JPS5880240A - ランプにおける口金の外観検査装置 - Google Patents
ランプにおける口金の外観検査装置Info
- Publication number
- JPS5880240A JPS5880240A JP17814681A JP17814681A JPS5880240A JP S5880240 A JPS5880240 A JP S5880240A JP 17814681 A JP17814681 A JP 17814681A JP 17814681 A JP17814681 A JP 17814681A JP S5880240 A JPS5880240 A JP S5880240A
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- Japan
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- light
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（発明の分野）
この発明はたとえけけい光ラング等の口金外板面に゛傷
勢の欠陥があるか否かを検査し、その口金の良否を判定
する口金の外観検査装置に関する。
勢の欠陥があるか否かを検査し、その口金の良否を判定
する口金の外観検査装置に関する。
（従来技術の背景）
一般に、けい光ランプの完成品には各種の検査が行われ
るが、その中の１′）Ｋ口金の外観検査がある。この外
―検査は口金の表面たとえけ外周面に生じたしわ中破れ
等の傷は勿論のこと、製造中に生じえ汚れ中接着剤のは
み出し岬の欠陥を検査するものであり、これによって、
上記欠陥のある不東品を取除いて品質音高めることがで
きるものである。
るが、その中の１′）Ｋ口金の外観検査がある。この外
―検査は口金の表面たとえけ外周面に生じたしわ中破れ
等の傷は勿論のこと、製造中に生じえ汚れ中接着剤のは
み出し岬の欠陥を検査するものであり、これによって、
上記欠陥のある不東品を取除いて品質音高めることがで
きるものである。
ところで、上記外観検査は従来作業員の直接目視によシ
行われているが、このようにすると作業能率が低下する
のはもちろんのこと、人間の作業であるが故に検査ＯＳ
Ｓ性が低下する等の不具合がある。
行われているが、このようにすると作業能率が低下する
のはもちろんのこと、人間の作業であるが故に検査ＯＳ
Ｓ性が低下する等の不具合がある。
（発明の目的）
この発明はこのような慕情にもとづいてなされたもので
、その目的とするところは、口金外周面にある欠陥を自
動的かつ確実に検出でき、量産化に好適するランデにお
ける口金の外観検査装ｆを提供することにある。
、その目的とするところは、口金外周面にある欠陥を自
動的かつ確実に検出でき、量産化に好適するランデにお
ける口金の外観検査装ｆを提供することにある。
（発明の構成）
この発明は（ロ）転される口金の外周面に光を照射する
光源並びに上記外周面からの反射光管受光しこの反射光
の光量にもとづいた信号を出力する受光器を備え、この
受光器からの信号を比較器で設定レベル範囲と比較し、
上記信号が設定レベル範囲から外れ九場合には比較器か
ら異常信号を判定器に入力することにより、この判定器
によって口金の外観の良否を判定するようにしたことを
特徴とするものである。
光源並びに上記外周面からの反射光管受光しこの反射光
の光量にもとづいた信号を出力する受光器を備え、この
受光器からの信号を比較器で設定レベル範囲と比較し、
上記信号が設定レベル範囲から外れ九場合には比較器か
ら異常信号を判定器に入力することにより、この判定器
によって口金の外観の良否を判定するようにしたことを
特徴とするものである。
（発明の実施例）
以下この発明の一実施例１−図面にもとづき散開する。
図中１は直管形のけい光ラングでるり、２はその口金で
ある。けい光２ンｆ１はたとえば水平に支持さ扛るとと
もに管軸を回転中心として叫速回転可能に１ｔ−ｔされ
ている。そして、上記口金１の下方たとえば口金ピン３
．３の直下には反射形光電スイッチ４が配置されてお〕
、口金ピン１．１がけい光ランプ１０回転に伴って上記
