JPS5898164A - Method and device for attaching thin layer of coating material - Google Patents

Method and device for attaching thin layer of coating material

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Publication number
JPS5898164A
JPS5898164A JP19759681A JP19759681A JPS5898164A JP S5898164 A JPS5898164 A JP S5898164A JP 19759681 A JP19759681 A JP 19759681A JP 19759681 A JP19759681 A JP 19759681A JP S5898164 A JPS5898164 A JP S5898164A
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JP
Japan
Prior art keywords
substrate
coating
chamber
coating material
carrier
Prior art date
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Pending
Application number
JP19759681A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
アレクサンダ−・ゴツトマン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
PURESUKO Inc
Original Assignee
PURESUKO Inc
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Publication date
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  • Coating Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 コーティング材料の極めて薄い層を基板、即ち加工物に
付着させる必要性は色々多くの状況に2いて発生してい
る。例えば、薄いコーティングの調製は、一般に「チッ
プ」として知られている極小の半導体電子回路の製造に
2いて絶対必要な過程である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The need to apply extremely thin layers of coating materials to a substrate, or workpiece, arises in a variety of situations. For example, the preparation of thin coatings is an essential step in the manufacture of miniature semiconductor electronic circuits, commonly known as "chips."

実際、例えは厚さが1ミクロン以下の極めて薄いコーテ
ィングをつくることが必要である。さらに、半導体製品
の製造に2いて、希望する特性を有する電気回路を形成
するために半導体基板の表面部分を切刻せねばならぬこ
とが度々ある。その場合、半導体上に光硬化性樹脂材料
の薄い層をつくることが必要で、かつ該材料の層でコー
ティングすべき面が不均一であっても、その材料の層は
厚ざが均一であることが極めて重要である。
In fact, it is necessary to create very thin coatings, for example less than 1 micron thick. Furthermore, in the manufacture of semiconductor products, it is often necessary to cut away portions of the surface of a semiconductor substrate to form electrical circuits having desired characteristics. In that case, it is necessary to create a thin layer of photocurable resin material on the semiconductor, and even if the surface to be coated with the layer of material is uneven, the layer of material has a uniform thickness. This is extremely important.

特定の多くの問題の中の別の問題は、例えば縁部の盛上
りとして知られているものである。これはスピンコーテ
ィング方法を採用した際に発生するコーテイング材の厚
さか不均一であることである。さらに別の問題は液状層
の汚損の問題である。
Another problem among many specific problems is, for example, what is known as edge bulge. This is due to the uneven thickness of the coating material that occurs when the spin coating method is used. Yet another problem is that of fouling of the liquid layer.

したがって、本発明は液状材料の薄くて均一なコーティ
ングを施し、かつコーティングを乾燥きせる両速の連続
的な方法と、その方法を実施する適当な装置を提供する
Accordingly, the present invention provides a dual-speed continuous method for applying a thin, uniform coating of liquid material and drying the coating, and suitable equipment for carrying out the method.

このように、本発明によれは、 基板の一面が上方に面し、概ね水平位置に来るよう該基
板を配置し; 一定量の選定したコーテイング材を溶剤中に溶解させて
液体全形成し; 基板をコーテイング室内に位置させ; 該コーテイング室の雰囲気に蒸気状のコーテイング材の
溶剤を加え; 一定量の液体を前記基板の前記−面上に堆積させ; 前記基板を通る垂直軸線の周りで該基板を急速回転する
ことにより前記基板の一面上で液体を半径方向に拡散さ
せてその上にコーティングを形成し; コーディングきれた基板をコーテイング室から直接乾燥
室へ移し、 その後コーティングが乾燥するまで前記乾燥室内で前記
基板を力1熱する過程を含むことを特徴とする概ね平坦
な基板の一面に選定したコーテイング材の薄い層を付着
させる方法が提供される。
Thus, in accordance with the present invention: positioning the substrate so that one side of the substrate faces upwardly and in a generally horizontal position; dissolving an amount of the selected coating material in a solvent to form a liquid; positioning a substrate in a coating chamber; adding vaporous coating material solvent to the atmosphere of the coating chamber; depositing a quantity of liquid on the surface of the substrate; Spreading the liquid radially over one side of the substrate by rapidly rotating the substrate to form a coating thereon; transferring the coated substrate directly from the coating chamber to a drying chamber; and then drying the coated substrate until the coating is dry. A method for depositing a thin layer of a selected coating material on one side of a generally planar substrate is provided, the method comprising the step of heating the substrate to a single force in a drying chamber.

また、さらに本発明は、 コーテイング室を形成する装置と; 前記コーテイング室内に配設σれ、その上で基板を受取
力、かつ支持するようにしたターンテーブルと; 前記基板の表面に液状のコーテイング材を唯積ζせる装
置と; 前記コーテイング室の内側に液状コーテイング材の蒸発
した溶剤を加える装置と; 前記ターンテーブルを回転駆動し、前記基板の表面にわ
たり前記液状のコーテイング材を半径方向に拡散して、
その上に薄い層を形成する装置と;乾燥室を形成する装
置と; 前SLココ−ィング室内での溶剤圧力を実Ju的に乱す
ことなく前記、!ii−根を前記コーテイング室から前
記乾燥室へ移す装置と; 前記乾燥室に関連、し、前記の薄いコーティング層が乾
燥するまでコーティングきれた基&を加熱する装置とを
含むこと全特敵とする高速連続的な方法で概ね平坦な基
板に選定したコーテイング材の薄い層全付着させる装置
を提供する。
The present invention further provides a device for forming a coating chamber; a turntable disposed in the coating chamber and configured to receive and support the substrate; and a turntable for applying a liquid coating to the surface of the substrate. a device for adding evaporated solvent of the liquid coating material to the inside of the coating chamber; rotating the turntable to spread the liquid coating material in the radial direction over the surface of the substrate; do,
an apparatus for forming a thin layer thereon; an apparatus for forming a drying chamber; said without actually disturbing the solvent pressure in the pre-SL cocoing chamber! ii - a device for transferring the roots from said coating chamber to said drying chamber; associated with said drying chamber; and a device for heating the coated roots until said thin coating layer is dry; An apparatus is provided for depositing a thin layer of a selected coating material onto a generally flat substrate in a high speed continuous manner.

