JPS5887484A - 熱螢光線量読取装置 - Google Patents
熱螢光線量読取装置Info
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- JPS5887484A JPS5887484A JP18663781A JP18663781A JPS5887484A JP S5887484 A JPS5887484 A JP S5887484A JP 18663781 A JP18663781 A JP 18663781A JP 18663781 A JP18663781 A JP 18663781A JP S5887484 A JPS5887484 A JP S5887484A
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- tld
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/02—Dosimeters
- G01T1/10—Luminescent dosimeters
- G01T1/11—Thermo-luminescent dosimeters
- G01T1/115—Read-out devices
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- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は熱費光線f絖取装置(以下、TLDリーダーと
いう)、さらに詳しくは感度の校正および経時における
感度の補正を随時、自制的に行なうための感度検出、補
正機構を備えたT L D IJ−グーに関するもので
ある。
いう)、さらに詳しくは感度の校正および経時における
感度の補正を随時、自制的に行なうための感度検出、補
正機構を備えたT L D IJ−グーに関するもので
ある。
ある檀の螢光体は、放射線を被曝した後、加熱されると
放射森被atに比例した熱螢光(T、 L )を発する
。−熱費光線置針(TLD)はこの性質を利用したもの
であり、構成としては螢光体を適当な形に成型加工して
なる熱費″/を巌童計素子(以下T L’D累子という
)とTLD本子を加熱し、測光するTLD!J−グーか
らなり、放射線の被曝を受けたTLD素子はTI、Dリ
ーダーで加熱され、その時発生するTLを光電子増倍管
などの光電変換素子で受光し、光電変換した後、このT
Lの量に対応する被曝量をアナログ又はデジタルでTL
Dリーダーグー表示するものである。
放射森被atに比例した熱螢光(T、 L )を発する
。−熱費光線置針(TLD)はこの性質を利用したもの
であり、構成としては螢光体を適当な形に成型加工して
なる熱費″/を巌童計素子(以下T L’D累子という
)とTLD本子を加熱し、測光するTLD!J−グーか
らなり、放射線の被曝を受けたTLD素子はTI、Dリ
ーダーで加熱され、その時発生するTLを光電子増倍管
などの光電変換素子で受光し、光電変換した後、このT
Lの量に対応する被曝量をアナログ又はデジタルでTL
Dリーダーグー表示するものである。
第1図は従来のTLD!J−グーの回路構成図の一例を
示すブロックダイアグラムである。
示すブロックダイアグラムである。
この第1図に示されるTLD !J−ダグーおいて、
まず放射−の#曝を受けたTLD累子2は試料台1に設
けられた加熱用ヒーター3で加熱され、その際放出され
たTLを、集光レンズ5を介して光電子増倍管6で受光
し、光電変換した後、増幅器8で増幅され、電圧に変換
される。1次いでV−Fコンバーター9によってデジタ
ル化され、そのパルスをカウンター10で計数して表示
器11により表示される。この際T L 、D IJ−
グーは、TLI)素子が被曝した放射−重を正しく表示
するよう、常に校正されていなければならない。従って
1、既知の放射線蓋を被曝したTLD素子を測定した時
、その照射線量を正しく表示するようにT L D I
J−グーを調整する(感度校正する)会費がある。
けられた加熱用ヒーター3で加熱され、その際放出され
たTLを、集光レンズ5を介して光電子増倍管6で受光
し、光電変換した後、増幅器8で増幅され、電圧に変換
される。1次いでV−Fコンバーター9によってデジタ
ル化され、そのパルスをカウンター10で計数して表示