反射形光電スイッチ４上をそれぞれ通過するようＫなっ
ている。この反射形党電スイッチ４は口金ピン３．Ｊ儒
つｔｎ上方に向けて光を照射し、口金ピンＪ、Ｊの通過
に伴うこれら口金ピン１．３からの反射光を受光して第
２図および第３図に示されるパルス信号５・・・を出力
す本ように構成されている。そして、これらパルス信号
５−・は反射形党電スイッチ４からカウンタ５に入力さ
れ、このカウンタＣによって上記パルス信号５・−・が
針数されるようになっている。
ある。けい光２ンｆ１はたとえば水平に支持さ扛るとと
もに管軸を回転中心として叫速回転可能に１ｔ−ｔされ
ている。そして、上記口金１の下方たとえば口金ピン３
．３の直下には反射形光電スイッチ４が配置されてお〕
、口金ピン１．１がけい光ランプ１０回転に伴って上記
反射形光電スイッチ４上をそれぞれ通過するようＫなっ
ている。この反射形党電スイッチ４は口金ピン３．Ｊ儒
つｔｎ上方に向けて光を照射し、口金ピンＪ、Ｊの通過
に伴うこれら口金ピン１．３からの反射光を受光して第
２図および第３図に示されるパルス信号５・・・を出力
す本ように構成されている。そして、これらパルス信号
５−・は反射形党電スイッチ４からカウンタ５に入力さ
れ、このカウンタＣによって上記パルス信号５・−・が
針数されるようになっている。
し九がって、上記パルス信号５ｔ３回計数した時点で、
けい光ランプ１つオ多ロ金２の１回転が確認されるもの
である。なお、カウンタ６によつてパルス信号５・−１
３１１計数した時点で、このカウンタｄから停止信号が
出力され、この停止信号にもとづいてけい光ランプ１０
回転を停止可能となっているものである。
けい光ランプ１つオ多ロ金２の１回転が確認されるもの
である。なお、カウンタ６によつてパルス信号５・−１
３１１計数した時点で、このカウンタｄから停止信号が
出力され、この停止信号にもとづいてけい光ランプ１０
回転を停止可能となっているものである。
そして、上記−口金２の下方には光源たとえば発光ダイ
オード１が配置されている。この発光ダイオード７はレ
ン、ｅａｔ−介して口金２０外馬面に光を集光させるも
のであり、９はその直流定電圧電源である。また、口金
２の下方には受光器たとえｄ受光用のフォトトランジス
タ１０が配置されている。このフォトトランジスタ１０
は上記発光ダイオード１から照射されて口金２の外周面
で反射され九反射光をレンズＩＪを介して受光し、この
反射光の光量にもとづい九儂号（電気信号）ｔ−出力す
るように構成されている。そして、フォトトランジスタ
１０からの信号は比較器１２に入力されるようになって
いる。
オード１が配置されている。この発光ダイオード７はレ
ン、ｅａｔ−介して口金２０外馬面に光を集光させるも
のであり、９はその直流定電圧電源である。また、口金
２の下方には受光器たとえｄ受光用のフォトトランジス
タ１０が配置されている。このフォトトランジスタ１０
は上記発光ダイオード１から照射されて口金２の外周面
で反射され九反射光をレンズＩＪを介して受光し、この
反射光の光量にもとづい九儂号（電気信号）ｔ−出力す
るように構成されている。そして、フォトトランジスタ
１０からの信号は比較器１２に入力されるようになって
いる。
この比較器１２には纂２図および１８３図に示される如
くあらかじめ定められ丸亀１および第２の設定レベル範
囲Ａ、ＩＩが記憶されておｐ１比較器１２は上記第１お
よび館２の設定Ｖペル範囲Ａ、Ｂと上記信号と會比較可
能に構成されている。第１の設定レベル範囲ムは外観の
良好な口金からの反射光にもとづいた上記信号を基準と
する′基準信号Ｘのレベルに所定の上下＠を般社で設定
されてお夛、また第２の設定レベル範囲蕗は上記基準信
号から最大限許容できる範囲に設定されているものであ
る。そして、上記比較器１２で上記信号と第１および第
２の設定レベル範囲ム、Ｂ１！：を比較し、この信号が
これら第１および第２の設定レベル範囲ム、Ｂを外れる
場合には異常信号が判定器１１に入力されるように壜っ
ている。上記異常信号には上記信号が第１の設定レベル
範囲ムのみを外れた場合に比軟器１２から出力される第
１０異常信号と、上記信号が第１の設定レベル範囲ムの
