NL8104526A - Stelsel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobjekt. - Google Patents

Stelsel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobjekt. Download PDF

Info

Publication number
NL8104526A
NL8104526A NL8104526A NL8104526A NL8104526A NL 8104526 A NL8104526 A NL 8104526A NL 8104526 A NL8104526 A NL 8104526A NL 8104526 A NL8104526 A NL 8104526A NL 8104526 A NL8104526 A NL 8104526A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
transducer
measuring
reflector
measuring object
transmission path
Prior art date
Application number
NL8104526A
Other languages
English (en)
Other versions
NL185585C (nl
Original Assignee
Neratoom
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Neratoom filed Critical Neratoom
Priority to NLAANVRAGE8104526,A priority Critical patent/NL185585C/nl
Priority to US06/427,570 priority patent/US4502330A/en
Priority to DE8282201238T priority patent/DE3271175D1/de
Priority to EP82201238A priority patent/EP0076553B1/en
Priority to JP57174111A priority patent/JPS5871403A/ja
Publication of NL8104526A publication Critical patent/NL8104526A/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL185585C publication Critical patent/NL185585C/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/221Arrangements for directing or focusing the acoustical waves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B17/00Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S15/00Systems using the reflection or reradiation of acoustic waves, e.g. sonar systems
    • G01S15/88Sonar systems specially adapted for specific applications
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/028Material parameters
    • G01N2291/02854Length, thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/10Number of transducers
    • G01N2291/101Number of transducers one transducer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/26Scanned objects
    • G01N2291/263Surfaces
    • G01N2291/2636Surfaces cylindrical from inside