器11により表示される。この際T L 、D IJ−
グーは、TLI)素子が被曝した放射−重を正しく表示
するよう、常に校正されていなければならない。従って
1、既知の放射線蓋を被曝したTLD素子を測定した時
、その照射線量を正しく表示するようにT L D I
J−グーを調整する(感度校正する)会費がある。
この感度校正の方法は、所定の産量の放射線を照射した
多数のTLD木子を用いてTLDリーダーがこの所定の
#童を表示するように反復してこのT L D +)−
グーの電子回路の増幅度および光電子増倍管の印、加電
圧を調整するものでありこの作業には多大な時間と労力
が費やされる。
多数のTLD木子を用いてTLDリーダーがこの所定の
#童を表示するように反復してこのT L D +)−
グーの電子回路の増幅度および光電子増倍管の印、加電
圧を調整するものでありこの作業には多大な時間と労力
が費やされる。
また一度感度校正を行なっておいても光電子増倍管の感
度や光電変換後の電気回路系の経時変化に伴ってT L
D !J−ダグー感度が変化する場合があるので、こ
の感度変化を監視するため試料台1に設けられた、常に
一定の光量で発光している発光器4を光電子増倍管6の
直下に導いてその発光量を測定し、この測定によって得
られた値と感度校正時に発光器4の測定によって得られ
た値を比較してこれら両方の値が異なれば感度に変化が
生じたこととなるので越度をpI整(感度のドリフト補
正)しなければならない。
度や光電変換後の電気回路系の経時変化に伴ってT L
D !J−ダグー感度が変化する場合があるので、こ
の感度変化を監視するため試料台1に設けられた、常に
一定の光量で発光している発光器4を光電子増倍管6の
直下に導いてその発光量を測定し、この測定によって得
られた値と感度校正時に発光器4の測定によって得られ
た値を比較してこれら両方の値が異なれば感度に変化が
生じたこととなるので越度をpI整(感度のドリフト補
正)しなければならない。
このように、TLDリーダーの感度校正の際、既知の放
射線量を被曝した素子を測定した時、TLDIJ−グー
の表示器11に表示された値がTLD*子の被曝量と一
致しな(ミ場合や、TLDリーダーが感度のドリフトを
起こした場合、TLDリーダーに備え付けられた感度補
正用可変ボリウムをその都度、手で回すことによって高
圧電源7を調整して光電子増倍管6に供給する電圧を変
化させるか、増幅器8の利得を変化させるかによってT
LDリーダーの感度を調整していたため、感度調部の操
作が煩雑であるという問題点があった。
射線量を被曝した素子を測定した時、TLDIJ−グー
の表示器11に表示された値がTLD*子の被曝量と一
致しな(ミ場合や、TLDリーダーが感度のドリフトを
起こした場合、TLDリーダーに備え付けられた感度補
正用可変ボリウムをその都度、手で回すことによって高
圧電源7を調整して光電子増倍管6に供給する電圧を変
化させるか、増幅器8の利得を変化させるかによってT
LDリーダーの感度を調整していたため、感度調部の操
作が煩雑であるという問題点があった。
一方、上記した経時・におげろ感度補正を自動的に行う
ものとして特開昭53−63077号によって開示され
た熱費光疎童読取装置がある。この装置の経時における
感度補正は、基準電圧値と一定の発光量を有する発光器
を測光したときの値とを比較して、これら両方の値の関
係が決められた範囲内であるときのみこれら両方の値の
比率を記憶回路に記憶し、その後に行なわれる被測定T
LDg子の測定によって得られる実測値にこの記憶回路
に記憶している比率を乗することにより行なわれる。
ものとして特開昭53−63077号によって開示され
た熱費光疎童読取装置がある。この装置の経時における
感度補正は、基準電圧値と一定の発光量を有する発光器
を測光したときの値とを比較して、これら両方の値の関
係が決められた範囲内であるときのみこれら両方の値の
比率を記憶回路に記憶し、その後に行なわれる被測定T
LDg子の測定によって得られる実測値にこの記憶回路
に記憶している比率を乗することにより行なわれる。
しかし基準電圧はアナログ量であり、これを出力する基
準電圧発生装置は主に抵抗、トランジスタ、IC等の熱
および経時による特性の変化を受ける素子によって形成
される。
準電圧発生装置は主に抵抗、トランジスタ、IC等の熱
および経時による特性の変化を受ける素子によって形成
される。
