JPS5868637A - 光伝送特性測定系の較正方式 - Google Patents
光伝送特性測定系の較正方式Info
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- JPS5868637A JPS5868637A JP16692581A JP16692581A JPS5868637A JP S5868637 A JPS5868637 A JP S5868637A JP 16692581 A JP16692581 A JP 16692581A JP 16692581 A JP16692581 A JP 16692581A JP S5868637 A JPS5868637 A JP S5868637A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、党７アイパその他の光伝送系のベースバンド
周波数特性を測定する測に器のベースバンド損失を較正
するだめの方式に関する。
周波数特性を測定する測に器のベースバンド損失を較正
するだめの方式に関する。
従来の光伝送系のベースバンド周波数特性祉第１図に示
すような測定系で測定されている。掃引信号発生器１か
ら出力される電気的変調信号ａは半導体レーザ等で構成
された元＃３からの出射°光をｔ′調し、この変調光す
がレンズ５を介（７て被測定光７アイパ６に入力される
。被測定光ファイバ６を伝搬した光信号は、レンズ７を
経てＡＰＤ等で構成された受光器８で電気的り調信号Ｃ
に変換され、スペクトラムアナライザｌＯにより検出さ
れる。このとき、ベースバンド周波数特性測定系自体の
周波数特性は通常は平坦ではないため、短尺の参照光フ
ァイバ１１と記憶演算器１２を用いて測定器固有の周波
数特性を測定し補償する。
すような測定系で測定されている。掃引信号発生器１か
ら出力される電気的変調信号ａは半導体レーザ等で構成
された元＃３からの出射°光をｔ′調し、この変調光す
がレンズ５を介（７て被測定光７アイパ６に入力される
。被測定光ファイバ６を伝搬した光信号は、レンズ７を
経てＡＰＤ等で構成された受光器８で電気的り調信号Ｃ
に変換され、スペクトラムアナライザｌＯにより検出さ
れる。このとき、ベースバンド周波数特性測定系自体の
周波数特性は通常は平坦ではないため、短尺の参照光フ
ァイバ１１と記憶演算器１２を用いて測定器固有の周波
数特性を測定し補償する。
このようＫして得られた光ファイバのベースバンド周波
数特性の一例を第２図に示す。第２図で横軸は変調周波
数、縦軸はベースバンド損失をそれぞれ示す。ベースバ
ンド損失が６ ｄＢになる変調周波数を通常伝送帯域幅
と呼ぶ。第２図の縦軸すなわちベースバンド損失は、半
導体レーザおよび受光器の非直線性や電気レベルの不確
定性等によって正確な値を示さない場合がらり、これを
較正する必要がある。
数特性の一例を第２図に示す。第２図で横軸は変調周波
数、縦軸はベースバンド損失をそれぞれ示す。ベースバ
ンド損失が６ ｄＢになる変調周波数を通常伝送帯域幅
と呼ぶ。第２図の縦軸すなわちベースバンド損失は、半
導体レーザおよび受光器の非直線性や電気レベルの不確
定性等によって正確な値を示さない場合がらり、これを
較正する必要がある。
このような測定系で、ベースバンド損失の値を較正する
には、 （イ）ｆ調信号のレベルを一定量変化させ、それと同じ
量が魯調信号で変化しているかを調べる方法、 （ロ）通常の光検出器は入射光パワーが小さくなると二
乗検波特性を示すが、その状態で光パワーを変化させて
ベースバンドレベルを較正する方法、 等がある。しかし、０）に述べた方法は光源および光検
出器の非直線性のため高精度の較正ができない欠点がわ
り、仲）に述べた方法では光検出器に強いパワーが入射
されると、二乗検波特性を示さずどの程度弱くすると二
乗検波特性になるかが不明である等、測定を正確に行う
ことのできない欠点がある。
には、 （イ）ｆ調信号のレベルを一定量変化させ、それと同じ
量が魯調信号で変化しているかを調べる方法、 （ロ）通常の光検出器は入射光パワーが小さくなると二