本発明によれば、基板を囲む雰囲気に選定したコーテイ
ング材の溶剤の蒸気が加えられ、一定量の選定したコー
テイング材が液状で基板に加えられ、次に基板が旋回、
即ち回転され液状のコーテイング材を半径方向外方に運
動させて基板の該当面全体に拡散させる。蒸気状の溶剤
の雰囲気がコーテイング材が液状を保つようにさせるこ
とによって、回転、即ち旋回作用がコーティングを形成
する表面に著しい不均一性があってもNさが全体的に均
一な薄いコーティングをつくり出す。
According to the invention, vapor of a solvent of a selected coating material is added to the atmosphere surrounding the substrate, a quantity of the selected coating material is applied to the substrate in liquid form, and the substrate is then rotated.
That is, it is rotated to move the liquid coating material radially outward and spread over the relevant surface of the substrate. The vaporous solvent atmosphere causes the coating material to remain in a liquid state, and the rotating or swirling action produces a thin coating with uniform N content throughout, even when there is significant non-uniformity in the surface forming the coating. Create.

本発明の好適実施例によれば、別個のコーティングYと
乾燥室とを有する装置が提供される。コーテイング室に
は蒸気状の溶剤の雰囲気が加えられるが、乾燥室には加
えられない。コーティングすべき基板に対してキャリア
、即ちベースか提供される。基板と、そのキャリアはま
づコーテイング室内におかれ、そこでコーティングが行
われ、次いで乾燥室へ搬送され、コーティングか乾燥さ
れる。
According to a preferred embodiment of the invention, an apparatus with separate coating Y and drying chamber is provided. A vaporous solvent atmosphere is added to the coating chamber, but not to the drying chamber. A carrier or base is provided for the substrate to be coated. The substrate and its carrier are first placed in a coating chamber, where the coating is applied, and then transported to a drying chamber, where the coating is dried.

本発明の別の特徴として、外の雰囲気に露出することな
く2個の室の間で基板とそのキャリアとを搬送する装置
が提供される。このように、基板とそのコーティングと
は全体のコーティングおよび乾燥の過程に2いて汚損か
ら保護される。
As another feature of the invention, an apparatus is provided for transporting a substrate and its carrier between two chambers without exposure to the outside atmosphere. In this way, the substrate and its coating are protected from contamination during the entire coating and drying process.

本発明の別の%徴として、液状のコーテイング材の溜め
装置がコーテイング室の底部と連通して設けられる。し
たがって、該溜め装置はコーテイング室の蒸気状溶剤の
ず囲気と接触している。したがって、基板とそのキャリ
アとが回転、即ち旋回している間基板から流れ落ちる余
分のコーテイング材は液状のままであり、何ら乾燥作用
やその他の損傷を受けることなく前記溜め装置に受取ら
れ、そのため完全に再利用できる。
As another feature of the invention, a reservoir for liquid coating material is provided in communication with the bottom of the coating chamber. The reservoir is therefore in contact with the vaporous solvent atmosphere of the coating chamber. Therefore, while the substrate and its carrier are rotating, i.e. pivoting, the excess coating material flowing off the substrate remains in liquid form and is received by said reservoir device without any drying effect or other damage and is therefore completely can be reused.

さらに別の本発明の特徴は連続で高速の製造方法に容易
に適合することである。ここに示す装置はそのような方
法に対する配備を含んでいる。詳細には、コーテイング
室を有する1台のコーテイング機と関連して作動するよ
う多数の乾燥室が設けられていることである。個々の乾
燥室にはコーティングすべき基板を担持したキャリアが
装入さ、f’LiBす;乾燥室がコーテイング機のコー
テイング室と連通ずるよう持ってこられ;キャリアと基
板とが乾燥室からコーテイング室へ搬送され;基板に対
してコーティング作業が行われ;キャリアと新しくコー
ティングされた基板とが乾燥室へ戻され;乾燥作業が開
始され、かつ乾燥室がコーテイング室から離されつつあ
る間続けられ;次いでコーティングすべき基板を備えた
別のキャリアを担持した別の乾燥室がコーテイング室と
連通ずるようもってこられ、全体の過程が繰返される。
Yet another feature of the invention is that it is easily adapted to continuous, high speed manufacturing processes. The apparatus shown here includes provision for such a method. In particular, a number of drying chambers are provided to operate in conjunction with one coating machine having a coating chamber. Each drying chamber is loaded with a carrier carrying a substrate to be coated, and the drying chamber is brought into communication with the coating chamber of the coating machine; the carrier and substrate are transferred from the drying chamber to the coating chamber. a coating operation is performed on the substrate; the carrier and the newly coated substrate are returned to the drying chamber; the drying operation begins and continues while the drying chamber is being moved away from the coating chamber; Another drying chamber carrying another carrier with the substrate to be coated is then brought into communication with the coating chamber and the whole process is repeated.

それが担持する基板と共に各キャリアがコーテイング室
内で蒸気状の溶剤の雰囲気を著しく損うことなく2個の
室の間で1般送をれるという事実によって、この方法の
高速性と冒効率とが達成される。
The high speed and efficiency of this method is due to the fact that each carrier along with the substrate it carries can be transported between the two chambers without significantly compromising the vaporous solvent atmosphere in the coating chamber. achieved.

したがって、蒸気状雰囲気を再度つくり出す上での時間
が何ら失われることはない。
Therefore, no time is lost in re-creating the vaporous atmosphere.

