JPS5897507U - 螢光x線膜厚計に於ける治具体 - Google Patents

螢光x線膜厚計に於ける治具体

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JPS5897507U
JPS5897507U JP19802981U JP19802981U JPS5897507U JP S5897507 U JPS5897507 U JP S5897507U JP 19802981 U JP19802981 U JP 19802981U JP 19802981 U JP19802981 U JP 19802981U JP S5897507 U JPS5897507 U JP S5897507U
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JP
Japan
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fluorescent
film thickness
ray film
thickness meter
collimator
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JP19802981U
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JPS6349684Y2 (ja
Inventor
伴田 稔
Original Assignee
セイコーインスツルメンツ株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は全体構成を示す構成図、第2図は要部を示す側
面図、第3図は要部の拡大断面図である。 1・・・・・・X線t 2−−−−−−シャッタ、3・
・・・・・コリメータ、4・・・・・・XY試料台、5
・・・・・・試料、6・・・・・・ミラー、7・・・・
・・顕微鏡、7a・・・・・・検出器、8・・・・・・
V字型凹部、9・・・・・・治具体、10・・・・・・
貫通孔、11・・・・・・案内孔。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. XY方向に移動可能なXY試料テーブル上に設けられV
    字型凹部を有する治具体と、先細状をなすコリメータと
    、このV字型凹部に形成された貫通孔と、このXY試料
    テーブルをXY方向に移動させる移動手段とを備え、前
    記V字型凹部にコリメータの先端部を挿入してコリメー
    タの孔と前記貫通孔とを一致させるように構成したこと
    を特徴とする螢光X線膜厚計に於る測定点検出装置。
JP19802981U 1981-12-24 1981-12-24 螢光x線膜厚計に於ける治具体 Granted JPS5897507U (ja)

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JP19802981U JPS5897507U (ja) 1981-12-24 1981-12-24 螢光x線膜厚計に於ける治具体

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JPS5897507U true JPS5897507U (ja) 1983-07-02
JPS6349684Y2 JPS6349684Y2 (ja) 1988-12-21

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ID=30111229

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6124883U (ja) * 1984-07-20 1986-02-14 日立マクセル株式会社 デイスクカ−トリツジ

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6124883U (ja) * 1984-07-20 1986-02-14 日立マクセル株式会社 デイスクカ−トリツジ

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JPS6349684Y2 (ja) 1988-12-21

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