乗検波特性を示すが、その状態で光パワーを変化させて
ベースバンドレベルを較正する方法、 等がある。しかし、０）に述べた方法は光源および光検
出器の非直線性のため高精度の較正ができない欠点がわ
り、仲）に述べた方法では光検出器に強いパワーが入射
されると、二乗検波特性を示さずどの程度弱くすると二
乗検波特性になるかが不明である等、測定を正確に行う
ことのできない欠点がある。
受光器の非直線歪および受光器の二乗検波特性の影響の
ないベースバンド損失基準器を用いて、直接にベースバ
ンド損失を高精度に較正することができる光伝送特性測
定系の較正方式を提供することを目的とする。
ないベースバンド損失基準器を用いて、直接にベースバ
ンド損失を高精度に較正することができる光伝送特性測
定系の較正方式を提供することを目的とする。
本発明は、振幅変調された光信号を被測定系に送出する
光源とこの被測定系を通過した光信号を受信し変調波を
復調する受光器との間に、前記光信号を二分する分岐手
段と、この手段により分岐された光信号の一方に減衰を
与えるｉＪ変減衰器と、この可変減衰器の出力光と前記
光信号の他方とを合成し前記受光器に与える合成手段と
を含み、この合成手段の出力信号について変調波の周波
数に対する減衰量の極大点が所定以上になるように前記
可変減衰器の減衰量が設定されたベースバンド損失基準
器を接続して、ベースバンド測定系の較正を行うことを
特徴とする。
光源とこの被測定系を通過した光信号を受信し変調波を
復調する受光器との間に、前記光信号を二分する分岐手
段と、この手段により分岐された光信号の一方に減衰を
与えるｉＪ変減衰器と、この可変減衰器の出力光と前記
光信号の他方とを合成し前記受光器に与える合成手段と
を含み、この合成手段の出力信号について変調波の周波
数に対する減衰量の極大点が所定以上になるように前記
可変減衰器の減衰量が設定されたベースバンド損失基準
器を接続して、ベースバンド測定系の較正を行うことを
特徴とする。
本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第３図は本発明のベースバンド損失基準器１５の第一実
施例の１！部構成図である。このベースノ（ンド損失基
準器１５には、入力光を二分岐するビームスプリッタ１
６が設けられてイル。コノヒームスプリツタ１６によシ
分岐された一つの光信号は全ミラー１７．１８およびノ
ー−７ミラー１９で形成される光路を通シ、他の一つの
光信号は光可変減衰器２０を介して前記））−フミラー
１９に与えられるように構成されている。このベースノ
（ント°損失基準器１５は、第１図で示した光伝送特性
１１ｊ定系の光源３と受光器８との間に接続されこのＩ
Ｉｊ定系を較正するために用いられる。また、第３図で
２１は周波数カウンタであって、掃引信号の周波数を表
示する。
施例の１！部構成図である。このベースノ（ンド損失基
準器１５には、入力光を二分岐するビームスプリッタ１
６が設けられてイル。コノヒームスプリツタ１６によシ
分岐された一つの光信号は全ミラー１７．１８およびノ
ー−７ミラー１９で形成される光路を通シ、他の一つの
光信号は光可変減衰器２０を介して前記））−フミラー
１９に与えられるように構成されている。このベースノ
（ント°損失基準器１５は、第１図で示した光伝送特性
１１ｊ定系の光源３と受光器８との間に接続されこのＩ
Ｉｊ定系を較正するために用いられる。また、第３図で
２１は周波数カウンタであって、掃引信号の周波数を表
示する。
このような構成で、掃引信号発生器１カ為らの変調信号
ａが、半導体レーザの光源３からの出射光を変調して変
調光すをビームスプリッタ１６に与える。ビームスプリ
ッタ６はこの変調光らを二つに分割し変調光１と変調光
層にする。変調光■は全ミラー１７．１８で反射され、
）・−フミラー１９を透過した俵に受光器８に入射する
。一方、変調光■は光可変減衰器２０を透過した後にノ
・−フミラー１９で反射されて、変調光１と同じように
受光器８に入射する。受光器８で変−光菖および変調元
