JPS5861444A - 原子吸光分光光度計のバ−ナ−装置 - Google Patents
原子吸光分光光度計のバ−ナ−装置Info
- Publication number
- JPS5861444A JPS5861444A JP15878281A JP15878281A JPS5861444A JP S5861444 A JPS5861444 A JP S5861444A JP 15878281 A JP15878281 A JP 15878281A JP 15878281 A JP15878281 A JP 15878281A JP S5861444 A JPS5861444 A JP S5861444A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rays
- burner
- flame
- line spectrum
- burner head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/72—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flame burners
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は無機元素の分析に使用される原子吸光分光光度
計に係り、特に、試料蒸気を原子化するバーナーの炎に
磁場を印加してバックグラウンド吸収を補正する方式の
原子吸光分光光度計のバーナー装置に関するものである
。
計に係り、特に、試料蒸気を原子化するバーナーの炎に
磁場を印加してバックグラウンド吸収を補正する方式の
原子吸光分光光度計のバーナー装置に関するものである
。
第１図は従来のゼーマン効果を応用したバーナー装置の
説明図である。１は分析対象となる試料液であり、細管
を介したネプライザ２に吸入され、ネプライザ２に接続
した空気人口４から導入された圧縮空気により試料液１
は霧吹き原理によって霧化される。このようにして生じ
た試料液ｌの霧を分散させた空気は燃料ガス人口５から
加圧導入する例えばアセチレンガスと混合してバーナー
チャンバ６内を通過させ、バーナーヘッド７から噴出さ
せるときに点火する。バーナーヘッド７の上面には紙面
に垂直な方向にスリットを設けであるので暮秋の炎３を
生じているが、その中の丸印の付近に試料元素蒸気が原
子化されて存在する。この場所にホローカソードランプ
等の光源より発生された輝線スペクトル光線９を通過さ
せると、上記試料元素蒸気の濃さに比例して輝線スペク
トル光線９は吸収される。即ち、測定対象とする試料元
素と同じ金属元素を含ませたホローカソードランプの輝
線スペクトル光線の吸光度より試料液１中の元素濃度を
求めることが可能となる。
説明図である。１は分析対象となる試料液であり、細管
を介したネプライザ２に吸入され、ネプライザ２に接続
した空気人口４から導入された圧縮空気により試料液１
は霧吹き原理によって霧化される。このようにして生じ
た試料液ｌの霧を分散させた空気は燃料ガス人口５から
加圧導入する例えばアセチレンガスと混合してバーナー
チャンバ６内を通過させ、バーナーヘッド７から噴出さ
せるときに点火する。バーナーヘッド７の上面には紙面
に垂直な方向にスリットを設けであるので暮秋の炎３を
生じているが、その中の丸印の付近に試料元素蒸気が原
子化されて存在する。この場所にホローカソードランプ
等の光源より発生された輝線スペクトル光線９を通過さ
せると、上記試料元素蒸気の濃さに比例して輝線スペク
トル光線９は吸収される。即ち、測定対象とする試料元
素と同じ金属元素を含ませたホローカソードランプの輝
線スペクトル光線の吸光度より試料液１中の元素濃度を
求めることが可能となる。
」二記バーナーヘッド７の上面に設けたスリットは幅が
約０．４ ｍ ｍ、長さが５Ｑｍ、ｍで、バーナーヘッ
ド７はバーナーチャンバ６がら容易に脱着分離できるよ
うになっており、スリットの清掃に便利となっている。
約０．４ ｍ ｍ、長さが５Ｑｍ、ｍで、バーナーヘッ
ド７はバーナーチャンバ６がら容易に脱着分離できるよ
