JPS5855728A - 温度差検出回路 - Google Patents
温度差検出回路Info
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- JPS5855728A JPS5855728A JP15438881A JP15438881A JPS5855728A JP S5855728 A JPS5855728 A JP S5855728A JP 15438881 A JP15438881 A JP 15438881A JP 15438881 A JP15438881 A JP 15438881A JP S5855728 A JPS5855728 A JP S5855728A
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- temp
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
- G01K7/25—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit for modifying the output characteristic, e.g. linearising
-
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- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/18—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer
- G01K7/20—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
- G01K7/21—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit for modifying the output characteristic, e.g. linearising
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、例えばサムロータリスイッチ等のような多
岐切替スイッチを介して設定される設定１１度と、ｍｍ
抵抗体を介して検出される実際の測定濃度との偏差に対
応する電圧を出力するＩ！ｒ！ｉ差検出回路に１する。
岐切替スイッチを介して設定される設定１１度と、ｍｍ
抵抗体を介して検出される実際の測定濃度との偏差に対
応する電圧を出力するＩ！ｒ！ｉ差検出回路に１する。
第１図に、従来の濃度差検出回路の一例を示す。
同図において、白金測温体Ｒｔと抵抗ＲＺとにより測温
回路１が構成されており１．この測温回路１から出力さ
れる実際の温度ｔ℃に対応する測ｍｉｉルＶ （ｔ ）
（ａ点基準）は、ｏｐアンプ２の非反転入力側に供
給される。
回路１が構成されており１．この測温回路１から出力さ
れる実際の温度ｔ℃に対応する測ｍｉｉルＶ （ｔ ）
（ａ点基準）は、ｏｐアンプ２の非反転入力側に供
給される。
他方、ＯＰアンプ２の反転入力側には抵抗Ｒ１゜Ｒ１０
，Ｒ１００をそれぞれ介してサムロータリスイッチ３，
４．５の出力がそれぞれ供給されている。
，Ｒ１００をそれぞれ介してサムロータリスイッチ３，
４．５の出力がそれぞれ供給されている。
サムロータリスイッチ３および４の各切替入力端子には
、ツェナーダイオードＤｚで設定された基準電圧を、抵
抗ＲＷおよび抵抗Ｉｎで降圧し、これを更に抵抗Ｒａ−
Ｒｊからなる抵抗ラダー〇により１０分割した８値が供
給されており、またサムロータリスイッチ５の各切替入
力端子には同様にしてツェナーダイオードＤｚで設定さ
れた基準電圧を抵抗Ｒｗ、Ｒｙにより降圧し、これを抵
抗Ｒｋ−Ｒｍからなる抵抗ラダー７によって４分割した
８値が供給されている。
、ツェナーダイオードＤｚで設定された基準電圧を、抵
抗ＲＷおよび抵抗Ｉｎで降圧し、これを更に抵抗Ｒａ−
Ｒｊからなる抵抗ラダー〇により１０分割した８値が供
給されており、またサムロータリスイッチ５の各切替入
力端子には同様にしてツェナーダイオードＤｚで設定さ
れた基準電圧を抵抗Ｒｗ、Ｒｙにより降圧し、これを抵
抗Ｒｋ−Ｒｍからなる抵抗ラダー７によって４分割した
８値が供給されている。
また、サムロータリスイッチ３．４および５はそれぞれ
設定温度を表わす数値の１０の０乗、１０の１乗、およ
び１０の２乗桁の値にそれぞれ対応している。
設定温度を表わす数値の１０の０乗、１０の１乗、およ
び１０の２乗桁の値にそれぞれ対応している。
従って、サムロータリスイッチ３．４および５を適宜切
替設定することによって、０℃〜３９９℃の範囲で任意
の温度設定を行なうことができるようになされている。