画は電気信号に復調され、それら復調信号はただちに重
ね合わされ電気的合成信号θになる。
ａが、半導体レーザの光源３からの出射光を変調して変
調光すをビームスプリッタ１６に与える。ビームスプリ
ッタ６はこの変調光らを二つに分割し変調光１と変調光
層にする。変調光■は全ミラー１７．１８で反射され、
）・−フミラー１９を透過した俵に受光器８に入射する
。一方、変調光■は光可変減衰器２０を透過した後にノ
・−フミラー１９で反射されて、変調光１と同じように
受光器８に入射する。受光器８で変−光菖および変調元
画は電気信号に復調され、それら復調信号はただちに重
ね合わされ電気的合成信号θになる。
その合成信号ｅはスペクトラムアナライザ１０で検出さ
れる。また、掃引信号発生器１０周波数は周波数カウン
タ２１で測冨される。
れる。また、掃引信号発生器１０周波数は周波数カウン
タ２１で測冨される。
このように構成されたベースバンド損失基準器１５を用
いてベースバンド損失を較正する方法を述べる。先ず第
１図に示すペース・２ンド特性測定系の被測定光ファイ
バ６の代りにこのベースノくンド損失基準器１５を挿入
する。掃引信号発生器１の周波数を掃引させてベースバ
ンド損失基準器１５の変調周波数特性を測定する。ペー
ス・くンド損失基準器１５の変調周波数特性は以下に述
べる理論式が実験値と一致することが知られているので
、その理論値とここで較正しようとする測定系を用いた
場合の測定値とを比較することによりベースバンド特性
測定系のペース・くンド損失を較正することができる。
いてベースバンド損失を較正する方法を述べる。先ず第
１図に示すペース・２ンド特性測定系の被測定光ファイ
バ６の代りにこのベースノくンド損失基準器１５を挿入
する。掃引信号発生器１の周波数を掃引させてベースバ
ンド損失基準器１５の変調周波数特性を測定する。ペー
ス・くンド損失基準器１５の変調周波数特性は以下に述
べる理論式が実験値と一致することが知られているので
、その理論値とここで較正しようとする測定系を用いた
場合の測定値とを比較することによりベースバンド特性
測定系のペース・くンド損失を較正することができる。
ベースバンド損失基準器の変調周波数特性を説明すると
、変調光■に対応する復調信号１を５ｉｎ（Ωを一φ１
）、変調光璽に対応する復調信号筒を８ｉｎ（Ωを一φ
２）とすると、合成信号ＰａＰ＝ｇｉｎ（Ωｔ７φ１）
＋ｋｓｉｎ（Ωを一φｚ ） ＝−・（１）となる。
、変調光■に対応する復調信号１を５ｉｎ（Ωを一φ１
）、変調光璽に対応する復調信号筒を８ｉｎ（Ωを一φ
２）とすると、合成信号ＰａＰ＝ｇｉｎ（Ωｔ７φ１）
＋ｋｓｉｎ（Ωを一φｚ ） ＝−・（１）となる。
ここでΩは変調信号の角周波舷、ｋは復調信号厘の振幅
を復調信号１の振幅で規格化した値である。φ１と≠２
はそれぞれ変調光Ｉと変調光薦の伝播に対応した位相量
で以下のように表示される。
を復調信号１の振幅で規格化した値である。φ１と≠２
はそれぞれ変調光Ｉと変調光薦の伝播に対応した位相量
で以下のように表示される。
ここでＬｌとＬｌはそれぞれ変調光１とｆ調光層の伝播
長であり、０は真空中の光速である。なお変調光厘で光
可変減衰器２０の中での伝播長、およヒ変調光鳳でビー
ムスプリッタ１６およびノ１−フミラー１９の伝播長は
、通常の被測定物全体の伝播長に比べて十分小さいので
無視してもよい。
長であり、０は真空中の光速である。なお変調光厘で光
可変減衰器２０の中での伝播長、およヒ変調光鳳でビー
ムスプリッタ１６およびノ１−フミラー１９の伝播長は
、通常の被測定物全体の伝播長に比べて十分小さいので
無視してもよい。
上記（１）式は三角関数の公式を使うとｐ＝ｌｐ１ｇｉ
ｎ（Ωｔ−Φ） −山−−−−−（３）た
だし、 ｌ ｐ ｌ ＝Ｊ（ｃｏ８φ１＋ｋｃｏｓφ２）２＋（
ｓ１ｎφ１＋１ｃｅｉｎφ２）２・・・・・・・・・（
４） となる。角周波数Ωに灼する振ｍｌ）’（Ω）１は（４
）式％式％（６） 左なる。φ１−≠２を（２）式を用いて、φ１−φ２
＝−（Ｌ＋−Ｌｌ ）−ｈＱ ・・・・・・・
