JPS5877680A - 表面汚染領域直視装置 - Google Patents
表面汚染領域直視装置Info
- Publication number
- JPS5877680A JPS5877680A JP17564081A JP17564081A JPS5877680A JP S5877680 A JPS5877680 A JP S5877680A JP 17564081 A JP17564081 A JP 17564081A JP 17564081 A JP17564081 A JP 17564081A JP S5877680 A JPS5877680 A JP S5877680A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radioactive
- contaminated
- spark chamber
- distributions
- light
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/169—Exploration, location of contaminated surface areas
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放射線検出装置に係り、特に放射性物質によシ
汚染したものの二次元汚染分布を直接目視するに好適な
表面汚染検査用放射線検出装置に関する。
汚染したものの二次元汚染分布を直接目視するに好適な
表面汚染検査用放射線検出装置に関する。
従来の表面汚染検査用放射線検出装置としてはＧＭ管を
使用した０Ｍサーベイメータ、ＮａＩを使用シたシン千
し−ショ／サーベイメータ、ガスフローカウンタを使用
したフロアモニタ等が代表的でるる。これらの装置はい
づれも表面汚染量を検出器に入射した放射線の数として
アナログ表示又はディジタル表示しているので汚染した
ものの二次元汚染分布を直接目視できない。そこで、二
次元汚染分布を求めるには測定位置と放射線の数を二次
元グラフに作図している。このため、汚染分布を求める
のに時間を要する欠点がある。
使用した０Ｍサーベイメータ、ＮａＩを使用シたシン千
し−ショ／サーベイメータ、ガスフローカウンタを使用
したフロアモニタ等が代表的でるる。これらの装置はい
づれも表面汚染量を検出器に入射した放射線の数として
アナログ表示又はディジタル表示しているので汚染した
ものの二次元汚染分布を直接目視できない。そこで、二
次元汚染分布を求めるには測定位置と放射線の数を二次
元グラフに作図している。このため、汚染分布を求める
のに時間を要する欠点がある。
本発明の目的は、放射性物質により汚染されたものの汚
染領域をスパークチェンバを利用して二次元発光分布に
変換し、撮像装置、監視装置等を介して直接映像として
目視でき得る表面汚染領域監視装置を提供することにあ
る。
染領域をスパークチェンバを利用して二次元発光分布に
変換し、撮像装置、監視装置等を介して直接映像として
目視でき得る表面汚染領域監視装置を提供することにあ
る。
放射性物質により汚染されたものの汚染領域を直接目視
するには放射線を目視する必要がある。
するには放射線を目視する必要がある。
この手段としてスパークチェンバにより放射線を可視光
に変換する。スパークチェンバからの可視光は入射放射
線に対応してランダムに発生するので、この光を撮像装
置、信号処理器等で積算し、監視装置のビデイオモニタ
で汚染領域像として表示する。
に変換する。スパークチェンバからの可視光は入射放射
線に対応してランダムに発生するので、この光を撮像装
置、信号処理器等で積算し、監視装置のビデイオモニタ
で汚染領域像として表示する。
以下、本発明の一実施例を詳細に説明する。第１図は本
発明の一実施例を示すブロック線図であり、８はスパー
クチェンバで、放射線光変換器１、高圧電源５、スケー
ラ７で構成する。２は撮像装置、３は信号処理器、４は
監視装置である。放射線光変換器１は第２図に示すよう
に導電ガラスでるる第１電極１１と、ステンレメッシュ
である第２電極１２、第３電極１３で構成する。また測
定時には第１電極１１、第２電極１２、第３電極１３は
ガスボンベ６より供給されるＱガスで満たされ、第１電
極１１、第２電極１３は高圧電源５より２ｋＶ〜４ｋＶ
の直流が印加される。ここで、放射性物質を含むサンプ
ル１４からの放射線が入射すると放電が起こり、この放
電は導電ガラスである第１電極１１の表面で光として観
測できる。また、放電回数（放射線入射数に比例）はス
ケーラ７で計数される。第１電極１１からの光は光学レ
ンズ１６を介してテレビカメラ１６で撮影される。
発明の一実施例を示すブロック線図であり、８はスパー
クチェンバで、放射線光変換器１、高圧電源５、スケー
ラ７で構成する。２は撮像装置、３は信号処理器、４は
監視装置である。放射線光変換器１は第２図に示すよう
