JPS5863837A - 光学的流体分析装置 - Google Patents

光学的流体分析装置

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JPS5863837A
JPS5863837A JP57155300A JP15530082A JPS5863837A JP S5863837 A JPS5863837 A JP S5863837A JP 57155300 A JP57155300 A JP 57155300A JP 15530082 A JP15530082 A JP 15530082A JP S5863837 A JPS5863837 A JP S5863837A
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JP
Japan
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refractive index
light
diffraction grating
light source
intensity
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JP57155300A
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JPS633255B2 (ja
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スチ−ブン・ウエ−ド・デツプ
グレン・タヴア−ニア・シンサボツクス
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/4133Refractometers, e.g. differential

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 本発明は流体試料の屈折率を測定するための光学的分析
装置に関する。
液体又は気体の屈折率を測定するための種々の技術がこ
れまでに提案されている。その1つの技術はプリズムを
用い、臨界角を測定する必要がある。またMcGraw
−Hi11社1957年刊行のJenkins及びWh
 i t e著” Fundamentalsof  
0ptics ”第6版の257頁以下に、干渉縞の変
位の決定に基づいた屈折率測定技術が示されている。ま
た他の技術は屈折率の整合を必要とする。それらの技術
は普通測定を行なうために操作する人が手動的及び/又
は視覚的に介在する必要があり、従って低速で、扱いに
くく且つ低分解能である。
最も関連の深い先行技術は米国特許第3499712号
明細書であって、この文献は透明な試料保持器中に設け
られたセル(あるいは貯蔵器)中に導入された液体試料
の屈折率を測定するための装置を開示している。このセ
ルは、「液体が充填材料と接触するとき、少なくとも数
個の液体−同体界面を与える」透明材料の物体(例えば
球)が充填される。この装置は、セルが液体で満たされ
た時の光の正味の透過量(光の強度)な測定する。
しかしながらその装置は、屈折率の変化に対して高い感
度を有し、所定の屈折率値からのずれに注目及び/又は
修正することを可能にする画期的な回折構造体を用いて
いない。
1970年6月刊行のI BM  ’l”echnic
all)isclosure  Bulletin、V
ow、15.p、121は、屈折率を測定すべき媒質中
に浸漬された回折格子を用℃・た回折屈折計を開示して
いる。この装置は、屈折率を計算するのに角度θ及びθ
′従ってX及びX′の測定を必要とし、また回折光及び
透過光の強度の差を感知及び利用していない。
発明の要約 本発明は、液体であっても気体であっても流体(3) の屈折率を迅速に測定するための単純、効率的且つ非機
械的な装置に係る。この装置は本質的にはホログラフィ
ック屈折計であって、既知の屈折率を持つ周期的構造体
によって回折された光の回折効率の関数として流体試料
の屈折率を決定する。
本発明によれば、既知の屈折率を有する透明部材であっ
てその第1及び第2の部分の間に未知の屈折率を持つ流
体試料を受は入れろためのセルを画定するものを用いた
光学的流体分析装置が与えられる。第1の部分は、セル
に面する内側の表面上に回折格子が形成されている。光
源は、回折格子との入射角がブラッグ条件を満足するよ
うに位置付けられる。第1の検出手段は回折格子によっ
て回折され試料を透過した、光源からの光の強度を感知
し、第2の検出手段は回折格子を透過した光の強度を感
知する。第1及び第2の検出手段が発生した信号に応答
する装置は、試料の屈折率に関する出力を与える。
(4) 良好な実施例の説明 下記の良く知られた式は周期的な正弦波状の構造体の回
折効率ηを定める。
但し第1図に示すように、 λ −照明光の波長 θ。−構造体に関する光の入射角 d −正弦波状構造体の連続したノードの間の間隔、即
ち周期 △n−構造体のノードとアンチノードとの間の屈折率(
即ちnlとn2との間)の差 t −構造体の厚さ 第2図に示すように、本発明を実施した光学的流体分析
装置は、透明部材12の正弦波状の表面11の形に形成
された、順次のノ←・13間の間隔即ち周期d及び格子
の厚さtを有する透明回折格子10から構成される。部
材12及びそれに結合された他の透明部材13は既知の
屈折率n1を有する透明構造体の2つの部分を構成する
。部材12.16は回折格子10の正弦波状表面11に
よって部分的に画定されたセル14を形成する。また図
示していないが、決定すべき未知の屈折率n2を有する
液体又は気体の物質をセル14中に導入するための手段
も設けられている。
波長λ及び強度■の光は光源15、好ましくは通常のヘ
リウム・ネオン・レーザ又はアルゴン・レーザによって
4先られる。光源15からの光は次式のブラッグ条件を