したがってこれら素子から形成される基準電圧発生装置
は常に一定した基準電位を出力することは困難である。
は常に一定した基準電位を出力することは困難である。
本発明は上記事情に鑑み、従来の多大な時間と労力を費
やす感度校正を短時間で自動的に行なうことができるT
LDリーダーを提供することを目的とするものである。
やす感度校正を短時間で自動的に行なうことができるT
LDリーダーを提供することを目的とするものである。
また本発明は、経時による感度変化を常に正確に自動補
正することができるTLDリーダーを提供することを目
的とするものである。
正することができるTLDリーダーを提供することを目
的とするものである。
本発明のT L D IJ−−グーは、所定線量に対応
する電気信号を出力する線量情報入力手段、この電気信
号の値と上記所定の線量を照射された基準TLD素子を
測光して得られる電気信号の基準値との比を演算する演
算装置、この比を校正定数として記憶する記憶装置、お
よび任意の線量を照射された被測定TLD素子を測光し
て得られる電気信号の実測値とこの校正定数−との積を
表示する表示装置からなることを特徴とするものである
。
する電気信号を出力する線量情報入力手段、この電気信
号の値と上記所定の線量を照射された基準TLD素子を
測光して得られる電気信号の基準値との比を演算する演
算装置、この比を校正定数として記憶する記憶装置、お
よび任意の線量を照射された被測定TLD素子を測光し
て得られる電気信号の実測値とこの校正定数−との積を
表示する表示装置からなることを特徴とするものである
。
また本発明のTLDリーダーは、常に一定の発光量を有
する標準発光器、前記基準値を得る直前もしくは直後に
この標準発光器を測光して得られる電気信号の初期値を
記憶する第1の記憶手段、この初期値と前記被測定TL
D素子の測定直前にこの標準発光器を測光して得られる
電気信号の経時値との比であるドリフト補正係数を演算
する演算手段、このドリフト補正係数を記憶する第2の
記憶手段、およびこの被測定TLD素子の測光により得
られる電気信号の実測値に前記校正定数とこのドリフト
補正係数を乗じて前記表示装置に入力する演算手段を備
える。
する標準発光器、前記基準値を得る直前もしくは直後に
この標準発光器を測光して得られる電気信号の初期値を
記憶する第1の記憶手段、この初期値と前記被測定TL
D素子の測定直前にこの標準発光器を測光して得られる
電気信号の経時値との比であるドリフト補正係数を演算
する演算手段、このドリフト補正係数を記憶する第2の
記憶手段、およびこの被測定TLD素子の測光により得
られる電気信号の実測値に前記校正定数とこのドリフト
補正係数を乗じて前記表示装置に入力する演算手段を備
える。
なおTLD素子および標準発光器の測光によって得られ
る電気信号は、熱および経時等による外部要因から影響
を受けないディジタル信号に変換して処理する。
る電気信号は、熱および経時等による外部要因から影響
を受けないディジタル信号に変換して処理する。
このように本発明のT L D IJ −グーにおいて
は、所定の線量を照射された基準TLD素子を多数用い
て所定の線量を表示するように反復して電気回路の増幅
度および光電子増倍管の印加電圧を調整する感度校正作
業を所定の線量に対応する電気信号の値と所定の線量な
照射された基準TLI1g子の測光によって得られる電
気信号の基準値との比を演算しこれを校正定数として記
憶装置に記憶し、被測定TLD素子の測光により得られ
る電気信号の実測値にこの校正定数を自動的に乗じて正
確な線量を表示するため感度を補正する回路は不要とな
り回路は簡略化されこの感度校正作業に費やされる時間
および労力は大幅に削減される。
は、所定の線量を照射された基準TLD素子を多数用い
て所定の線量を表示するように反復して電気回路の増幅
度および光電子増倍管の印加電圧を調整する感度校正作
業を所定の線量に対応する電気信号の値と所定の線量な
照射された基準TLI1g子の測光によって得られる電
気信号の基準値との比を演算しこれを校正定数として記
憶装置に記憶し、被測定TLD素子の測光により得られ
る電気信号の実測値にこの校正定数を自動的に乗じて正
確な線量を表示するため感度を補正する回路は不要とな
り回路は簡略化されこの感度校正作業に費やされる時間
および労力は大幅に削減される。
また電気回路の増幅度および光電子増倍管の特性が経時
