JPS5858020B2 - びん状体のクラツク検出方法 - Google Patents
びん状体のクラツク検出方法Info
- Publication number
- JPS5858020B2 JPS5858020B2 JP10049578A JP10049578A JPS5858020B2 JP S5858020 B2 JPS5858020 B2 JP S5858020B2 JP 10049578 A JP10049578 A JP 10049578A JP 10049578 A JP10049578 A JP 10049578A JP S5858020 B2 JPS5858020 B2 JP S5858020B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、びん状体の側面に、斜め上方から光束を照
射し、底部角肉部のクラックに反射する光束を測定し、
角内部のクラックを検出するようにしたびん状体のクラ
ック検出方法に関する。
射し、底部角肉部のクラックに反射する光束を測定し、
角内部のクラックを検出するようにしたびん状体のクラ
ック検出方法に関する。
すなわち、第１図に示すように、びん１の側内部１ａの
外面に斜め上方からほぼ平行光束２を照射すると、側内
部１ａ内に入射した光束２の一部が、側内部１ａの外面
および内面に反射して底部１ｂの角肉部１ｃに到達し、
角肉部１ｃにクラック１′があると、光束２がクラック
１′に反射して強く光るため、その反射光束２′を測定
し、その測定信号により、角肉部１ｃのクラック１′を
検出するようにしたものである。
外面に斜め上方からほぼ平行光束２を照射すると、側内
部１ａ内に入射した光束２の一部が、側内部１ａの外面
および内面に反射して底部１ｂの角肉部１ｃに到達し、
角肉部１ｃにクラック１′があると、光束２がクラック
１′に反射して強く光るため、その反射光束２′を測定
し、その測定信号により、角肉部１ｃのクラック１′を
検出するようにしたものである。
つぎにこの発明を、その実施例を示した図面とともに詳
細に説明する。
細に説明する。
なお、前記と同一記号は同一物を示す。
まず、１実施例を第１図および第２図とともに説明する
。
。
３．３は段差をもって外周部が対向して回転自在に設け
られたスターホイルであり、スターホイル３の外周部に
は等間隔に被測定物であるびん１の径とほぼ同径の半円
状の凹部が形成されており、スターホイル３，３は、パ
ルスモータ等により間欠的に回転され、コンベア等によ
り送られてきたびん１を検査位置に位置させる。
られたスターホイルであり、スターホイル３の外周部に
は等間隔に被測定物であるびん１の径とほぼ同径の半円
状の凹部が形成されており、スターホイル３，３は、パ
ルスモータ等により間欠的に回転され、コンベア等によ
り送られてきたびん１を検査位置に位置させる。
４は検査位置においてびん１の底面に当接しびん１の位
置規制をする支持体、５は検査位置の上方に設けられた
凹面鏡、６は凹面鏡５の中心に設けられた光源、７は凹
面鏡５に対向して設けられた凸面鏡であり、光源６から
発せられた光２が、両鏡５，７により下方に平行光とし
て投出される。
置規制をする支持体、５は検査位置の上方に設けられた
凹面鏡、６は凹面鏡５の中心に設けられた光源、７は凹
面鏡５に対向して設けられた凸面鏡であり、光源６から
発せられた光２が、両鏡５，７により下方に平行光とし
て投出される。
８は凸面鏡７の下部に設けられ凹面鏡５と凸面鏡７との
間隙に対応するようにほぼ円環状のスリット９が形成さ
れた上部スリット板であり、両鏡５，７により下方に投
出された光が、スリット９から円環状の光束２として投
出される。
間隙に対応するようにほぼ円環状のスリット９が形成さ
れた上部スリット板であり、両鏡５，７により下方に投
出された光が、スリット９から円環状の光束２として投
出される。
１０は上部スリット板８の下部に設けられた内面鏡の円
環状の上部シリンドリカルミラーであり、上部シリンド
リカルミラー１０により、スリット９を通った光束２を
反射して逆円すいリング状の光束２とし、その逆円すい
リング状の光束２を、検査位置のびん１の側面全周から
底部に向かって照射する。
環状の上部シリンドリカルミラーであり、上部シリンド
リカルミラー１０により、スリット９を通った光束２を
反射して逆円すいリング状の光束２とし、その逆円すい
リング状の光束２を、検査位置のびん１の側面全周から
底部に向かって照射する。
１１は検査位置におけるスターオイル３，３の下方に設
けられた内面鏡の円環状の下部シリンドリカルミラーで
あり、角肉部１ｃにおける反射光束２′が下部シリンド
リカルミラー１１に照射される。
けられた内面鏡の円環状の下部シリンドリカルミラーで
あり、角肉部１ｃにおける反射光束２′が下部シリンド
リカルミラー１１に照射される。
１２はびん１と下部シリンドリカルミラー１１との間に
介設された下部スリット板であり、下部スリット板１２
はスリットがびん１の角肉部１ｃに３０度ないし４５度
下方から対向するように設定され、下部スリット板１２
により、角内部１ｃ以外からの反射光束２′が遮蔽され
るとともに、３０度ないし４５度における一番強い反射
光束２′が下部シリンドカルミラー１１に照射される。
