JPS5879151A - 雰囲気中のガスこん跡量を検出するための方法、センサおよび装置 - Google Patents

雰囲気中のガスこん跡量を検出するための方法、センサおよび装置

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JPS5879151A
JPS5879151A JP57180044A JP18004482A JPS5879151A JP S5879151 A JPS5879151 A JP S5879151A JP 57180044 A JP57180044 A JP 57180044A JP 18004482 A JP18004482 A JP 18004482A JP S5879151 A JPS5879151 A JP S5879151A
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AA EERU EMU I ENU U ESU ASS PU
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    • G01N27/02Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
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    • G01N27/12Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid
    • G01N27/122Circuits particularly adapted therefor, e.g. linearising circuits
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、モニタしている雰囲気捷だυ」:がス媒体
中のガス捷たけがス状不純物のこん作置を検出するだめ
の方法に関し、より詳細には、その検出方法が、S n
 O2およびNiOを含む群から選択された金属酸化物
により製造されたセンサの電気的導電率を4411定す
ることに」:り実行され、その検出方法において、その
センサが、検出装置内に配置され、その検出装置内でそ
のセンサが加熱され、かつそのセンサがモニタしようと
するガス媒体に曝されるか、および/捷たばそのセンサ
にガス媒体が供給されるような、ガス媒体またはモニタ
している雰囲気中のガスまたはガス状不純物のこん作置
を検出するだめの方法に関する。
またこの発明は、」−記のような金属1化物製のセンサ
、および−1−記検出方法を実施しかつ」−記センザを
含む装置に関する。
ある種の金属酸化物が半導体としての特性を有すること
は周知である。そのような金属1唆化物の電気的導電率
は、ある種のガスが存在する時に温度の関数として変化
する。従来、この、1:うな特性がガスまだはガス状不
純物のこん跡jl)の検出のために使用されている。こ
の「1的のために使用される金属酸化物は、一般には酸
山ずずS n 02および酸1ヒニッケルNiOである
。これらの金用酸化′吻は、結晶状態、捷たはセラミッ
ク基板にイ・1着された層の形態、捷たは焼結粉末の一
′!!l/ットの形態で1吏用される。この種の応用f
d二特にNC,国’1.!F 1fpJ 362575
6号、同3900815号、および回403 り !l
 41シ3名明細卦に記載されている。
多くのガスはこれらの金属酸出物の・、4電tに影響を
りえるが、それ故にそれらの金属酸化物を検出用のセン
サとして使用する川音には、作用が不特定でかつ選択的
に使)[1できないだめ、信頼性が充分でない。
以下に詳細に説明するこの発明IJ1、十述した半導体
金属酸化物に、特定のいくつかのがス捷たはガス群を選
択的に検出できる全く新規な電気的導電率特性を伺与す
る」:うな、ある処11(jを発9Nしたことに基づく
ものである。
(り) 一般的に言えば、半導体金属酸1ヒ物は、温度と雰囲気
を構成するがスの性質および圧力とによって変化する電
気的導電率σを有する。すなわち、−σは温度に対して
指数関数的に増加する。
−σが変1ヒする向きはガスの性質に依存する。