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

VO 2235 -1-
Stelsel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobjekt.
De uitvlnding heeft in het aigemeen betrekking op een steisel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobjekt. Teneinde de van belang zijnde parameters van zulk een meetobjekt, zoals de buitendiameter, de binnendiameter, de wanddikte, de ovaliteit en de 5 excentriciteit, te bepalen, wordt in het aigemeen gebruik gemaakt van een puls-echotechniek waarbij uit looptijden van echopulsen die zijn ontstaan als gevolg van naar het meetobjekt uitgezonden meetsignaal-pulsen, de gewenste parameters kunnen worden berekend.
De ui'tvinding heeft nu in het bijzonder betrekking op een meet-10 steisel dat is bedoeld am de bovenomschreven metingen te kunnen uitvoeren vanaf de binnenzijde van pijp- of buisvormige meetobjekten met relatief geringe diameters. Het is dan een vereiste dat de transducent voor het uitzenden van meetsignaalpulsen, b.v. ultrageluidspulsen, naar het meetobjekt resp. voor het ontvangen van echosignaalpulsen die zijn 15 ontstaan door reflecties tegen het meetobjekt, met de voor deze transducent dienende houder samen in het desbetreffende meetobjekt ' passen. Volgens een voorgestelde oplossing is de transducent dan ingericht om signalen in axiale richting uit te zenden resp. te ontvangen, waarbij een om de hoofdas van de transducent draaibare reflector die onder 20 een zekere hoek, in de regel 45° ten opzichte van deze hoofdas is opge-steld, is toegepast.
Aan een dergelijke configuratie kleeft echter het bezwaar dat de nauwkeurigheid van de metingen sterk afhankelijk is van de mate waarin de draaiingsas van de reflector en de hoofdas van de transducent 25 samenvallen. Als gevolg van slingeringen van de draaiingsas van de reflector ten opzichte van de hoofdas van de transducent en daarmee ten opzichte van de meetobjektas, zijn de metingen betreffende de buitendiameter, binnendiameter, ovaliteit en excentriciteit niet meer eenduidig vast te leggen aangezien de referentie, t.w. de meetobjektas ten opzichte 30 Vein de transducent schijnbaar beweegt. Door de onbalans van de reflector wordt het effekt van ongewenste fibraties nog versterkt waardoor extra afbreuk wordt gedaan aan de nauwkeurigheid van de metingen.
Met de uitvinding is nu beoogd om bovengeschetste bezwaren op te heffen en het mogelijk te maken om in eenzelfde doorsnijdingsvlak van een 8104526 *? -2- pijp- of buisvormig meetobjekt de voor de bepaling van de gewenste parameter benodigde looptijden te me ten. Daartoe is een stelsel voor het me-ten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobjekt, met behulp van een transducent voor het uitzenden van meetsignalen naar het meet-5 objekt resp. voor het ontvangen van echosignalen die door het meetobjekt zijn gereflecteerd, alsook. van een tegenover de transducent en het meetobjekt opgestelde eerste en enkelvoucLige reflector waardoor meet- en echosignalen in een voorafbepaald doorsnedevlak van het meetobjekt verlo-pend worden gericht resp.. tussen de transducent en het meetobjekt wor-10 den geleid langs een eerste transmissiepad, volgens de. uitvinding geken-merkt door een tweede en samengestelde reflector, waardoor meet- en echosignalen eveneens in het genoemde doorsnedevlak van het meetobjekt verlo-pend worden gericht resp.. tussen de transducent en het meetobjekt worden geleid langs een tweede transmissiepad, waarvan de transmissielengte dus-15 danig groter is dan die van het desbetreffende eerste transmissiepad, dat het verschil tussen de beide tijdsintervallen van een naar het meetobjekt gezonden. meetsignaal en het eerste via het desbetreffende eerste transmissiepad ontvangen echosignaalcomplex en het tweede via het desbetreffende tweede transmissiepad ontvangen echosignaalcomplex zo groot is dat 20 deze beide echosignaalcomplexen elkaar niet beinvloeden.
Door nu telkens de door het eerste transmissiepad en het tweede transmissiepad bepaalde looptijden van de desbetreffende echopulsen te sommeren, wordt b.v. de meting van de binnendiameter onafhankelijk van slingeringen van de transducenthouder. Wanneer nl. deze transducenthouder 25 naar een ene zijde beweegt neemt voor die ene zijde de desbetreffende looptijd met een bedrag delta af, terwijl de voor de andere zijde geme-ten looptijd met datzelfde bedrag toeneemt. De som van de aldus gemeten looptijden is dan onafhankelijk van de positie die de transducenthouder ten opzichte van de as inneemt. Ditzelfde geldt voor metingen betreffen-30 de de buitendiameter, en de ovaliteit en excentriciteit. Een tweede voordeel is dat de meetsnelheid, die is bepaald door de wanddiktemeting, met een faktor twee kan worden vergroot.
