JPS5852521Y2 - 赤外線ガス分析計 - Google Patents

赤外線ガス分析計

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JPS5852521Y2
JPS5852521Y2 JP1976177616U JP17761676U JPS5852521Y2 JP S5852521 Y2 JPS5852521 Y2 JP S5852521Y2 JP 1976177616 U JP1976177616 U JP 1976177616U JP 17761676 U JP17761676 U JP 17761676U JP S5852521 Y2 JPS5852521 Y2 JP S5852521Y2
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JP
Japan
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temperature
zero point
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detector
circuit
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Application number
JP1976177616U
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JPS5395879U (ja
Inventor
誠 竹内
敦夫 渡辺
Original Assignee
富士電機株式会社
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、光学的不平衡から生ずる零点ドリフトおよび
検出器などから生ずる温度ドリフトを補償し得る電調温
度補償回路を備えた赤外線ガス分析計に関する。
従来、赤外線ガス分析計においては、光学的アンバラン
スから生ずる零点ドリフトを、トリマによる光学的補償
と増幅器回路における電気的調整とを併用して補償して
いた。
この赤外線ガス分析計の概略構成図を第1図に示す。
図において光源部機構Aは光源室1、チョッパ室18お
よび光分配室5から構成されている。
光源室1は光源2を内蔵し、この光源2より発する赤外
線光束はチョッパ室18に設けられたモータ4により回
転駆動されるチョッパ3により周期的に断続される。
さらにこの赤外線光束は光分配室5において、2つの光
路に分配される。
この光分配室5は光束入射側および光束放射側がそれぞ
れ光透過窓9 、10゜11によって閉鎖され、通常赤
外線吸収のないガス、例えば純窒素が封入される。
次に赤外線光束はセル機構Bへ案内され、このセル機構
Bは基準セル6−16よび測定セルフから構成される。
一方の赤外線光束は基準光束として基準セル6へ案内さ
れ、他方の赤外線光束は測定光束として測定セルフへ案
内される。
基準セル6には光透過窓14゜15が設けらへ赤外線吸
収のないガス、例えば純窒素が封入される。
また測定セルフには光透過窓12,13が設けら力、測
定ガス導入管7A。
測定ガス導出管7Bにより、被分析成分ガスを含む測定
ガスが供給され放出される。
このとき、測定光束はこの測定セル1において、その被
分析成分ガスの濃度に応じて赤外線吸収を受ける。
次に測定セルTを透過した測定光束および基準セル6を
透過した基準光束はそれぞれ検出部機構Cに案内される
検出部機構Cはガス封入式検出器8である。
この検出器8は検出槽8Aおよび検出槽8Bを有し、各
検出槽8A、8Bにはそれぞれ光透過窓16,17が設
けらへ被分析酸分ガスと同種類の純ガスが封入されてい
る。
従って、各検出槽8A、8Bは測定光束および基準光束
の強さに応じて異った温度に加熱される。
この各検出槽8A、8Bの連通部8Cに熱線素子8D、
8Eが互に熱結合を生ずるように近接して配置される。
各熱線素子8D、8Eは2個の抵抗と共に、ブリッジ回
路を構威し、電源によって周囲温度より高い温度に加熱
されることにより、各検出槽8A、8B内に封入された
ガスが熱膨張して、連通部8Cには被分析成分ガスの濃
度に応じてガスの流れを生ずる。
このガスの流れは熱線素子8D、8Eにより電気信号に
変換される。
なお光源2から発する測定光束と基準光束との間に生ず
る光学的不平衡による零点ドリフトは、トリマ19また
は20により、測定光束または基準光束を遮光した光学
的補償が行われる。
さて検出器の出力は、測定光束と基準光束との間に光学