−その変化の大きさはガスの分圧とがス相の組成とに依
存する。
ガスが半導体金属酸化物によって化学吸着されると、そ
のガスとその半導体金属酸化物との間に電子の転送が生
じる。ガス■の電子に対する親和力が、半導体金属酸化
物上の電子に対する親和力より大きいか小さいかによっ
て、その固体すなわち半導体金属酸化物からそのがスへ
の電子の転送(s”−g−)、捷たはそのガスからその
固体への電子の転送(s−g”)がそれぞれ発生する。
この転送によって、固体中の自由多数キャリヤの数が増
加まだは減少する。この変化の向きは、結合の形式(g
” −s−またはg  −s+)と多数キャリヤの性質
、すなわち立形半導体の場合の電子と■形半導体の場合
の正孔とによって決まる。
よく知られているように、半導体の電気的コン(10) ダクタンスGは実質的に多数ギヤリヤの数に比例する。
従って、がスが存在すると、吸着されたガスが半導体か
ら電子を取り込むかまたけり、えるかに応じて、半導体
のコンダクタンスが変化する。
従って、電子アクセプター4ノ?It3市1′1・すと
それぞれ称される。
ガスがアクセプタでかつ半・、?)棒金1す1酸化物が
μ形である腸ばは、ガスが固体から市5rを奪い、固体
のコンダクタンスが減少する。/fスがアクセプタでか
つ半導体金属酸rヒ物か]I−形で、1−)るI↓゛1
合は、がスが固体から電子を璋い、固体の二lンダクタ
ンスが増加する。
がスがドナの場合に、観測さノLる電気的変(ヒの向き
が−J−,記と逆になる。病い換え)1ば、ある特定の
ガスについては、そのノfスの?611に応じて導電率
の変化が常に観測される。σrってとの力スの存在を検
出するためには、そのよりな′#、(ヒを測定するだけ
でよい。この原理に基ついて現在使用されているセンサ
の多くは、実用的に比較的感度がよいが、しかしこれら
のセンサ01:、iコンリ゛が呈する電気的応答によっ
てはがス混合体中の所定のガスを選択的かつ特定して検
出できないという、重大な短所を有している。
この発明の目的は、非常に高い感電でガスを選択的に検
出することのできる新規な方法、センサおよび装置を提
供することにある。
そこでこの発明のl特徴は、S n 02お」:びNi
Oを含む群から選択された金属酸1′ヒ物から約500
℃の最高温度で製造され、かつ使用に先☆゛って、SO
2およびH2Sを含む群から選択された活性ガスを含む
ガス流に、実質的に」二記と同一温度で約550℃の最
高温度で曝すことにより処理されだセンサの電気的導電
率を測定することにより、雰囲気中のガスまたはガス状
不純物のこん跡液を検出する方法にあり、この方法にお
いて、上記センサが検出装置内に配置され、その検出装
置内でセンサが加熱されかつモニタする雰囲気に曝され
るものである。
本発明者等は、ベンゼン用のセンサを開発する過程にお
いて、ベンゼンの濃度が0.0F’)35%という有毒
性しきい呟よりも充分低い感度0.(1(1,1係以下
のベンゼン雰囲気中において、ある](1jのセンサが
、曲線a = r (T) (但し、G−コンダクタン
ス、T1度)」−の約4−000伺近で1つのピークを
/IKずことを見い出しだ。この種のセンサのいくつか
は酸化物粉末から焼結されたものであり、残りのセンサ
はセラミック基体」二に酸化物粉末をf・1着させて構
成されたものであった。得られた+11J造体を続いて
臨界試験しかつ711織的に試験し/こ結果、本発明台
等は以下のことを確証することができノ(、oすなわち
、(1)そのピークは、温tWが上y1.する方向tこ
移動し、かつピークの大きさが減少していき、センサを
550℃程度の過度の/l、A度にU11熱するとピー
クが完全に消える。(2)センサを前以てSO2捷/こ
は■12Sに曝した場合のみにピークが発/1する。こ
の処理は、センサを例えば数時間の間浸漬することによ
り処理しない限り、不可逆的である。
上記2つの観測は、この発明の基本的な特徴として具体
化されている。
また、センサによって吸着された水分の影響に(13) よって、湿気を含んだ空気中で温度を」−げると250
℃で異常なピークが現われ、温度を下げていくと400
℃刊近でピークのレベルで平坦となる、ということも述
べ々ければならない。1−かしながら、そのよう々湿度