によって変化したとぎに行なう感度ドリフト補正におい
て、上記電気回路の増幅度および光電子増倍管の印加電
圧を変化させる手動による作業を上記所定の線量を照射
した基準TLD素子の測光直前もしくは直後(感度校正
時)に一定の発光量を有する標準発光器を測光して得ら
れる電気信号の初期値と、任意の耐量を照射された被測
定TLD素子の測光直前に行なわれるこの標準発光器の
測光により得られる電気信号の経時値との比を演算して
これをドリフト補正係数として記憶装置に記憶し、こ、
の被測定TLD素子の測光によって得られる電気信号の
実測値にこのドリフト補正係数を自動的に乗するため手
動による補正作業は必要とせず常に正確な補正を行なう
ことができる。
によって変化したとぎに行なう感度ドリフト補正におい
て、上記電気回路の増幅度および光電子増倍管の印加電
圧を変化させる手動による作業を上記所定の線量を照射
した基準TLD素子の測光直前もしくは直後(感度校正
時)に一定の発光量を有する標準発光器を測光して得ら
れる電気信号の初期値と、任意の耐量を照射された被測
定TLD素子の測光直前に行なわれるこの標準発光器の
測光により得られる電気信号の経時値との比を演算して
これをドリフト補正係数として記憶装置に記憶し、こ、
の被測定TLD素子の測光によって得られる電気信号の
実測値にこのドリフト補正係数を自動的に乗するため手
動による補正作業は必要とせず常に正確な補正を行なう
ことができる。
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。
第2図は本発明のTLDリーダーの回路構成を示すブロ
ックダイアグラムである。
ックダイアグラムである。
摺動可能な試料台IKは、TLD素子加熱用ヒー′ター
3および常に一定の光量を発するる。放射線を被曝した
TLD素子2はヒーター3で加熱され、その時TLD素
子2より発せられる螢光は、レンズ5を介して光電変換
素子(光電子増倍管)6で光電変換される。
3および常に一定の光量を発するる。放射線を被曝した
TLD素子2はヒーター3で加熱され、その時TLD素
子2より発せられる螢光は、レンズ5を介して光電変換
素子(光電子増倍管)6で光電変換される。
7は光電子増倍管6に電圧を供給する高圧電源である。
光電子増倍管6の出力は増幅器8に導かれ、電圧信号に
変換され、次いで電圧周波数変換器(V−Fコンバータ
ー)9によりデジタル化され、計数器10により計数さ
れる。計数器10で計数されたTLD素子からの螢光量
の積分値に比例した計数値はマイクロコンピュータ−1
1に入力され、ここで予め記憶されている種々の校正定
数が乗じられた後、表示器13に表示される。12はマ
イクロコンピュータ−11に外部から様々な情報を予め
入力してお(ための線量情報入力手段である操作キーで
ある。
変換され、次いで電圧周波数変換器(V−Fコンバータ
ー)9によりデジタル化され、計数器10により計数さ
れる。計数器10で計数されたTLD素子からの螢光量
の積分値に比例した計数値はマイクロコンピュータ−1
1に入力され、ここで予め記憶されている種々の校正定
数が乗じられた後、表示器13に表示される。12はマ
イクロコンピュータ−11に外部から様々な情報を予め
入力してお(ための線量情報入力手段である操作キーで
ある。
本発明のT L D リーダーの感度校正に際しては、
基準となる放射線源を用いて基準TLD累子2に既知の
線量(Z)を照射し、操作キー12より、照射線量が(
Z)であることをマイクロコンピュータ−11に入力し
た後、TLDリーダーでこのTLD素子2を測定する。
基準となる放射線源を用いて基準TLD累子2に既知の
線量(Z)を照射し、操作キー12より、照射線量が(
Z)であることをマイクロコンピュータ−11に入力し
た後、TLDリーダーでこのTLD素子2を測定する。
基準TLD素子2からの発光は光電変換後デジタル化さ
れ、計数器10で計数され、計数器10での基準値〔X
〕がマイクロコンピュータ−11に入力され、ここで直
ちに感度校正定数〔YE’ (==(Z) / (X)
)が演算され、計数器10により計数された基準値〔
X〕に感度校正定数〔Y〕が乗じられて表示器13にT
LD素子2の被曝線量として表示される。この時、マイ
クロコンピュータ−11で演算された感度校正定i [
Y)は、以後、外部から何らかの指示を与えるか、再度