Een voorkeursuitvoeringsvorm van een stelsel is volgens de on-derhavige uitvinding verder daardoor gekenmerkt dat de enkelvoudige re-35 flector een naar de transducent toegekeerd reflectorvlak omvat, dat ten opzichte van de hoofdas van de transducent onder een voorafbepaalde hoek, bij voorkeur 45° is opgesteld, en de.samengestelde reflector een van de transducent afgekeerd reflectorvlak omvat, dat ten opzichte van de hoofdas van de transducent onder een voorafbepaalde hoek is opgesteld.
8104525 ....________i* V_____
1 I
............... _ _ 4 ________________ ___ ___________ ________ -3-
Een. eenvoudige uitvoeringsvorm is volgens de uitvinding daar-door gekenmerkt dat de samengestelde reflector een naar de transducent toegekeerde hulpreflectorvlak omvat dat onder een zodanige hoek ten opzichte van de hoofdas van de transducent en die van het genoemde 5 van de transducent afgekeerde ref lectorvlak is opgesteld, dat het des-betreffende tweede transmissiepad is samengesteld uit drie rechtlijnige segmenten.
' Een andere uitvoeringsvorm van de uitvinding is daardoor gekenmerkt dat de samengestelde reflector verder omvat een naar de transdu-10 cent toegekeerd hulpreflectorvlak en een naar het genoemde van de transducent afgekeerde reflectorvlak toegekeerd hulpreflectorvlak, welke beide hulpreflectorvlakken met betrekking tot de transducent en het genoemde van de transducent afgekeerde reflectorvlak zodanig zijn opgesteld dat het desbetreffende tweede transmissiepad is samengesteld uit 15 vier rechtlijnige segmenten.
Door trillingen van de transducenthouder geintroduceerde onnauw-keurigheden in de metingen kunnen volledig worden geelimineerd wanneer het stelsel volgens de uitvinding daardoor is gekenmerkt dat de genoemde eerste reflector en de samengestelde reflector zodanig ten op-20 zichte van elkaar zijn opgesteld dat een door de transducent teweegge-brachte meetsignaalpuls langs twee diametrale en tegengestelde richtin-gen naar het meetobjekt wordt gezonden.
Een compacte en eenvoudige uitvoeringsvorm is volgens de uitvinding verder daardoor gekenmerkt dat de genoemde eerste reflector en de 25 samengestelde reflector als een geheel orn de hoofdas van de transducent draaibaar zijn.
Ter verdere verhoging van de meetsnelheid biedt het verder voordeel om meerdere stelsels van de in het voorafgaande omschreven uitvoeringen, in. combinatie samen te voegen.
30 Ter nadere toelichting van de uitvinding zullen in het onder- staande enige uitvoeringsvormen daarvan worden beschreven met ver-wijzing naar de tekening, waarin: fig. 1 een schematische voorstelling weergeeft van een eerste uitvoeringsvoorbeeld van een meetstelsel volgens de uitvinding; 35 fig- 2 een schematische voorstelling weergeeft van een ander uitvoeringsvoorbeeld van een meetstelsel volgens de uitvinding; en 8104526 -4- ' fig.. 3 een schematische voorstelling weergeeft van een uitvoe-ringsvorm van de uitvinding die is bedoeld om de meetsnelheid te ver-groten.
In fig. 1 is een gedeelte van een pijpvormig meetobjekt waar-5 van de desbetreffende parameters vanuit de binnenzijde moeten worden gemeten, in dwarsdoorsnede weergegeven en aangeduid door 1. Door 2 is schematisch weergegeven een houder met een daarin aangebrachte trans-ducent voor het uitzenden van meetsignalen, meer in het bijzonder meet-signaalpulsen. naar het meetobjekt/ meer in het bijzonder de wand van 10 het pijpgedeelte 1, resp. voor het ontvangen van echosignalen/ meer in het bijzonder echosignaalpulsen die door de wand van het pijpgedeelte 1 zijn gereflecteerd. Deze houder/transducent is zodariig in het inwen-dige van het pijpgedeelte i geplaatst dat de geometrische hoof das in hoofdzaak samenvalt met'de as van het pijpgedeelte 1. Verder is de 15 transducent zodanig ingericht dat een met de dwarsdoorsnede ervan cor-responderende bundel van meetsignalen resp. echosignalen kan worden uitgezonden resp. ontvangen. „„ - —-
Tegenover de transducent is opgesteld een daar naar toegekeerd eerste reflectorvlak 3 waardoor een vanaf de transducent uitgezonden 20 meetsignaal met een gegeven hoek, bij het weergegeven uitvoeringsvoor- beeld 90° wordt afgebogen in de richting van de wand van het pijpgedeelte 1. Door dit eerste en enkelvoudige reflectorvlak is tussen de transducent en de wand van het pijpgedeelte 1 bepaald een eerste transmissiepad via hetwelk een vanuit de transducent uitgezonden meetsignaalgolf, meer 25 in het bijzonder de meetsignaalpuls in een dwarsdoorsnedevlak van het pijpgedeelte 1 verlopend wordt gericht op de wand van dit pijpgedeelte.
Verder is tegenover de transducent aangebracht. een tweede en samengestel- de reflector bestaande ui’t een daar naar toegekeerd hulpreflectorvlak 4 en een reflectorvlak 5, waarbij het reflectorvlak 4 onder een zodanige hoek ten opzichte van de geometrische langsas van de houder/transducent is opgesteld dat een vanuit de transducent op dit hulpreflectorvlak in- vallende meetsignaalgolf, meer in het bijzonder meetsignaalpuls wordt gereflecteerd naar het reflectorvlak 5. Dit reflectorvlak 5 is ten opzichte van het reflectorvlak 3 en de transducent 2 zodanig opgesteld 35 dat een daarop invallende vanaf het hulpreflectorvlak 4 afkomstige meetsignaalgolf in hetzelfde doorsnedevlak van het pijpgedeelte 1 verlopend wordt gericht naar de binnenwand van dit pijpgedeelte.