の条件は、通常の作動条件ではほとんど発生しない。
好捷しい実施例においては、センサけ、それ自体公知の
焼結処理を用いて金属酸化物から製造される。この製造
方法は、電源や測定電極と接触し易くかつセンサの機械
加工が容易であるので、好捷しいものである。
この発明によれば、ガス流は、約01係の活性ガスを含
む空気捷だけ中性ガスの流九である。センサは、活性ガ
スを含むガスの流れに30秒から5分の間の時間だけ曝
される。
特性ピークの検出はセンサを2つの異なった温度に昇温
することにより容易となるが、低い方の温度は、センサ
をモニタしようとする雰囲気に曝している間の、検出し
ようとするガスのピークの温度に対応する。上記2つの
温度のそれぞれにお(14) ける導電率の値の間の変化の方向、1.・よび/または
差は、ガス状不純物の存在および/丑だは濃度を表わす
ものどして測定さ−J1.る。
1つの実施例としては、センサ4−1’−;122つの
温度に連続して昇温するが、好゛ツ]〜い実施例として
は、2つの同一のセンサを回IRIに1り四1117、
それぞれを」−記2つの温f&のどちらか一力と他方と
に昇温する。
上記いずれの場合でも、2つの福、庶の差は約100℃
であり、低い方のθ、1〜亀は、11.、Sに対してに
j約100℃、S02に対1−2てV、1、約200℃
、ベンゼンに対しては約400 ℃、四塩化炭素、ノエ
チルエーテル、酢酸ブチル、ブタノールお」:びアセト
アルデヒドに対しては約250℃から約275℃、トル
エンおよびクロロホルムに対してな」、約300℃から
約7325℃、ヘキサノにり・1し7てシー1−約:4
25℃から約350℃、シクロヘギリンにン“−J t
−、では約375℃である。
この発明のこれらの特性IJ、2つの温度のうちの低い
方の温度における指定された1つ捷だはいくつかのがス
に特有な導電率のピークを観測した結果に基づいている
これらの特性は、H2S、SO2、炭化水素または指定
された群の有毒性誘導体を選択的に検出することが可能
であることを示している。分析されたガスが指定された
ガスのうちの1つであると仮定し、上述した2つの温度
を使用すると、低い方の温度すなわち予め参照されたピ
ークの近傍で動作するセンサによって、高い方の嘉(8
)で動・作するセンサによって作り出される電気信号よ
りも高い電気信号が作り出され、他方、そのガスが存在
しない時には電気信号は温度によって変わる。
この発明の別の特徴は、センサの電気的導電率を測定す
ることによって、雰囲気中のガスまたはガス状不純物の
こん作置を検出するためのセンサにあシ、そのセンサは
、S n O2およびNiOを含む群から選択された金
属酸化物から550℃の最高温度において製造され、か
っSO2およびH2Sを含むグループから選択されたガ
スを含むガス流に曝すことによって活性化される。
この発明の実用的な実施例においては、ガス媒体中のガ
スこん跡l検出装置CI、炉と、その炉の温度を調節す
る手段と、S nO2およびNiOをSむ群から選択さ
れた金属酸化物から製造され、かつSO2およびH2S
を含む群から選択されたガスを含むガス流によって活性
化され、かつその炉内に設けられるセンサと、そのセン
ザ月1の電力11(袷手段と、1つの電気的・ゼラノー
タの変化VC応じてそのセンサにより作り出される信号
を検出する手段と、モニタされる雰囲気の一部を炉に弔
人しかつ排出する手段と、炉の温度を2つの異なった値
に設定する手段と、一方の温度におけるセンサからの電
気信号を記憶する手段と、その記憶された信号をもう一
方の温度においてセンサから得られる信号と比較する手
段とから構成される。
この発明のさらに別の変形例として、−1−jボした検
出装置は、第2の炉と、第2の1乙ンザと、2つの炉の
温度を異なった値に設定する手段と、2つのセンサで作
り出される信号を比較する手段とから構成される。
(I7) その他の目的および効果は、以下に添付図面を参照して
説明される実施例から明らかにされ、新規な特徴が特許
請求の範囲において特に指摘される。
第1図および第2図はこの発明のセンサの第一実施例お
よび第2実施例をそれぞれ拡大して示す。
第1図において、アルミナ製の基体1は、エタノール中
の懸濁液から旧著された粉末状のS n 02またはN
