JPS58629B2 - スイツチ接点接触不良チエツク方式 - Google Patents
スイツチ接点接触不良チエツク方式Info
- Publication number
- JPS58629B2 JPS58629B2 JP53029505A JP2950578A JPS58629B2 JP S58629 B2 JPS58629 B2 JP S58629B2 JP 53029505 A JP53029505 A JP 53029505A JP 2950578 A JP2950578 A JP 2950578A JP S58629 B2 JPS58629 B2 JP S58629B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- switch
- test
- circuit
- switch contacts
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はスイッチ接点の接触不良チェック方式例えば被
試験体の絶縁を試験する場合、絶縁試験器と被試験体の
間を多数のスイッチ接点により接続し、被試験体に含ま
れる複数の絶縁試験対象ユニットを前記スイッチ接点に
より順次切換えてゆくことにより、絶縁試験を進めてゆ
く試験回路の構成例を第１図に示し、これについて以下
説明する。
試験体の絶縁を試験する場合、絶縁試験器と被試験体の
間を多数のスイッチ接点により接続し、被試験体に含ま
れる複数の絶縁試験対象ユニットを前記スイッチ接点に
より順次切換えてゆくことにより、絶縁試験を進めてゆ
く試験回路の構成例を第１図に示し、これについて以下
説明する。
第１図において１は絶縁試験器、２は被試験体、２−１
．２−２．〜２−Ｎは試験対象ユニット、３はスイッチ
制御回路、Ｃ，ｔｌ、ｔ２〜ｔＮはスイッチ接点を示す
。
．２−２．〜２−Ｎは試験対象ユニット、３はスイッチ
制御回路、Ｃ，ｔｌ、ｔ２〜ｔＮはスイッチ接点を示す
。
被試験体２には複数の試験対象ユニットＮｏ、１〜Ｎｏ
、Ｎが含まれている。
、Ｎが含まれている。
絶縁試験器１と被試験体２はスイッチ接点Ｃ，ｔ１．ｔ
２〜ｔＮで接続されており、このスイッチ接点はスイッ
チ制御回路３により制御され、被試験体２のユニットＮ
ｏ、１から順に絶縁試験器１と接続してユニットの絶縁
試験を行なう。
２〜ｔＮで接続されており、このスイッチ接点はスイッ
チ制御回路３により制御され、被試験体２のユニットＮ
ｏ、１から順に絶縁試験器１と接続してユニットの絶縁
試験を行なう。
ユニットＮｏ、１を試験する場合はユニットＮｏ、１の
被試験端子ａ、ｂはそれぞれスイッチ制御回路３により
閉じられたスイッチ接点Ｃ，ｔ１を通して絶縁試験器１
に引き込まれユニットＮｏ、１の試験が行なわれる。
被試験端子ａ、ｂはそれぞれスイッチ制御回路３により
閉じられたスイッチ接点Ｃ，ｔ１を通して絶縁試験器１
に引き込まれユニットＮｏ、１の試験が行なわれる。
絶縁試験方法は例えば絶縁試験器１の端子Ａに一定電圧
を与え、端子Ｂに現われる電圧をチェックすることによ
りユニットの絶縁試験をする方法が採られる。
を与え、端子Ｂに現われる電圧をチェックすることによ
りユニットの絶縁試験をする方法が採られる。
ユニットＮｏ、１の試験が終了すると、この情報はスイ
ッチ制御回路３に伝えられるのでスイッチ制御回路３は
スイッチ接点ｔ１を開放し、ｔ２を閉じ、ユニットＮｏ
、２の試験を行なう。
ッチ制御回路３に伝えられるのでスイッチ制御回路３は
スイッチ接点ｔ１を開放し、ｔ２を閉じ、ユニットＮｏ
、２の試験を行なう。
なおスイッチ接点Ｃは閉じられた状態にしておく。
同様な方法でユニットＮｏ、Ｎまでスイッチ接点を順次
切換えて試験を行なう。
切換えて試験を行なう。
しかしながらもし上述の試験回路でスイッチ接点Ｃ，ｔ
１．ｔ２〜ｔＮ。
１．ｔ２〜ｔＮ。
に接触不良が発生すると被試験体２の試験対象ユニット
が絶縁不良にもかかわらず、スイッチ接点の接触不良の
ため、絶縁状態良好という誤判定が下される危険性があ
る。
が絶縁不良にもかかわらず、スイッチ接点の接触不良の
ため、絶縁状態良好という誤判定が下される危険性があ
る。
本発明の目的は上記従来の試験回路の欠点を解決するこ
とにあり、この目的は試験器の端子と被試験装置の端子
間が多数のスイッチ接点により並列に接続されている前
記スイッチ接点の接触不良チェック方式において、前記
スイッチ接点の任意の少なくとも２接点を同時に閉じる
回路と、被試験装置の任意の少なくとも２端子間を同時
に短絡する回路とを設け、試験装置により、前記閉じら
れたスイッチ接点と前記短絡回路とを経由するループの
導通をチェックすることによりスイッチ接点の接触不良
をチェックすることにより達成される。
とにあり、この目的は試験器の端子と被試験装置の端子
間が多数のスイッチ接点により並列に接続されている前
記スイッチ接点の接触不良チェック方式において、前記
スイッチ接点の任意の少なくとも２接点を同時に閉じる
回路と、被試験装置の任意の少なくとも２端子間を同時
に短絡する回路とを設け、試験装置により、前記閉じら
れたスイッチ接点と前記短絡回路とを経由するループの
導通をチェックすることによりスイッチ接点の接触不良
をチェックすることにより達成される。
次に本発明を図面により詳細に説明する。
第２図は本発明のスイッチ接点接触不良チェック方式に