、上述の手順で感度校正操作を行なわない限りマイクロ
コンピュータ−11に記憶されており、被曝線量が未知
の被測定TLD素子2を測定すると、計数器10で計数
された実測値(X’)に感度校正定数CY)を乗じて補
正を加えた後、そのTLD素子の被11[1fとして表
示される。
れ、計数器10で計数され、計数器10での基準値〔X
〕がマイクロコンピュータ−11に入力され、ここで直
ちに感度校正定数〔YE’ (==(Z) / (X)
)が演算され、計数器10により計数された基準値〔
X〕に感度校正定数〔Y〕が乗じられて表示器13にT
LD素子2の被曝線量として表示される。この時、マイ
クロコンピュータ−11で演算された感度校正定i [
Y)は、以後、外部から何らかの指示を与えるか、再度
、上述の手順で感度校正操作を行なわない限りマイクロ
コンピュータ−11に記憶されており、被曝線量が未知
の被測定TLD素子2を測定すると、計数器10で計数
された実測値(X’)に感度校正定数CY)を乗じて補
正を加えた後、そのTLD素子の被11[1fとして表
示される。
更に、TLDリーダーの光電変換素子6の感度や、光電
変換器以降の電気回路系の経時変化によるTLDリーダ
ーの感度変化を知るために、従来のTLDり一グーと同
様、試料台1の一端に設けられた、一定の強度で発光す
る発光器4からの光を一定時間測光しその光電を積分し
た値を常に監視しておくが、本発明のTLD !J−グ
ーにおいては、感度の経時変化が起こっても測定値には
影響を与えないよう(TLD!J−グー全体の感度は変
わらないはう)感度のドリフト補正がなされる。
変換器以降の電気回路系の経時変化によるTLDリーダ
ーの感度変化を知るために、従来のTLDり一グーと同
様、試料台1の一端に設けられた、一定の強度で発光す
る発光器4からの光を一定時間測光しその光電を積分し
た値を常に監視しておくが、本発明のTLD !J−グ
ーにおいては、感度の経時変化が起こっても測定値には
影響を与えないよう(TLD!J−グー全体の感度は変
わらないはう)感度のドリフト補正がなされる。
感度のドリフト補正は、先ず、TLD!J−グーの感度
校正によって得られた感度校正定数〔Y〕をマイクロコ
ンピュータ−11に記憶させる直前もしくは直後に発光
器4を光電子増倍管6の直下に置き、発光器40発光を
光電子増倍管6で受光し、以降、TLD素子2からのT
Lを測定する時と同じ電気回路系を通して一定時間測光
し、計数器10で計数した初期値CXCAL)をマイク
ロコンピュータ−11に導いて記憶させ、この値(XC
AL’lを感度校正定数〔Y〕が変更されるまで(Y)
値と共に保存する。
校正によって得られた感度校正定数〔Y〕をマイクロコ
ンピュータ−11に記憶させる直前もしくは直後に発光
器4を光電子増倍管6の直下に置き、発光器40発光を
光電子増倍管6で受光し、以降、TLD素子2からのT
Lを測定する時と同じ電気回路系を通して一定時間測光
し、計数器10で計数した初期値CXCAL)をマイク
ロコンピュータ−11に導いて記憶させ、この値(XC
AL’lを感度校正定数〔Y〕が変更されるまで(Y)
値と共に保存する。
一定時間経過後、被測定TLD累子2を測定するとき、
発光器4からの光量を改めて測定し、その時の計数器I
Oで計数された経時値(X’CAL :]は、コンピュ
ーター11に導かれてここで(X’CAL )値とすで
に記憶されていた発光器4からの発光量の初期値[Xc
At、:]との比([XcAt、 ’) / [:X’
CAL ) )が演算され感度のドリフト補正体IY(
[A))として記憶される。そしてこの後、このTLD
リーダーで被測定TLD累子を測定したとき、このTI
、D素子からのTLは光電変換した後にデジタル化され
、計数器1oで計数された後、その実測値は先にマイク
ロコンピュータ−11に記憶されている感度校正定数〔
Y〕とドリフト補正係数(Allとを乗じられた後表示
器13に表示される。
発光器4からの光量を改めて測定し、その時の計数器I
Oで計数された経時値(X’CAL :]は、コンピュ
ーター11に導かれてここで(X’CAL )値とすで
に記憶されていた発光器4からの発光量の初期値[Xc
At、:]との比([XcAt、 ’) / [:X’
CAL ) )が演算され感度のドリフト補正体IY(
[A))として記憶される。そしてこの後、このTLD
リーダーで被測定TLD累子を測定したとき、このTI