iOの厚さ約1胴の層2で被覆される。アルミナ製基体
1には、1輔2の下方に開口する2つの孔3が形成され
る。2つの金波−ス]・製のコンタクトシール4によっ
てループ状に配置された2つのプラチナ製のリードワイ
ヤ5の電気的接触が得られ、各リードワイヤ5は電極6
に接続される。
センサは使用に先立って、O,1,%の5o2tたはH
2Sを含む空気流に550℃の温度で30秒から5分の
間の時間、好ましくは3分間曝される。
第2図は好捷しい焼結処理を用いて製造しだセンサを示
す。粒度50ないし100μmの粉末状の5n02 ’
4たはNiOを出発′物質として、2tの圧力/IQ) を1分間周囲温度で力え々がら被し、1・を形成する。
得られ/こ波し、1・は次に50 Tl ℃で10分間
保持され、次いで同じ(5(1(1℃において01%の
SO2捷たはH2Sを含む空気流に;30秒から5分の
間、好捷しくは3分間曝される。その結果得られる焼結
されかつ活性化さ]1、/こベレット7には2つの孔8
が形成され、合孔8にV1ルーツ°、1ツクに配置され
たリードワイヤ9が収容さノ1、「1,80両側が金波
−ストの小さい塊10によってシールされる。
」−記2つの処即方法のいずJl、かに]:ってセセン
サ1−1’たはセンサ12が製;<、’iされるが、以
後の説明では両者を区別止rに[七ン゛!J−1:(J
と称する。
2つのセンサには機能上の差5″趙t、1.なく、I(
lII疲労性が異なるだけであり、この面、1疲労17
1.は焼結センサ12の方が良好である。
第3図を参照して、この発明0)I乙ンザがベンゼンま
たは他のガスが存在する11.5にどのように動作する
かを以下に説明する。第:3図のtl、+7座標はセン
サが加熱される温度℃を示し、縦座標はセンサのコンダ
クタンスGを10 Ω で示す。曲MAは、活性化した
センサを空気自体に曝し2だ場合の温度とコンダクタン
スの関係を示す。曲線Bは、非情Uセンザ(この発明の
一部を構成しない)を0.1%のベンゼンを含11r空
気に曝した場合の同様の関係を示す。曲線Cは、この発
明の活性化したセンサを0.012%のベンゼンを含む
空気に曝した場合を示す。曲線りは、この発明のセンサ
を004係のCH4を含む空気に曝した場合を示す。
ベンゼンが存在することによりこの発明のセンサの曲線
において約400℃で特11−的なピーク14が現われ
る。この発明の方法シjこの特性のa (500)−a
 (4(] 0 )の測定に基づいておシ、G(500
)−G(400)の測定値はベンゼンが存在しないw合
は正の饋を示し、ベンゼンが存在する場合は負の1直を
示す。
第4図を参照して、差c(5oo)−c(,1oo)は
、(濃度0乃ないし005%の)図示の範囲におけるベ
ンゼンの・七−セントの関数として明確に変化する。G
の直のピーク14けベンゼンの濃度が増すと犬きくなり
、G (500)とc(−+Oo)間の絶対値の負の差
も増大する。
第5図は第4図と同一の座標で5o2r、r用いて活性
化し/ここの発明のセンサを示しているが、第5図にお
いて、曲線Rは純粋の空気について、曲線RはQ、 O
O4%のI(2Sと01係のベンゼンを含む空気につい
て、それぞれY!$ 7’(7,ものである。曲線Sは
、約400℃で(ベンゼンの7t!r性による)ヒ−り
14と約100℃で(II2Sの特性に」:る)ピーク
15とを含む。曲%、I Tは()1係のSO2を含む
空気についてのもので、ピーク1Gをriキする。
他の試験を行なった結果、曲常認められる有毒性のガス
や蒸気のほとんどについて4.!1′敵であるピークの
リストが、以下のようにイ!IらJまた。なお、それら
のガスや蒸気の有毒性のしきい値を()内に・ぐ−セン
トで示す。
四塩化炭素(’Q、005)    :約250ないし
275℃トルエン(0,02)     :約30 (
1ないし:(25℃クロロホルム(0,01)    
 :約3 (10ないし1325℃酢酸ブチル(0,0
2)    :約25 (1℃ノエチルエーテル(0,
04)   :約250ないし275℃(21) メチルエチルセトン      、約250々いL27
5℃ヘキザン(0(15)     :約325ないl
−350℃ブタノール(0,005)    約250