替設定することによって、０℃〜３９９℃の範囲で任意
の温度設定を行なうことができるようになされている。
なお、可変抵抗器ＶＲ１，ＶＲ２はそれぞれ、回路の初
期調整用として用いられる。
期調整用として用いられる。
上述の温度差検出回路の出力ＶＯＵＴは次式で表わされ
る。
る。
また上記（１）式において、設定温電圧ＶＳ（１）は仮
想的に次式で表わされる。
想的に次式で表わされる。
ところで、この種の温度差検出回路に使用される測部抵
抗体の抵抗値は、一定のＩｌｒ！Ｉ範囲においては直線
性を保持するが、これを越えた場合、被直線的に増加ま
たは減少することとなる。
抗体の抵抗値は、一定のＩｌｒ！Ｉ範囲においては直線
性を保持するが、これを越えた場合、被直線的に増加ま
たは減少することとなる。
このため、抵抗ラダー６および７から得られる各ステッ
プ電圧の値を等間隔に設定すると、第３図に示す如く測
定濃度が上昇するにつれて、１１１濃回路１から出力さ
れる測温電圧Ｖ（ｔ）と設定温電圧Ｖｓ（ｔ）とは一致
しなくなり、非検出体のｍｌと設定濃度とが一致してい
るにも拘わらず、Ｉ記Ｖ （ｔ ） 、！：Ｖｓ （
ｔ ） ト（Ｄ偏差Ｖ ｄｅｆが湿度差出力ＶＯＬＩＴ
として出力され、これにより温度差を誤認させることと
なる。
プ電圧の値を等間隔に設定すると、第３図に示す如く測
定濃度が上昇するにつれて、１１１濃回路１から出力さ
れる測温電圧Ｖ（ｔ）と設定温電圧Ｖｓ（ｔ）とは一致
しなくなり、非検出体のｍｌと設定濃度とが一致してい
るにも拘わらず、Ｉ記Ｖ （ｔ ） 、！：Ｖｓ （
ｔ ） ト（Ｄ偏差Ｖ ｄｅｆが湿度差出力ＶＯＬＩＴ
として出力され、これにより温度差を誤認させることと
なる。
そこで、このような問題を解決するために、従来最上位
に番当する１０の２乗桁に対応する抵抗ラダー７の各ス
テップ電圧の間隔を徐々に小さく設定することによって
、設定温度電圧ＶＳ（ｔ）の全体の傾きを第４図に示す
如く徐々に小さくりるようにした試みもなされている。
に番当する１０の２乗桁に対応する抵抗ラダー７の各ス
テップ電圧の間隔を徐々に小さく設定することによって
、設定温度電圧ＶＳ（ｔ）の全体の傾きを第４図に示す
如く徐々に小さくりるようにした試みもなされている。
しかしながら、単に抵抗ラダー７から出力される各ステ
ップ電圧の間隔を徐々に減少させただけでは、０℃〜９
９℃、１００℃〜１９９℃、２００℃〜２９９℃’、３
００℃〜３９９℃の各範囲内においては、前記曲線ＶＳ
（ｔ）の傾きは変らないため、第４図に示す如く曲線Ｖ
Ｓ（ｔ）は鋸歯状を呈することとなり、１００℃、２０
０℃、３００℃、４００℃の各前後において、設定温電
圧Ｖｓ（ｔ）の値は大きく麹化するとともに、測温電圧
Ｖ（ｔ）と設定温電圧ＶＳ （ｔ ）との偏差Ｖｄｅ
ｆについて毬十分に補正しきれない等の問題がある。
ップ電圧の間隔を徐々に減少させただけでは、０℃〜９
９℃、１００℃〜１９９℃、２００℃〜２９９℃’、３
００℃〜３９９℃の各範囲内においては、前記曲線ＶＳ
（ｔ）の傾きは変らないため、第４図に示す如く曲線Ｖ
Ｓ（ｔ）は鋸歯状を呈することとなり、１００℃、２０
０℃、３００℃、４００℃の各前後において、設定温電
圧Ｖｓ（ｔ）の値は大きく麹化するとともに、測温電圧
Ｖ（ｔ）と設定温電圧ＶＳ （ｔ ）との偏差Ｖｄｅ
ｆについて毬十分に補正しきれない等の問題がある。
この発明は上記の問題を解決するためになされたもので
、その目的とするところは、この種の渇喰差検出回路に
おいて、全設定温度範囲内におい５− て出力誤差を可及的に低減することにある。
、その目的とするところは、この種の渇喰差検出回路に
おいて、全設定温度範囲内におい５− て出力誤差を可及的に低減することにある。
この発明は上記の目的を達成するために、前記最上位桁
の多岐切替スイッチ（サムロータリスイッチ）の各切替
入力端子とこれに対応する抵抗ラダー回路のタップとの
藺に、値の異なる抵抗を介挿し、前記最上位桁の切替動
作に応答して前記ＯＰアンプの該当する入力抵抗値を変
化させ、測温抵抗体の非直線性に起因する測温電圧と設
定温電圧との偏差を補正するようにしたことを特徴とす
るものである。
の多岐切替スイッチ（サムロータリスイッチ）の各切替
入力端子とこれに対応する抵抗ラダー回路のタップとの
藺に、値の異なる抵抗を介挿し、前記最上位桁の切替動
作に応答して前記ＯＰアンプの該当する入力抵抗値を変
化させ、測温抵抗体の非直線性に起因する測温電圧と設
定温電圧との偏差を補正するようにしたことを特徴とす
るものである。
以下に、この発明の好適な一実施例を添付図面に従って
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第２図はこの発明に拘わる温度差検出回路の要部を示す
回路図である。同図に示す如く、この発明に係わる２Ｉ
噴差検出回路の特徴は、前記第１図におい、て仮想線８