うになっており、スリットの清掃に便利となっている。
また、このスリット上に生じた炎３の輝線スペクトル光
線９を通過させる位置の両側には冷却水人口１０ａと冷
却水出口１０ｂを設けて水冷した磁石８が設置されてい
る。これはゼーマン効果を利用してバックグラウンド吸
収を補正し、原子吸光分析精度を向上させるために設け
たもので、炎３には約１０キロガウスの磁場を印加して
いる。なお、磁石８は永久磁石又は巻線コイルを用いた
電磁石のいずれを用いても構成することができる。
線９を通過させる位置の両側には冷却水人口１０ａと冷
却水出口１０ｂを設けて水冷した磁石８が設置されてい
る。これはゼーマン効果を利用してバックグラウンド吸
収を補正し、原子吸光分析精度を向上させるために設け
たもので、炎３には約１０キロガウスの磁場を印加して
いる。なお、磁石８は永久磁石又は巻線コイルを用いた
電磁石のいずれを用いても構成することができる。
このように炎３中に生成される発光に磁場を加えてゼー
マン効果を付与し、バックグラウンド吸収の補正を行う
技術は公知のものであり、既に多くの文献が発表されて
いる。
マン効果を付与し、バックグラウンド吸収の補正を行う
技術は公知のものであり、既に多くの文献が発表されて
いる。
しかるに従来のバーナー装置は、輝線スペクトル光線９
が通過する両側に磁石８が存在するので、例えば空気、
アセチレン混合ガスの炎３の中心を輝線スペクトル光線
９が通っているがどうかを目視し乍らバーナーヘッド７
の位置を調節する作業が困難であった。このバーナーヘ
ッド７は上記のごとく交換清掃が容易なようにバーナー
チャンバ６の上に載せでいるだけで、その上下調節はバ
ーナーチャンバ６を移動させることによって行っている
。
が通過する両側に磁石８が存在するので、例えば空気、
アセチレン混合ガスの炎３の中心を輝線スペクトル光線
９が通っているがどうかを目視し乍らバーナーヘッド７
の位置を調節する作業が困難であった。このバーナーヘ
ッド７は上記のごとく交換清掃が容易なようにバーナー
チャンバ６の上に載せでいるだけで、その上下調節はバ
ーナーチャンバ６を移動させることによって行っている
。
また、上記のようにバーナーヘッド７の左右位置の調節
が不十分で炎３が磁極８間の中からずれている場合は、
スリットから噴出する混合ガスの流路が曲げられて炎３
が垂直方向に伸びず横に偏向する。この場合炎３の燃焼
状態は不安定となり、原子吸光分光光度計から得られる
電気信号のノイＸｔｄ増加する等の欠点をもっていた。
が不十分で炎３が磁極８間の中からずれている場合は、
スリットから噴出する混合ガスの流路が曲げられて炎３
が垂直方向に伸びず横に偏向する。この場合炎３の燃焼
状態は不安定となり、原子吸光分光光度計から得られる
電気信号のノイＸｔｄ増加する等の欠点をもっていた。
本発明は比較的簡単な部品を付加することによって輝線
スペクトル光線を磁石および炎の中心を通過させるよう
に調整することが容易となる原子吸光分光光度計のバー
ナー装置、を提供することを目的とし、その特徴とする
ところは、試料蒸気と燃料ガスおよび空気等を混合して
噴出させるスリットを設けたバーナーヘッドの長手方向
の両端に取り付け、バーナーヘッドの上部でスリットと
平行に対向設置した一対の磁石の磁極面間に位置させた
一対のマスクに、輝線スペクトル光線を通過させる窓孔
を設けて構成したことにある。
スペクトル光線を磁石および炎の中心を通過させるよう
に調整することが容易となる原子吸光分光光度計のバー
ナー装置、を提供することを目的とし、その特徴とする
ところは、試料蒸気と燃料ガスおよび空気等を混合して
噴出させるスリットを設けたバーナーヘッドの長手方向
の両端に取り付け、バーナーヘッドの上部でスリットと
平行に対向設置した一対の磁石の磁極面間に位置させた
一対のマスクに、輝線スペクトル光線を通過させる窓孔
を設けて構成したことにある。
第２図は本発明の一実施例であるバーナー装置の説明図
で、第３図は第２図のＡ−Ｂ断面図である。第１図と同
じ部分には同一符号を付しであるが、この場合はバーナ
ーヘッド７の長手方向両端に窓孔１２を設けたマ誠りｌ
ｌａ、ｌｌｂを取り付け′Ｃある。このマスクｌｌａ、