さて、本発明による連続製造方法を実施する装置を全体
的に示す第1図を参照する。作業者10は、その上に回
転ターレット組立体20が位置でれているテーブル11
に着座する。該ターレット20Fi垂直軸21に支持さ
れてPカ、4個の水平アーム22.23.24.25を
有している。該アームは前記軸の追部で共通平面に位W
されている。隣接するアームの間は90度厚されている
Reference is now made to FIG. 1, which generally shows an apparatus for carrying out the continuous manufacturing method according to the invention. An operator 10 is seated on a table 11 on which a rotating turret assembly 20 is positioned.
sit down. The turret 20Fi is supported by a vertical shaft 21 and has four horizontal arms 22, 23, 24, 25. The arms are located in a common plane at the addition of the shaft W
has been done. There is a 90 degree thickness between adjacent arms.

ターレットヘッド22a、23a、24δ、25aは対
応するターレットアームの端部に位1i4?すれている
The turret heads 22a, 23a, 24δ, 25a are located at the ends of the corresponding turret arms. It's faded.

シ、1図に示すようK、ターレットアーム25゜222
よび23け作業テーブル11の上方に位置しているが、
該チーぜルはターレットアーム24の位置の下方まで延
びていない。その代りに、ターレットヘッド24aの下
方にはコーテイング機50が設けられている。
K, turret arm 25°222 as shown in Figure 1
It is located above the 23-piece work table 11,
The cheeseel does not extend below the location of the turret arm 24. Instead, a coating machine 50 is provided below the turret head 24a.

第4図、第5図2よび第6図に示す基板用ベース、即ち
キャリア40がコーティングすべき基板Sを支持1−る
ために使用される。作業者10には一連の基板を積載し
たキャリア40が送られる。
A substrate base or carrier 40, shown in FIGS. 4, 5, 2 and 6, is used to support the substrate S to be coated. A carrier 40 loaded with a series of substrates is sent to the operator 10.

次いで、谷キャリア、即ち基板用ベースが作業者10が
着なしている右側のすぐのところで空のターレットヘッ
ドに積載される。第1図に示すよう1 に、この場合のターレットヘッドけ23aである。
A valley carrier, or substrate base, is then loaded onto the empty turret head just to the right of where the operator 10 is wearing. As shown in FIG. 1, 1 is the turret head holder 23a in this case.

第1図での当該ターレットヘッドの位置が積載区画と考
えられる。このターレットヘッドに基板が積載された後
、ターレツ)U90度回転することによって、次に新し
く積載されたターレットヘッドがコーテイング機50に
到来する。同時に、コーテイング機でコーティングされ
、その後コーテイング機から排出されたキャリア、即ち
基板用ベース40はターレットによって90度の角度運
動により搬送される。次に、第1図でターレットヘッド
25−の位置である冷却区画位置に達する。
The position of the turret head in FIG. 1 is considered the loading section. After the substrates are loaded on this turret head, the turret is rotated by 90 degrees so that the next newly loaded turret head arrives at the coating machine 50. At the same time, the carrier, that is, the substrate base 40 coated in the coating machine and then discharged from the coating machine, is conveyed by the turret with an angular movement of 90 degrees. Next, the cooling compartment location, which is the location of turret head 25- in FIG. 1, is reached.

次にターレットが回転すると、冷却区画に2けるキャリ
ア、即ち基板用ベースは作業者10の左側である積下ろ
し区画へ運動し、そこでターレットヘッドから下ろされ
る。第1図では積下ろし区画はターレットヘッド22a
が占めている。
As the turret then rotates, the carriers or substrate bases in the cooling compartment 2 are moved to the unloading compartment to the left of the operator 10 where they are unloaded from the turret head. In FIG. 1, the loading and unloading section is the turret head 22a.
is occupied by

さて、コーテイング機50を示す第2図を参照する。脚
51aによシ支持妊れたー・ウジング、即ち王フレーム
51は全体的に円筒状のタンクの形態であって、水平の
頂壁52と、該頂壁よ勺若干2 下方にある水平の隔壁53と、さらに下位置にある別の
水平隔壁54と、水平の底壁55とを有する。水平の隔
壁53け、核種53から−F方に延びた短い円筒状の壁
58により囲まれた中央開口57を有する。溶剤浴60
が水平の隔壁53の上面に配設されており、前記円藺状
壁58を囲む。ハウジング51の内部に溶剤浴60が連
続して介在するため、頂壁52と水平の隔壁54との間
の空間は蒸気状の溶剤で充満している。以下説明するよ
うに、詳細には本装置内の蒸気は飽和圧力レベルにある
。いわば飽和蒸気は雨滴のように作用し、ハウジングの
密閉雰囲気内でイミとか汚染物体の粒子を連続的に捕集
し、基板ならびにそのコーティングの汚染を防止する。
Reference is now made to FIG. 2, which shows coating machine 50. The main frame 51, supported by the legs 51a, is in the form of a cylindrical tank as a whole, with a horizontal top wall 52 and a horizontal wall 52 slightly below the top wall. It has a partition wall 53, another horizontal partition wall 54 located further down, and a horizontal bottom wall 55. It has 53 horizontal partition walls and a central opening 57 surrounded by a short cylindrical wall 58 extending from the nuclide 53 in the -F direction. Solvent bath 60
is arranged on the upper surface of the horizontal partition wall 53 and surrounds the circular wall 58. Since the solvent bath 60 is continuously disposed inside the housing 51, the space between the top wall 52 and the horizontal partition wall 54 is filled with vaporized solvent. Specifically, the steam within the apparatus is at a saturation pressure level, as explained below. The saturated steam acts like raindrops, continuously collecting dirt and other contaminant particles within the closed atmosphere of the housing, thereby preventing contamination of the substrate and its coating.

コーテイング機の重要な要素はターンテーブル70であ
って、該テーブルViその下側で細長いシャフト71に
より支持されている。第2図では、ターンテーブルはコ
ーティング作業に対して使用する、その下降位置で示さ
れている。ターンテーブルは、キャリア40がターレッ
トヘッドの1つに入れらね、て乾燥室から受取られるか
、あるいは乾燥室へ戻される際、第5図に示すようにそ
の上方位置へ持上げられる。
An important element of the coating machine is the turntable 70, which is supported by an elongated shaft 71 below the table Vi. In FIG. 2, the turntable is shown in its lowered position, used for coating operations. The turntable is lifted into its upper position as shown in FIG. 5 when the carrier 40 is placed into one of the turret heads and is received from or returned to the drying chamber.