みならず第２の設定レベル５１５ｍ管も外れた場合に出
力される籐２０異常信号とがある。そして、上記判定器
１１では異常信号が第１の異常信号である場合、これら
第１の異常信号管計数し、その数が口金２０１回転轟夛
所定値以上となったときに、口金２の工廠信号を出力す
るように構成されている。また、判定器１１社異常信号
が第２の異常信号である場合、直ちに工廠信号を出力す
るように構成されているものである。
くあらかじめ定められ丸亀１および第２の設定レベル範
囲Ａ、ＩＩが記憶されておｐ１比較器１２は上記第１お
よび館２の設定Ｖペル範囲Ａ、Ｂと上記信号と會比較可
能に構成されている。第１の設定レベル範囲ムは外観の
良好な口金からの反射光にもとづいた上記信号を基準と
する′基準信号Ｘのレベルに所定の上下＠を般社で設定
されてお夛、また第２の設定レベル範囲蕗は上記基準信
号から最大限許容できる範囲に設定されているものであ
る。そして、上記比較器１２で上記信号と第１および第
２の設定レベル範囲ム、Ｂ１！：を比較し、この信号が
これら第１および第２の設定レベル範囲ム、Ｂを外れる
場合には異常信号が判定器１１に入力されるように壜っ
ている。上記異常信号には上記信号が第１の設定レベル
範囲ムのみを外れた場合に比軟器１２から出力される第
１０異常信号と、上記信号が第１の設定レベル範囲ムの
みならず第２の設定レベル５１５ｍ管も外れた場合に出
力される籐２０異常信号とがある。そして、上記判定器
１１では異常信号が第１の異常信号である場合、これら
第１の異常信号管計数し、その数が口金２０１回転轟夛
所定値以上となったときに、口金２の工廠信号を出力す
るように構成されている。また、判定器１１社異常信号
が第２の異常信号である場合、直ちに工廠信号を出力す
るように構成されているものである。
上記構成による一実施例の装置は、けい光ラング１の口
金２ｔ−等速で１回転させる際に、その外周面に発光ダ
イオード１およびレンズ１によって光を集光させる。そ
して、上記外周面からの反射光をレンズ１１を介してフ
ォトトンジスタ１０で受光し、このフォトトランジスタ
１０から上記反射光の光量にもとづいた信号を比較器１
２に入力させる。ここで、上記信号管上記第１および第
２の設定レベル範囲ム、Ｂと比較し、この信号の波形が
第３図中１で示されるように第１の設定レベル範囲Ａ内
にある場合には、この比較器１２からは纂１および第２
のいずれの異常信号も出力されることはないので、判定
器１３から不良信号が出力されることはなく、口金２の
外周面つまり外観は良好であると判定される。そして、
第４図に示されるように口金２の外周面にしわ醇の欠陥
がある場合、上記フォトトランジスタ１０からの信号の
波形は第３図中すで示される。
金２ｔ−等速で１回転させる際に、その外周面に発光ダ
イオード１およびレンズ１によって光を集光させる。そ
して、上記外周面からの反射光をレンズ１１を介してフ
ォトトンジスタ１０で受光し、このフォトトランジスタ
１０から上記反射光の光量にもとづいた信号を比較器１
２に入力させる。ここで、上記信号管上記第１および第
２の設定レベル範囲ム、Ｂと比較し、この信号の波形が
第３図中１で示されるように第１の設定レベル範囲Ａ内
にある場合には、この比較器１２からは纂１および第２
のいずれの異常信号も出力されることはないので、判定
器１３から不良信号が出力されることはなく、口金２の
外周面つまり外観は良好であると判定される。そして、
第４図に示されるように口金２の外周面にしわ醇の欠陥
がある場合、上記フォトトランジスタ１０からの信号の
波形は第３図中すで示される。
すなわち、上記′しわ勢のわずかな欠陥がある場合には
その部分で上記外周面からの反射光が散乱しえり、ある
いはこの外周面からの反射光が強くなったシすることに
より、上記信号６のし１ルに変動が生じるものである。
その部分で上記外周面からの反射光が散乱しえり、ある
いはこの外周面からの反射光が強くなったシすることに
より、上記信号６のし１ルに変動が生じるものである。
そして、この信号すが上記第１の設定レベル範囲Ａｔ−
外れた時点で、仁の比較器１２から判定器ＩＪへ第１の
