JPS5871403A - 管状試験物体のパラメ−タ測定装置 - Google Patents
管状試験物体のパラメ−タ測定装置Info
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- JPS5871403A JPS5871403A JP57174111A JP17411182A JPS5871403A JP S5871403 A JPS5871403 A JP S5871403A JP 57174111 A JP57174111 A JP 57174111A JP 17411182 A JP17411182 A JP 17411182A JP S5871403 A JPS5871403 A JP S5871403A
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- G01S15/00—Systems using the reflection or reradiation of acoustic waves, e.g. sonar systems
- G01S15/88—Sonar systems specially adapted for specific applications
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- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は一般にパイプ形状まだはチューブ形状の試験物
体（以下単に管状試験物体という）のパラメータを測定
するためのｉ置に関する。かかる物体の種々のパラメー
タたとえば外径、内径、壁厚、楕円率、偏心率などを測
定により求める場合には一般にパルス−エコー法と呼ば
れる技術が用いられている。パルス−エコー技術では所
望のパラメータは、測定されるべき物体に向けて測定信
号パルスを発し、これから結果するエコーパルスの進行
時間を測定しそ、してこの測定された時間に基いて計算
にょ請求められる。
体（以下単に管状試験物体という）のパラメータを測定
するためのｉ置に関する。かかる物体の種々のパラメー
タたとえば外径、内径、壁厚、楕円率、偏心率などを測
定により求める場合には一般にパルス−エコー法と呼ば
れる技術が用いられている。パルス−エコー技術では所
望のパラメータは、測定されるべき物体に向けて測定信
号パルスを発し、これから結果するエコーパルスの進行
時間を測定しそ、してこの測定された時間に基いて計算
にょ請求められる。
本発明は特に比較的小口径の管状試験物体の内部から上
記の方式による測定を実施するだめの測定装置に関する
。この場合には、試験物体に向けて制定信号パルスたと
えば超音波パルスを発信し、また該試験物体に衝突して
反射されてくるエコー信号パルスを受信するだめの変換
器を、その変換器のだめのホルダーと一緒に試験物体内
に取りつける必要がある。従来性なわれている１つの方
法によれば、変換器は軸線方向に信号を送受信するよう
に装置内に配置されそして変換器の主軸線を中心として
回転可能な、該主軸線に対してある角度だけ、一般には
４５゜ の角度戸は傾けて配置された反射鏡がその装置
に使用されている。
記の方式による測定を実施するだめの測定装置に関する
。この場合には、試験物体に向けて制定信号パルスたと
えば超音波パルスを発信し、また該試験物体に衝突して
反射されてくるエコー信号パルスを受信するだめの変換
器を、その変換器のだめのホルダーと一緒に試験物体内
に取りつける必要がある。従来性なわれている１つの方
法によれば、変換器は軸線方向に信号を送受信するよう
に装置内に配置されそして変換器の主軸線を中心として
回転可能な、該主軸線に対してある角度だけ、一般には
４５゜ の角度戸は傾けて配置された反射鏡がその装置
に使用されている。
しかしガからかかる従来の構成は測定精度が、該反射鏡
の回転軸線と該変換器の主軸線とがとのでいと正確に一
致しているかによって大きく左右されるという欠点があ
る。変換器の主軸線に対する、従って試験物体の軸に対
する反射鏡の回転軸線の振動が生じた場合、外径、内径
、楕円率、偏心率等の測定はもはや一義的に決定され得
なくなる。なぜならばこの場合、基準、例えば試験物体
の軸線は明らかに変換器に関して動くことになるからで