に導電ガラスでるる第１電極１１と、ステンレメッシュ
である第２電極１２、第３電極１３で構成する。また測
定時には第１電極１１、第２電極１２、第３電極１３は
ガスボンベ６より供給されるＱガスで満たされ、第１電
極１１、第２電極１３は高圧電源５より２ｋＶ〜４ｋＶ
の直流が印加される。ここで、放射性物質を含むサンプ
ル１４からの放射線が入射すると放電が起こり、この放
電は導電ガラスである第１電極１１の表面で光として観
測できる。また、放電回数（放射線入射数に比例）はス
ケーラ７で計数される。第１電極１１からの光は光学レ
ンズ１６を介してテレビカメラ１６で撮影される。
テレビカメラ１６からの映像信号は第３図に示す信号処
理器３に入力される。信号処理器３はスライサ２１、フ
レームメモリ２２で構成する。テレビカメラ１６からの
映像信号はスライサ２１で２値化される。つまり第１電
極１１が発光した部分に相当する映像信号はｆ′１ｔｌ
として出力し、他は１１０”として出力する。スライサ
２１からの２値化信号はフレームメモリ２２で記憶され
る。フレームメモリ２２は例えばテレビカメラ１６で撮
影した全画面を５１２Ｘ５１２に分割し、１分割（画素
）当り２５５カウント（第１電極１１での１発光を１カ
ウントとする）まで加算して記憶できる。フレームメモ
リ２２からの信号Ｓ１はＤＭＡ（ダイレクトメモリアク
セス）により第４図に示す監視装置４に入力する。監視
装置４はバッファーメモリ２３、インターフェース２４
、ＣＲ，Ｔ２５で構成する。バッファーメモリ２３はフ
レームメモリ２２の全情報をＤＭＡで一括伝達できない
ため、１時記憶するのに用いる。バッファーメモリ２３
からの信号は、バッファーメモリ２３とＣＲＴ２５をハ
ード的に接続するインターフェース２４を介してＣＲＴ
２５に伝達される。以上述べたように、第２図に示す放
射性物質を含むサンプル１４の放射射を−・定時間測定
すると、第３図に示すフレームメモリ２２には、放射線
発生領域（汚染領域）およびその強度が記憶され、ＣＲ
，Ｔ２５には強度に応じた白黒濃度分布又はカラー分布
として画面に表示される。第５図は床面５６の汚染を観
測する表面汚染領域直視装置５０の外観を示す図である
。５１はスパークチェンバ８およびテレビカメラ１５を
組み込んだ検出部で、スパークチェンバ８にはガスボン
ベ６から減圧弁３５、ホース５５、流量計３６を介して
Ｑガスが供給される。なお３４はポンベ６のガス圧力を
指示する圧力計である。検出部５１のテレビカメラ１５
からの信号はケーブル５４を介して信号処理器３、監視
装置４が組込まれている計測器本体３２に送くられる。
理器３に入力される。信号処理器３はスライサ２１、フ
レームメモリ２２で構成する。テレビカメラ１６からの
映像信号はスライサ２１で２値化される。つまり第１電
極１１が発光した部分に相当する映像信号はｆ′１ｔｌ
として出力し、他は１１０”として出力する。スライサ
２１からの２値化信号はフレームメモリ２２で記憶され
る。フレームメモリ２２は例えばテレビカメラ１６で撮
影した全画面を５１２Ｘ５１２に分割し、１分割（画素
）当り２５５カウント（第１電極１１での１発光を１カ
ウントとする）まで加算して記憶できる。フレームメモ
リ２２からの信号Ｓ１はＤＭＡ（ダイレクトメモリアク
セス）により第４図に示す監視装置４に入力する。監視
装置４はバッファーメモリ２３、インターフェース２４
、ＣＲ，Ｔ２５で構成する。バッファーメモリ２３はフ
レームメモリ２２の全情報をＤＭＡで一括伝達できない
ため、１時記憶するのに用いる。バッファーメモリ２３
からの信号は、バッファーメモリ２３とＣＲＴ２５をハ
ード的に接続するインターフェース２４を介してＣＲＴ
２５に伝達される。以上述べたように、第２図に示す放
射性物質を含むサンプル１４の放射射を−・定時間測定
すると、第３図に示すフレームメモリ２２には、放射線
発生領域（汚染領域）およびその強度が記憶され、ＣＲ
，Ｔ２５には強度に応じた白黒濃度分布又はカラー分布
として画面に表示される。第５図は床面５６の汚染を観
測する表面汚染領域直視装置５０の外観を示す図である
。５１はスパークチェンバ８およびテレビカメラ１５を
組み込んだ検出部で、スパークチェンバ８にはガスボン
ベ６から減圧弁３５、ホース５５、流量計３６を介して
Ｑガスが供給される。なお３４はポンベ６のガス圧力を
指示する圧力計である。検出部５１のテレビカメラ１５
からの信号はケーブル５４を介して信号処理器３、監視
装置４が組込まれている計測器本体３２に送くられる。
計測器本体３２にはパネル５２が取付られていて、該パ
ネル５２にはＣＲＴ２５．スケーラ７、高圧電圧調整つ
まみ３３が組込まれている。表面汚染領域直視装置５０
はハンドル３０を押すことにより車輪３１で簡単に移動
できるようになっている。また、床面以外の小物の汚染
を観測できるよう検出部５１を取りはづせるようになっ
ている。第６図は小物の汚染領域を観測するときの装置