介設された下部スリット板であり、下部スリット板１２
はスリットがびん１の角肉部１ｃに３０度ないし４５度
下方から対向するように設定され、下部スリット板１２
により、角内部１ｃ以外からの反射光束２′が遮蔽され
るとともに、３０度ないし４５度における一番強い反射
光束２′が下部シリンドカルミラー１１に照射される。
１３は下部シリンドリカルミラー１１の中央下部に設け
られた外面鏡の逆円すい台状の円すいミラーであり、下
部シリンドリカルミラー１１により反射された逆円すい
リング状の反射光束２′が円すいミラー１３によって円
筒状光束２′に変えられる。
られた外面鏡の逆円すい台状の円すいミラーであり、下
部シリンドリカルミラー１１により反射された逆円すい
リング状の反射光束２′が円すいミラー１３によって円
筒状光束２′に変えられる。
１４は円すいミラー１３の下部に設けられた受光器、１
５は受光器１４の上面に設けられた凸レンズであり、円
すいミラー１３からの光束２′が凸レンズ１５により収
れんされる。
５は受光器１４の上面に設けられた凸レンズであり、円
すいミラー１３からの光束２′が凸レンズ１５により収
れんされる。
１６は受光器１４の底面に設けられた光電変換素子であ
り、凸レンズ１５により収れんされた光束２′が光電変
換素子１６に照射される。
り、凸レンズ１５により収れんされた光束２′が光電変
換素子１６に照射される。
１７はびん１が検査位置に位置されていることを検知す
る位置検知器、１８は光電変換素子１６からの反射光束
２′の測定信号ｔ（測定電圧）を増幅する増幅器、１９
は増幅器１８からの測定信号ｆとクラック１′がない時
の基準測定信号ｙｏ （基準電圧）とを比較する比較器
、２０は比較器１９からの比較信号にと位置検知器１７
からの検知信号にとが入力される判定器であり、検知信
号ｋが入力されてびん１が検査位置に位置している状態
で、基準測定信号２゜より高い測定信号ｔ′が入力され
た時、判定器２０からクラック１′が存在する信号ｉが
出力される。
る位置検知器、１８は光電変換素子１６からの反射光束
２′の測定信号ｔ（測定電圧）を増幅する増幅器、１９
は増幅器１８からの測定信号ｆとクラック１′がない時
の基準測定信号ｙｏ （基準電圧）とを比較する比較器
、２０は比較器１９からの比較信号にと位置検知器１７
からの検知信号にとが入力される判定器であり、検知信
号ｋが入力されてびん１が検査位置に位置している状態
で、基準測定信号２゜より高い測定信号ｔ′が入力され
た時、判定器２０からクラック１′が存在する信号ｉが
出力される。
なお、前記実施例においては、凹面鏡５、光源６、凸面
鏡７、上部スリット板８および上部シリンドリカルミラ
ー１０により投光部が形成され、下部シリンドリカルミ
ラー１１、下部スリット板１２、円すいミラー１３およ
び受光器１４により受光部が形成されている。
鏡７、上部スリット板８および上部シリンドリカルミラ
ー１０により投光部が形成され、下部シリンドリカルミ
ラー１１、下部スリット板１２、円すいミラー１３およ
び受光器１４により受光部が形成されている。
つぎに、前記実施例の動作について説明する。
コンベア上を送られてきたびん１が、スターホイル３，
３により検査位置に位置されると、上部シリンドリカル
ミラー１０からの逆円すいリング状の光束２が、びん１
の側面全周から底面に向かって照射され、その照射され
た光束２が側肉部１ａ内を通って底部１ｂの角肉部１ｃ
に達し、その角内部１ｃ全域の反射光束２′を、受光器
１４により受光測定し、その測定信号２を増幅して測定
信号１′とし、基準測定信号ｔ。
３により検査位置に位置されると、上部シリンドリカル
ミラー１０からの逆円すいリング状の光束２が、びん１
の側面全周から底面に向かって照射され、その照射され
た光束２が側肉部１ａ内を通って底部１ｂの角肉部１ｃ
に達し、その角内部１ｃ全域の反射光束２′を、受光器
１４により受光測定し、その測定信号２を増幅して測定
信号１′とし、基準測定信号ｔ。
と比較する。そして、角肉部１ｃの全域にクラック１′
がない場合、受光器１４の受ける光量が小さく低レベル
であるため、測定信号１′の電圧も基準測定信号１ｏの
電圧より低く、判定器２０からは「クラック無し」の信
号ｉが出力される。
がない場合、受光器１４の受ける光量が小さく低レベル
であるため、測定信号１′の電圧も基準測定信号１ｏの
電圧より低く、判定器２０からは「クラック無し」の信
号ｉが出力される。
一方、角肉部１ｃの１カ所でもクラック１′がある場合
、クラック１′からの反射光２′が強いため、受光器１
４の受光量が多くなり、測定信号グの電圧が基準測定信
号２゜の電圧より高くなり、判定器２０から「クラック
有り」の信号Ｉが出力され、被検査びん１のクラック１
′の存在を指示する。
、クラック１′からの反射光２′が強いため、受光器１
４の受光量が多くなり、測定信号グの電圧が基準測定信
号２゜の電圧より高くなり、判定器２０から「クラック
有り」の信号Ｉが出力され、被検査びん１のクラック１
′の存在を指示する。
そして、一定検査時間の経過後、再び、スターホイル３
，３が回転し、つぎのびん１が検査位置に位置されると
ともに、検査が終了したびん１は、クラック１′がな場
合はそのままコンベアで送られ、クラック１′がある場
