JPS58501643A - コンピユ−タ・メモリ・システム - Google Patents

コンピユ−タ・メモリ・システム

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JPS58501643A
JPS58501643A JP50049282A JP50049282A JPS58501643A JP S58501643 A JPS58501643 A JP S58501643A JP 50049282 A JP50049282 A JP 50049282A JP 50049282 A JP50049282 A JP 50049282A JP S58501643 A JPS58501643 A JP S58501643A
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ライアン、フイリツプ・ミード
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    • GPHYSICS
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    • G06F11/076Error or fault detection not based on redundancy by exceeding limits by exceeding a count or rate limit, e.g. word- or bit count limit

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 コンピュータ・メモリ・システム 〔技術分野〕 本発明は、メモリが半導体チップのアレイを含み、アクセスされるデータ・ワー ドが各チップからのビット金倉むような大型メモリにおいて、高速のメモリ速度 でその欠陥全マツピングし、マツピングてれた欠陥を種類ごとに分類する装置に 関する。
〔背景技術〕
米1%許第6704666号は、コンピュータ・システムの使用によって生じた エラーの統計情報全自動的に収集する方式を教示している。エラーは訂正可能な エラーの数に関して分類される。しかし、特殊のエラーは、単に訂正可能又は訂 正不可能のエラーの数を計数しただけでは発見できない。
即ち、個々のエラーが相互に関係しているのかどうか、もし関係していれば、ど のような関係が存在するのかを、単純な計数値から引出すことはできない。
米国特許第4174547号は、他のエラー・ロギング手法を開示している。そ れによれば、メモリのアドレスされ選択されたロケーションからデータを読出す 時に生じり単一ピット・エラー及び複数ビット・エラーについて別個の記録が作 られる。しかし、個々のエラーの間に存在する関係については、何の表示も発生 されない。
米国特許第39’17933号は、メモリからアクセスされ(2) た同一ワード群に生じた訂正可能なエラーの数を追跡するエラー・ロギング方式 全説明している。訂正可能なエラーの予め設定された限度数が同一ワード群中で 生じると、注意信号が発生され、訂正不可能なエラーがそのワード群中に生じる 前に、予防の対策が構しられる。しかし、検出づれた個々のエラーの間に存在す る関係を監視する試みはなをれていない。
〔発明の開示〕
本発明は、メモリ・アレイの欠陥全分類すること、即ちそれら欠陥の種類及びメ カニズムに関して関係があるかどうか全決定することに関する。具体的には、既 知のデータ全メモリへ書込み、所定のシーケンスでデータを読出し、出力データ を既知の書込まれたデータと比較し、不一致(エラー)を計数することによって 、欠陥マツプがメモリに関して作られる。メモリ・アレイは、複数のチップの各 々の内部で、先ず順次のワード線によって走査され、次いで順次のビット線によ って走査されるように、シーケンスが選択される。アレイが走査される間に生じ たエラーの数に基いて、また既知の走査方向に基いて、欠陥の種類に関して決定 かな芒れる。そのような種類としては、ビット線全体のエラーであるか、ワード 線全体のエラーであるか、アレイ全体のエラーであるか、個別のピットのみのエ ラーであるかなどである。