ないし275℃アセトアルデヒド(002)   :約
275℃ンクロヘギサン(0,04)    :約37
5℃以上の全ての製品について、有毒性しきい値以下で
ピークが現われる。
以下の炭化水素についても、同様にピークが認められる
ペンタン       :約400℃ ブタン         約425℃ エチレン       、約425℃ 以上のことから、1つのセンサのピークの温度における
コンダクタンスと別のセンサのピーク温度よりも充分(
約100℃)高い温度におけるコンダクタンスとを測定
し、かつ両者を比較することによって、ベンゼン単独捷
だけ有毒性製品の選択された群を選択的な方法で検出す
ることができることがわかる。
以下に第6図を参照して、この発明の検出装置(22) とそのr]・川と使用1方法を説明する。。
この発明による検出4・51〆1″Q、1、この発明の
センサ1:3をそれぞれ収容した2つの炉18゜l・・
よび19を内部に配置したケース” 4音Jl・、 i
+’、G結センザの場合、センサ13は約2 X 5u
nの〈j/)、にイIノ[削される。炉18と19は円
筒形で、長さが2 (1mm、直径が8.lll1lで
ある。炉I8と1 り &:Iイ1欠管−1−に直径0
.1 mmの〕lンザルm (Kantl+al wi
re )を蓚いて形成される。巻線にJアスベスト編で
力姉さノ1.る・この組立4体υ−1而1火性セメノド
内に収容さ江ろ。1111火性セメノド内に熱電対20
か叩め込゛:E Ji、で、炉18と10の温度を検出
する。このノこめの測定へット21は小型の・1法であ
る。2つの測’y、:l ”” 7ド21i1′:Jケ
ース17内に取り伺けられ、ケース17はガス人1」2
2とガス出1’12 :3を有する。窓24に、拡故に
」=って雰囲気を・直接士−゛−タするだめの焼結金属
製のフ0ラグ:3:3を取りイ・1け/、、ととができ
る。
炉18と10にi−j 22 (l Vの交流電源に接
続される可変変圧器が接H1:さ)1.る。約:(il
 V、0.4Aにおいて、2つの温度(例え?:I: 
、i il fl ’Cと50 (1℃)d−それぞれ
電源24と25および接続線26により加熱され、各電
源24と25は接続線27を介して7j応する熱電対2
0により制御される。センサの電極6捷だけリードワイ
ヤ9か接続線28を介して、電源29に接続されかつ抵
抗Rを含む測定回路に接続され、抵抗Rに炉18のJμ
汀f3号X1が、炉19の場合信号X2がそれぞれ現わ
れる。
各信号X1 、X2け内応するセンサ13のコンダクタ
ンスGに比例する。信号X1とX2は方向を弁別する比
較器30に付Ljされる。比較器:30には警報回路3
1と(Xl−X2 )測定回路32が接続される。
次に作用を説明する。
上述した検出装置の使用方法は簡単である。
一方の炉(例えばis)の温度を、選択的に検出しよう
とするガスまたはガス群のピーク特性が現われるとわか
っている温度伺近に調節する。他方の炉190霊度d8
一方の炉18の温度より約100℃高く設定する。モニ
タしようとする′雰囲気の−部をり一−ス17内に:i
!I!Mする・Pルス伏に通過さぜるか、あるい(7士
り一−ス17を’EIT:囲気内に置いて、窓24を辿
して拡11女が発/lできるようにする。検出しようと
するガスの(6・IN Lきい値υ;1、非常に低い(
ベンゼンでは(’l、 015 %であり、かつベンゼ
ンの有毒性しきい値d、0. +135 %である)が
、このガスが検出しきい値lソ、上の−IIl>で(r
: (Eすると、それ−まで負であった(第4図参照)
信jlx、 −x2)が正に在り、比較器:つ0を反1
11J、さ−(1−る。使用者の要求に応じて、比較器
:30によっY−1r・め定めだしきい1直+1上で艙
報を鳴らすか、あるい(佳これと同時捷だはとれに代え
て、i”+”、 (X 1 ’ X 2  )の値を記
録捷たは表示させる。
あるいは、有毒性濃度がゆっくり変化lる場ばには、唯
1つのセンサを用い、とのヒノザの?M litを連続
的にピーク温度捷で上シ1さぜ、かつそれより100℃
高い温度に」−!1させ、イl−1シ:X、の値を記憶
する記憶装置34を設けて」・・き、かつ信号X2の値