・（７）とおくと、（６）式は ＩＦ（Ω）１２＝ １十に２＋ ２に、ｃｏｓｈΩ
・・・・川・・（８）となる。Ω＝０のときのＩＦ（０
） ｌ２Ｖｉｊｐ（ｏ） １２＝ （１＋に２）
・・・・−・・・・（９）となる。従って変調
周波数特性Ｒ（Ω）はで表わされる。ここでに＝１、す
なわち珈調信号厘と復調信号層の振幅が等しいときの変
調周波数特性Ｒｏ（Ω）を第４図に示す。第４図で変調
周波数で（＝Ω／２Ｋ）が１ ／ ２ｈ 、 ３ ／
２ｈ、 ５ ／ ２ｈ−・・・−・の点で合成信号の振
幅は零となシ、基準器のベースバンド損失が無限大にな
る。これはちょうど復調信号Ｉと復調信号■が等振幅逆
位相になった点であり、この時の変調角周波数を零点角
周波数と定義する。
ｎ（Ωｔ−Φ） −山−−−−−（３）た
だし、 ｌ ｐ ｌ ＝Ｊ（ｃｏ８φ１＋ｋｃｏｓφ２）２＋（
ｓ１ｎφ１＋１ｃｅｉｎφ２）２・・・・・・・・・（
４） となる。角周波数Ωに灼する振ｍｌ）’（Ω）１は（４
）式％式％（６） 左なる。φ１−≠２を（２）式を用いて、φ１−φ２
＝−（Ｌ＋−Ｌｌ ）−ｈＱ ・・・・・・・
・（７）とおくと、（６）式は ＩＦ（Ω）１２＝ １十に２＋ ２に、ｃｏｓｈΩ
・・・・川・・（８）となる。Ω＝０のときのＩＦ（０
） ｌ２Ｖｉｊｐ（ｏ） １２＝ （１＋に２）
・・・・−・・・・（９）となる。従って変調
周波数特性Ｒ（Ω）はで表わされる。ここでに＝１、す
なわち珈調信号厘と復調信号層の振幅が等しいときの変
調周波数特性Ｒｏ（Ω）を第４図に示す。第４図で変調
周波数で（＝Ω／２Ｋ）が１ ／ ２ｈ 、 ３ ／
２ｈ、 ５ ／ ２ｈ−・・・−・の点で合成信号の振
幅は零となシ、基準器のベースバンド損失が無限大にな
る。これはちょうど復調信号Ｉと復調信号■が等振幅逆
位相になった点であり、この時の変調角周波数を零点角
周波数と定義する。
第４図に示す変調周波数特性Ｒｏ（Ω）がベースバンド
損失基準器１５０基準特性であり、（１０式ＫＲ＝１を
代入するとＲａ（Ω）は Ｒｏ（Ω） ＝−１０ｌｏｇ（１＋ｃｏｓ（ｈＱ））・
０１）で与えられる。第４図の１番目の零点角周波数を
Ω０とすると、 ２ｈ ２ｆ となり、係数りは となる。ここでｆ、は零点周波数である。Ω０は測定可
能なので、（６）式をα塵式に代入することにより基準
の変調周波数特性Ｒｏ（Ω）を論理式として決定するこ
とができる。このベースバンド損失基準器１５を測定系
に挿入し、０９式から計算されるベースバンド損失と測
定値を比較することにより較正することができる。
損失基準器１５０基準特性であり、（１０式ＫＲ＝１を
代入するとＲａ（Ω）は Ｒｏ（Ω） ＝−１０ｌｏｇ（１＋ｃｏｓ（ｈＱ））・
０１）で与えられる。第４図の１番目の零点角周波数を
Ω０とすると、 ２ｈ ２ｆ となり、係数りは となる。ここでｆ、は零点周波数である。Ω０は測定可
能なので、（６）式をα塵式に代入することにより基準
の変調周波数特性Ｒｏ（Ω）を論理式として決定するこ
とができる。このベースバンド損失基準器１５を測定系
に挿入し、０９式から計算されるベースバンド損失と測
定値を比較することにより較正することができる。
この較正において重要なのは、零点角周波数における合
成信号の減衰量をどの程度まで大きくする必要があるか
ということである。零点周波数における減衰量と（１１
）式で与えられる基準の変調周波数特性との関係を検討
すると、零点角周波数００における合成信号の振幅は（
８）式にｈＱｏ＝πを代入して、 ＩＦ（Ωｏ ） Ｉ２＝ （１ｋ ）２−−・（１１と
なる。したがって零点周波数における減衰［１は、式（
９）、式（至）より ・・・・・・・・・α尋 となる。これよりｋは Ｘ １ ＋１０−’２”５ と表わされる。このｋを成員に代入してｆｉｌ１周波数
特性を計算したものが第５図である。Ｘ：＝：ωはに＝
１に対応し、第４図に示した変調周波数特性Ｒｅ（Ω）
を与える。Ｘが小さくなると変調周波数特性Ｒ（Ω）は
基準の変調周波数特性ＵＯ（、＊）力・らずれてくるこ
とがわかる。この変ｇ！１周波数に対するそのずれ量Ｒ