液状の光硬化性樹脂材料81を入れたタンク80が第2
図に示すようにハウジング51の上方で、左側に位置さ
れている。弁82が、タンク80から配管83を介して
分配アーム、即ちチューブ84への前記光硬化性樹脂材
料の流量全制御する。前記分配アーム84の横方向位置
は後退可能アーム85によって制御され、該アームの方
はンレノイド86により制御される。詳細には、コーテ
ィング作業が開始される際、分配アーム84の下端、即
ち分配口は第2図に示すように、ターンテーブル70の
半径方向中心上に、したがって、また、キャリア40と
基板Sとの半径方向中心上に位置される。次いで、光硬
化性樹脂材料の必要量を下方へ流すに十分な短い時間弁
82が開放し、該材料は基板Sの半径方向中心に堆積さ
れる。この作業が完了すると、ンレノイド86が作動し
、アーム85を介して分配アーム84を水平面で回転さ
せ、したがって、隔壁53の中央開口57から完全に離
れるよう運動させる。
A tank 80 containing a liquid photocurable resin material 81 is a second tank.
As shown in the figure, it is located above the housing 51 and on the left side. A valve 82 controls the overall flow of the photoresist material from tank 80 via piping 83 to distribution arm or tube 84 . The lateral position of the distribution arm 84 is controlled by a retractable arm 85, which in turn is controlled by a lensoid 86. In particular, when the coating operation is started, the lower end of the dispensing arm 84, ie the dispensing opening, is positioned over the radial center of the turntable 70, and therefore also between the carrier 40 and the substrate S, as shown in FIG. located on the radial center of Valve 82 is then opened for a short period of time sufficient to allow the required amount of photoresist material to flow downwardly, depositing the material on the radial center of substrate S. Once this operation is completed, the lensoid 86 is actuated, causing the dispensing arm 84 via the arm 85 to rotate in a horizontal plane and thus move completely away from the central opening 57 of the septum 53.

全体的に円錐形状の収集袋[90が/・ウゾング51の
内部で、かつターンテーブル70の下方に位置されてい
る。第2図に示すように−1この収集装置はタンク51
の内壁に溶接され、かつ最下点が第2図に示すようにタ
ンクの右側に来るような角度で傾斜がつけられている。
A generally conical collection bag [90] is located inside the Uzong 51 and below the turntable 70. As shown in FIG.
It is welded to the inner wall of the tank, and is sloped at an angle such that the lowest point is on the right side of the tank, as shown in Figure 2.

余分の液状光硬化性樹脂材料91けこの地点で集められ
、永久装着チューブ92を介して瓶、即ち容器93中へ
と外方に流れる。該容器93は余分の光硬化性樹脂材料
の溜め装置として作用する。したがって、この余分の材
料は再利用できる。
Excess liquid photoresist material 91 is collected at this point and flows outwardly through a permanently attached tube 92 into a bottle or container 93. The container 93 acts as a reservoir for excess photocurable resin material. This extra material can therefore be reused.

前記隔壁53の中央開口57はターンテーブル70がそ
の中を容易に通過できるような寸法である。詳細には示
してないが、前記ターンテーブルの通過運動は、コーテ
ィングを要する基板を伴った新しいキャリアを受取った
り、あるいは新しくコーティングされた基板をその支持
キャリアと共に該基板が送られてきたターレットへ戻す
ために5 ターンテーブルが上昇する毎に発生する。
The central opening 57 of the bulkhead 53 is sized so that the turntable 70 can easily pass therethrough. Although not shown in detail, the passing movement of the turntable may receive a new carrier with a substrate requiring coating or return a newly coated substrate with its supporting carrier to the turret from which the substrate was sent. 5 Occurs every time the turntable rises.

−・ウジング51の内部で、かつ隔壁54の下方には全
体的に100で指示する回転駆動組立体か配設されて2
シ、該組立体はターンテーブル用のシャフト71と囲み
、回転駆動を加える。その回転駆動装置には通常のいず
れの構造を採用してよく、したがって本図面に示す回転
駆動機構の特定の詳細を説明する必要はない。
- Disposed within the housing 51 and below the bulkhead 54 is a rotary drive assembly generally designated 100;
The assembly is surrounded by a shaft 71 for the turntable to provide rotational drive. The rotary drive may employ any conventional construction, and therefore there is no need to describe the specific details of the rotary drive mechanism shown in this figure.

ターンテーブル用シャフト71け/・ウゾング51の底
壁55全通して、垂直の駆動機構110が位置されてい
る/・ウシングの下側にまで延びている。
A vertical drive mechanism 110 is located through the entire bottom wall 55 of the turntable shaft 71 and extends to the underside of the housing.

ターンテーブル用シャフト71の下端はスラストベアリ
ングによってスラストプレート111に担持されており
、該スラストベアリングが前記シャフト全前記プレート
に対して回転できるようにする。プレート111の方は
垂直駆動装置によって選択的に上昇、あるいは降下させ
ることができ、該駆動装置の主要要素は空気圧作動装f
112である。該垂直駆動装置は、この目的に対して適
当ないずれの機構を採用してよいので、ここでもそ6 の特定詳細を説明する必要はない。シャフト71で支持
された細長いキー72がターンテーブルの上昇、h−よ
び下降の面位置に2いて回転駆動装置と保合する。
The lower end of the turntable shaft 71 is carried by a thrust bearing on the thrust plate 111, which allows the shaft to rotate relative to the plate. The plate 111 can be selectively raised or lowered by a vertical drive, the main element of which is a pneumatic actuator f.
It is 112. The vertical drive may employ any suitable mechanism for this purpose, so there is no need here again to explain the specific details of Part 6. Elongated keys 72 supported by shaft 71 are engaged with the rotary drive at the turntable's up, h-, and down plane positions 2 .