により囲繞される１０の２乗桁の部分を、第２ＷＪに示
す如く改良したことにある。
回路図である。同図に示す如く、この発明に係わる２Ｉ
噴差検出回路の特徴は、前記第１図におい、て仮想線８
により囲繞される１０の２乗桁の部分を、第２ＷＪに示
す如く改良したことにある。
すなわち、１０の２乗桁に対応するサムロータリスイッ
チ５の各切替入力端子と、抵抗ラダー７を構成する抵抗
Ｒｎ−Ｒｐの各接続点との間には、６− 値の異なる抵抗ｒＯ−ｒ３００が挿入されているのであ
る。
チ５の各切替入力端子と、抵抗ラダー７を構成する抵抗
Ｒｎ−Ｒｐの各接続点との間には、６− 値の異なる抵抗ｒＯ−ｒ３００が挿入されているのであ
る。
上述の改良された温度差検出回路においては、１０の２
乗桁の値を０．１．２．３のように切替えると、その度
にＯＰアンプに対する１ｏの２乗桁の入力抵抗は適宜に
変化することとなる。
乗桁の値を０．１．２．３のように切替えると、その度
にＯＰアンプに対する１ｏの２乗桁の入力抵抗は適宜に
変化することとなる。
ココテ、Ｏ℃〜９９℃、１００℃〜１９９℃。
２００℃〜２９９℃、３００℃〜３９９℃の範囲におけ
る設定温電圧ＶＳ（ｔ）の傾きはそれぞれ次のように表
わされる。
る設定温電圧ＶＳ（ｔ）の傾きはそれぞれ次のように表
わされる。
「０℃〜９９℃」
「１００℃〜１９９℃」
（ｌ五十寺＋７ｈ遍）ｘ Ｒｆ
［２００℃〜２９９℃」
［３００℃〜３９９℃」
１１ １
（Ｔ＋モ＋題ｏｏ）Ｘ階
上述の各式から明らかなように、設定温電圧曲線ＶＳ（
ｔ）の傾きは、各温度範囲において異なることとなり、
従って抵抗「０〜「３００の値を適宜に設定することに
よって、第５図に示す如く各濃度範囲内における曲線Ｖ
Ｓ （ｔ ）の傾きθ０゜θ１００．θ２００．θ３
００の値を測温電圧Ｖ（１）曲線に沿うように設定すれ
ば、全温度設定範囲内において測温電圧Ｖ（ｔ）と設定
温電圧■５（ｔ）との偏差を可及的に低減させ、これに
より温度差出力ＶＯＬＪＴの誤差を著しく減少させるこ
とが可能となる。
ｔ）の傾きは、各温度範囲において異なることとなり、
従って抵抗「０〜「３００の値を適宜に設定することに
よって、第５図に示す如く各濃度範囲内における曲線Ｖ
Ｓ （ｔ ）の傾きθ０゜θ１００．θ２００．θ３
００の値を測温電圧Ｖ（１）曲線に沿うように設定すれ
ば、全温度設定範囲内において測温電圧Ｖ（ｔ）と設定
温電圧■５（ｔ）との偏差を可及的に低減させ、これに
より温度差出力ＶＯＬＪＴの誤差を著しく減少させるこ
とが可能となる。
実際に、本出願人が行なった実験の結果では、次のよう
な良好な結果が得られた。
な良好な結果が得られた。
「従来例ＪＲ１−１００にΩ、ＲＩＯ−１０にΩ。
Ｒ１００−３にΩ
設定誤差；全温度範囲を１００％として、大きい箇所に
おいて約２％ ｒ本発明Ｊ ｒ Ｏ＝３．３２ＫＯ，ｒ １００＝３゜
０９にΩ、ｒ ２００＝２．８７にΩ。
おいて約２％ ｒ本発明Ｊ ｒ Ｏ＝３．３２ＫＯ，ｒ １００＝３゜
０９にΩ、ｒ ２００＝２．８７にΩ。
ｒ ３００−２． ６１にΩ
設定誤差：全温度範囲を１００％として大きい箇所で０
．５％以内 以上の実施例の説明でも明らかなように、この発明に係
わる温度差検出回路は前記最上位桁の多岐切替スイッチ
（サムロータリスイッチ）の各切替入力端子とこれに対
応する抵抗ラダー回路のタップとの間に、値の興なる抵
抗を介挿し、前記最上位桁の切替動作に応答して前記Ｏ
Ｐアンプの該当する入力抵抗値を変化させ、測温抵抗体
の非直線性に起因する測温電圧と設定温電圧との偏差を
補正するようにしたことを特徴とするものであるから、
この種温度差検出回路における誤差を可及的に低減させ
ることが可能となり、その検出精度を著しく向上させる
ことができる。
．５％以内 以上の実施例の説明でも明らかなように、この発明に係
わる温度差検出回路は前記最上位桁の多岐切替スイッチ
（サムロータリスイッチ）の各切替入力端子とこれに対
応する抵抗ラダー回路のタップとの間に、値の興なる抵
抗を介挿し、前記最上位桁の切替動作に応答して前記Ｏ
Ｐアンプの該当する入力抵抗値を変化させ、測温抵抗体
の非直線性に起因する測温電圧と設定温電圧との偏差を
補正するようにしたことを特徴とするものであるから、
この種温度差検出回路における誤差を可及的に低減させ
ることが可能となり、その検出精度を著しく向上させる
ことができる。
第１図は従来回路の回路図、第２図は本発明回路の要部
を示す回路図、第３図は設定温電圧と測９− 温電圧との関係を示す従来例のグラフ、第４図は設定温
電圧と測温電圧との関係を示す従来の改良型のグラフ、
第５図は本発明回路における設定温電圧と測温電圧との
関係を示すグラフである。 １・・・・・・・・・測温回路 ２・・・・・・・・・ＯＰアンプ ３．４および５・・・・・・・・・サムロータリスイッ