異常信号が出力される。この判定器１３では上記第１の
異常信号の数を計数し、その数が所定値以下であればこ
の判定器１３から不良信号が出力されることはなく、口
金２の外観はは＃１良好であると判定される。また、そ
の数が所定値以上であれば逆に上記判定器ＩＪから不良
信号が出力され、その口金２の外観は不良であると判定
される。ｉ九、第５図に示されるように口金２の外周面
に破れ等の大きな欠陥がある場合、上記フォトトランジ
スタ１０からの信号の波形は菖３図中Ｃで示される。す
なわち、上記破れ等の大きな欠陥がある場合にはその部
分からの反射光が極端に弱くなるので、上記信号Ｃのレ
ベルは大幅に低下するものである。そして、この信号Ｃ
は上記第１の設定レベル範囲ムのみならず第２の設定レ
ベル範囲１１ｉも外れ、このとき、比較器１２から判定
器１３に菖２０異常信号が入力されるとともに直ちにこ
の判定器１３から不良信号が出力され、その口金２の外
観は不良であると判定さ八゛るものである。したがって
、このような装置によれに１０金２の外観、検査を自動
的に行うことができみ。また、この装置は口金２からの
反射光に４とづいてその欠陥を検出する４のであるから
、破れ等の大きな欠陥は勿論のことしわ勢の小さな欠陥
も確実に検出することができ、検査の信頼性を高めるこ
とができる。またさらに、この装置はしわや破れ勢の欠
陥のみならず、口金２０外ｊｉ１面の汚れ、接着剤のは
み出しあるいは凹等、要するにその欠陥によって口金２
からの反射光の光量に変化が生ずるものであれば、確実
にこれら欠陥の検出管行うことができる。また、この−
爽施例の装置では口金２の外周面の一部會スＩット照明
′によって検査するようにし九が、このような−蕩の検
査でも小さな欠陥を除けば、＃′！！は上記外周面の全
欠陥を検出することができるものである。
外れた時点で、仁の比較器１２から判定器ＩＪへ第１の
異常信号が出力される。この判定器１３では上記第１の
異常信号の数を計数し、その数が所定値以下であればこ
の判定器１３から不良信号が出力されることはなく、口
金２の外観はは＃１良好であると判定される。また、そ
の数が所定値以上であれば逆に上記判定器ＩＪから不良
信号が出力され、その口金２の外観は不良であると判定
される。ｉ九、第５図に示されるように口金２の外周面
に破れ等の大きな欠陥がある場合、上記フォトトランジ
スタ１０からの信号の波形は菖３図中Ｃで示される。す
なわち、上記破れ等の大きな欠陥がある場合にはその部
分からの反射光が極端に弱くなるので、上記信号Ｃのレ
ベルは大幅に低下するものである。そして、この信号Ｃ
は上記第１の設定レベル範囲ムのみならず第２の設定レ
ベル範囲１１ｉも外れ、このとき、比較器１２から判定
器１３に菖２０異常信号が入力されるとともに直ちにこ
の判定器１３から不良信号が出力され、その口金２の外
観は不良であると判定さ八゛るものである。したがって
、このような装置によれに１０金２の外観、検査を自動
的に行うことができみ。また、この装置は口金２からの
反射光に４とづいてその欠陥を検出する４のであるから
、破れ等の大きな欠陥は勿論のことしわ勢の小さな欠陥
も確実に検出することができ、検査の信頼性を高めるこ
とができる。またさらに、この装置はしわや破れ勢の欠
陥のみならず、口金２０外ｊｉ１面の汚れ、接着剤のは
み出しあるいは凹等、要するにその欠陥によって口金２
からの反射光の光量に変化が生ずるものであれば、確実
にこれら欠陥の検出管行うことができる。また、この−
爽施例の装置では口金２の外周面の一部會スＩット照明
′によって検査するようにし九が、このような−蕩の検
査でも小さな欠陥を除けば、＃′！！は上記外周面の全
欠陥を検出することができるものである。
なお、この発明は上記−奥施例に制約されるものではな
い。たとえば、口金の外周面に投光する光源としてハロ
ダン電球等を用い、この外周面の幅方向全域に光を照射
するようにしてもよい。とのようにすれば、上記外周面
の全表面を確実に検査することができる。
い。たとえば、口金の外周面に投光する光源としてハロ
ダン電球等を用い、この外周面の幅方向全域に光を照射
するようにしてもよい。とのようにすれば、上記外周面