キャリア、即ち基板用ベース40け真空によってその希
望位置で固定される。一方がコーテイング機50で、他
方がターレット20で、2個の個別の真空装置が使用さ
れている。一般に、コーテイング機の内部の真空装置は
キャリア40を該コーテイング機内でターンテーブル7
0上に保持するために使用される。ターレット中の真空
装置はその関連のターレットヘッド内でキャリアを保持
するために使用される。キャリアが乾燥室(ターレット
ヘッド)からコーテイング室に、あるいはその逆に搬送
されるときは、一方の真空装置を解放し、他を作動させ
ることが必要である。この技術自体は新規ではないが、
それが本発明の装置に3いて実施されている要領を説明
することが有用であることは容易に理Mされる。
The carrier or substrate base 40 is fixed in its desired position by vacuum. Two separate vacuum systems are used, one in the coating machine 50 and the other in the turret 20. Generally, a vacuum system inside the coating machine moves the carrier 40 to the turntable 7 within the coating machine.
Used to hold above 0. A vacuum system in the turret is used to hold the carrier within its associated turret head. When the carrier is transferred from the drying chamber (turret head) to the coating chamber or vice versa, it is necessary to release one vacuum device and activate the other. Although this technology itself is not new,
It will be readily appreciated that it is useful to explain how this is implemented in the apparatus of the present invention.

第2図に示すように、真空発生装侮120はホース12
1と回転可能カップリング122とを介して、その長さ
に′I−)たり中空のターンテーブル用シャフト71の
下端に連結されている。このように、第6図と第7図と
から最もよく判るように、内部通路T5はシャフト71
の上端まで延び、ターンチーグル70の上面に形成され
た半径方向に延びる複数の溝77へと開放している。該
溝の半径方向の長ざは第4図2よび第5図に示すように
基板用ベース、即ちキャリア40の半径方向長さより著
しく小さい。
As shown in FIG.
1 and a rotatable coupling 122, the turntable shaft 71 is connected to the lower end of the hollow turntable shaft 71 in its length. Thus, as best seen in FIGS. 6 and 7, the internal passageway T5 is connected to the shaft 71.
It extends to the upper end and opens into a plurality of radially extending grooves 77 formed on the upper surface of the turn cheagle 70 . The radial length of the groove is significantly smaller than the radial length of the substrate base or carrier 40, as shown in FIGS. 42 and 5.

このように、基板用ベース、即ちキャリア40がターン
チーグルTO上に支持されるとき、その平坦な下面が真
空通路75の上端を完全に覆い、かつ、全ての半径方向
の溝77の上側を囲む。真空密封リング78が前記溝7
7の半径方向外端よシ短い距離外側に位置したターンテ
ーブル70の上面の円周方向溝に支持されている。通路
75と溝77 k ;Ih L、て連通する宵祭がター
ンテーブルに対してキャリア40を下方に引張り、該密
封リング78が雰囲気、あ/Dいは溶剤の蒸気が〆〔空
装置へ著しく漏洩しないようにしている。
Thus, when the substrate base or carrier 40 is supported on the turntable TO, its flat underside completely covers the upper end of the vacuum passage 75 and surrounds the upper side of all radial grooves 77. . A vacuum sealing ring 78 is attached to the groove 7.
The turntable 70 is supported by a circumferential groove on the upper surface of the turntable 70, which is located a short distance outside the radially outer end of the turntable 70. The passageway 75 and the groove 77k; I try not to.

また、ターンテーブル70けその外周近くの円周溝に位
置した密封リング79を備えている。−・ウゾング51
0頂壁52は、その甲を基板用ベース、即ちキャリア4
0が通過てきるようにするに十分な中央開口52aを有
する。第2図と第5図とを参照。キャリアが室の間で搬
送きれているときのコーテイング機の各部材の間の相対
関係を第5図に示す。ターンテーブル70の上面にある
外側の密封シールリング79ば−・ウシングの共通壁5
2の下側と係合することによって、溶剤の蒸気がコーテ
イング室から乾燥室へと逃げないようにする。
The turntable 70 also includes a sealing ring 79 located in a circumferential groove near the outer periphery of the turntable 70 . -・Uzong 51
0 top wall 52 has its instep connected to the substrate base, that is, the carrier 4.
It has a central opening 52a large enough to allow 0 to pass through. See Figures 2 and 5. FIG. 5 shows the relative relationships among the various members of the coating machine when the carrier is completely transferred between the chambers. The outer sealing ring 79 on the top surface of the turntable 70 and the common wall 5 of the ussing
2 prevents solvent vapor from escaping from the coating chamber to the drying chamber.

第2図と第5図とに示すターレットアーム24は中空で
その内部に真空配管を含む。第2図と第5図とに示すタ
ーレットヘッド24aはキャリア40を受取〃、真空吸
引により保持するようにされている。第6図に示すよう
に、ターレットヘッドはその円周方向の下面120にお
いて、ターンテーブルにあるものと類似の内plJwよ
び外(111昌ぞ封9 リング121.122を有する。第5図に示すように、
外側の密封リング122は−・ウシングの頂壁52の上
面と係合し、外気が本装置の内部へ入らぬようにしてい
る。内側の密封リング121はキトリア40の平坦な上
面と係合し、キャリアを支持するに必要な真空吸引を保
持する。
The turret arm 24 shown in FIGS. 2 and 5 is hollow and includes vacuum piping therein. Turret head 24a, shown in FIGS. 2 and 5, is adapted to receive carrier 40 and retain it by vacuum suction. As shown in FIG. 6, the turret head has on its circumferential lower surface 120 inner and outer rings 121, 122 similar to those on the turntable. like,
An outer sealing ring 122 engages the top surface of the housing top wall 52 to prevent outside air from entering the interior of the device. Inner sealing ring 121 engages the flat top surface of kitria 40 and maintains the vacuum suction necessary to support the carrier.