ある。反射鏡のアンバランスのために、望ましからざる
振動の影響が一層増幅され、これがさらに測定精度を低
下させる。
の回転軸線と該変換器の主軸線とがとのでいと正確に一
致しているかによって大きく左右されるという欠点があ
る。変換器の主軸線に対する、従って試験物体の軸に対
する反射鏡の回転軸線の振動が生じた場合、外径、内径
、楕円率、偏心率等の測定はもはや一義的に決定され得
なくなる。なぜならばこの場合、基準、例えば試験物体
の軸線は明らかに変換器に関して動くことになるからで
ある。反射鏡のアンバランスのために、望ましからざる
振動の影響が一層増幅され、これがさらに測定精度を低
下させる。
したがって本発明の目的は上記の欠陥を排除し、所望パ
ラメータの決定のために必要な信号搬送時間が１つの管
状試験物体の全く同一の断面平面に関して測定できるよ
うにすることである。
ラメータの決定のために必要な信号搬送時間が１つの管
状試験物体の全く同一の断面平面に関して測定できるよ
うにすることである。
しかして本発明κよれば、管状試験物体のパラメータ測
定装置であって、試験物体に向けて測定信号を発信しそ
して該試験物体によって反射されたエコー信号を受信す
るための変換器を用い、そしてまた該変換器および該試
験物体に対向配置された第１の単一反射鏡を用い、これ
によって測定信号とエコー信号とが該試験物体の予め定
められた断面平面内を進行させられ、且つ第１の伝送路
に沿って変換器と試験物体との間を案内させられるよう
になっている装置において、第２の合成反射鏡を設けた
ことを特徴とする測定装置が提供される。該第２の合成
反射鏡によって測定信号およびエコー信号は第２の伝送
路に沿っても変換器と試験物体との間を案内される。
定装置であって、試験物体に向けて測定信号を発信しそ
して該試験物体によって反射されたエコー信号を受信す
るための変換器を用い、そしてまた該変換器および該試
験物体に対向配置された第１の単一反射鏡を用い、これ
によって測定信号とエコー信号とが該試験物体の予め定
められた断面平面内を進行させられ、且つ第１の伝送路
に沿って変換器と試験物体との間を案内させられるよう
になっている装置において、第２の合成反射鏡を設けた
ことを特徴とする測定装置が提供される。該第２の合成
反射鏡によって測定信号およびエコー信号は第２の伝送
路に沿っても変換器と試験物体との間を案内される。
しかしこの信号は試験物体の上記と同一の断面平面内を
進行する。この第２の伝送路の長さは上記第１の伝送路
の長さよりも次の条件を満足するだけ長く設定される。
進行する。この第２の伝送路の長さは上記第１の伝送路
の長さよりも次の条件を満足するだけ長く設定される。
すなわち、試験物体に向けて測定信号が発せられてから
第１の伝送路を介して第１の複合エコー信号が受信され
るまでの時間と、第２の伝送路を介して第２の複素エコ
ー信号が受信されるまでの時間との２つの時間の間の時
間差が両複合エコー信号が互に影響し合わないだけ十分
に大きくなるよう設定される。
第１の伝送路を介して第１の複合エコー信号が受信され
るまでの時間と、第２の伝送路を介して第２の複素エコ
ー信号が受信されるまでの時間との２つの時間の間の時
間差が両複合エコー信号が互に影響し合わないだけ十分
に大きくなるよう設定される。
第１の伝送路と第２の伝送路とによって決定される関連
する２つのエコー信号の進行時間すなわち搬送時間を互
に合算することｋよって、変換器ホルダーの振動にかか
わシなく例えば内径が正確に測定されることとなる。
する２つのエコー信号の進行時間すなわち搬送時間を互
に合算することｋよって、変換器ホルダーの振動にかか
わシなく例えば内径が正確に測定されることとなる。
実際に、その変換器ホルダーが一方の側に動いた時には
、その側における搬送時間はδだけ減少する。しかし同
時に他方の側で測定された搬送時間は同じ分量δだけ増
加する。したがって両搬送時間の測定値の和は変換器□
ホルダーが基準軸線に関して占める位置に無関係となる
。外径、楕円率、偏、６率に関する測定の場合も同じこ
とが言える。本発明の装置の第２の利点は壁厚測定によ
って決定される測定速度を２倍も増加させることができ
る点である。
、その側における搬送時間はδだけ減少する。しかし同
時に他方の側で測定された搬送時間は同じ分量δだけ増