ｏ（Ω）−Ｒ（Ω）を示したもの力玉第６図である。Ｘ
が大きくなると、変調周波数特性Ｒｏ（Ω）とＲ（Ω）
の差は零点周波数近傍まで一致している。
成信号の減衰量をどの程度まで大きくする必要があるか
ということである。零点周波数における減衰量と（１１
）式で与えられる基準の変調周波数特性との関係を検討
すると、零点角周波数００における合成信号の振幅は（
８）式にｈＱｏ＝πを代入して、 ＩＦ（Ωｏ ） Ｉ２＝ （１ｋ ）２−−・（１１と
なる。したがって零点周波数における減衰［１は、式（
９）、式（至）より ・・・・・・・・・α尋 となる。これよりｋは Ｘ １ ＋１０−’２”５ と表わされる。このｋを成員に代入してｆｉｌ１周波数
特性を計算したものが第５図である。Ｘ：＝：ωはに＝
１に対応し、第４図に示した変調周波数特性Ｒｅ（Ω）
を与える。Ｘが小さくなると変調周波数特性Ｒ（Ω）は
基準の変調周波数特性ＵＯ（、＊）力・らずれてくるこ
とがわかる。この変ｇ！１周波数に対するそのずれ量Ｒ
ｏ（Ω）−Ｒ（Ω）を示したもの力玉第６図である。Ｘ
が大きくなると、変調周波数特性Ｒｏ（Ω）とＲ（Ω）
の差は零点周波数近傍まで一致している。
零点周波数における減衰量Ｘに対する規格イヒずれ量
（Ｒｅ（Ω）−Ｒ（Ω））／ Ｒｏ （Ω）の関係を第
７図に示す。各曲線は（１２ｆ、、α６ｆ６ｓα８ｆｏ
ｓ α９ｆ、の各変調周波数における規格イヒずれ量
を）・ラメータとする。Ｘを４０ ｄＢ以上にすれ一以
下にすることができる。通常のベースバンド周波数測定
系ではＸを６０ ｃｌＢ以上にできるので、Ｒｏ（Ω）
Ｋ高精度で近づけることができる。
７図に示す。各曲線は（１２ｆ、、α６ｆ６ｓα８ｆｏ
ｓ α９ｆ、の各変調周波数における規格イヒずれ量
を）・ラメータとする。Ｘを４０ ｄＢ以上にすれ一以
下にすることができる。通常のベースバンド周波数測定
系ではＸを６０ ｃｌＢ以上にできるので、Ｒｏ（Ω）
Ｋ高精度で近づけることができる。
なお、第１図に示すように測定系固有の変調周波数特性
を除去したい場合は、ベースバンド損失基準器のかわり
に第１図に示すように短尺の参照用光ファイバ１１を挿
入し、そのとき与えられる周波数特性を先に得られた測
定値から差引けばよい。
を除去したい場合は、ベースバンド損失基準器のかわり
に第１図に示すように短尺の参照用光ファイバ１１を挿
入し、そのとき与えられる周波数特性を先に得られた測
定値から差引けばよい。
第８図は、本発明のベースバンド損失基準器１５の第二
実施例の要部構成図である。この第二実施例は、第一実
施例が空間伝播を利用するのに対し、光ファイバ、光分
岐回路等を用いて構成したものである。すなわち、光源
３からの変調光すは光ファイバ２２を介して光分岐回路
２３に導かれている。
実施例の要部構成図である。この第二実施例は、第一実
施例が空間伝播を利用するのに対し、光ファイバ、光分
岐回路等を用いて構成したものである。すなわち、光源
３からの変調光すは光ファイバ２２を介して光分岐回路
２３に導かれている。
この光分岐回路−２３で分岐された変調光重は光ファイ
バ２４を介して光分岐回路２５に導かれている。
バ２４を介して光分岐回路２５に導かれている。
また、前記光分岐回路２３で分岐された変調光■は光フ
ァイバ２６を介して光可変減衰器２０に導かれている。
ァイバ２６を介して光可変減衰器２０に導かれている。
この光可変減衰器２０の出力は光ファイバ２７を介して
光分岐回路２５ Ｋ導かれている。
光分岐回路２５ Ｋ導かれている。
この光分岐回路２５の出力は光ファイノ（２Ｂを介して
取出されている。
取出されている。
他の点は第５図に示す第一実施例と同様であり同一の符
号は同一のものを示す。
号は同一のものを示す。
このように構成された第二実施例のペースノ（ンド損失
基準器１５は変調光！と変調光厘の伝播時間差を大きく
することができ、かつ定盤上に光学系を構成する必要が
ないので、持ち運びが容易である。また、光ファイノく
に使用されている石英ガラスは線膨張係数が最も小さな