ｌｌｂはバーナーヘッド７のスリットの直上でスリット
と平行な直線上に窓孔１２ａ、１２ｂの中心が存在する
ように取り付けられているので、輝線スペクトル光線９
が窓孔１２ａの中心を通過するようにすれば炎３の中心
を輝線スペクトル光線９が通過することになる。なお、
マスク１１に設けた窓孔１２の長さは約２０ｍｍとしで
ある。これはバーナーの燃焼条件（例えば空気とアセチ
レンガスの流路の変化）によって還元炎の位置が約１５
ｍｍ上下方向に移動しても輝線スペクトル光線９が炎３
の最適位黄金通過させることができるようにするためで
ある。
で、第３図は第２図のＡ−Ｂ断面図である。第１図と同
じ部分には同一符号を付しであるが、この場合はバーナ
ーヘッド７の長手方向両端に窓孔１２を設けたマ誠りｌ
ｌａ、ｌｌｂを取り付け′Ｃある。このマスクｌｌａ、
ｌｌｂはバーナーヘッド７のスリットの直上でスリット
と平行な直線上に窓孔１２ａ、１２ｂの中心が存在する
ように取り付けられているので、輝線スペクトル光線９
が窓孔１２ａの中心を通過するようにすれば炎３の中心
を輝線スペクトル光線９が通過することになる。なお、
マスク１１に設けた窓孔１２の長さは約２０ｍｍとしで
ある。これはバーナーの燃焼条件（例えば空気とアセチ
レンガスの流路の変化）によって還元炎の位置が約１５
ｍｍ上下方向に移動しても輝線スペクトル光線９が炎３
の最適位黄金通過させることができるようにするためで
ある。
マスク１１の横幅は対向する磁石８０間隔より約１ｍｍ
程度狭くして磁石８に接触することなくその中央に設置
することを容易にしている。なお、マスク１１の窓孔１
２はその中央部に形成するという条件は満たされなけれ
ばならない。
程度狭くして磁石８に接触することなくその中央に設置
することを容易にしている。なお、マスク１１の窓孔１
２はその中央部に形成するという条件は満たされなけれ
ばならない。
このように構成されたバーナー装置は、マスク１１が対
向する磁石８の中心に設置してあり、マスク１１の中央
に設けた窓孔１２を輝線スペクトル光線９が通過するよ
うに調整しであるので′、輝線スペクトル光線９の方向
を微動させて検知器で検知しその光線の強度の表示目盛
が最大となるように調節すれば、直接肉眼で輝線スペク
トル光線９の位置を確認しなくとも最適状態に調整する
ことができる。即ち、表示計の光強度の値が最大となる
ようにバーナーヘッド７の位置を調節すればよいことに
なる。
向する磁石８の中心に設置してあり、マスク１１の中央
に設けた窓孔１２を輝線スペクトル光線９が通過するよ
うに調整しであるので′、輝線スペクトル光線９の方向
を微動させて検知器で検知しその光線の強度の表示目盛
が最大となるように調節すれば、直接肉眼で輝線スペク
トル光線９の位置を確認しなくとも最適状態に調整する
ことができる。即ち、表示計の光強度の値が最大となる
ようにバーナーヘッド７の位置を調節すればよいことに
なる。
芥た、必要最小限の面積の窓孔１２で検知器に入る光量
を制限しているが、肝心な輝線スペクトル光線９は支障
なく通過させているので、測定光の純度を高めて測光精
度を向上させることができる。即ち、炎３の先端？周囲
より生じている妨害光をマスク１１でできるだけ遮断す
ることができる。なお、マスク１１はバーナーヘッド７
の両端部に設置しであるので、炎３による空気の流れを
整えて炎３ｆ：安定化させるのにも役立っている。
を制限しているが、肝心な輝線スペクトル光線９は支障
なく通過させているので、測定光の純度を高めて測光精
度を向上させることができる。即ち、炎３の先端？周囲
より生じている妨害光をマスク１１でできるだけ遮断す
ることができる。なお、マスク１１はバーナーヘッド７
の両端部に設置しであるので、炎３による空気の流れを
整えて炎３ｆ：安定化させるのにも役立っている。
本実施例ので（−ナー装置は、バーナーヘッドの長手方
向の両端に上下方向に長い窓孔を設けた一対のマスクを
設置して輝線スペクトル光線を通過させるという簡単な
改良によって、輝線スペクトル光線を炎の還元炎部を通
過させると共に、磁石によるゼーマン効果を能率良く与
えることが容易となり、分析精度を向上・させるという