加する。したがって両搬送時間の測定値の和は変換器□
ホルダーが基準軸線に関して占める位置に無関係となる
。外径、楕円率、偏、６率に関する測定の場合も同じこ
とが言える。本発明の装置の第２の利点は壁厚測定によ
って決定される測定速度を２倍も増加させることができ
る点である。
本発明の１つの好ましい実施態様においては、単一反射
鏡は変換器の方向に面を向けそして変換器の主軸線に対
して予め定められた角度、好ましく駄４５° の角度を
なして配置された反射面を含み、そして合成反射鏡はそ
の変換器から遠ざかる方向に面を向けそして該変換器の
主軸線に対して予め定められた角度をなして配置された
反射面を含む。
鏡は変換器の方向に面を向けそして変換器の主軸線に対
して予め定められた角度、好ましく駄４５° の角度を
なして配置された反射面を含み、そして合成反射鏡はそ
の変換器から遠ざかる方向に面を向けそして該変換器の
主軸線に対して予め定められた角度をなして配置された
反射面を含む。
簡単な実施例においては、合成反射鏡は変換器の方向に
面を向、け且つ次のように配置された１つの補助反射面
を含む。すなわち、変換器の主軸線並びに上記した変換
器から遠ざかる方向に面を向けた反射面の主軸線に関し
て、該補助反射面は、上記第２の伝送路が３つの直線線
分から構成されるような角度で配置される。
面を向、け且つ次のように配置された１つの補助反射面
を含む。すなわち、変換器の主軸線並びに上記した変換
器から遠ざかる方向に面を向けた反射面の主軸線に関し
て、該補助反射面は、上記第２の伝送路が３つの直線線
分から構成されるような角度で配置される。
、本発明の他の実施態様によれば、合成反射鏡はさらに
変換器の方向に面を向けた補助反、射面と該変換器から
遠ざかる方向に面を向けた補助反射面との２つの補助反
射面を含む。
変換器の方向に面を向けた補助反、射面と該変換器から
遠ざかる方向に面を向けた補助反射面との２つの補助反
射面を含む。
この２つの補助反射面は変換器並びに変換器から遠ざか
る方向に面を向けた上記反射面に関して、第２の伝送路
が４つの直線線分から構成されるように配置される。
る方向に面を向けた上記反射面に関して、第２の伝送路
が４つの直線線分から構成されるように配置される。
変換器ホルダーの振動によって惹起されるような測定誤
差は本発明に従った次のごとき装置構成により完全に排
除できる。すなわち、上記第１の反射鏡と第２の合成反
射鏡とを互に関して、変換器から発せられた測定信号パ
ルスが直径方向に互に反対の２つの方向でその試験物体
に向けられるように配置するのである。
差は本発明に従った次のごとき装置構成により完全に排
除できる。すなわち、上記第１の反射鏡と第２の合成反
射鏡とを互に関して、変換器から発せられた測定信号パ
ルスが直径方向に互に反対の２つの方向でその試験物体
に向けられるように配置するのである。
上記の第１の反射鏡と第２の合成反射鏡とが一体的に変
換器の主軸線を中心として回転可能であるように組合わ
せることによって本発明によるコンパクトで簡単な実施
例が与えられる。
換器の主軸線を中心として回転可能であるように組合わ
せることによって本発明によるコンパクトで簡単な実施
例が与えられる。
測定速度をさらに向上させるためには、上記した実施例
を複数組合わせるのが有利′である。
を複数組合わせるのが有利′である。
以下、添付図面を参照しながら図示した実施例について
本発明をさらに詳細に説明する。
本発明をさらに詳細に説明する。
第１図を参照すると、管状試験物体の一部分が断面で示
されており参照数字１で指示されている。この管状試験
物体に関する各種パラメータが管の内側から測定される
。参照数字２で略図的に示したのはその内部に変換器を
有するホルダーである。変換器は試験物体特に管部分１
の壁に向けて測定信号、特に測定信号パルスを送り出し
そして管部分の壁によって反射されたエコー信号、特に
エコー信号パルスを受信する。このホルダー／変換器は
管部分１の内部にその幾何学的主軸線が管部分１の軸線
に実質的に一致するように配置されている。更に、該変
換器はそれぞれ管横断面に対応する測定信号ビームを送
信しエコー信号ビームを受信するように配置されている
。
されており参照数字１で指示されている。この管状試験
物体に関する各種パラメータが管の内側から測定される