物質であるため、極めて温ＩＩｔ％性が良好となる。さ
らに、ベースノくンド特性測定系の入力端および出力端
力；光コネクタで終端されている場合には、光ファイツ
ク２２および２８に光コネクタを取付けることにより、
容易に測定系と結合することができる。また、光可変減
衰器２０ハ、減衰量を変化させても光に対する伝播長が
変化しないもを用いる。また、光可変減衰器２０には金
属蒸着膜を使用し丸ものと吸収材を利用したものがある
が、変調周波数に対する挿入損失依存性が小さな金属蒸
着膜を使用したものが適している。
基準器１５は変調光！と変調光厘の伝播時間差を大きく
することができ、かつ定盤上に光学系を構成する必要が
ないので、持ち運びが容易である。また、光ファイノく
に使用されている石英ガラスは線膨張係数が最も小さな
物質であるため、極めて温ＩＩｔ％性が良好となる。さ
らに、ベースノくンド特性測定系の入力端および出力端
力；光コネクタで終端されている場合には、光ファイツ
ク２２および２８に光コネクタを取付けることにより、
容易に測定系と結合することができる。また、光可変減
衰器２０ハ、減衰量を変化させても光に対する伝播長が
変化しないもを用いる。また、光可変減衰器２０には金
属蒸着膜を使用し丸ものと吸収材を利用したものがある
が、変調周波数に対する挿入損失依存性が小さな金属蒸
着膜を使用したものが適している。
以上説明したように本発明によれば、光路差のある二つ
の変調光の復調信号の重ね合わせを利用していることか
ら、光の直流レベルを一定にした状態で測定系のベース
バンド損失が較正できる利点がある。また、光源および
受光器の非直線歪、受光器の二乗検波特性を前提とせず
に直接ベースバンド損失を較正できる。また、較正器を
比較的簡単に構成することができる。本発明の方式では
受光器の二乗波特性の影響がなく、ベースバンド損失を
高精度に較正することができる。
の変調光の復調信号の重ね合わせを利用していることか
ら、光の直流レベルを一定にした状態で測定系のベース
バンド損失が較正できる利点がある。また、光源および
受光器の非直線歪、受光器の二乗検波特性を前提とせず
に直接ベースバンド損失を較正できる。また、較正器を
比較的簡単に構成することができる。本発明の方式では
受光器の二乗波特性の影響がなく、ベースバンド損失を
高精度に較正することができる。
第１図は従来例のベースバンド周波数特性測定系の説明
図。 第２図は上記従来例による光ファイバのベースバンド周
波数特性図。 第３回灯本発明装置の第一実施例の要部構成図。 第４図は上記実施例における二つのｆｉ、Ｍ！光に対す
る復調信号の振幅が等しい場合の変調周波数特性図。 第５図は零点周波数における減衰量をパラメータとした
時の変調周波数特性図。 第６図は減衰量の差と変調周波数の関係を示す図。 第７図は規格化ずれ量と零点周波数における減衰量の関
係を示す図。 第８図は本発明装置の第二実施例の要部構成図。 １・・・掃引信号発生器、３・・・光源、５．７・・・
レンズ、６・・・被測定光ファイバ、８・・・受光！、
１０・・・スペクトラムアナライザ、１１・−・参照用
光ファイバ、１２・・・記憶演算器、１５・・・ベース
バンド損失基準器、１６・・・ビームスプリッタ、１７
．１８・・・全ミラー、１９・・・ハーフミラ−１２０
・・・光可変減衰器、２１・−・周波数カウンタ、２２
．２４．２６〜２８・・・光ファイバ。 ｙＰＪｌ 回 変調１１１ｔｖ＋ｚ） ３２図 Ｍ ３ 図 変調１Ｕ皮改 亮 ４ 図 亮 ５ 図 衾調同尺艷 第 ６（２１ 蔦 ７ 圓 第８図
図。 第２図は上記従来例による光ファイバのベースバンド周
波数特性図。 第３回灯本発明装置の第一実施例の要部構成図。 第４図は上記実施例における二つのｆｉ、Ｍ！光に対す
る復調信号の振幅が等しい場合の変調周波数特性図。 第５図は零点周波数における減衰量をパラメータとした
時の変調周波数特性図。 第６図は減衰量の差と変調周波数の関係を示す図。 第７図は規格化ずれ量と零点周波数における減衰量の関
係を示す図。 第８図は本発明装置の第二実施例の要部構成図。 １・・・掃引信号発生器、３・・・光源、５．７・・・