が測定されている時のみそのイを脣X1の餠を比較器3
0に与えるようにすることもできること(25) は理解されJ:う。
以上、この発明の技i+Iij思想を理解するために説
明され図示された細部描造、拐ネ」、部品配置等につい
ては、特許請求の範囲に記載されたこの発明の原理と範
囲を逸脱することなく、当業者であれば種々の変更をな
し得ることは理解されよう。
例えば、2個以上のセンサを用いて、異なった温度でピ
ーク特性を呈する2種のがス捷たはガス群を選択的に検
出することもi]能である。
セラミック製の基体−にに付着される層については、数
10分のIX捷だは数100分のIXの薄膜あるいはそ
れより厚い)換を用いて、同一の結果を得ることもでき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明のセンサの第−実b10例の断面図、
第2図は同センザの第二実施例の断面図、第3図はある
種のガス混合物についての同センザの温度とコンダクタ
ンスの関係を示す図、第4図は種々のa庶のベンゼンを
含む空気についての同センザの温度とコンダクタンスの
関係を示す図、第r96) 5図は純粋空気および不純物を含d−+・″1皐気につ
いての同センザの温度とコンダクタンスの関係を示す図
、第6図はこの発明の検出装置のti7j成図である。 1・基体、2  層、4・コンタクトソール、5・・リ
ードワイヤ、6 電極、7 、、、 dし、1・、9・
・・リードワイヤ、l l 、 12 、 l 3 ・
センサ、17・・・ケース、18.19・炉、20・熱
雷対、21・測定ヘッド、22 ・ガス人口、23・ガ
ス出口、2/I 、25.29  電dj賃、;(0・
比較))))、34・記憶装置、R抵抗、X、 1  
+ X 2  イ1.シ;。 特許出願人 (了−エールエノ、了イエノイーーーー1ス)特Wr 
i;細化j里人 弁理士 山 奉 恵 − (27) 1002υD  Δ00 400   bOD    
/L′ff:/第1頁の続き 4発 明 者 ジョアンーボール・コラプツトフランス
国42100センl−エテ ネ(ロイレ)リュ・エウジエネ ・ジオウ−20番地 272−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)  S n O2およびNiOを含む群から選択
    された金属酸化物により約500℃の最高温度において
    製造され、かつ使用に先立ってS02およびH2Sを含
    む群から選択された活性ガスを含むがスの流れに約55
    0 ℃の最高温度である実質的に前記最高温度と同一の
    温度において曝すことにより処理されたセンサの電気的
    導電率を測定することにより実行され、該センサが検出
    装置内に配置され、該検出装置内において該センサが加
    熱されかつモニタしようとする雰囲気中に曝されること
    を特徴とする雰囲気中のガス捷たはがス状不純物のこん
    跡作を検出する方法。 (2)  センサが、焼結処理を用いるか捷たけセラミ
    、り製基体上に層を旧著することにより製造さ、れる特
    許請求の範囲第1項記載の方法。 (1) (3)  ガスの流れが空気の流れか捷だは約01係の
    、活性ガスを含む中性ガスの流れである1% *r請求
    の範囲第1項記載の方法。 (4)活性がスを含むガスの流れにセンサが30秒ない
    し5分間、好捷しくd、3分間曝される特許請求の範囲
    第1項記載の方法。 (5)  センサがモニタしようとするフγ囲気に曝さ
    れている間および/またはセンサにモニタしようとする
    雰囲気が供給されている間に、該センサが異なった2つ
    の温度に昇温され、かつ該2つの温度のそれぞれについ
    ての電気的導電率の(直の間の変化の方向および/−1
    だは差が、ガス状不純物の存在および/まだは濃度を表
    わすものとして測定される特許請求の範囲第1項記載の
    方法。 (6)  センサが2つの温度のそれぞれに連続して昇
    温される特許請求の範囲第5項記載の方法。 (7)2つの同一のセンサが同時に使用され、該センサ
    のそれぞれがモニタしようとする″ガ囲気に曝されてい