。参照数字２で略図的に示したのはその内部に変換器を
有するホルダーである。変換器は試験物体特に管部分１
の壁に向けて測定信号、特に測定信号パルスを送り出し
そして管部分の壁によって反射されたエコー信号、特に
エコー信号パルスを受信する。このホルダー／変換器は
管部分１の内部にその幾何学的主軸線が管部分１の軸線
に実質的に一致するように配置されている。更に、該変
換器はそれぞれ管横断面に対応する測定信号ビームを送
信しエコー信号ビームを受信するように配置されている
。
変換器に向き合ってこれと対面する第１反射面３が変換
器から発信された測定信号を所定角度、図示例では９０
°偏向させて管部分１の壁の方向に向かわせるように配
置されている。この第１の単一反射面は変換器と管部分
１の壁との間の第１伝送路を画定する。この第１伝送路
を通って変換器から発信された測定信号波、特に測定信
号パルスは管部分−１の１つの横断面を含む平面に沿っ
て進行しそして管部分の壁に到達する。さらに第２の合
成反射鏡が変換器に対向して設けられている。
器から発信された測定信号を所定角度、図示例では９０
°偏向させて管部分１の壁の方向に向かわせるように配
置されている。この第１の単一反射面は変換器と管部分
１の壁との間の第１伝送路を画定する。この第１伝送路
を通って変換器から発信された測定信号波、特に測定信
号パルスは管部分−１の１つの横断面を含む平面に沿っ
て進行しそして管部分の壁に到達する。さらに第２の合
成反射鏡が変換器に対向して設けられている。
この第２の合成反射鏡は変換器と向き合った補助反射面
４と該反射面４から反射された測定信号波を受ける反射
面５とからなる。該補助反射面４はホルダー／変換器の
幾何学的長手方向軸線に対して次のような角度をなして
位置ぎめされている。すなわち、変換器からこの補助反
射面に入射する測定信号波、特に測定信号パルスが反射
面５に向けて反射されるような角度で配置されている。
４と該反射面４から反射された測定信号波を受ける反射
面５とからなる。該補助反射面４はホルダー／変換器の
幾何学的長手方向軸線に対して次のような角度をなして
位置ぎめされている。すなわち、変換器からこの補助反
射面に入射する測定信号波、特に測定信号パルスが反射
面５に向けて反射されるような角度で配置されている。
一方、反射面５は反射面３および変換器２に関して次の
ように位置ぎめされている。すなわち、補助反射面４か
ら反射面５に入射した。４＋］定信号波を管部分１の同
一横断面平面に沿って進みそしてその管部分の内壁に到
達するように配置されている。
ように位置ぎめされている。すなわち、補助反射面４か
ら反射面５に入射した。４＋］定信号波を管部分１の同
一横断面平面に沿って進みそしてその管部分の内壁に到
達するように配置されている。
補助反射面４と反射面５とは３本の直線線分からなる第
２の伝送路を画定している。ここで、変換器２から測定
信号パルスが発せられると、管部分１の内壁に衝突して
反射されることによって生じたエコーパルスがタトエば
時間ｔ１ 後に上記の第１伝送路を沿って変換器によ
って受信されるであろう。また、内壁によって反射され
た上記の第２伝送路に沿って変換器に到達するエコーパ
ルスはたとえば時間ｔ２ 後に該変換器によって受信
されるであろう。この２つの時間ｔ１ とｔ！ との
和が管部分１の内径の測定値を与える。この場合に、補
助反射面４と反射面５とから合成される反射鏡は次のよ
うに予め正確に寸法ぎめされている。すなわち、時間ｔ
２ が時間１゜よりも長くそして試験物体に向けて測
定信号が発せられてから第１の伝送路を介して第１の複
合エコー信−が受信されるまでの時間と第２の伝送路を
介して第２の複合エコー信号が受信されるまでの時間と
の２つの時間の間の時間差が両エコー信号成夛の相互影
響を生じない程度に十分大きくなるように決定されイ宣
へ７ も々；ｒｒ−ｒａ−１つ小梅・づ；：；シ・エコ
ー信−ｇは発信された１つの測定信号から生じた１組の
複数のエコ、−信号であって、各ｍｌには１つの前壁エ
コーと複数の後壁エコーが包含されている。反射面３お
よび５によって反射された測定信号ビームがそれぞれ管
部分の同一横断平面に沿って進行するようにするために
は、反射面５の位置角度βが４５°−αになるようにす
ればよい。ここで、αは管部分１の関連する横断面平面