メモリが半導体チップのアレイ金倉み、アクセスされたデータ・ワードが異った チップからのピッIf含む場合、チップの列を選択し、次いでチップを先ずワー ド線ごとに走査しくろ) 特表昭58−!’+(11643(2)次にピット線 ごとに順次に走査することによって、選択でれた列で各チップ全テストする手段 が設けられている。エラーは1つ又はそれ以上のレジスタで計数される。これら レジスタはエラーの総数、及び走査方向において連続したエラーのカラントラ累 積する。欠陥の種類、即ち検出された個々のエラーの間に存在する関係は、レジ スタにあるエラーの計数値から演鐸芒れる。その場合、所与の計数値を発生する ため、それぞれのチップが走査きれた方向が考慮に入れられる。波線された欠陥 の種類全表わす状況ワードが各チップについて形成される。
故障の種類(エラー・タイプ)を知ることによって、メモリの電気的再構成が可 能となる。即ち、エラー・ピットはアクセスてれたデータ・ワードの間に分散烙 れ、利用可能なエラー訂正手段によって、各データ・ワードにある残りのエラー ・ビット全訂正できるようにされる。エラー・タイプが不明であり、多数のエラ ー・ピットが存在する場合、所望の効率を有するメモリの再構成は達成すること ができない。エラー・タイプが本発明に従って分類される高速1生は、/ステム の通常の動作に対して分単位の短い中断?生じるのみで、エラーノマツヒンクヲ 完了孕せる。現在の技術に基<マッヒング手法では、メモリ全走査する時に発見 された各故障ピットについてシステムの中断が生じるので、2桁台の時間の節約 が得られる。
(4、 図面の簡単な説明 第1図はメモリ走査の方向がエラー・タイプの決定因子に組込まれる、本発明の 最良実施例を示すブロック図、第2図はメモリ装置におけるセル・アドレスの通 常の割当てを示すダイヤグラム、第6図は第1図の実施例で使用場れるマルチプ レクサ・ゲートの1つを示すブロック図、第4図はメモリ走査の限定された領域 がエラー・タイプの形定因子に組込まれる他の実施例に関連したダイヤグラムで ある。
通常の補助コンポーネント(バッファ2、メモリ・バス3、メインテナンス・プ ロセッサ7)に関連して実行されるメモリ・チップ・アレイ1のエラー・マツピ ングは、本発明に従って、比較的ささやかなメモリ制御ハードウェア全追加する ことによって達成される。このハードウェアは行カウンタ4、アドレス・レジス タ6、セレクタ・スイッチング・ネットワーク5(デコーダ8及びANDゲート 9を含む)、排他的ORゲート10、カワフタ群11及び12、カウンタ・コン トローラ13及び14よジ成る。このハードウェア全追加することによって、メ モリ・チップ・アレイ1はエラーをマツプされることがでさ、かつそのエラーは 先行技術よりも何百倍も早い速度でタイプごとに分類されることができる。先行 技術によれば、メインテナンス・プロセッサ7によって診断ルーチンが走らされ 、正しく々いピットがメモリで発見される度に、メインテナンス・プロセッサ7 は中断される。それぞ(5) れの中断は処理のために数ミリ秒を要し、メモリにおけるエラー・ピットの数は 伺百何千という数になるので、単にメモリ・エラーを分類しないでそのま1リス トすれば、何時間という時間を要する。そのような多数のデータを記憶し、次い でそれを分類して、どのメモリ・チップがエラーを含むか全識別し、かつ発生し たエラーのタイプを決定することは、更に多くの時間を必要とする。
他方、高速のメモリ・マツピング及びエラー・タイプ分類は、フィールド・エン ジニアがメモリ・エラー全診断してそれを修理する能力を著しく高めるとともに 、メモリの自動的再構成を可能とするので、エラー・ピラトラ別個にアクセスさ れるデータ・ワードへ効果的に分散させることができ、それによってエラー訂正 回路は、各データ・ワードにおける残留エラー・ビラトラ処理することができる ように々る。
ここで第1図全参照すると、メモリ・チップ・アレイ1は2304個のチップよ り成るアレイであり、各チップは64に個のビット全lする(ここでに−102 4)。アレイ1は128に本の論理線を有し、各論理線は1152個のピット金 石するように構成される。各論理線は16個のダブル・ワードを構成し、各ダブ ル−ワードは72ビット’z含む。各チップは、所与のダブル・ワードに対して 1個だけのビラトラ与える。