、D素子からのTLは光電変換した後にデジタル化され
、計数器1oで計数された後、その実測値は先にマイク
ロコンピュータ−11に記憶されている感度校正定数〔
Y〕とドリフト補正係数(Allとを乗じられた後表示
器13に表示される。
なお、上記の休止定数[Y)と〔Y〕を求める時に測定
された発光器4からの発光量の初期値〔XCAL〕はマ
イクロコンピュータ−11に一度記憶されると校正定数
・〔Y〕を求め直すまでは消去されないが、発光器4が
光電変換素子6の直下に配置され、発光器4の光量を測
定しうる状態にしておくと一定の時間間隔を置いて絶え
ず発光器4からの発光6光を一定時間測定し、その時の
計数器1oで計数されたtt a 値(X”CAL )
はマイクロコンピュータ−11に入力され、先に記憶さ
れていた経時値(X’CAL )に替わって新たに記憶
される結果、ドリフト補正体ff [:Qは((XCA
L 〕/ (X’CAL )から(’[XCAL 〕/
[X”CAL ) )へと変化する。このようにして
、一度感度校正されたTLD リーダーは、その後、光
電変換素子や電気回路系の感度が経時変化しても、最終
的には感度が校正時と同一となるように自動gllI喪
される。
された発光器4からの発光量の初期値〔XCAL〕はマ
イクロコンピュータ−11に一度記憶されると校正定数
・〔Y〕を求め直すまでは消去されないが、発光器4が
光電変換素子6の直下に配置され、発光器4の光量を測
定しうる状態にしておくと一定の時間間隔を置いて絶え
ず発光器4からの発光6光を一定時間測定し、その時の
計数器1oで計数されたtt a 値(X”CAL )
はマイクロコンピュータ−11に入力され、先に記憶さ
れていた経時値(X’CAL )に替わって新たに記憶
される結果、ドリフト補正体ff [:Qは((XCA
L 〕/ (X’CAL )から(’[XCAL 〕/
[X”CAL ) )へと変化する。このようにして
、一度感度校正されたTLD リーダーは、その後、光
電変換素子や電気回路系の感度が経時変化しても、最終
的には感度が校正時と同一となるように自動gllI喪
される。
また、TLD素子はこの素子に使用されている螢光体の
種類や形状によって感度が異なるので、同一線量の放射
側を被曝していてもTLD素子に使用されている螢光体
の種類や形状が異なればTLの量も異なり、また、同一
の螢光体を用いて同一形状のTLD素子を製造しても加
工精度等の関係で感度が異なるので、感度の異なる種々
のTLD素子について夫々のTLD素子毎に感度校正定
数〔Y〕を求めてマイクロコンピュータ−11に記憶さ
すておき、測定時にとのTLD素子を測定しようとする
のかを予め操作キー121等により指定しておけば、感
度の異なるTLD素子についてTLDX子毎に煩雑な測
定値の補正を行なう必要がなくなる。
種類や形状によって感度が異なるので、同一線量の放射
側を被曝していてもTLD素子に使用されている螢光体
の種類や形状が異なればTLの量も異なり、また、同一
の螢光体を用いて同一形状のTLD素子を製造しても加
工精度等の関係で感度が異なるので、感度の異なる種々
のTLD素子について夫々のTLD素子毎に感度校正定
数〔Y〕を求めてマイクロコンピュータ−11に記憶さ
すておき、測定時にとのTLD素子を測定しようとする
のかを予め操作キー121等により指定しておけば、感
度の異なるTLD素子についてTLDX子毎に煩雑な測
定値の補正を行なう必要がなくなる。
なお本発明のTLDリーダーにおいてマイクロコンピュ
ータ−11の記憶部に記憶された撞々のデータは、TL
D+7−グーの電源を切った時あるいは停電時に消去さ
れないようバックアップ用電池を内蔵させておき、常時
データを消さないで保持するようにすればこのT L
D リーダーの操作性、信頼性は向上する。
ータ−11の記憶部に記憶された撞々のデータは、TL
D+7−グーの電源を切った時あるいは停電時に消去さ
れないようバックアップ用電池を内蔵させておき、常時
データを消さないで保持するようにすればこのT L
D リーダーの操作性、信頼性は向上する。
以上詳aK説明した通り、本発明によるT I、i)リ
ーダーは、従来多大な時間と労力を費やし電気回路の増
幅度および光電子増倍管の印加電圧等を手動によって調
整する感度校正作業を外部より入力される情報と基準T
LD素子の測光により得られる基準値とによって自動的
