である。

【００２８】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、押
付け機構によってそれぞれ披検査面まで下降できる粗探
用超音波探触子と精探用超音波探触子を備えているた
め、粗探用超音波探触子で欠陥のある箇所を溶接ビード
に沿った直線走査で探索し、欠陥の存在が明らかになっ
た箇所で精探用超音波探触子を矩形走査して精密な探傷
を行うことができる。従って、溶接ビードの全長に渡り
矩形走査で精密探傷のみ又は粗探及び精密探傷を行う場
合に比べ、探傷検査を大巾に短縮することができる。

【００２９】また被検査壁の裏表のうち裏面側は第１の
探触子で、表面側は第２の探触子で探傷でき、第１，第
２の両探触子を具備する場合は、被検査壁の表面側及び
裏面側を同じ側から同時に探傷することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係る無軌道式超音波探傷走
行装置を示す概略図である。

【図２】図１の探傷走行装置の平面図である。

【図３】図１の探傷走行装置の正面図である。

【図４】図１の探触子走査アームの駆動系を示す図であ
る。

【図５】図４の検査アームに対する探触子走査アームの
取付構造を示す部分断面図である。

【図６】探触子走査アームの超音波探触子の取付構造を
示す端面である。

【図７】探触子走査アームの超音波探触子の取付構造を
示す部分正面である。

【図８】溶接ビード位置センサのコイルボードの平面図
である。

【図９】溶接ビード位置センサの電気回路構成の概要図
である。

【図１０】溶接ビード位置センサの検出回路の概念図で
ある。

【図１１】本発明の探傷走行装置における粗探及び走査
パターンの説明図である。

【図１２】従来の探傷走行装置における探傷及び走査パ
ターンの説明図である。

【符号の説明】

１探傷走行装置２ケーブル３制御装置４プリンタ５球形タンク壁（被検査壁）６溶接ビード７自走台車８永久磁石車輪９軸１０検査アーム１１ガイド板１２探触子走査アーム１３粗探用超音波探触子１４精探用超音波探触子１５溶接ビード位置センサ１６アーム支持ローラ１７，１８押付け機構１９押付けシリンダ２０リニアガイドベアリング２１溝付ローラ２２ガイド板２３係合縁２４ベース部材２５軸受け２６回転軸２７軸受け２８スプロケット２９ギヤ３０スプロケット３１チェーン３２ラック３３，３３′ 取付部材３４，３４′ 軸４０コイルボード４１コイル４２励磁回路（発振回路）４３励磁用交流源４４スイッチング回路４５タイミング発生回路４６アンプ４７検波回路５１主ビーム５２超音波ビーム５４走査パターン（直線走査）５５走査パターン（矩形走査）１３１第１の探触子１３２第２の探触子

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者武村祐介東京都江東区豊洲三丁目２番16号石川島播磨重工業株式会社豊洲総合事務所内 (72)発明者茂木寛悦東京都江東区豊洲三丁目２番16号石川島播磨重工業株式会社豊洲総合事務所内 (72)発明者荒川敬弘神奈川県横浜市磯子区新中原町１番地石川島播磨重工業株式会社技術研究所内 (72)発明者中村寿夫東京都江東区豊洲三丁目１番15号石川島播磨重工業株式会社東二テクニカルセンター内 (72)発明者鈴木利昭東京都江東区豊洲三丁目１番15号石川島播磨重工業株式会社東二テクニカルセンター内 (72)発明者佐藤文男東京都江東区豊洲三丁目１番15号石川島播磨重工業株式会社東二テクニカルセンター内 (72)発明者田中康仁東京都江東区豊洲三丁目１番15号石川島播磨重工業株式会社東二テクニカルセンター内 (72)発明者早川佳代子東京都江東区豊洲三丁目１番15号石川島播磨重工業株式会社東二テクニカルセンター内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】溶接ビード上を溶接線に沿って走行し溶
接ビードの超音波探傷を行う装置において、永久磁石車
輪を具備する自走台車に探触子走査アームを台車走行方
向と交叉する方向に移動可能に装置し、この探触子走査
アームに、溶接ビードにおける有欠陥箇所を探索する粗
探用超音波探触子と、探索された有欠陥箇所における溶
接ビードの実際の欠陥の位置，大きさ等を探傷する精探
用超音波探触子とを、それぞれ押付け機構によって被検
査面まで下降できるように設けたことを特徴とする無軌
道式超音波探傷走行装置。
【請求項２】上記粗探用超音波探触子は被検査壁の片
面から広幅の超音波ビームを放射し溶接ビードの深さ方
向領域の前記片面と反対側部分を探傷する探触子である
ことを特徴とする請求項１の無軌道式超音波探傷走行装
置。
【請求項３】上記粗探用超音波探触子は被検査壁の片
面から広幅の超音波ビームを放射し前記片面と反対側の
面で反射した超音波ビームにより溶接ビードの深さ方向
領域の前記片面側部分を探傷する探触子であることを特
徴とする請求項１の無軌道式超音波探傷走行装置。
【請求項４】上記粗探用超音波探触子は、被検査壁の
片面から広幅の超音波ビームを放射し溶接ビードの深さ
方向領域の前記片面と反対側部分を探傷する第１の探触
子と、前記被検査壁の片面から広幅の超音波ビームを放
射し前記片面と反対側の面で反射した超音波ビームによ
り溶接ビードの深さ方向領域の前記片面側部分を探傷す
る第２の探触子とから成ることを特徴とする請求項１の
無軌道式超音波探傷走行装置。