8104526 -5— ** J· t
Door het hulpreflectorvlak 4 en het reflectorvlak 5 is gedefinieerd een tweede transmissiepad dat is samengesteld uit drie rechtlijnige segmenten. Wanneer nu vanuit de transducent 2 een. meetsignaalpuls wordt uitgezonden zal een echopuls veroorzaakt door reflectie tegen de binnenwand van het 5 pijpgedeelte 1 via het bovengenoemde eerste transmissiepad b.v. na een tijd t^ door de transducent worden ontvangen. Een door reflectie tegen de binnenwand veroorzaakte echopuls die via het bovengenoemde tweede transmissiepad de transducent bereikt zal b.v. na een tijd t^ door deze transducent worden ontvangen. De som van de tijden t^ en tj is nu een 10 maat voor de inwendige diameter van het pijpgedeelte 1. Door de dimen- sionering van de uit het hulpreflectorvlak 4 en het reflectorvlak 5 samen-gestelde reflector is er voor gezorgd dat de tijd relatief groot is ten opzichte van de tijd t^ en wel zodanig dat het verschil tussen de beide tijdsintervallen van een naar het meetobjekt gezonden meetsignaal 15 en het eerste via het desbetreffende eerste transmissiepad ontvangen echosignaalcomplex en het tweede via het desbetreffende tweede transmissiepad ontvangen echosignaalcomplex zo groot is dat deze beide echosignaal-complexen elkaar niet beinvloeden. Een echosignaalcomplex is een stel echosignalen zoals veroorzaakt door een uitgezonden meetsignaal, en welk 20 stel een voorwand-echo en meerdere achterwand-echo1s bevat. Teneinde te bereiken dat de vanuit de reflectorvlakken 3 en 5 uitgaande meetsignaal-bundels in eenzelfde doorsnedevlak van het pijpgedeelte verlopend zijn gericht is de standhoek /3 van het reflectorvlak 5 gelijk aan 45- d waarin CC de hoek voorstelt die het hulpreflectorvlak 4 met het desbetreffende 25 dwarsdoorsnedevlak door het pijpgedeelte 1 insluit. Bij een praktische uitvoeringsvorm zijn de reflectorvlakken 3 en 5, alsook het hulpreflectorvlak 4 samengevoegd tot een geheel dat om de geometrische langsas van de transducent draaibaar is. Daarbij zijn het reflectorvlak 3 en de samenge-stelde reflector met betrekking tot elkaar zodanig gepositioneerd dat de 30 vanuit de reflectorvlakken 3 en 5 uitgaande meetsignaalgolven diametraal en tegengesteld zijn gericht op de wand van het pijpgedeelte 1. Vanzelfsprekend kunnen met een dergelijke meetopstelling ook worden geme-ten de echosignalen die zijn veroorzaakt door reflecties tegen de uit-wendige wand van het pijpgedeelte 1 waarbij dan voor het eerste resp.
35 tweede transmissiepad tijdsintervallen worden gemeten van resp. t^·
Ook nu kan door elke sommatie van gemeten tijden t2 en tde buitendia-meter van het pijpgedeelte worden bepaald, zonder dat vibraties van de 8104526 ‘ -6- transducent de meetnanwkeurigheid schadelijk beinvloeden. Ook de overige parameters, zoals de ovaliteit, de excentriciteit en de wanddikte kunnen in principe met behulp van de te meten tijdsintervallen zoals t^, t'^, t2 en t'2 worden bepaald. “ 5 Van de in fig. 2 weergegeven configuraties zijn die onderdelen die een tegenhanger hebben in de configuratie volgens fig. l,van dezelf-de verwijzingscijfers voorzien. De uitvoeringsvorm volgens fig. 2 verschilt slechts van die van de uitvoeringsvorm volgens fig. 1 daarin dat in plaats van een enkel hulpreflectorvlak, gebruik is gemaakt van 10 een tweetal een hoek met elkaar insluitende hulpreflectorvlakken 6 en 7.
Een tweede transmissiepad is bij deze uitvoeringsvorm volgens fig. 2, samengesteld uit vier rechtlljnige segmenten. Overigens zijn de uit-voeringsvormen volgens de fign. 1- en 2 wat werking betreft identiek.
Volledigheidshalve wordt opgemerkt dat indien voor het meetsig-1S naal gebruik wordt gemaakt van ultrageluidspulsen de te onderzoeken pijp is gevuld met een koppelmedium zoals b.v. water.
Door meerdere van de reflectorsamenstelsels voigens de fign. 1 en 2 met behulp van meervoudige facettenspiegels tot een geheel samen te voegen kan de meetsnelheid worden verhoogd. In fig. 3 is schematisch 20 weergegeven hoe aldus twee stellen van diametraal en tegengesteld ge~ richte signaalgolven kunnen worden verkregen. Daardoor kan de meetsnelheid met een faktor 2 verder worden vergrai. Vanzelfsprekend kan bij een groter aantal facetten de meetsnelheid dienovereenkomstig worden ver-groot. Het is volgens de uitvinding aldus mogelijk om de metingen van 25 de desbetreffende parameters (dimensies) van een pijp- of buisvormig meetobjekt uit te voeren zonder het probleem van pulsinterferentie waarbLj aan de nauwkeurigheid van de metingen geen afbreuk wordt gedaan door de relatieve beweging van de transducenthouder ten opzichte van een refe-rentie zoals b.v. de as van de pijp. Met elke meting kunnen de parameters 30 zoals buitendiameter, binnendiameter, ovaliteit, excentriciteit en wanddikte worden afgeleid.
* i*. \ ____________ 8104526