に校正定数を求め、被測定TLD素子の測光により得ら
れる実測値にこの校正定数を自動的に乗じて校正を行な
うため、感度校正のための回路が不要となり回路構成の
簡略化、製造コストの低減が大幅にはかれる。また電気
回路の経時における特性の変化であるドリフトによる感
度変化の補正を標準発光器を用いて自動的にドリフト補
正係数を求めて被測定TLD″Jg子の測光により得ら
れる実測値に自動的に乗じて補正を行なうため、従来必
要とされた手動による電気回路における電気回路の特性
の補正を行なう必要はなく操作性の向上がはかれる。な
お感度が異なる個々のTLl1g子の感度補正において
も測定される個々のTLD素子の校正定数を記憶し、測
定時被測定TLD素子に対応する校正定数を線量情報入
力手段より選出して被測定TLD素子の測光により得ら
れる実測値に自動的に乗じて補正を行なうため、従来必
要とされたような感度の異なるTLD素子に種類に応じ
た光電子増倍管への印加電圧を変えたり増幅率を変えた
りするための切換回路を余分に組み込んでおく必要はな
く、感度が大きく異なるTLD素子および感度、の異な
る多数のTLD紫子を測定する場合の回路構成の複雑化
、精度の低下を改讐することができる。
ーダーは、従来多大な時間と労力を費やし電気回路の増
幅度および光電子増倍管の印加電圧等を手動によって調
整する感度校正作業を外部より入力される情報と基準T
LD素子の測光により得られる基準値とによって自動的
に校正定数を求め、被測定TLD素子の測光により得ら
れる実測値にこの校正定数を自動的に乗じて校正を行な
うため、感度校正のための回路が不要となり回路構成の
簡略化、製造コストの低減が大幅にはかれる。また電気
回路の経時における特性の変化であるドリフトによる感
度変化の補正を標準発光器を用いて自動的にドリフト補
正係数を求めて被測定TLD″Jg子の測光により得ら
れる実測値に自動的に乗じて補正を行なうため、従来必
要とされた手動による電気回路における電気回路の特性
の補正を行なう必要はなく操作性の向上がはかれる。な
お感度が異なる個々のTLl1g子の感度補正において
も測定される個々のTLD素子の校正定数を記憶し、測
定時被測定TLD素子に対応する校正定数を線量情報入
力手段より選出して被測定TLD素子の測光により得ら
れる実測値に自動的に乗じて補正を行なうため、従来必
要とされたような感度の異なるTLD素子に種類に応じ
た光電子増倍管への印加電圧を変えたり増幅率を変えた
りするための切換回路を余分に組み込んでおく必要はな
く、感度が大きく異なるTLD素子および感度、の異な
る多数のTLD紫子を測定する場合の回路構成の複雑化
、精度の低下を改讐することができる。
第1図は従来のTLDリーダーの一つの回路構成を示す
ブロックダイアグ2ム、 第2図は本発明の一つの実施例を示すブロックダイアグ
ラムである。 1・・・・・・試 料 台 2・・・・・・TLD素子
3・・・・・・加熱用ヒーター 4・・・・・・標準発
光器5・・・・・・し ン ズ 6・・・−・・光電子
増倍管7・・・・・・間圧電源 8・・・・・・増 幅
器9・・°・・・電圧周波数変換器 10・・・・
・・計 数 器11・・・°・・マイクロコンピュータ
−12・・・・・・操作キー13・・・・・・表 示
器
ブロックダイアグ2ム、 第2図は本発明の一つの実施例を示すブロックダイアグ
ラムである。 1・・・・・・試 料 台 2・・・・・・TLD素子
3・・・・・・加熱用ヒーター 4・・・・・・標準発
光器5・・・・・・し ン ズ 6・・・−・・光電子
増倍管7・・・・・・間圧電源 8・・・・・・増 幅
器9・・°・・・電圧周波数変換器 10・・・・
・・計 数 器11・・・°・・マイクロコンピュータ
−12・・・・・・操作キー13・・・・・・表 示
器
Claims (2)
- (1) 熱螢光線量計素子を加熱する加熱部、この熱
螢光線量計素子から発光する熱螢光を第1の電気信号に
変換する光電変換器、所定の線量に対応する第2の電気
信号を出力する線量情報入力手段、この第2の電気信号
の値とこの所定の遺量の放射線を照射された基準熱螢光
線量計素子を加熱したときに得られる前記第1の電気信
号の基準値との比である校正定数を演算する演算手段、
この校正定数を記憶する記憶装置、およびこのdピ憶さ
れた校正定数と任意の線量の放射−を照射された被測定