レンズ、６・・・被測定光ファイバ、８・・・受光！、
１０・・・スペクトラムアナライザ、１１・−・参照用
光ファイバ、１２・・・記憶演算器、１５・・・ベース
バンド損失基準器、１６・・・ビームスプリッタ、１７
．１８・・・全ミラー、１９・・・ハーフミラ−１２０
・・・光可変減衰器、２１・−・周波数カウンタ、２２
．２４．２６〜２８・・・光ファイバ。 ｙＰＪｌ 回 変調１１１ｔｖ＋ｚ） ３２図 Ｍ ３ 図 変調１Ｕ皮改 亮 ４ 図 亮 ５ 図 衾調同尺艷 第 ６（２１ 蔦 ７ 圓 第８図
Claims (1)
- （１） 振幅変調された光信号を被測定系に送出する
光源とこの被測定系を通過した光信号を受信し変調波を
復調する受光器との間に、前記光信号を二分する分岐手
段と、この手段により分岐された光信号の一方に減衰を
与える可変減衰器と、このｈ］変減衰器の出力光と前記
光信号の他方とを合成し前記受光器に与える合成手段と
を含み、この合成手段の出力信号について変調波の周波
数に対する減衰量の極大点が所定以上になるように前記
可変減衰器の減衰量が設定されたベースバンド損失基準
器を接続して、ベースバンド測定系の較正を行うことを
特徴とする光伝送特性測定系の較正方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16692581A JPS5868637A (ja) | 1981-10-19 | 1981-10-19 | 光伝送特性測定系の較正方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16692581A JPS5868637A (ja) | 1981-10-19 | 1981-10-19 | 光伝送特性測定系の較正方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5868637A true JPS5868637A (ja) | 1983-04-23 |
Family
ID=15840195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16692581A Pending JPS5868637A (ja) | 1981-10-19 | 1981-10-19 | 光伝送特性測定系の較正方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5868637A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007063776A1 (ja) * | 2005-11-29 | 2007-06-07 | National Institute Of Information And Communications Technology | 光強度測定器のキャリブレーション方法及び装置 |
-
1981
- 1981-10-19 JP JP16692581A patent/JPS5868637A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007063776A1 (ja) * | 2005-11-29 | 2007-06-07 | National Institute Of Information And Communications Technology | 光強度測定器のキャリブレーション方法及び装置 |
| US7864330B2 (en) | 2005-11-29 | 2011-01-04 | National Institute Of Information And Communications Technology | Method and device for calibrating a light intensity measurement device |
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