アレイ1がアクセス嘔れる時、多くのチップ(例えば1152個のチップ)が能 動化づれる。各ダブル・ワードが72(6) ピッ)’(j肩する16個のダブル・ワー[′について、:r−夕の1本の11 52ビツト紳がバッファ2へ接続される。バッファ2ヘデータを与える各チップ は、記憶アドレス・レジスタ6によって決定きれる同一のセル位置でアクセスさ れる。記憶アドレス・レジスタ6はメインテナンス・プロセッサ7の制御の下に ある。バッファ芒れたダブルワードの各々は、チップ行カウンタ4から線19ヘ ダブルワード識別アドレスが印加芒れた時、メモリ・バス6上で72個の並列ビ ットとして利用可能になる。行カウンタ4は線15全介してプロセッサ7から? !Il制御される。これは、多数のチップへ並列にアクセスしアクセス芒れたデ ータをバッファ2に記憶して後にメモリ・バスろへ転送することによって、比較 的低速アクセスのアレイ・チップより成るアレイ1の実効帯域幅を増加させるた めの、通常のバッファリング手法である。
データが1度バッファへラッチはれると、それは、線19上のアドレスに応答し て72ビツトのメモリ・バス6上全転送され16個の順次のマノン・サイクルで セレクタ・スイツチング・ネットワーク5へ与えられる。プロセッサ7から来る 線20上の信号に応答して、72ビツト線の1つがネットワーク5(Cよって選 択てれ、その上の信号は、排他的ORゲート10へ印加される。ゲート10は、 プロセッサ7から来る線16を介して、2進の1又は2進の0値全受取る。
線16上の信号は、前に通常の方法でアレイ1へ書込まれたブランケット・テス ト・パターンに従って決定烙れる。こ(7) 衿表昭53−!101G4″1( 3)のテスト・パターンは、メインテナンス御によって、エラー・マツピングの ためにアレイ1へ書込マれたものである。テスト・パターンはオール1かオール 0であることが望ましいが、他のデータ・パターンであってもよい。エラー・マ ツピング・パターンが始まった時、メインテナンス・プロセッサ7は、1又は0 のブランケット・パターンをアレイ1へ全面的に書込む。次いでこのデータは、 後に詳述するシーケンシャルな方法で読出でれる。その詳細な説明は省略すると して、ブランケット・パターンの1本の論理線(1152ビツト)がアレイ1が らバッファ2へ転送系れた後、その論理線は、線19へ印加芒れた各アドレスに ついて、1時に1ダブルワード(72ビツト)単位で、バッファ2からネットワ ーク5へ転送系れる。ネットワーク5は、72ビツトの中の1ビラトラ選択して 、グー)10へ印加する。
ゲート10では、各ダブルワードの選択てれたビットが、メインテナンス・プロ セッサ7から線16葡介して印加された信号の正しい値と比較てれる。
ゲート10によって発生子れたエラー・ピッ)1表す不一致信号は、カウンタ・ コントローラ13及び14−印加きれる。各コントローラは加算器及びオーバフ ロー検出器を含む。
更に、コントローラ13は選択妊れたカウンタをゼロへリセットする「ゼロ・リ セット回路」を含む。この回路は、グー)10からの信号出力が一致ケ示す時、 カウンタ全リセットする。各カウンタ群11及び12の各々にある1個のカラン (8) りが線19上のアドレスによって選択される。各カウンタ群する16個のカウン タを含む。従って、選択でれたビットがバッファ2のアドレスてれたダブルワー ド内でエラーであれば、アドレスてれたダブルワードに対応するカウンタが、カ ウンタ群11及び12の各々で増加される。カウンタ群11の各カウンタは、エ ラー無しを示す 致信号がゲート10の出力に生じる度にリセット芒れる。カウ ンタ群12のカウンタはそうではない。
ここで注意すべAは、各ダブルワード識別アドレスは、アレイ1にある72個の チップのそれぞれの行を指定することである。これらの各チップは、ネットワー ク5へ印加σれた72ビツトのダブルワード1ビットヲ与える。排他的ORゲー ト10ば、ダブル・ワード識別アドレスが16個のアドレスの群全通ってリプル する時、1時に選択芒れたダブルワードの1ビツトを検査する。各ダブルワード が、ダブルワード識別アドレスによって選択芒れたバス上に置かれる時線20上 の信号によって選択芒れたピッ(位置か、0又は1のいずれかと排他的OR結合 てれる。これらの9又は1は、始めにメモリ全体・\書込貰れ念データ全表わし 、読出芒れつつある各ビットの期待(正しい)値ケ表わす。排他的OR結合の結 果は、カフ;・夕群11及び12へ、送られる。各カウンタ群にあるカウンタの 1−)がダブルワード識υ[、]アト’ l/ 、7.値に基いて選択妊れ、排 他的OR結合の結果によって増加てれる。従つ(9) て、カウンタ群12は、メモリ1の16個のチップで発見てれた正しくないビッ トの総数全カウントする。