的不平衡があると、この光学的不平衡により生ずる零点
ドリフト出力Vo1が存在する。
いま第2図に示すトリマ19が測定セルフを遮光して、
基準セル6との光学的不平衡が取除かへ零点ドリフトが
補償されたとすると、検出器8の零点ドリフト出力■o
1はトリマの光学的遮光量A1に比例する。
また出力■o1は後述する最終段直流増幅器を含めたす
べての増幅器のゲインG。
にも比例する。
このほかに検出器8の熱線素子8D、8Eが周囲温度の
影響を受ける。
この熱線素子8D、8Eの温度係数をα1とし、周囲温
度tとするとこの零点ドリフト出力vo1は ■o1=A1(1+α1t )co+++++++++
+++(1)が成立する。
この(1)式の温度微分係数(温度勾配)は、 dVo1/d t=A1α、 Go−−−−−−−−
・−(2)なお(1)式は温度1=0とすると、 Vol−AlGo・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・(3)である。
さて光学的遮光量A1はトリマ19の位置が変れば、こ
れに応じて変化するから、(1)式、(2)式および(
3)式の値が変わる。
次に零点および温度ドリフトの出力・温度線図を第3図
に示す。
特性線A1−□、Al−2XA1−3は、遮光量A1を
増大するに従って温度勾配も増大することを示す。
この第3図の状態で、増幅回路で零点補償を行えば第4
図となる。
この第4図から明らかなように、零点補償はされても、
検出器8の温度ドリフトが補償されなければ、検出器出
力に温度による影響が残存する。
従って高濃度ガス測定の際には、この温度ドリフトはフ
ルスケールに対して相対的に小さぐなるので、無視でき
る値として、電気的な一定値を付加し補償するのみでも
支障がない。
しかし低濃度ガス測定の際には、この温度ドリフトはフ
ルスケールに対して相対的に大きくなシ、無視すること
ができないために、恒温槽によって周囲温度を補償する
という方法が取られていた。
しかしながらこの方法によると、装置が大形化し、製作
費が高騰するという欠点があった。
本考案は上述の点に鑑み、従来技術の欠点を除き、装置
を小形化し簡易化し、製作費の節減が得られる赤外線ガ
ス分析計を提供まることを目的とする。
このような目的は、本考案によれば、検出器出力信号が
交流増幅器、同期整流器などを介して導かれる直流増幅
器の入力端に電気的零点調整回路を接続し、かつこの零
点調整回路に、検出器の温度特性と符号が逆でありかつ
絶対値が同一である温度特性を有する温度依存性抵抗を
備えた温度補償回路を接続することにより達成される。
次に本考案の一実施例を図面に基づき詳細に説明する。
第5図は本考案の一実施例の概略構成図を示す。
図において検出器8の出力信号が交流増幅器、同期整流
器および平滑回路などを介して導かれる最終段直流増幅
器21の入力側に零点および温度補償回路22が設けら
れ、この回路22の電調信号がその増幅器21の入力信
号に付加される。
この回路22は零点調整回路23と温度補償回路25と
からなり、零点調整回路23は直流電源の正・負電圧(
例えば+20Vおよび一15v)の間に設けた可調整抵
抗24により電調信号を増幅器21の入力信号にあたえ
る。
この電調信号は途中分岐されて温度補償回路25の温度
係数の大きい温度補償抵抗、例えば温度係数0.60X
10−27’Cのニッケル抵抗26を介して接地される
温度が低いときにはこのニッケル抵抗26は抵抗値が低
くなるため、接地電流が増加し増幅器21の入力信号に
付加される電調信号が減少し、一方温度が高いときには
ニッケル抵抗26の抵抗値が高くなるため、上述と反対
に増幅器210入力信号に付加される電調信号が増加す
る。
なおニッケル抵抗26と直列に設けられた抵抗27はニ
ッケル抵抗26の温度係数を調整する固定抵抗でさる。
いま零点および温度補償回路22の出力(増幅器21の
入力信号への電調信号)Vo2は、零点調整回路23の
可調整抵抗24によって得られる電気量A2(この電気
量A2は例えば0〜450rnVの可変幅を有する。
)と最終段直流増幅器21の増幅ゲインG0に比例する
と共に、ニッケル抵抗26により周囲温度tの影響を受
ける。
従って、ニッケル抵抗26の温度係数α2とすると、次
式が成立する。
V o 2 = A2 (1+α2t ) G□−・−
−−−・−(4)この(4)式の温度微分係数(温度勾
配)はd V O2/ d を二A2α2G□・・・・
・・・・・・・・(5)なお(4)式において、温度1
=0とすると、V o 2 = A2 G□・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
