JPS5849828B2 - frequency measurement device - Google Patents

frequency measurement device

Info

Publication number
JPS5849828B2
JPS5849828B2 JP40680A JP40680A JPS5849828B2 JP S5849828 B2 JPS5849828 B2 JP S5849828B2 JP 40680 A JP40680 A JP 40680A JP 40680 A JP40680 A JP 40680A JP S5849828 B2 JPS5849828 B2 JP S5849828B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
signal
local oscillation
output
input signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP40680A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5697881A (en
Inventor
尚治 仁木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Takeda Riken Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Takeda Riken Industries Co Ltd filed Critical Takeda Riken Industries Co Ltd
Priority to JP40680A priority Critical patent/JPS5849828B2/en
Publication of JPS5697881A publication Critical patent/JPS5697881A/en
Publication of JPS5849828B2 publication Critical patent/JPS5849828B2/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は例えば数100MHz以上の高い周波数を測
定する周波数測定装置、特に入力信号と局部発振信号及
びその高調波信号とを周波数変換器で周波数混合してそ
の出力より得られる中間周波信号を利用して入力信号周
波数を測定する周波数測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a frequency measuring device for measuring high frequencies of, for example, several hundred MHz or more, and in particular, to a frequency measuring device for measuring high frequencies of, for example, several hundred MHz or more. The present invention relates to a frequency measurement device that measures an input signal frequency using an intermediate frequency signal generated by the input signal.

入力信号の周波数を測定する場合、その入力信号の各サ
イクルを直接、単位時間カウントすれば測定できる。
The frequency of an input signal can be measured by directly counting each cycle of the input signal for a unit of time.

しかし入力信号周波数がマイクロ波以上に高くなるとそ
のように高い周波数を直接カウントするカウンタがなか
ったり、或いは著しく高価なものとなる。
However, when the input signal frequency becomes higher than microwave, there is no counter that can directly count such a high frequency, or it becomes extremely expensive.

このような点より入力信号を中間周波信号に変換してそ
の中間周波信号の周波数を測定することによって入力信
号周波数を求めることが行なわれている。
From this point of view, the input signal frequency is determined by converting the input signal into an intermediate frequency signal and measuring the frequency of the intermediate frequency signal.

更にその場合広い周波数帯域にわたって中間周波信号を
得るように、入力信号周波数と局部発振信号周波数との
差のみならず局部発振信号周波数の高調波との差も得る
周波数変換器、いわゆる高調波ミキサーを用い、その得
られた中間周波信号の波数より入力信号周波数を測定す
ることが行なわれている。
Furthermore, in order to obtain an intermediate frequency signal over a wide frequency band, a frequency converter, a so-called harmonic mixer, is used to obtain not only the difference between the input signal frequency and the local oscillation signal frequency, but also the difference between harmonics of the local oscillation signal frequency. The input signal frequency is measured from the wave number of the obtained intermediate frequency signal.

この場合その得られた中間周波信号は局部発振信号自体
又はその高調波の何れの次数のものと周波数混合がなさ
れたものであるかを知る必要があり、そのための測定操
作が煩雑であり、迅速な測定が行なえなかった。
In this case, it is necessary to know whether the obtained intermediate frequency signal is frequency-mixed with the local oscillation signal itself or its harmonics, and the measurement operation for this is complicated and quick. It was not possible to make measurements.

このような点より例えば米国特許3932814号(1
976年l月13日発行)明細書に示すように局部発振
周波数を変化して同一中間周波数の信号が得られる時間
差から入力信号周波数を演算し、つまり同一中間周波数
の信号が得られる時間差により何れの高調波と周波数混
合された結果であるが、その高調波の次数を知って入力
信号周波数を演算するものがある。
From this point of view, for example, US Patent No. 3,932,814 (1
(Published on January 13, 1976) As shown in the specification, the input signal frequency is calculated from the time difference in which signals with the same intermediate frequency are obtained by changing the local oscillation frequency. This is the result of frequency mixing with the harmonics of the input signal, but some systems calculate the input signal frequency by knowing the order of the harmonics.