カウンタ群12のカウンタは、名目的に16ビツトの幅を有し、かつオーバフロ ー・ラッチに!するので、最大65536個のエラーを累積する。この数はチッ プにあるビットの数である。実際には、カウンタは例えば12ビツトの幅及びオ ーバフロー・ラッチ−・、制限することができる。何故ならば、4096個のビ ット・エラーを■するチップが、通常、「集団エラー」として分類されるからで ある。カウンタ群11にあるカウンタは、カウンタ群12にあるカウンタ群と同 じように動作するが、全く同じではない。論理線の各ダブルワードがバス上に現 われる時、ダブルワード識別アドレスは、カウンタ群11にある16個のカウン タの1つ全選択する。もし排他的OR結合の結果が「1」であれば、カウンタ群 11の選択゛されたカウンタが増加芒れる。しかし、正しいデータの読出しを示 す「0」の結果であれば、選択芒れたカウンタはゼロへリセッh−gれる。各カ ウンタは名目的に7ビツト幅であり、オーバフロー・シノチ孕万する。それによ って、各カウンタは127個の順次のエラー全計数することができるとともに、 128番目のシーケンシャル・エラーでオーバフロー・ラッチ全セットすること ができる。オーバフローー・ラッチは、排他的OR結合の結果がゼロであるkめ 、カウンタがゼロへリセットされた時でも、セットてれた1寸である。
従って、16チツプの64に個のビット’l読出(7た後に、カ(1+1) ウンタ群11にある各オーバフロー・ランチは128個以上のンーケンンヤル・ エラー・ビットが各チップから読出きれたかトウ7J−”r示す。もしオーバフ ロー・ランチかセットさQていれば、それは論理線がメモリから読出された順序 に従って、対応するチップがワード線の故障であるかピント線の故障であるかを 示す。
論理線が読出ばれる順序は、行/列選択論理によって制御される。制御の具体的 方法は、アレイ・チップにあるセルの行及び列の構成に依存する。典型的な例で は、各チップは、512行及び128列として構成され、セル・アドレスは第2 図に示されるように割当てられる。
16ピツト・カウンタ(例えば第1図のカウンタ17)は、64 k個のセルの 全て全アドレスするために必要である。各行を横切って順次に読出すためには、 アドレスは0.1.2・・・・・・、126.127.128、・・・・・・6 55ろ4.65535の順序で与えられる。列を下方へ順次に読出すためには、 アドレスは0.128.256、・・・・・・65408.1.129.257 、・・・・・・65407.65535の順序で与えられる。これら2つの異っ た計数シーケンスは、第1図のマルチプレクサ・セレクタ18に含1れる16個 のマルチプレクサ・ゲートと共に達成される。第6図に水系れるように、各マル チプレクサ・ゲートはANDゲート23及び24、ORゲート21、インバータ 22を含む。
B選択モードにおいて、マルチプレクサは単にカワンタ値ヲ直接アレイ1のアド レス・デコーダ(図示せず)へ送り、従ってカウンタが増加する時、アレイ・ア ドレスは0,1.2・・・・・・、127.128、・・・・・・、655ろ5 の値をとる。
しかしへ選択モードにおいて、カウンタの最も早く変化するビット(ビット15 )はアレイ・アドレスのビット8として転用芒れ(他のビットは同じようVこン フトされる)、カウンタ17が増加てれるにつれて、アレイ・アドレスの最初の 512個の値は0.128.256、・・・・、6541’18となる。
カウンタ17の516番目の値は512である。これはビット位置6に1があり 、他の全ての位置にはゼロがあることによって表わされる。A選択モードにおい て、カウンタのビット位置6は、アレイ・アドレスのビット位置15として使用 され、従って、アレイ・アドレスの513番目の値は単に「1」である。へ選択 モードでは、チップにおけるセルの列を順次に下方へ読出すため、アレイ・アド レスが第2図に水系れる順序を正確にたどることが分る。
メモリの線の半分を通る1回のバスが完了すると、同じチップに関連した1対の カウンタ群の各々が感知され、次の規則に従って、メインテナンス・プロセッサ 7に、l:って4ビツトの「チップ状況」バイトへエンコードされる。もしカウ ンタ群12のカウンタにあるビット・カウントが≦7であれば、その数が状況バ イトとなる。0000は完全な(故障のない)チップを示す。もし上記ビット・ カウントが〉7であれば、(12) 状況バイトの高順位ビットがセットでれる。もしカウンタ群12にあるカウンタ のオーバフロー・ラッチがセット芒れていれば(又は、そのカウントが成る大き な限界値より大であれば)、状況バイトの第2ビツトがセットされる。カウンタ 群11にあるカウンタのオーバフロー・ラッチは、論理線が読出される順序に従 って、状況バイトの第6又は第4ビット位置へセット芒れる。もしメモリから読 出きれる論理線の順序が、チップ・ビット線アドレスが遅く増加ちれ、ワード線 アドレスが早く増加されるようなものである場合、カウンタ群11にあるカウン タのオーバフロー・ラッチは、チップ状況バイトの第4ビット位置に置かれる。