Claims (7)

1. Stelsel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvor- mig meetobjekt, onxvattende een transducent voor het uitzenden van meet-signalen naar het meetobjekt, resp. voor het ontvangen van echosignalen die door het meetobjekt zijn gereflecteerd? en een tegenover de transdu-5 cent en het meetobjekt opgestelde eerste en enkelvoudige reflector waar-door meet- en echosignalen inreen voorafbepaald doorsnedevlak van het meetobjekt verlopend worden gericht resp. tussen de transducent en het meetobjekt worden geleid langs een eerste transmissiepad, gekenmerkt door een tegenover de transducent en het meetobjekt opgestelde, tweede 10 en samengestelde reflector, waardoor meet- en echosignalen eveneens in het genoemde doorsnedevlak van het meetobjekt verlopend. worden gericht resp. tussen de transducent en het meetobjekt worden geleid langs een tweede transmissiepad, waarvan de transmissielengte dusdanig groter is dan die van het desbetreffende eerste transmissiepad, dat het verschil 15 tussen de beide tijdsintervallen van een naar het meetobjekt gezonden meetsignaal en het eerste via het desbetreffende eerste transmissiepad ontvangen. echosignaalcomplex en het tweede via het desbetreffende tweede transmissiepad ontvangen echosignaalcomplex zo groot is dat deze beide echo-signaalcamplexen elkaar niet beinvloeden.
2. Stelsel volgens conclusie 1 met het kenmerk, dat de samenge stelde reflector een van de transducent afgekeerd reflectorvlak omvat, dat ten opzichte van de hoofdas van de transducent onder een voorafbepaalde hoek is opgesteld.
3. Stelsel volgens conclusie 2 met het kenmerk, dat de samenge- 25 stelde reflector een naar de transducent toegekeerd hulpreflectorvlak omvat dat onder een zodanige hoek ten opzichte van de hoofdas van de transducent en die van het genoemde van de transducent afgekeerde reflectorvlak is opgesteld, dat het desbetreffende tweede transmissiepad is samengesteld uit drie rechtlijnige segmenten.
4. Stelsel volgens conclusie 2 met het kenmerk, dat de samenge stelde reflector verder omvat een naar de transducent toegekeerd hulpreflectorvlak en een naar het genoemde van de transducent afgekeerde reflectorvlak toegekeerd hulpreflectorvlak, welke beide hulpreflector-vlakken met betrekking tot de transducent en het genoemde van de trans-35 ducent afgekeerde reflectorvlak zodanig zijn opgesteld dat het desbetref- 8104526 *- A , · -8- fende tweede transmissiepad is samengesteld uit vier rechtlijnige segmenten.
5. Stelsel volgens een van de voorafgaande conclusies 1 t/m 4 met het kenmerk, .dat de genoemde eerste en enkelvoudige reflector en de 5 tweede en samengestelde reflector zodanig ten opzicbte van elkaar zijn opgesteld dat een door de transducent teweeggebrachte meetsignaal- puls langs twee diametrale en tegengestelde richtingen naar het meet- objekt wordt gezonden. ' \ ·
6. Stelsel volgens een van de voorafgaande conclusies 1 t/m 5 10 met het kenmerk/ dat de genoemde eerste en enkelvoudige reflector en de tweede en samengestelde reflector als een geheel om de hoofdas van de transducent draaibaar zijn.
7. Stelsel voor het meten. van .parameters van een pijp- of buis-vormig meetobjekt, omvattende meerdere van de stelsels volgens de 15· conclusies 5 of 6, in combinatie. 8104525
NLAANVRAGE8104526,A 1981-10-05 1981-10-05 Stelsel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobject. NL185585C (nl)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NLAANVRAGE8104526,A NL185585C (nl) 1981-10-05 1981-10-05 Stelsel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobject.
US06/427,570 US4502330A (en) 1981-10-05 1982-09-29 Pulse-echo system for measuring parameters of a tubular test object
DE8282201238T DE3271175D1 (en) 1981-10-05 1982-10-04 System for measuring parameters of a tubular test object
EP82201238A EP0076553B1 (en) 1981-10-05 1982-10-04 System for measuring parameters of a tubular test object
JP57174111A JPS5871403A (ja) 1981-10-05 1982-10-05 管状試験物体のパラメ−タ測定装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NLAANVRAGE8104526,A NL185585C (nl) 1981-10-05 1981-10-05 Stelsel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobject.
NL8104526 1981-10-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NL8104526A true NL8104526A (nl) 1983-05-02
NL185585C NL185585C (nl) 1990-05-16