多分第4図から最もよく判ると思うが、キャリア、即ち
基板用ベース40は全体的に台形であるが段付きの円周
面を有する形態で配置されている。
As can probably be seen best from FIG. 4, the carrier or substrate base 40 is generally trapezoidal but arranged with a stepped circumferential surface.

このように、第1の、即ち外側の平坦面41はターレッ
トヘッドの密封リング121と密封係合するようにきれ
ている。詳細に指示していないが、第2の、わずかに高
い段には平坦な金属製リング42が水久装着妊れている
。第6の、高い段にはそれより直径の小ざい平坦なリン
グ43が永久装着されている。キャリア40の中央部分
けさらに高くされてPす、第6図と第4図とから最もよ
く判るようにその全体面にわたり平坦な加熱パッド44
を備えている。前記平坦な加熱パッド44と外側の接触
リング42との間の接続42aは内側0 の接触リング43の下k iMるキャリアの上面の内側
溝、即ちくぼみを通して設けられている。また、内側の
接触リング43と加熱パッド44との間にも接続43a
がなされている。
Thus, the first or outer planar surface 41 is cut into sealing engagement with the sealing ring 121 of the turret head. Although not specified in detail, the second, slightly higher step is fitted with a flat metal ring 42. A flat ring 43 of smaller diameter is permanently attached to the sixth, higher step. The central part of the carrier 40 is raised further and has a heating pad 44 which is flat over its entire surface, as best seen in FIGS. 6 and 4.
It is equipped with The connection 42a between the flat heating pad 44 and the outer contact ring 42 is provided through an inner groove or recess in the upper surface of the carrier below the inner contact ring 43. There is also a connection 43a between the inner contact ring 43 and the heating pad 44.
is being done.

ターレットヘッド7、4 a (cl:′循気回路配線
126に接続きれたd′ね装着の内部接点125を含む
The turret head 7, 4a (cl:' includes internal contacts 125 mounted on d', which are connected to the circulation circuit wiring 126).

捷た、電気回路配線128に接続されたばね装着の外部
接点127も含む。キャリア40がターレットヘッドの
内部に完全に受取られると、ばね接虚125 、177
 (dそれぞれ外(lllの電気接点43゜42と接触
する。適当時間配線126.128に電気エイルヤが(
ji給され、加熱パッド44全通して電流を流し、キャ
リア40の上面に加熱作用を提供する。
Also included is a spring-loaded external contact 127 connected to the twisted electrical circuit wiring 128. When the carrier 40 is fully received inside the turret head, the spring contacts 125, 177
(d) Contact the electrical contacts 43 and 42 of the external (llll) respectively. For an appropriate time, the electric wires 126 and 128 are connected to the electrical contacts (
ji is supplied, passing a current through the heating pad 44 to provide a heating effect on the top surface of the carrier 40.

基板Sは一般的にに”半導体材料の極めて薄いウェハで
あって、図面では図示目的のためそのNを誇張して示し
ている。基板Sは加熱パッド44の平坦な上面上に位置
している。第6図参照。該基板は6個のビン、即ち停止
部材P一式により適所に保持されてトL該ビンはその周
囲で120度の間隔を千3・いて位置きれている。各ビ
ンは基板の横方向縁面と倍合する鋭い垂直縁部をイコす
るが、ビンは基板の上面上全通過しない。例えば、第4
図と第6図におい7Tは、fンPが基板の上面上を通る
ように示されているようであるが、実際には第6図から
明瞭に判るようにそうではない。
Substrate S is typically a very thin wafer of semiconductor material, with N shown exaggerated in the drawings for illustrative purposes. Substrate S is located on the flat top surface of heating pad 44. See Figure 6. The substrate is held in place by a set of six bins, or stops P, which are spaced 120 degrees apart around the circumference. A sharp vertical edge that doubles with the lateral edge surface of the substrate, but the bottle does not pass all the way over the top surface of the substrate.
In the figure and in FIG. 6, 7T appears to be shown with fnP passing over the top surface of the substrate, but in reality this is not the case as clearly seen in FIG.

このように、基板Sけキャリア40上に置くことができ
、キャリアが該基板をコーティングおよび乾燥過程を搬
送する。次いで、完全にコーティングされた基板はキャ
リアから取シ外しでき、該キャリアはその過程を繰返す
ため別の基板を受取れる状態となる。
In this way, the substrate can be placed on the carrier 40, which transports the substrate through the coating and drying process. The fully coated substrate can then be removed from the carrier, and the carrier is ready to receive another substrate to repeat the process.

第1図に示す製造機械の作動に2いて、ターレット20
は同方向であるが、一時に一段階順次回転する。またタ
ーレットは各段階の回転に伴って上昇、降下させられる
。ターレットは開口52−からキャリア40を取シ出し
、かつ室の頂壁゛5゛2の上方で空間を提供するよう上
昇する。ターレットを上昇させると、ターレットヘッド
とコーテイング機との間の密封関係は密封リング122
のところではなくなるが、キャリア40との真空密封は
ンール121のところで有効である。この時、ターンデ
ープル70けその上側で壁52と保合状!川に留まp、
ハウジングの内側の浴剤の雰囲気を保っている。
During the operation of the manufacturing machine shown in FIG. 1, the turret 20
are in the same direction, but sequentially rotate one step at a time. The turret is also raised and lowered as it rotates through each stage. The turret lifts the carrier 40 out of the opening 52- and provides space above the top wall 52 of the chamber. When the turret is raised, the sealing relationship between the turret head and the coating machine is established by sealing ring 122.
Vacuum sealing with the carrier 40 is effective at the nozzle 121, although it is no longer present at the nozzle 121. At this time, the upper side of the turntable 70 is connected to the wall 52! Stay in the river,
Maintains the bath salt atmosphere inside the housing.

コーティングすべき基板を備えた新しいキャリアが所定
位置にもってこられると、ターレットが下げられ、関連
したターレットヘッドが壁52と係合する。ターレット
アームから供給される真空吸引力・、ターレットヘッド
からキャリアを解放するためにしゃ断される。真空発生
装置120からターンテーブルへ真空が供給される。次
いで、ターンテーブルV才その下方位置へ降下する。
When a new carrier with a substrate to be coated is brought into position, the turret is lowered and the associated turret head engages the wall 52. The vacuum suction power supplied from the turret arm is cut off to release the carrier from the turret head. Vacuum is supplied to the turntable from a vacuum generator 120. The turntable then descends to its lower position.