もし読出される論理線の順序が、チップ・ワード線アドレスが遅く増加され、ビ ット線アドレスが早く増加嘔れるようなものである場合、カウンタ群11にある カウンタのオーバフロー・ラッチは、チップ状況バイトの第6ビット位置に置か れる。
各チップの最終状況バイトは、次の条件に基づき、アレイ1で実行された4つの 完全彦バスから生じた状況バイトに従って構成てれる。
オール0全書込まれたメモリで、早く増加するビット線アドレスの順序で読出芒 れる。
オール0全書込まれたメモリで、早く増加するワード線アドレスの順序で読出さ れる。
オール1全書込まれたメモリで、早く増加するピノ)!アドレスの順序で続出て れる。
(13) オール1を書込まれたメモリで、早く増加するワード線アドレスの順序で読出さ れる。
もし4個の状況バイトの全てが、ゼロに等しい高順位ビットを有すれば、それら 4個の状況バイトは、最終の状況バイトを発生するためOR結合される。もし4 個の状況バイトのいずれかが、1に等しい高順位ピッ)k有すれば、最終の状況 パイ)k発生するため、1に等しい高順位ピッl−’に有するバイトのみが相互 にOR結合てれる。状況バイトのこの結合は、通常のプログラミング手法を用い て、メインテナンス・プロセッサの中で達欣逼れる。
各チップの最終状況バイトは次のように解釈される。
0000 完全チップ 0001−0111チツプはいくつかの分散した不良セルを有する。
1000 チップ8個以上の分散した不良セルラ肩する。
1001 チップは1つ又はいくつかのワード線の欠陥を有する。
1010 チップは1つ又はいくつかのビット線の欠陥を有する。
1011 チップはいくつかのワード線の欠陥及びいくつかのビット線の欠陥ヲ 育する。
1100 チップは多数の欠陥ケ有するが、ワード線又はビット線の全体的欠陥 ではない。
(14) 1101 チップはワード線の欠陥を含む多くの欠陥を有する。
1110 チップはビット線の欠陥を含む多くの欠陥を有する。
1111 チップは2つの次元で多くの欠陥を有する。
再生不可能チップであるかも知れない。
要するに、メインテナンス・プロセッサ7は、次のステップ・シーケンスをとる ことをメモリ制御装置へ命令することによって、欠陥マツピング動作全監視する ようにプログラム化される。
(1) アレイ1は、テストされる16個のチップの各群について、オール・ゼ ロへクリア芒れる。
(2) セレクタ・スイッチング・ネットワーク5は、選択された位置ヘセット される(72個の位置の1つ)。
(3)期待値(線16)がゼロへセット逼れる。
(4) カウンタ群11及び12にあるカウンタ及びそれらのラッチがクリアさ れる。
(5)アレイ101部分が、前述したようにして、早く増加すルヒット線アドレ スの順序で続出てれる。このアドレス順序は、チップの1つの列における16個 のチップの各々にある64に個のアドレスの全てをカバーする。
(6)16個の部分的なチップ状況バイトがエンコードG h H’c憶てれる 。
(7)ネットワーク5が次の順次の位置へセット−aれる。
(8)16個のチップより成る次の群について上記(3) −(5)のステップ を繰返す。
(9)ネットワーク5の全てのセツティング(o−71)k繰返すO a* アレイ1の次の部分について、ステップ(2) −(9) ’に繰返す。
αつ ワード線アドレスが前述したように早く増加するようにアドレス順序を設 定することを除いて、ステップ(2) −<10 ’k ’4行する。
(2)線16上の期待値が1ヘセツトされること全除いて、メモリ内容をオール 1ヘセツトし、ステップ(2)−(ロ)全実行する。
(ト)それぞれが4ビツトヲ有する2304個のチップ状況バイト全得るため、 前述した論理に従って、部分的チップ状況バイトを結合する。
上記のステップは、オールO又はオール1をアレイ1へもつと度々書込むという 手間ヶかけても、部分的チップ状況バイトに必要な記憶容量全減少尽せるため、 再配列てれてよい。