と補助反射面４とがなす角度を表わす。実用的実施態様
においては、反射面３と５、そして更に補助反射面４と
は互に結合されて１個体の部材を構成し、この１個体部
材が全体として変換器の幾何学的長手方向軸線を中心と
して回転されうるよう配設される。この構成の場合には
、反射面３と合成反射鏡とは互に関して、反射面３およ
び５によって反射された測定信号波が管部分１の壁に向
ってそれぞれ直径方向にただし互に逆方向に進行するよ
うに配置される。
２の伝送路を画定している。ここで、変換器２から測定
信号パルスが発せられると、管部分１の内壁に衝突して
反射されることによって生じたエコーパルスがタトエば
時間ｔ１ 後に上記の第１伝送路を沿って変換器によ
って受信されるであろう。また、内壁によって反射され
た上記の第２伝送路に沿って変換器に到達するエコーパ
ルスはたとえば時間ｔ２ 後に該変換器によって受信
されるであろう。この２つの時間ｔ１ とｔ！ との
和が管部分１の内径の測定値を与える。この場合に、補
助反射面４と反射面５とから合成される反射鏡は次のよ
うに予め正確に寸法ぎめされている。すなわち、時間ｔ
２ が時間１゜よりも長くそして試験物体に向けて測
定信号が発せられてから第１の伝送路を介して第１の複
合エコー信−が受信されるまでの時間と第２の伝送路を
介して第２の複合エコー信号が受信されるまでの時間と
の２つの時間の間の時間差が両エコー信号成夛の相互影
響を生じない程度に十分大きくなるように決定されイ宣
へ７ も々；ｒｒ−ｒａ−１つ小梅・づ；：；シ・エコ
ー信−ｇは発信された１つの測定信号から生じた１組の
複数のエコ、−信号であって、各ｍｌには１つの前壁エ
コーと複数の後壁エコーが包含されている。反射面３お
よび５によって反射された測定信号ビームがそれぞれ管
部分の同一横断平面に沿って進行するようにするために
は、反射面５の位置角度βが４５°−αになるようにす
ればよい。ここで、αは管部分１の関連する横断面平面
と補助反射面４とがなす角度を表わす。実用的実施態様
においては、反射面３と５、そして更に補助反射面４と
は互に結合されて１個体の部材を構成し、この１個体部
材が全体として変換器の幾何学的長手方向軸線を中心と
して回転されうるよう配設される。この構成の場合には
、反射面３と合成反射鏡とは互に関して、反射面３およ
び５によって反射された測定信号波が管部分１の壁に向
ってそれぞれ直径方向にただし互に逆方向に進行するよ
うに配置される。
もちろん、管部分１の外壁による反射によつて生じるエ
コー信号を測定することも可能である。この場合も、第
１の伝送路による信号伝搬時間ｔ、と第２の伝送路によ
る信号伝搬時間ｔ； とをそれぞれ測定すれば、その管
部分の外径が測定された時間ｔ２ と弓 との和によ
って求められ、変換器の振動によって測定精度が悪影響
をこうむることなく正確な測定ができる。楕円率、偏心
率、壁厚などの他の種々のパラメータも同様原理により
ｔｌ、ｔｌ 、ｔｚ、’Ｂ等の時間間隔を測定すること
によって求めることができる。
コー信号を測定することも可能である。この場合も、第
１の伝送路による信号伝搬時間ｔ、と第２の伝送路によ
る信号伝搬時間ｔ； とをそれぞれ測定すれば、その管
部分の外径が測定された時間ｔ２ と弓 との和によ
って求められ、変換器の振動によって測定精度が悪影響
をこうむることなく正確な測定ができる。楕円率、偏心
率、壁厚などの他の種々のパラメータも同様原理により
ｔｌ、ｔｌ 、ｔｚ、’Ｂ等の時間間隔を測定すること
によって求めることができる。
第２図に別の実施例を示す。第１図の実施例と同様な部
分に対しては第２図においても同じ参照数字が使用され
ている。第１図図示の実施例と第２図図示の実施例との
差異は次の点のみである。すなわち、第１図に示した単
一の補助反射面の代りに、第２図の実施例では１対の補
助反射面６．７が使用されている点である。第２図の実
施例の場合では、第２の伝送路は４つの直線線分よりな
る。補助反射面６と７とは互にある角度をもって配置さ
れている。その他の点については第１図の実施例と第２
図の実施例とは動作に関する限り全く同一である。
分に対しては第２図においても同じ参照数字が使用され
ている。第１図図示の実施例と第２図図示の実施例との
差異は次の点のみである。すなわち、第１図に示した単