の全表面を確実に検査することができる。
（発明の効果）
以上説明したようにこの発明は回転される口金の外周面
に光を照射する光源並びに上記外局面からの反射光を受
光しこの反射光の光量にもとづいた信号を出力する受光
器を備え、この受光器からの信号を比較器で設定レベル
範囲と比較し、上記信号が設定レベル範囲から外れた場
合には比較器から異常信号を判定器に入力することによ
り、この判定ＩＮＫよって口金の外観の良否上判定する
ようにしえものである。し九がって、口金の外観の良否
ｔｌｌ視によって判定するものではないので、自動的か
つ確実に口金の外観の検査を行って品質を高めるととも
にけい光ラング轡の量産化に大きく貢献できるものであ
る。
に光を照射する光源並びに上記外局面からの反射光を受
光しこの反射光の光量にもとづいた信号を出力する受光
器を備え、この受光器からの信号を比較器で設定レベル
範囲と比較し、上記信号が設定レベル範囲から外れた場
合には比較器から異常信号を判定器に入力することによ
り、この判定ＩＮＫよって口金の外観の良否上判定する
ようにしえものである。し九がって、口金の外観の良否
ｔｌｌ視によって判定するものではないので、自動的か
つ確実に口金の外観の検査を行って品質を高めるととも
にけい光ラング轡の量産化に大きく貢献できるものであ
る。
図面はこの発明の一実施例１示し、第１図は装置の概略
図、第２図および第３図はそれぞれフォトトランジスタ
から出力される信号の波形図、第４図および第５図はそ
れぞれ口金の斜視図である。 １・・・けい光ラング、２−・口金、１・・・発光ダイ
オード（光源）、１０・・・フォトトランジスタ（受光
器）、１２・・・比較器、１３・・・判定器。
図、第２図および第３図はそれぞれフォトトランジスタ
から出力される信号の波形図、第４図および第５図はそ
れぞれ口金の斜視図である。 １・・・けい光ラング、２−・口金、１・・・発光ダイ
オード（光源）、１０・・・フォトトランジスタ（受光
器）、１２・・・比較器、１３・・・判定器。
Claims (1)
- 管軸を回転中心として回転されるラングめ口金外周面に
光を照射する光源と、この光源から照射され上記口金外
周面で反射され九反射光を受光しこの反射光の光量にも
とづいた信号葡出力する受光器と、この受光器から上記
信号か入力されこの信号とあらかじめ定めた設定レベル
範囲とを比較して上記信号が設定レベル範囲から外れた
場合には異常信号を出力する比較器と、この比較器から
異常信号が入力されこの異常信号にもとづいて口金外周
面の良否を利足する判定器と會具備したことｔ−＊＊と
するラングにおける口金の外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17814681A JPS5880240A (ja) | 1981-11-06 | 1981-11-06 | ランプにおける口金の外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17814681A JPS5880240A (ja) | 1981-11-06 | 1981-11-06 | ランプにおける口金の外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5880240A true JPS5880240A (ja) | 1983-05-14 |
Family
ID=16043437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17814681A Pending JPS5880240A (ja) | 1981-11-06 | 1981-11-06 | ランプにおける口金の外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5880240A (ja) |
-
1981
- 1981-11-06 JP JP17814681A patent/JPS5880240A/ja active Pending
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