更に、時間とハードウェアの釣合いヶとることが可能である。16個のカウンタ を含むカウンタ群11及び12は、2個のレジスタ?含むように変更てれてよく 、その場合、アレイ1へ回数にして16倍のアクセスを実行する手間をがけるこ とによって、論理が単純化される。アレイ1全構成するチップの全てにあるデー タを得る時間は、5がら乙のファクタだけ増加する。もし時間がクリテカルなフ ァクタであれば、もつと多くのカヮンタ群盆並列に走らせることができる。
(16) 他方、メモリ欠陥を識別し分類するのに必要なハードウェアの量は、メインテナ ンス・プロセッサ7でもっと多くのソフトウェアを使用することによって減少芒 せることができる。
これは、チップの中で生じる異ったタイプの欠陥・は欠陥カウントの異ったパタ ーンを生じるという事実に注目することによって可能となる。第4図はチップ欠 陥に共通の4つのタイプと、4分の1チツプごとに計数される欠陥カウントのパ ターンを示す。チップの4分の1はダラシ線で識別逼れる。数字はそれぞれの4 分の1チツプに存在する欠陥力ワン)’に表わす。単に各チップの4分の1部分 にある欠陥の総数をとることによって、どのようなタイプの欠陥がチップ上に存 在するか全容易に知ることができる。これは非常に単純なハードウェアを使用す ることによって可能である。その場合、第1図の2個の16ワード・エラー・カ ウンタは、チップの1行のみが能動化される時に付勢される単一のゲート・カウ ンタによって置換でれる。メインテナンス・プロセッサは、問題トシテイる行の 識別情報全比較回路へ与え、カウンタは、行カウンタ・アドレスが選択でれた行 に等しい時にのみ能動化石れる。
メインテナンス・プロセッサは、メモリ制御装置がメモリの4分の1部分(即ち 、16384個のアドレス)全処理する度に、中断てれかつカウンタ全読取る。
全体のメモリが2度読出された時(1度は1のブランケット・パターンを書込み 、他の1度はOのブランケット・パターン全書込んで)、メインテナンス・プロ セッサは検出てれた欠陥カラン)k結合す(17) ることかでき、かつどのようなタイプの欠陥が存在するかを決定することができ る。しかし、この方式によって欠陥マツプを形成するのに要する時間は、第1図 に示されるハードウェアを使用する場合よりもはるかに長い。
説明した規則全実行して、カウンタ群11及び12に生じたカウント値に基いて 状況パイ)k形成するため、メインテナンス・プロセッサ7をプログラミングす ることなどの直裁な手法については、詳細な説明を省略していることが当業者に は明らかであろう。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 信号記憶ロケーションの配列を含むチップより成り、上記ロケーションへ既知の データを導入した後そのデータを読出して上記既知のデータと比較することによ ってエラー・データの存在を決定するように構成されたコンピュータ・メモリ・ システムにおいて、上記ロケーションへ書込まれた既知のデータ全所定のシーケ ンスで読出す手段と、上記ロケーションの全体から読出されるエラー・データの 数葡第1の数として計数する手段と、上記ロケーションの順次の1つから読出系 れるエラー・データの数?第2の数として計数する手段と、上記第1及び第2の 数及び上記所定のシーケンスを考慮に入れて上記エラー・データの種類を決定す る手段と全具備するコンピュータ・メモリ・システム。 (1)
JP50049282A 1981-12-17 1981-12-17 コンピユ−タ・メモリ・システム Granted JPS58501643A (ja)

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PCT/US1981/001683 WO1983002164A1 (en) 1981-12-17 1981-12-17 Apparatus for high speed fault mapping of large memories

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JPS58501643A true JPS58501643A (ja) 1983-09-29
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EP (1) EP0096030B1 (ja)
JP (1) JPS58501643A (ja)
DE (1) DE3176883D1 (ja)
WO (1) WO1983002164A1 (ja)

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