第2図に示すように、次の過程で分配アーム84、をそ
の作動位置へ回転させる。次いで弁32が作動して基板
Sの面に一定量の光硬化性樹脂全解放する。次いで回転
駆動装置100か作動してターンテーブルを回転きせる
。半導体ウェハのコーティング勿行う板台、ターンテー
ブルは約3.0.0 Orpmの速さで、相、ね1分間
回転はせる。次に、[凹転駆6 動装置が切られる。
As shown in FIG. 2, the next step is to rotate the dispensing arm 84 to its operative position. Then, the valve 32 is activated to completely release a certain amount of the photocurable resin onto the surface of the substrate S. Next, the rotation drive device 100 is operated to rotate the turntable. The turntable, which is used to coat semiconductor wafers, is rotated for 1 minute at a speed of about 3.0.0 rpm. Next, the concave rolling drive device is turned off.

一方分配アーム84の方はすでに移動させられている。Distribution arm 84, on the other hand, has already been moved.

今や、ターンテブルが第5図に示すように・・ウゾング
の上壁52と係合するまで上昇させられる。この時限定
された量の溶剤蒸気が乾燥室内で捕捉される。この時、
電気回路126゜128が付勢し、基板を加熱させ、コ
ーティングの乾燥葡開始する。ターレットヘッドへの真
空の供給が再開する。ターンテーブルへの真空供給がし
ゃ断される。今や、ターレットが上昇をせられキャリア
40とコーディングされた基板8とを運ぶ。キャリアが
コーテイング機から取出された後乾燥作業がある時間続
けられる。
The turntable is now raised until it engages the upper wall 52 of the uzong, as shown in FIG. A limited amount of solvent vapor is then trapped within the drying chamber. At this time,
Electrical circuits 126 and 128 are energized to heat the substrate and begin drying the coating. Vacuum supply to the turret head is resumed. The vacuum supply to the turntable is cut off. The turret is now raised and carries the carrier 40 and the coated substrate 8. The drying operation is continued for a period of time after the carrier is removed from the coating machine.

キャリアをコーテイング機に装入し、基板をコーティン
グし、かつコーティングした基板と共にキャリア全コー
テイング機から取シ出すに要する時間は2分のオーダで
ある。このように、本機は連続的な方法で1時間当り極
めて多くの基板のコーティングが可能である。乾燥時間
を延ばしたい場合には、ターレットに多くのアームを備
えるこ4 とKより各基板のコーティングの乾燥時間はコーテイン
グ機内で基板が実際に費す時間の何倍にもなる。
The time required to load the carrier into the coating machine, coat the substrate, and remove the entire carrier from the coating machine with the coated substrate is on the order of two minutes. Thus, the machine is capable of coating a large number of substrates per hour in a continuous manner. If it is desired to extend the drying time, the turret can be equipped with more arms.4 This results in the drying time of each substrate's coating being many times the time that the substrate actually spends in the coating machine.

本発明を、少なくともその一実施例を完全公開すること
により特許法を満足させるためにかなり詳細に説明して
きたが、その詳細な説明は本発明の広義の特徴、あるい
け原理、あるいけ特許請求の範囲を何ら限定する意図を
もつものではない。
Although the present invention has been described in considerable detail in order to satisfy patent law by fully disclosing at least one embodiment thereof, the detailed description is limited to the broad features of the invention, certain principles, and certain patent claims. It is not intended to limit the scope in any way.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による連続製造機械の上1n1図;第2
図は第1図の線2−2よりみた側断面図で、コーティン
グPよび乾燥装置を示し; 卯16図はその上に基板用ペースを担持したターンテー
ブルを示す第2図の線ろ−6よりみた上面図; 第4図は下方位置、即ちコーティング位置におけるター
ンテーブル組立体と基板用ベースとの側断面図; 第5図はコーティング♀と乾燥室との間で垂直運動中の
基板用ペースを示す側断面図;第6図は第5図と類似の
図面であるが、乾燥室内でターンテーブルから持上げら
れた後の基板用べ一ヌ全示す図面; 第7図は第6図の線7−7よりみたターンテーブル組立
体の破断上面図である。 図において、 2、2 、23 、24 、25・・・ターレットアー
ム、22a、23a、24a、25a・・・アームヘッ
ド、40・・・キャリア、44・・・加熱パッド、50
・・・コーディング機、51・・・主フレーム、70・
・・ターンテーブル、80・・・タンク、84・・・分
配アーム、90・・・溜め装置、100・・・回転駆動
組立体、110・・・駆#1機構、120・・・真空発
生°装置、126.128・・・配線、S・・・基板、
P・・・停止部材。 代理人 浅 村  皓 外4名
Figure 1 is the top 1n1 diagram of the continuous manufacturing machine according to the present invention;
The figure is a side sectional view taken along line 2--2 in FIG. 1, showing the coating P and the drying device; FIG. 4 is a side cross-sectional view of the turntable assembly and substrate base in the downward or coating position; FIG. 5 is a side view of the substrate base during vertical movement between the coating ♀ and the drying chamber. FIG. 6 is a drawing similar to FIG. 5, but showing the entire board board after it has been lifted from the turntable in the drying chamber; FIG. 7 is a drawing along the lines of FIG. 6. 7-7 is a cutaway top view of the turntable assembly; FIG. In the figure, 2, 2, 23, 24, 25...Turret arm, 22a, 23a, 24a, 25a...Arm head, 40...Carrier, 44...Heating pad, 50
... Coding machine, 51 ... Main frame, 70.
... Turntable, 80 ... Tank, 84 ... Distribution arm, 90 ... Reservoir device, 100 ... Rotation drive assembly, 110 ... Drive #1 mechanism, 120 ... Vacuum generation ° Device, 126.128...Wiring, S...Substrate,
P...stop member. Representatives: Asamura and 4 people