よる試験回路の一実施例を示す。
よる試験回路の一実施例を示す。
第２図において短絡制御回路４が第１図の試験回路に追
加された構成となっている。
加された構成となっている。
次に動作を説明すると、例えばユニットＮｏ、１の絶縁
試験開始に先だってスイッチ制御回路３によりスイッチ
接点Ｃおよびｔｌを閉じると同時に短絡回路４の制御に
より短絡接点Ｓ１が閉じる。
試験開始に先だってスイッチ制御回路３によりスイッチ
接点Ｃおよびｔｌを閉じると同時に短絡回路４の制御に
より短絡接点Ｓ１が閉じる。
このようにして絶縁試験器１側から見ると端子Ａ−スイ
ッチ接点Ｃ−短絡接点Ｓ１−スイッチ接点ｔ１一端子Ｂ
のループが形成される。
ッチ接点Ｃ−短絡接点Ｓ１−スイッチ接点ｔ１一端子Ｂ
のループが形成される。
絶縁試験器１ではこのループの導通をチェックして導通
があれば（つまり絶縁試験器でユニット腐１の端子ａ、
ｂ間が短絡状態と判定すれば）この結果スイッチ接点Ｃ
およびｔｌの接触不良はないと見なして、短絡接点Ｓ１
を開放し、ユニットＮｏ、１の絶縁試験を開始する。
があれば（つまり絶縁試験器でユニット腐１の端子ａ、
ｂ間が短絡状態と判定すれば）この結果スイッチ接点Ｃ
およびｔｌの接触不良はないと見なして、短絡接点Ｓ１
を開放し、ユニットＮｏ、１の絶縁試験を開始する。
同様な方法でスイッチ制御回路３によりスイッチ接点が
順次切換えられると同時に短絡制御回路４でも順次短絡
接点Ｓ１〜ＳＮを切換えてゆくことにより試験を行なう
。
順次切換えられると同時に短絡制御回路４でも順次短絡
接点Ｓ１〜ＳＮを切換えてゆくことにより試験を行なう
。
以上説明したように本発明の方式によると試験器と被試
験装置がスイッチ接点で接続されており、この接点を通
して試験を行なうような場合に、極めて簡単な回路構成
により前記スイッチ接点に接触不良があるか否か確認し
ながら試験を進めることができ、試験精度の向上が計れ
る利点がある。
験装置がスイッチ接点で接続されており、この接点を通
して試験を行なうような場合に、極めて簡単な回路構成
により前記スイッチ接点に接触不良があるか否か確認し
ながら試験を進めることができ、試験精度の向上が計れ
る利点がある。
第１図は従来の試験回路の一例、第２図は本発明のスイ
ッチ接点接触不良チェック方式による試験回路の一実施
例を示す。 図において１は絶縁試験器、２は被試験体、２−１，２
−２．〜２−Ｎは試験対象ユニット、３はスイッチ制御
回路、４は短絡制御回路、Ｃ２ｔ１〜ｔＮはスイッチ接
点、Ｓ１〜ＳＮは短絡接点を示す。
ッチ接点接触不良チェック方式による試験回路の一実施
例を示す。 図において１は絶縁試験器、２は被試験体、２−１，２
−２．〜２−Ｎは試験対象ユニット、３はスイッチ制御
回路、４は短絡制御回路、Ｃ２ｔ１〜ｔＮはスイッチ接
点、Ｓ１〜ＳＮは短絡接点を示す。
Claims (1)
- １ 試験器の端子と被試験装置の端子間が多数のスイッ
チ接点により並列に接続されている前記スイッチ接点の
接触不良チェック方式において、前記スイッチ接点の任
意の少なくとも２接点を同時に閉じる回路と、被試験装
置の任意の少なくとも２端子間を同時に短絡する回路と
を設け、試験装置により、前記閉じられたスイッチ接点
と前記短絡回路とを経由するループの導通をチェックす
ることにより、スイッチ接点の接触不良をチェックする
ことを特徴とするスイッチ接点の接触不良チェック方式
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53029505A JPS58629B2 (ja) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | スイツチ接点接触不良チエツク方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53029505A JPS58629B2 (ja) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | スイツチ接点接触不良チエツク方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54121974A JPS54121974A (en) | 1979-09-21 |
| JPS58629B2 true JPS58629B2 (ja) | 1983-01-07 |
Family
ID=12277939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53029505A Expired JPS58629B2 (ja) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | スイツチ接点接触不良チエツク方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58629B2 (ja) |
-
1978
- 1978-03-15 JP JP53029505A patent/JPS58629B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54121974A (en) | 1979-09-21 |
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