満足するように入射角θ。
で回折格子100表面11V入射する。
λ==2ndsinθo(2) 回折効率ηは次式で与えられる。
但し■1は回折格子10によって回折された光の強度、
Ioは回折格子10を透過した光の強度である。
0次及び1次の回折光の強度■。及び11を感知するた
めに、フォト・ダイオード等の1対の検出器16及び1
7を設けられる。これらの検出器は通常の弁別回路18
に信号を供給し、回路18はそれらの信号を組み合せて
電圧Vを与える。電圧■から△nは次式によって決定で
きる。
但し1(は定数である。
説明のために、屈折率の変化△n = 0.02であり
、格子の厚さLが4μの構造体12.13が488nm
の波長λの光により20°の入射角ρ1゜で照明される
と仮定する。この条件の下で回折効率ηはり、 073
 (7,3%)に等しい。
比較対照のため、もし屈折率整合技術を月見・た場合を
想定すると、屈折率差002の界面から反射される光の
効率ηは次式の通りであって約3桁小さい。
(7) 本発明の実施した装置は、セル14を充填又はセルを連
続的に流れる液体又は気体の屈折率の測定に用℃・るこ
とかできる。もし部材13の内壁19が回折格子10の
正弦波表面11に事実上接する程度にセル140寸法が
小さいならば、未知又は可変な屈折率を有する物質は毛
細管作用によって構造12.13中に導入される。セル
14の体積は、表面11の溝が充填されれば良いので非
常に小さくても良い。
ここで述べた分析装置は、流体媒質の状態を表示するた
めに使用する事、又は流体を所定の条件に維持するため
にあるパラメータを調整するためのザーボ・システムと
共に用いる事もできる。例えばこの装置は電解質の電荷
の状態をモニタするために使用する事ができる。完全に
帯電した電解質と完全に放電した電解質との間の屈折率
の差は約△n = 0.02程度である。従って帯電状
態に整(8) 合した屈折率を有する透明構造体12.13を設ければ
回折は生じない力釈放電が起きれば光が回折され、帯電
状態を表わす電圧信号が得られる。
完全に放電した状態では、13%の光が1次回折光にな
る。
光源として通常のレーザ15を用(・れば非常に正確な
システムが得られる。しかしながら好ましければ、ブラ
ッグ条件を満足するように位置ずけられた発光ダイオー
ド(図示せず)でレーザ15を置き換えてもよい。とい
うのはコヒーレンスの欠除は単に像のぼけを生じるだけ
であって、効率の重大な損失を生じないからである。ま
た検出器16.17は、(部材12.130寸法が許せ
ば)図示したように部材16の外側表面上に取り付けて
も良い。しかしながらもし好ましければ、検出器16.
17は部材12.13から分離しても良い。回折格子1
0は、好ましくはフォトレジスト又は同様の材料の表面
レリーフとしてホログラフィ記録し、その後で適当な屈
折率の透明代用品にプレス又は複製する事によって製造
される。
【図面の簡単な説明】
第1図は光源からの光が回折格子によって透過及び回折
される様子を示す図、 第2図は本発明の実施例の光学的流体分析装置の図であ
る。 10・・・・回折格子、11・・・・正弦波状の表面、
12.16・・・・透明部材、14・・・・セル、15
・・・・光源、16.17・・・・検出器。 出 、1 人 インターナジョブフレ・ビジネス・マシ
ーンズ・コーオレーション代理人弁理士  岡  1)
 次  生(外1名)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 未知の屈折率を有する流体試料を受は入れるための領域
    を画定し、該領域に面する内側表面上に回折格子の形成
    された、既知の屈折率を有する透明部材と、 回折条件を満足するように上記回折格子に関する入射角
    が位置付けられた光源と、 上記回折格子によって回折された、上記光源からの光の
    強度を感知するだめの第1の検出装置と、上記回折格子
    を透過した、上記光源からの光の強度を感知するための
    第2の検出装置と、上記第1及び第2の検出装置の発生
    した信号に応答して上記試料の屈折率に関係する出力を
    与える装置とを含む 光学的流体分析装置。
JP57155300A 1981-09-30 1982-09-08 光学的流体分析装置 Granted JPS5863837A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/307,269 US4436420A (en) 1981-09-30 1981-09-30 Optical fluid analyzing apparatus and method
US307269 1981-09-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5863837A true JPS5863837A (ja) 1983-04-15
JPS633255B2 JPS633255B2 (ja) 1988-01-22

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ID=23188978

Family Applications (1)

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JP57155300A Granted JPS5863837A (ja) 1981-09-30 1982-09-08 光学的流体分析装置

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US (1) US4436420A (ja)
EP (1) EP0075653B1 (ja)
JP (1) JPS5863837A (ja)
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