一の補助反射面の代りに、第２図の実施例では１対の補
助反射面６．７が使用されている点である。第２図の実
施例の場合では、第２の伝送路は４つの直線線分よりな
る。補助反射面６と７とは互にある角度をもって配置さ
れている。その他の点については第１図の実施例と第２
図の実施例とは動作に関する限り全く同一である。
なお補足のために記載すれば、測定信号として超音波パ
ルスが使用さし各場合には試験を受ける管状物体は水の
ような注入液で充填されている必要がある。
ルスが使用さし各場合には試験を受ける管状物体は水の
ような注入液で充填されている必要がある。
第１図および第２図に示したような複数の反射鏡組立体
を多面鏡を用いて１個体に組合わせることによって測定
速度を向上させることができる。第３図はこのような構
成において直径方向−逆向きに進行する２組の信号波が
どのようにして形成されるかを図式的に示している。こ
のようにすれば測定速度はさらに２倍上昇される。もち
ろん、面の数をさらに多くすれば、それだけ測定速度が
さらに上昇する。
を多面鏡を用いて１個体に組合わせることによって測定
速度を向上させることができる。第３図はこのような構
成において直径方向−逆向きに進行する２組の信号波が
どのようにして形成されるかを図式的に示している。こ
のようにすれば測定速度はさらに２倍上昇される。もち
ろん、面の数をさらに多くすれば、それだけ測定速度が
さらに上昇する。
以上のごとく本発明によれば、管状試験物体の関係パラ
メータ（諸寸法〕の測定がパルス相互干渉の問題なしに
、且つまた管の軸線などの基準線に対する変換器ホルダ
ーの相対運動により測定精度が悪影響されることなしに
実施可能となる。各測定において、外径、内径、楕円率
、偏心率、壁厚等のパラメータを求めることができる。
メータ（諸寸法〕の測定がパルス相互干渉の問題なしに
、且つまた管の軸線などの基準線に対する変換器ホルダ
ーの相対運動により測定精度が悪影響されることなしに
実施可能となる。各測定において、外径、内径、楕円率
、偏心率、壁厚等のパラメータを求めることができる。
第１図は本発明による測定装置の第１実施例を示す概略
図であり、 第２図は別の実施例を示す概略図であシ、第３図は測定
速度を上昇させることを意図した本発明の実施例を示す
概略図である。 〔主要部分の符号の説明〕 １・・・管状試験物体 ２・・・変換器 ３・・・第１の単一反射面 ４．５；６．７．５・・・合成反射鏡 ４；６．７・・・補助反射面
図であり、 第２図は別の実施例を示す概略図であシ、第３図は測定
速度を上昇させることを意図した本発明の実施例を示す
概略図である。 〔主要部分の符号の説明〕 １・・・管状試験物体 ２・・・変換器 ３・・・第１の単一反射面 ４．５；６．７．５・・・合成反射鏡 ４；６．７・・・補助反射面
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 試験物体に測定信号を発信しそして該試験物体に
よって反射されたエコー信号を受信するだめの変換器と
、該変換器および該試験物体に対向して配置された第１
の単一反射鏡とを包含し、測定信号およびエコー信号が
該試験物体の予め定められた断面平面内を進行せしめら
れそして第１の伝送路に沿って該変換器と該試験物体と
の間を案内されるようになっている管状試験物体のパラ
メータ測定装置において、第２の合成反射鏡が設けられ
ており、これによって測定゛信°号およびエコー信号が
同じく該試験物体の上記断面平面内を進行せしめられそ
して゛第２の伝送路に沿って該変換器と該試験物体との
間を案内され、該第２伝送路の路長は関連する上記第１
伝送路の路長工りも、該試験物体に向け、て測定信号が
発せられて第１伝送路を介して第１の複合エコー信号が
受信されるまでの時間と、第２伝送路を介して第２の複
合エコー信号が受信されるまでの時間との２つの時間の
時間差ｊ；該両複合エコー信号が互に影響し合わない程
度に十分大であるようによシ長く設定されていることを
特徴とする測定装置。 ２ 該合成反射鏡が該変換器から遠ざかる方向に面を向
けそして該変換器の主軸線に対して予め定められた角度
をもって配置された反射面を含むことを特徴とする特許
請求の範囲第１項に記載の測定装置。 ３、該合成反射鏡が該変換器の方向に面を向けそして該
変換器の主軸線および該変換器から遠ざかる方向に面を