の一例を示したもので、検出部５１は、引出し６０付き
の受は台６１にセットする。サンプル６１は引出し６０
内に置き、引出し６０を押込むことにより検出部５１下
部にセットする。以上のべたように本発明装置によれば
、放射性物質により汚染されたものの汚染領域を直接目
視することができる。
ネル５２にはＣＲＴ２５．スケーラ７、高圧電圧調整つ
まみ３３が組込まれている。表面汚染領域直視装置５０
はハンドル３０を押すことにより車輪３１で簡単に移動
できるようになっている。また、床面以外の小物の汚染
を観測できるよう検出部５１を取りはづせるようになっ
ている。第６図は小物の汚染領域を観測するときの装置
の一例を示したもので、検出部５１は、引出し６０付き
の受は台６１にセットする。サンプル６１は引出し６０
内に置き、引出し６０を押込むことにより検出部５１下
部にセットする。以上のべたように本発明装置によれば
、放射性物質により汚染されたものの汚染領域を直接目
視することができる。
本発明によれば、放射性物質により汚染されたものの汚
染領域をスパークチェンバを利用して二次元発光分布に
変換し、撮像装置、監視装置等を介して直接映像として
目視できる新しい機能を有するので短時間に汚染領域を
把握できる効果がある。さらに汚染領域が明確になるの
で汚染されたものの除染に際して、汚染の拡大を防止に
有効である。
染領域をスパークチェンバを利用して二次元発光分布に
変換し、撮像装置、監視装置等を介して直接映像として
目視できる新しい機能を有するので短時間に汚染領域を
把握できる効果がある。さらに汚染領域が明確になるの
で汚染されたものの除染に際して、汚染の拡大を防止に
有効である。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック線（財）、第
２図は放射線光変換の原理説明図、第３図は撮像装置、
信号処理器のブロック線図、第４図は監視装置のブロッ
ク線図、第５図は床面の汚染を観測する表面汚染領域直
視装置の外観図、第６図は小物の汚染領域を観測する装
置の一例を示す図である。 １・・・放射線光変換器、２・・・撮像装置、３・・・
信号処理器、４・・・監視装置、１５・・・テレビカメ
ラ、２５・・・ＣＲ，Ｔ、５０・・・表面汚染領域監視
装置、５１・・・第１０ 箔２０ 不５０ ２ 茅４０ 、．１ 竿Ｓ口 第６目
２図は放射線光変換の原理説明図、第３図は撮像装置、
信号処理器のブロック線図、第４図は監視装置のブロッ
ク線図、第５図は床面の汚染を観測する表面汚染領域直
視装置の外観図、第６図は小物の汚染領域を観測する装
置の一例を示す図である。 １・・・放射線光変換器、２・・・撮像装置、３・・・
信号処理器、４・・・監視装置、１５・・・テレビカメ
ラ、２５・・・ＣＲ，Ｔ、５０・・・表面汚染領域監視
装置、５１・・・第１０ 箔２０ 不５０ ２ 茅４０ 、．１ 竿Ｓ口 第６目
Claims (1)
- １、放射性物質からの放射線を光に変換するスパークチ
ェンバト、該スパークチェンバからの光の発光位置及び
発光数を検知する撮像装置と、該撮像装置からの検知信
号を記憶処理する信号処理器と、上記検知信号から放射
性物質の分布を演算処理、表示する監視装置とを具備し
、放射性物質により汚染したものの二次元汚染分布を直
接目視できることを特徴とした表面汚染領域直視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17564081A JPS5877680A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | 表面汚染領域直視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17564081A JPS5877680A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | 表面汚染領域直視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5877680A true JPS5877680A (ja) | 1983-05-11 |
Family
ID=15999615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17564081A Pending JPS5877680A (ja) | 1981-11-04 | 1981-11-04 | 表面汚染領域直視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5877680A (ja) |
-
1981
- 1981-11-04 JP JP17564081A patent/JPS5877680A/ja active Pending
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