熱螢光巌量計素子を加熱したときに得られる前記第1の
電気信号の実測値との積を表示する表示装置からなるこ
とを4!徴とする熱蛍光+Wt読取装置。 - (2) 熱螢光線量計素子を加熱する加熱部、この熱
螢光線量計素子から発光する熱螢光を第1の電気信号に
変換する光電変換器、所定の線量に対応する第2の電気
信号を出力する線量情報入力手段、この第2の電気信号
の値とこの所定の線量の放射線を′照射された基準熱螢
光線蓋計素子を加熱したときに得られる前記第1の電気
信号の基準値との比である校正定数を演算する演算手段
、この校正定数を記憶する記憶装置、およびこの記憶さ
れた校正定数と任意の線量の放射線を照射された被測定
熱螢光線蓋計素子を加熱したときに得られる前記第1の
電気信号の実測値との積を表示する表示装置からなる熱
螢光?fM蓋読取装置において、常に一定の発光量を有
する標準発光器、前記基準値を得る直前もしくは直後に
前記標準発光器を測光して得られる前記第1の電気信号
の初期値を記憶する第1の記憶手段、この初期値と、前
記被測定熱螢光線量計素子の測定直前釦前記標準発光器
を測光して得られる前記第1の電気信号の経時値との比
であるドリフト補正係数を演算する演算手段、このドリ
フト補正係数を記憶する第2の記憶手段、および前記被
測定熱螢光線量計素子の測光により得られる前記第1の
電気信号の実測値罠前記校正定数と前記ドリフト補正係
数を乗じて前記費示装置に入力する演算手段を備えたこ
とを特徴とする熱費光−量読取装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18663781A JPS5887484A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 熱螢光線量読取装置 |
US06/442,756 US4480189A (en) | 1981-11-20 | 1982-11-18 | Thermoluminescence dosimeter reader |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18663781A JPS5887484A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 熱螢光線量読取装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5887484A true JPS5887484A (ja) | 1983-05-25 |
JPS6261905B2 JPS6261905B2 (ja) | 1987-12-23 |
Family
ID=16192065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18663781A Granted JPS5887484A (ja) | 1981-11-20 | 1981-11-20 | 熱螢光線量読取装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5887484A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5544936A (en) * | 1978-09-25 | 1980-03-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Thermo-luminescence measuring device |
-
1981
- 1981-11-20 JP JP18663781A patent/JPS5887484A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5544936A (en) * | 1978-09-25 | 1980-03-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Thermo-luminescence measuring device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6261905B2 (ja) | 1987-12-23 |
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