向けた反射面の主軸線に対して、上記第２伝送路が３つ
の直線線分から、構成されるような角度をもって配置さ
−れた１つの補助反射面を含むことを特徴とする特許請
求の範囲第２項に記載の測定装置。 ４．該合成反射鏡がさらに該変換器の方向に・面を向け
た補助反射面と該変換器から遠ざかる方向に面を向けた
補助反射面とを含み、該２つの補助反射面は上記第２伝
送路が４つの直線線分から構成されるように該変換器並
びに前記変換器から遠ざかる方向に面を向けた反射面に
関して配置されていることを特徴とする特許請求の範囲
第２項に記載の測定装置。 ５、該第１の単一反射鏡と該第２の合成反射鏡とが互に
関して、該変換器によって発せられた測定信号パルスが
直径方向に互に反対の２つの方向から該試験物体に送ら
れるよう配置されていることを特徴とする特許に記載の
測定装置。 ６、該第１の単一反射鏡と該第２の合成反射鏡とが全体
として該変換器の主軸線を中心として回転可能であるこ
とを特徴とする前記特許請求の範囲第１項乃至５項のい
ずれかに記載の測定装置。 ７、 特許請求の範囲第５項または第６項による装置の
複数を組合わせて包含する管状試験物体のパラメータ測
定装置。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| NL8104526 | 1981-10-05 | ||
| NLAANVRAGE8104526,A NL185585C (nl) | 1981-10-05 | 1981-10-05 | Stelsel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobject. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5871403A true JPS5871403A (ja) | 1983-04-28 |
| JPH0216966B2 JPH0216966B2 (ja) | 1990-04-19 |
Family
ID=19838165
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP57174111A Granted JPS5871403A (ja) | 1981-10-05 | 1982-10-05 | 管状試験物体のパラメ−タ測定装置 |
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| JP (1) | JPS5871403A (ja) |
| DE (1) | DE3271175D1 (ja) |
| NL (1) | NL185585C (ja) |
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1981
- 1981-10-05 NL NLAANVRAGE8104526,A patent/NL185585C/xx not_active IP Right Cessation
-
1982
- 1982-09-29 US US06/427,570 patent/US4502330A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-10-04 DE DE8282201238T patent/DE3271175D1/de not_active Expired
- 1982-10-04 EP EP82201238A patent/EP0076553B1/en not_active Expired
- 1982-10-05 JP JP57174111A patent/JPS5871403A/ja active Granted
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NL8104526A (nl) | 1983-05-02 |
| DE3271175D1 (en) | 1986-06-19 |
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| US4502330A (en) | 1985-03-05 |
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