効果が得られる。
向の両端に上下方向に長い窓孔を設けた一対のマスクを
設置して輝線スペクトル光線を通過させるという簡単な
改良によって、輝線スペクトル光線を炎の還元炎部を通
過させると共に、磁石によるゼーマン効果を能率良く与
えることが容易となり、分析精度を向上・させるという
効果が得られる。
本発明の原子吸光分光光度計のバーナー装置は、バーナ
ーヘッドの長手方向の両端にマスクを設置するだけで、
輝線スペクトル光線を磁石および炎の中心部を通過させ
て高精度な分析を行わせることができるという効果をも
っている。
ーヘッドの長手方向の両端にマスクを設置するだけで、
輝線スペクトル光線を磁石および炎の中心部を通過させ
て高精度な分析を行わせることができるという効果をも
っている。
第１図は従来のゼーマン効果を応用したバーナー装置の
説゛明図、第２図は本発明の一実施例であるバーナー装
置の説明図、第３図は第２図のＡ −Ｂ断面図である。 １・・・試料液、２・・・ネプライザ、３・・・炎、４
・・・空気入口、５・・・燃料ガス入口、６・・・バー
ナーチャン・く、７・・・バーナーヘッド、８・・・磁
石、９・・・輝線スペクトル光線、１０・・・冷却水出
入口、１１・・・マスク、第１図
説゛明図、第２図は本発明の一実施例であるバーナー装
置の説明図、第３図は第２図のＡ −Ｂ断面図である。 １・・・試料液、２・・・ネプライザ、３・・・炎、４
・・・空気入口、５・・・燃料ガス入口、６・・・バー
ナーチャン・く、７・・・バーナーヘッド、８・・・磁
石、９・・・輝線スペクトル光線、１０・・・冷却水出
入口、１１・・・マスク、第１図
Claims (1)
- ■、 試料蒸気を原子化するバーナーの炎に磁場を印加
してバンクグラウンド吸収を補正するゼーマン効果を応
用した原子吸光分光光度計において、−］二記試料蒸気
と燃料ガスおよび空気等を混合して噴出させるスリット
を設けたバーナーヘッドの長手方向の両端に取り付け、
上記バーナーヘッドの上部で上記スリットと平行に対向
設置した一対の磁石の磁極面間に位置させた一対のマス
クに、輝線スペクトル光線を通過させる窓孔を設けてな
ることを特徴とする原子吸光分光光度計のバーナー装置
、。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15878281A JPS5861444A (ja) | 1981-10-07 | 1981-10-07 | 原子吸光分光光度計のバ−ナ−装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15878281A JPS5861444A (ja) | 1981-10-07 | 1981-10-07 | 原子吸光分光光度計のバ−ナ−装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5861444A true JPS5861444A (ja) | 1983-04-12 |
Family
ID=15679209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15878281A Pending JPS5861444A (ja) | 1981-10-07 | 1981-10-07 | 原子吸光分光光度計のバ−ナ−装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5861444A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4430146Y1 (ja) * | 1965-01-20 | 1969-12-12 |
-
1981
- 1981-10-07 JP JP15878281A patent/JPS5861444A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4430146Y1 (ja) * | 1965-01-20 | 1969-12-12 |
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