(6)である。
次に第6図は検出器の零点ドリフト出力V o 1とこ
のドリフト出力VO□を補償する零点および温度補償回
路22の出力(電調信号)Vo2との関係線図を示す。
図において直線(4)は(1)式による出力vo1、直
線(B)は(4)式による出力VO3である。
この直線(4)と(B)とは絶対値が同一で符号を逆と
するとき、最終出力Vo=Vo1 +Vo2 =0とな
う、零点および温度ドリフトは補償される。
すなわち第5図における零点調整回路23により(3)
式と(6)式とのVol =Vo2、AIGo=A2G
□に零点調整を行うと共に、温度補償回路25のニッケ
ル抵抗26および固定抵抗27によって、(2)式と(
5)式とのd Vol / d t=d Vo2 /
d t、すなわちA1αI GO””A2α2 Gl
に、温度補償をした電調信号は入力信号の零点と同時に
温度ドリフトを補償することができる。
以上に説明するように、本考案によれば、次の特徴(4
)、(B)を有する。
(4)検出器の出力信号が交流増幅器、同期整流器など
を介して導かれる直流増幅器21に特に着目味この直流
増幅器21の入力端に電気的零点調整回路23を接続す
ることによシ、検出器の出力信号に対するすべての増幅
器のゲインの和G。
、機械的零点調整機構の光線遮光量A1、直流増幅器2
1のゲインG0、および電気的零点調整回路23によっ
て与えられる電気量A2に基づいて、AIGo=A2G
1の零点調整を行なうことが可能となる。
(8)電気的零点調整回路23に、検出器の温度特性(
つ1り検出器の熱線素子の温度係数)α1に対して符号
が逆でありかつ絶対値が同一である温度係数α2を有す
る温度依存性抵抗(つ1リニツケル抵抗26)を備えた
温度補償回路すを接続することにより、AI ”I G
O=A2α2G1なる温度補償をすることができる。
その結果、本考案によれば、上記特徴(4)、(B)に
よって、零点ドリフトの補償と同時に、温度ドリフトの
補償が可能になった。
従って装置は小形化獣簡易化し、かつ製作費の節減が得
られるな6とその効果は極めて多大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は赤外線ガス分析計の概略構成図、第2図はトリ
マの機能説明図、第3図は零点および温度ドリフトの出
力・温度線図、第4図は温度ドリフトの出力・温度線図
、第5図は本考案の一実施例の概略構成図、第6図は零
点および温度ドリフトと補償回路との出力・温度線図で
ある。 21:直流増幅器、22:電調温度補償回路、23:零
点調整回路、24:可調整抵抗、25:温度補償回路、
26:温度補償抵抗、27:固定抵抗。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. (1)測定光線と基準光線との光学的不平衡から生ずる
    検出器の出力信号の零点のずれを調整するための機械的
    零点調整機構および電気的零点調整機構と、前記検出器
    の出力信号が交流増幅器、同期整流器などを介して導か
    れる直流増幅器とを備え、この直流増幅器の入力端に前
    記電気的零点調整回路を接続し、かつこの零点調整回路
    に、前記検出器の温度特性と符号が逆でありかつ絶対値
    が同一である温度特性を有する温度依存性抵抗を備えた
    温度補償回路を接続したことを特徴とする赤外線ガス分
    析計。 (2ン 実用新案登録請求の範囲第1項記載の赤外線ガ
    ス分析計において、温度補償回路の温度係数α2は、機
    械的零点調整機構の光線遮光量A1、検出器の温度係数
    をα□、および検出器の出力信号に対するすべての増幅
    器のゲインの和昶◎とし、かつ電気的零点調整回路によ
    って与えられる電気量をA2、および直流増幅器のゲイ
    ンをG1としたとき、A1αI Go =A2α2 G
    lを満足するような値であり、しかもα、と符号が逆で
    あることを特徴とする赤外線ガス分析計。
JP1976177616U 1976-12-30 1976-12-30 赤外線ガス分析計 Expired JPS5852521Y2 (ja)

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JPS5395879U JPS5395879U (ja) 1978-08-04
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