合はエアノズル等によりコンベア上から除去される。
，３が回転し、つぎのびん１が検査位置に位置されると
ともに、検査が終了したびん１は、クラック１′がな場
合はそのままコンベアで送られ、クラック１′がある場
合はエアノズル等によりコンベア上から除去される。
以上の動作を繰り返し行ない、順次、コンベアにより送
られてくるびん１のクラック１′の有無が判定され、ク
ラック１′のあるびん１が除去される。
られてくるびん１のクラック１′の有無が判定され、ク
ラック１′のあるびん１が除去される。
つぎに、他の実施例を、第１図および第３図とともに説
明する。
明する。
第３図ａ図に示すように、前記実施例において、上部シ
リンドリカルミラー１０の下方に、モータ２１により定
速回転される回転スリット板２２を設け、同す図に示す
ように、その回転スリット板２２に、上部シリンドリカ
ルミラー１０から反射した逆円すい状の光束２が通過す
るスリットとなる小孔２３を形成し、その小孔２３から
、平行光束２が、びん１の側面から底面に向かって入射
するようにする。
リンドリカルミラー１０の下方に、モータ２１により定
速回転される回転スリット板２２を設け、同す図に示す
ように、その回転スリット板２２に、上部シリンドリカ
ルミラー１０から反射した逆円すい状の光束２が通過す
るスリットとなる小孔２３を形成し、その小孔２３から
、平行光束２が、びん１の側面から底面に向かって入射
するようにする。
したがって、本実施例は、回転スリット板２２を回転す
ることにより、平行光束２が、びん１の周りをフライン
グし、平行光束２を順次びん１の側面から底面に照射し
、角肉部１ｃのクラック１′の検査を順次行なう。
ることにより、平行光束２が、びん１の周りをフライン
グし、平行光束２を順次びん１の側面から底面に照射し
、角肉部１ｃのクラック１′の検査を順次行なう。
そして、角内部１ｃにクラック１′がある場合、平行光
束２の照射位置が、クラック１′に対応する位置にきた
時、受光器１２の受ける光量が急激に増加し、測定信号
ｒ′の電圧が基準測定信号ｌ。
束２の照射位置が、クラック１′に対応する位置にきた
時、受光器１２の受ける光量が急激に増加し、測定信号
ｒ′の電圧が基準測定信号ｌ。
の電圧より高くなり、判定器２０から「クラック有り」
の信号が出力され、被検査びん１のクラック１′の存在
を指示する。
の信号が出力され、被検査びん１のクラック１′の存在
を指示する。
したがって、本実施例は、平行光束２により、角肉部１
ｃのクラック１′の検査を順次行なうため、クラック１
での検出精度が向上される。
ｃのクラック１′の検査を順次行なうため、クラック１
での検出精度が向上される。
なお、前記２実施例において、逆円すいリング状光束２
はグラスファイバー等により形成しても本発明の効果を
得ることができる。
はグラスファイバー等により形成しても本発明の効果を
得ることができる。
以上のように、この発明のびん状体のクラック検出方法
によると、投光部からびん状体の側面に逆円すいリング
状の光束を照射するとともに、びん状体の側面全域から
底面に向かって光束を入射し、光束を、びん状体の側内
部内を通って底部の角肉部に到達させ、光束が角肉部の
クラックに反射した反射光束を測定し、測定信号により
、角肉部全域のクラックを検出することにより、安価に
して容易に、びん状体の角内部のクラックを１度に検出
することができ、検査時間の短縮を図ることができると
ともに、びん状体の信頼性を向上することができる。
によると、投光部からびん状体の側面に逆円すいリング
状の光束を照射するとともに、びん状体の側面全域から
底面に向かって光束を入射し、光束を、びん状体の側内
部内を通って底部の角肉部に到達させ、光束が角肉部の
クラックに反射した反射光束を測定し、測定信号により
、角肉部全域のクラックを検出することにより、安価に
して容易に、びん状体の角内部のクラックを１度に検出
することができ、検査時間の短縮を図ることができると
ともに、びん状体の信頼性を向上することができる。
また、投光部に、スリットの形成された回転スリット板
を設け、スリットを光束のリング上に位置し、光束の一
部を、スリットを通過させてびん状体の側面に照射し、
回転スリット板を回転し、照射位置を回転することによ
り、検査精度を向上することができ、さらに、びん状体
の信頼性を向上することができる。
を設け、スリットを光束のリング上に位置し、光束の一
部を、スリットを通過させてびん状体の側面に照射し、
回転スリット板を回転し、照射位置を回転することによ
り、検査精度を向上することができ、さらに、びん状体
の信頼性を向上することができる。
図面は、この発明のびん状体のクラック検出方法の実施
例を示し、第１図は光の進路説明図、第２図は１実施例
の概略図、第３図ａ図は他の実施例の概略図、同す図は
同ａ図の回転スリット板の平面図である。 １・・・・・・びん、１′・・・・・・クラック、１ａ
・・・・・・イ則肉部、１ｂ・・・・・・底部、１ｃ・
・・・・・角肉部、２・・・・・・光束、２′・・・・
・・反射光束、１４・・・・・・受光器、１６・・・・
・・光電変換素子、２２・・・・・・回転スリット板、
２３・・・・・・小孔。
例を示し、第１図は光の進路説明図、第２図は１実施例