Family

ID=19838165

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NLAANVRAGE8104526,A NL185585C (nl) 1981-10-05 1981-10-05 Stelsel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobject.

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4502330A (nl)
EP (1) EP0076553B1 (nl)
JP (1) JPS5871403A (nl)
DE (1) DE3271175D1 (nl)
NL (1) NL185585C (nl)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL9002156A (nl) * 1990-10-04 1992-05-06 Nucon Eng & Contracting Bv Puls-echo systeem.
FR2696239A1 (fr) * 1992-09-25 1994-04-01 Cga Hbs Dispositif de détection par ultrasons de défauts dans une conduite cylindrique.
US5392527A (en) * 1993-07-12 1995-02-28 Wheelabrator Engineered Systems, Inc. Annulus measuring device
NL9302247A (nl) * 1993-12-23 1995-07-17 Hoogovens Tech Services Puls-echo systeem met een meervoudig reflectiesysteem.
FR2737295B1 (fr) * 1995-07-27 1997-10-24 Framatome Sa Dispositif de mesure d'une distance separant des premiere et seconde surfaces en regard, notamment d'une paroi interne d'un conduit tubulaire
FR2738636B1 (fr) * 1995-09-08 1997-11-28 Framatome Sa Dispositif de controle non destructif par ultrasons d'une piece de forme allongee comportant un transducteur d'ultrasons et un miroir, et ses utilisations
US6568270B2 (en) * 2001-03-13 2003-05-27 Rosemount Aerospace Inc. Ultrasonic sensor self test for integrity/performance verification
US7365137B2 (en) 2001-07-17 2008-04-29 Basell Polyolefine Gmbh Multistep process for the (co) polymerization of olefins
US8099993B2 (en) * 2007-12-20 2012-01-24 General Electric Company Method and apparatus for verifying the operation of an accelerometer
FR2936308B1 (fr) * 2008-09-23 2013-10-11 Cegelec Dispositif et procede de controle de dimensions d'une gaine d'un crayon d'une grappe de commande pour un coeur de reacteur nucleaire.