チ６．７・・・・・・・・・抵抗ラダー回路ｒ Ｏ，ｒ
１００．ｒ ２００．ｒ ３００・・・・・・・・・
値の異なる抵抗 特許出願人 立石電機株式会社 １０−
を示す回路図、第３図は設定温電圧と測９− 温電圧との関係を示す従来例のグラフ、第４図は設定温
電圧と測温電圧との関係を示す従来の改良型のグラフ、
第５図は本発明回路における設定温電圧と測温電圧との
関係を示すグラフである。 １・・・・・・・・・測温回路 ２・・・・・・・・・ＯＰアンプ ３．４および５・・・・・・・・・サムロータリスイッ
チ６．７・・・・・・・・・抵抗ラダー回路ｒ Ｏ，ｒ
１００．ｒ ２００．ｒ ３００・・・・・・・・・
値の異なる抵抗 特許出願人 立石電機株式会社 １０−
Claims (1)
- （１） １１１！抵抗体の出力に対応する測温電圧を
出力する測温回路と、設定温度を表わす数値の各桁の値
に相当するステップ電圧を発生する抵抗ラダー回路と、
前記抵抗ラダー回路の各ステップ出力を択一的に取出す
ための多岐切替スイッチと、前記多数切替スイッチを介
して取出される各桁値を表わすステップ電圧を加算して
、設定温度に対応する設定漏電圧を求めるとともに、こ
の設定温電圧と前記測温回路から出力される測温電圧と
の偏差を求める演算増幅器による温度差演算手段とを具
備する濃度差検出回路において： 前記最上位桁の多岐切替スイッチの各切替端子とこれに
対応する抵抗ラダー回路の各タップとの閤に、値の興な
る抵抗を介挿し、前記最上位桁の切替に応答して前記演
算増幅器の該当する入力抵抗値を変化させ、測温抵抗体
の非直線性に起因する測部電圧と設定漏電圧との偏差を
補正するように構成したことを特徴とする濃度差検出回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15438881A JPS5855728A (ja) | 1981-09-29 | 1981-09-29 | 温度差検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15438881A JPS5855728A (ja) | 1981-09-29 | 1981-09-29 | 温度差検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5855728A true JPS5855728A (ja) | 1983-04-02 |
| JPS6239926B2 JPS6239926B2 (ja) | 1987-08-26 |
Family
ID=15583039
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15438881A Granted JPS5855728A (ja) | 1981-09-29 | 1981-09-29 | 温度差検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5855728A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5224777A (en) * | 1991-04-23 | 1993-07-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cryogenic measurement equipment |
| EP0710823A1 (en) * | 1991-04-23 | 1996-05-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cryogenic measurement equipment |
-
1981
- 1981-09-29 JP JP15438881A patent/JPS5855728A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5224777A (en) * | 1991-04-23 | 1993-07-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cryogenic measurement equipment |
| EP0710823A1 (en) * | 1991-04-23 | 1996-05-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cryogenic measurement equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6239926B2 (ja) | 1987-08-26 |
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