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)概ね平坦な基板の一面に選定したコーティング材
料の薄い層を付着させる方法に2いて、基板の前記−面
が上方に向いた、概ね水平の位置にあるように基板を配
置し; 一定量の選定したコーテイング材を溶剤に溶解して液体
を形成し; 基板をコーテイング室に位置させ; 該コーテイング室の雰囲気にコーテイング材の溶剤を蒸
気状で加え; 一定量の液体を前記基板の一面上に堆積し;前記基板を
通過する垂直軸線の周シで該基板を急速回転はせて前記
液体を前記基板の一面上で半径方向に拡散はせて、その
上にコーティングを形成し; 次いでコーティングこれた基板を前記蒸気溶剤を加えた
コーテイング室から直接乾燥室へ搬送し、かつ コーティングが乾燥するまで前記乾燥室内で基板を加熱
する過程を含むことを特徴とする選定されたコーテイン
グ材の薄い層を付着させる方法。 (2、特許請求の範囲第1項に記載の方法において、前
記基板の面に形成された前記コーティングが前記切刻面
部分上、3よび、その間の双方に2いて概ね均一な厚さ
の薄いコーティングであることを特徴とする選定された
コーテイング材の薄い層を付着きせる方法。 (3)%許請求の範囲第1項に記載の方法に3いて、コ
ーティングされた基板が乾燥室へ搬送されると、限定さ
れた量の溶剤蒸気が乾燥室に入れられ、次いでコーテイ
ング室が密封されることを特徴とする選定されたコーテ
イング材の薄い層を付着させる方法。 (4)  コーテイング室を形成する装置と;該コーテ
イング室の内部に配置され、その上で基板を受取り、か
つ支持するようにきれたターンテーブルと; 基板の面に液状のコーテイング材を堆積させる装置と; 前記コーテイング室の内側に液状コーテイング材のため
に蒸気状の溶剤を加える装置と;前記ターンテーブルを
回転駆動し基板の前記面にわたって前記液状のコーティ
ングf;A′を半径方向に拡散きせる装置と; 乾燥室を形成する装置と; t41−1 ttfコーティング室内での溶剤順方を実
質的に乱すことなく基板を前記コーテイング室から前記
乾燥室へ搬送する装置と; 前記乾燥室に付属し、前記の薄い層が乾燥するまでコー
ティングきれた基板を加熱する装置とを組合せて含むこ
とを特徴とする高速、連続的な方法によって概ね平坦な
基板に選定でれたコーテイング材の薄い層を付着させる
装置っ (5)特許請求の範囲第4項に記載の装置に寂いて、基
質の表面から流れ落ちる余分の液体を溜めるために、@
記コーティング室に関連し、かつ蒸気状溶剤を加えた雰
囲気に露出されている液体溜め装置をざらに含むことを
特徴とする選定されたコーテイング材の薄い層を付着さ
せる装置。 (6)特許請求の範囲第5項に記載の装置に2いて、基
板を支持するキャリアを含み、前記搬送装置がその上に
基板を支持したキャリアを前記コーテイング室から前記
乾燥室へと搬送するようにされていることを特徴とする
選定されたコーテイング材の薄い層を付着させる装置。 (7)特許請求の範囲第6項に記載の装置において、前
記乾燥室が基板を加熱するために前記キャリアを通して
電流を送る装Rを含むととを特徴とする選定きれたコー
テイング材の薄い層を付着きせる装置。
Claims: (1) a method for depositing a thin layer of a selected coating material on one side of a generally planar substrate, the second side of the substrate being in an upwardly facing, generally horizontal position; arranging a substrate; dissolving a quantity of a selected coating material in a solvent to form a liquid; positioning the substrate in a coating chamber; adding a coating solvent in vapor form to the atmosphere of the coating chamber; depositing a liquid on one side of the substrate; rapidly rotating the substrate about a vertical axis passing through the substrate to spread the liquid radially over one side of the substrate; forming a coating; and then transporting the coated substrate directly from the coating chamber with the vapor solvent to a drying chamber and heating the substrate in the drying chamber until the coating is dry. method of applying a thin layer of coated coating material. 2. The method according to claim 1, wherein the coating formed on the surface of the substrate has a thin, generally uniform thickness both on and between the cut surface portions. 3. A method of depositing a thin layer of a selected coating material, characterized in that the coated substrate is transported to a drying chamber. (4) Forming the coating chamber. (4) Forming the coating chamber. an apparatus; a turntable disposed within the coating chamber and configured to receive and support a substrate thereon; an apparatus for depositing a liquid coating material on the surface of the substrate; an apparatus within the coating chamber; a device for adding a vaporous solvent for the liquid coating material; a device for rotationally driving the turntable to spread the liquid coating f; A′ over the surface of the substrate in a radial direction; a device for forming a drying chamber; and; t41-1 a device for transporting the substrate from the coating chamber to the drying chamber without substantially disturbing the solvent order within the TTF coating chamber; Apparatus for depositing a thin layer of a selected coating material on a generally flat substrate by a high-speed, continuous method characterized in that the apparatus comprises in combination a device for heating the coated substrate. In order to collect excess liquid that runs off the surface of the substrate in the device described in Section 4,
Apparatus for depositing a thin layer of a selected coating material, characterized in that it generally includes a liquid reservoir associated with the coating chamber and exposed to an atmosphere containing a vaporous solvent. (6) The apparatus according to claim 5 includes a carrier that supports a substrate, and the conveying device conveys the carrier on which the substrate is supported from the coating chamber to the drying chamber. Apparatus for depositing a thin layer of a selected coating material, characterized in that: 7. An apparatus according to claim 6, characterized in that the drying chamber includes a device R for transmitting an electric current through the carrier to heat the substrate. A device that makes it stick.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5128466A (en) * 1974-09-03 1976-03-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd Kyoshijoha bunshukairo

Patent Citations (1)

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