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4022055A (en) * 1974-12-02 1977-05-10 Texaco Inc. Pulse-echo method and system for testing wall thicknesses
US4008603A (en) * 1975-12-29 1977-02-22 Shell Oil Company Ultrasonic method and apparatus for measuring wall thickness of tubular members
FR2346683A1 (fr) * 1976-03-29 1977-10-28 Commissariat Energie Atomique Dispositif de mesure des dimensions radiales d'un tube cylindrique par ultra-sons
FR2393268A1 (fr) * 1977-05-31 1978-12-29 Commissariat Energie Atomique Dispositif de centrage par ultrasons
GB2046911A (en) * 1979-04-04 1980-11-19 Sgs Sonomatic Ltd Method and apparatus for measuring the wall thickness of tubes
US4302286A (en) * 1979-04-24 1981-11-24 Westinghouse Electric Corp. Reactor vessel in-service inspection assembly and ultrasonic centering device
US4361044A (en) * 1980-12-09 1982-11-30 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Scanning ultrasonic probe

Also Published As

Publication number Publication date
US4502330A (en) 1985-03-05
EP0076553B1 (en) 1986-05-14
JPH0216966B2 (nl) 1990-04-19
DE3271175D1 (en) 1986-06-19
NL185585C (nl) 1990-05-16
EP0076553A1 (en) 1983-04-13
JPS5871403A (ja) 1983-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4089227A (en) Apparatus for measuring the radial dimensions of a cylindrical tube by ultrasonics
EP0935798B1 (en) Ultrasonic buffer/waveguide
JP2002323561A (ja) 距離プロフィール定量装置
NL1032186C2 (nl) Systeem voor het meten aan een wand van een pijpleiding met phased array.
CN1201141A (zh) 用于夹紧式换能器、具有正方形或矩形横截面的短管部件以及流量测量的方法
US20120191377A1 (en) Method and device for ultrasonic testing
NL8104526A (nl) Stelsel voor het meten van parameters van een pijp- of buisvormig meetobjekt.
HUE030441T2 (en) Ultrasonic non-destructive testing
JPH01217508A (ja) 障害物の位置決め方法
US20220026251A1 (en) Device and method for performing ultrasonic measurements of fluid properties
EP0716301B1 (en) High resolution measurement of a thickness using ultrasound
DE102018202587A1 (de) Vorrichtung zur Qualitätsbestimmung, Tankvorrichtung
JPS6236527B2 (nl)
US7077012B2 (en) Wedge and wedge unit for use in ultrasonic doppler flow meter
US4557145A (en) Ultrasonic echography process and device
GB1171377A (en) A Device for Use in Ultrasonic Testing, and Ultrasonic Apparatus
EP1818674B1 (en) Method and apparatus for ultrasonic inspection of steel pipes
US3299694A (en) Method and apparatus for detecting flaws using ultrasonic helical waves
EP0479368B1 (en) Pulse-echo system and method for detecting discontinuities
RU2687086C1 (ru) Способ ультразвукового контроля толщины стенки трубопровода
DE3148430C2 (de) Einrichtung zur Bestimmung und Registrierung der Raumkoordinaten eines freifliegenden Geschosses oder Flugkörpers
JP2866964B2 (ja) コーティング膜の膜厚測定方法
UA61587A (en) Method for the ultrasonic monitoring of geometrical characteristics of pipes
CA1067614A (en) Pulse-echo method and system for testing wall thicknesses
Katakura et al. A new linear method for ultrasonic flow vector measurement

Legal Events

Date Code Title Description
A1C A request for examination has been filed
A85 Still pending on 85-01-01
CNR Transfer of rights (patent application after its laying open for public inspection)

Free format text: NUCON ENGINEERING & CONTRACTING B.V.

BV The patent application has lapsed
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee

Effective date: 19960501