    る間および/−1だは該センサのそれぞれにモニタしよ
    うとする雰囲気が供給されているrす) 間に、該2つのセンサが2つのII、lfl・7)ノ、
    7. /!11冒頭の一方」?」:び他方にそれぞれl
    fl、I晶さj”l、rjIC2つの温度のそれぞれに
    おける電気的t′I−市オ′−の飴の間の変fヒの方向
    および/−または差が、ガス状不、1llli物の(f
    在お」:び/捷だは濃度を表わすものと1.て徂1定さ
    れる特許請求の範囲第1項記載の方法。 (8)2つの71A Inが約100℃ノこけ1,1,
    1.なり、低い方の温1ケが、112SについてしJ、
    約1 Fl Fl TC1802については約200 
    ℃、ベンセゞン;I、−1び・々ブタンについては約、
    100 ℃、四」)1^化炭階、ノーl−チルエーテル
    、酢酸ブチル、ブタン−ルj、・、1.び−r1a+・
    アルデヒ!・については約25 (l fHHいし27
    5℃、l・ルエンおよびクロロポルムについてQl、4
    勺:(I Oないし1325℃、−\ギーリーンについ
    てQl約、325〕rいし350 ℃、ノクロヘギ”リ
    ーンに9いてQl、糸勺:375℃、およびブタンお」
    二びjユブ−レンについてQl、約425℃である特許
    請求の範囲第5珀記載の方法。 (9)  S n O2およびNiOを含J」’ l!
    YからJ’8 、IJt:さノ′また金属酸化物により
    550 ℃の晟1(、“f: j、1“l II4に」
    ・・いて製造され、かつSO2赴」二び112Sを:’
    q−Jr f:’fがら)川1heされたガスを含tr
    ガスの流れに曝すことにより活性化されだセンサであっ
    て、該センサの電気的導電率を測定することにより雰囲
    気中のガス捷たはがス状不純物のこん作置を検出するた
    めのセンナ。 (10)  5n02i−よびNiOを含む群から賦択
    された金属酸化物に」:り約500℃の最高温度におい
    て製造され、かつ[重用に先立ってSO2:l;−よび
    ■I2Sを含む群から選択された活性ガスを含むガスの
    流れに約550 ℃の最高温度である実質的に前記最高
    温度と同一の霊度において曝すことにより処tl’fi
    されたセンサの電気的導電率を測定することによシ実行
    され、該センサが検出装置内に配置さハ1、該検出装置
    内において該センサか加熱されかつモニタしようとする
    雰囲気中に1幅されることにより雰囲気中のガス捷たは
    がス状不純物のとん跡量を検出する方法を実施するだめ
    の装置であって、該装置内において、前記センサがモニ
    タしようとする雰囲気中にi景さカフている間および/
    捷だd前記センサにモニタしようとする雰囲気か供給さ
    れている間に、該センサが2つの異なった温度に4温さ
    れ、かつ該2つの温度のそり、そ;l′1. kr二つ
    いての電気的導電率の値の間の変化の方向お、1.び/
     −et )ζはツク:が、ガス状不純物の(1,在お
    よび/〕1だし1.儂jαを表わすものとして測定され
    、さらに該装置か、炉と、該炉の温度を調節する手段と
    、SnO,、:L・よびNiOを含セ−」・群から人数
    された金属酸化′吻により製造されかつSO2丸−Jび
    I’(2SをaJJlニーから」“ハ層尺されたガスを
    含むガスの流れによ−〕で話1′1化;\11だ、前記
    炉内の七ン′リ−と、該センサへの電力・[11、給ト
    段と、該センナの1つの電気的・9ラノータの変化に応
    じて該センサにより発生さJl、る電気(ij’ ”+
    、jを検出する手段と、モニタしようとする′雰囲気の
    −部をi’+fl記炉−\導入しかつυ1.出する手段
    と、該炉の温度を2つの連続する値に設定する手段と、
    一方の扁1印における前記センサからの前記電気信じを
    記憶する手段と・該記憶さね、た′電気信号を他方の7
    rA +1において前記センサから発生される′市気信