の概略図、第３図ａ図は他の実施例の概略図、同す図は
同ａ図の回転スリット板の平面図である。 １・・・・・・びん、１′・・・・・・クラック、１ａ
・・・・・・イ則肉部、１ｂ・・・・・・底部、１ｃ・
・・・・・角肉部、２・・・・・・光束、２′・・・・
・・反射光束、１４・・・・・・受光器、１６・・・・
・・光電変換素子、２２・・・・・・回転スリット板、
２３・・・・・・小孔。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 投光部からびん状体の側面に逆円すいリング状の光
束を照射するとともに、前記びん状体の側面から底面に
向かって前記光束を入射し、前記光束を、前記びん状体
の側内部内を通って底部の角肉部に到達させ、前記光束
が前記角肉部のクラックに反射した反射光束を測定し、
前記測定信号により、前記角肉部会域のクラックを検出
することを特徴とするびん状体のクラック検出方法。 ２ 角内部全域のクラックの反射光束を、１つの光電変
換素子に照射して測定することを特徴とする特許請求の
範囲第１項に記載のびん状体のクラック検出方法。 ３ 投光部に、スリットの形成された回転スリット板を
設け、前記スリットを光束のリング上に位置し、前記光
束の一部を、前記スリットを通過させてびん状体の側面
に照射し、前記回転スリット板を回転し、前記照射位置
を回転させることを特徴とする特許請求の範囲第１項に
記載のびん状体のクラック検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10049578A JPS5858020B2 (ja) | 1978-08-17 | 1978-08-17 | びん状体のクラツク検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10049578A JPS5858020B2 (ja) | 1978-08-17 | 1978-08-17 | びん状体のクラツク検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5527918A JPS5527918A (en) | 1980-02-28 |
| JPS5858020B2 true JPS5858020B2 (ja) | 1983-12-23 |
Family
ID=14275499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10049578A Expired JPS5858020B2 (ja) | 1978-08-17 | 1978-08-17 | びん状体のクラツク検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5858020B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10621490B2 (en) | 2017-07-20 | 2020-04-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3035082A1 (de) * | 1980-09-17 | 1982-04-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und anordnung zur optischelektronischen erfassung von oberflaechenstrukturen an rotationssymmetrischen koerpern |
| US4551627A (en) * | 1983-08-01 | 1985-11-05 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Methods and apparatus for detecting residual liquid in containers |
| US4943713A (en) * | 1987-11-27 | 1990-07-24 | Hajime Industries Ltd. | Bottle bottom inspection apparatus |
| DE10312051A1 (de) * | 2003-03-18 | 2004-09-30 | Vitronic Dr.-Ing. Stein Bildverarbeitungssysteme Gmbh | Mantelflächensensor sowie Abbildungsoptik hierfür |
-
1978
- 1978-08-17 JP JP10049578A patent/JPS5858020B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10621490B2 (en) | 2017-07-20 | 2020-04-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5527918A (en) | 1980-02-28 |
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