    シ)と比較する手段とから構成される′ジf囲気中のガ
    ス1Fだはがス状不純物のこん作置を検出するための装
    置。 (1υ S n 02おj二びNiOをバーbl洋から
    I゛丸1ぐされだ金(5) 属酸化物により約5C)0℃の7穎高幅度において製造
    され、かつ(9Z用に先立ってSO2およびH2Sを含
    む群から選択された活性がスを含むがスの流れに約55
    0℃の最高温度である実質的に前記最高温度と同一の温
    度において曝すことにより処理されだセンサの電気的導
    電率を測定することにより実行され、該センサが検出装
    置内に配置され、該検出装置内において該センサが加熱
    されかつモニタしようとする′雰囲気中に曝されるとと
    により雰囲気中のガスまたはがス状不純物のこん作置を
    検出する方法を実施するだめの装置であって、該装置内
    において、2つの同一のセンサが同時に使用され、該セ
    ンサのそれぞれがモニタしようとする雰囲気に曝されて
    いる間および/捷たは該センサのそれぞれにモニタしよ
    うとする雰囲気が供給されている間に、該2つのセンサ
    が2つの異なった温度の一方および他方にそれぞれ昇温
    され、該2つの温度のそれぞれにおける電気的導電率の
    飴の間の変化の方向および/−1:たけ差が、ガス状不
    純物の存在および/または濃度を表わすものとして測(
    6) 定され、装置が2つのナゾゾステトで構成され、該ザブ
    システムのそれぞれが、炉と、該炉の1益度を調節する
    手段と、5na2」=−、J: rノjNiOをR−N
    ’r群から選択された金属酸化物に、1.9製)<1.
    されかつSO2および+(2Sを含む群から選1)りさ
    れノζノfスを1″¥′むガスの、i/lT、れによっ
    て活性化され/こ、1)11記炉内のセンサと、該セン
    サへの電力併給−L段と、該センサの1つの電気的・に
    ラメータの変化に応じて該センサにより発生される電気
    信は介・検出する手段と、モニ・りし」:うとする’9
    )囲気の一部を1)11記炉へ導入しかつjノ1出する
    手段と、該炉のθ11(1α゛を2つの5“−1なった
    値に設定する手段と、り?I ijL ’liノザによ
    り発生さ)9、る前記電気信弓を比較するト段とから(
    ・Mj Ijljされる雰囲気中のがスまたはガス状イ
    糺i4i物lのこん作置を検出するだめの装置。 (1■ 2つの炉が、モニタ[〜ようとする遅囲気の一
    部を該炉へ導入しかつ1Jli出する1−1々ろ−含む
    共通のケース内に配置される4!7″πl’ jt’l
    求のI匝囲;p; I 1項記載の装置。
JP57180044A 1981-10-16 1982-10-15 雰囲気中のガスこん跡量を検出するための方法、センサおよび装置 Granted JPS5879151A (ja)

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FR8119536 1981-10-16
FR8119536A FR2514898A1 (fr) 1981-10-16 1981-10-16 Procede, capteur et dispositif de detection de traces ou impuretes gazeuses

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JPS5879151A true JPS5879151A (ja) 1983-05-12
JPH0429023B2 JPH0429023B2 (ja) 1992-05-15

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JP57180044A Granted JPS5879151A (ja) 1981-10-16 1982-10-15 雰囲気中のガスこん跡量を検出するための方法、センサおよび装置

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