この場合は局部発振器の周波数を制御する制御信号と局
部発振器の出力信号周波数との間に良好な直線性が要求
される。
In this case, good linearity is required between the control signal that controls the frequency of the local oscillator and the output signal frequency of the local oscillator.

しかも広い帯域にわたって局部発振器の周波数を変化す
る必要があり、そのような局部発振器を構成することは
著しく高価なものとなった。
Moreover, it is necessary to vary the frequency of the local oscillator over a wide band, making it extremely expensive to construct such a local oscillator.

このような点から次のような周波数測定装置を提案した
From this point of view, we proposed the following frequency measuring device.

即ち周波数掃引局部発振器よりの発振出力と入力信号と
が周波数変換器に供給されてその入力信号周波数と局部
発振器の出力周波数及びその高調波周波数との差の中間
周波信号が取り出される。
That is, the oscillation output from the frequency sweep local oscillator and the input signal are supplied to the frequency converter, and an intermediate frequency signal of the difference between the input signal frequency and the output frequency of the local oscillator and its harmonic frequency is extracted.

この中間周波信号は増幅器で増幅される。この増幅器は
比較的広い周波数帯域を増幅するものである。
This intermediate frequency signal is amplified by an amplifier. This amplifier amplifies a relatively wide frequency band.

この増幅器の出力周波数と局部発振器の発振周波数とが
それぞれ中間周波数測定手段及び局部発振周波数測定手
段より測定される。
The output frequency of this amplifier and the oscillation frequency of the local oscillator are measured by intermediate frequency measuring means and local oscillation frequency measuring means, respectively.

その測定は同時に行なわれ、かつ時間をおいて2回行な
われる。
The measurements are taken simultaneously and twice at intervals.

これ等の測定は制御手段によって制御されて行われる。These measurements are performed under the control of a control means.

今入力信号周波数をFx,1回目の測定における局部発
振周波数をFl1、2回目のそれをFl2、中間周波数
の1回目の測定値及び2回目の測定値をそれぞれFil
及びFi2とし、更に高調波の次数をn(nがlの場合
は局部発振周波数そのものである)とする。
The current input signal frequency is Fx, the local oscillation frequency in the first measurement is Fl1, the second measurement is Fl2, and the first and second measurement values of the intermediate frequency are Fx, respectively.
and Fi2, and the harmonic order is n (if n is l, it is the local oscillation frequency itself).

入力信号周波数Fxが局部発振周波数よりも高い場合は
次の関係が成り立つ。
When the input signal frequency Fx is higher than the local oscillation frequency, the following relationship holds true.

この(1)式より、即ち2回の測定によるFA’1,
FA2,Fil t Fi2より高調波次数、つまり中
間周波信号が得られた局部発振波の高調波の次数が求め
られる。
From this equation (1), that is, FA'1 by two measurements,
From FA2 and Fi t Fi2, the harmonic order, that is, the harmonic order of the local oscillation wave from which the intermediate frequency signal was obtained is determined.

従ってこの求められた次数nと、局部発振周波数と中間
周波数とより入力周波数を演算できる。
Therefore, the input frequency can be calculated from the obtained order n, the local oscillation frequency, and the intermediate frequency.

一般には入力信号周波数に対して局部発振周波数或いは
その高調波周波数の方が高い場合もあるから2回の測定
によって得られた局部発振周波数及び中間周波数は次の
関係になる。
Generally, the local oscillation frequency or its harmonic frequency may be higher than the input signal frequency, so the local oscillation frequency and intermediate frequency obtained by two measurements have the following relationship.

このような関係より高調波次数nが計算される。The harmonic order n is calculated from such a relationship.

測定誤差の関係もあり、又入力信号周波数が変化してい
る場合もあるため、(3)式は必ずしも整数とならない
Equation (3) is not necessarily an integer because of measurement errors and because the input signal frequency may change.

従って次式により正しい高調波次数Nを決定することが
できる。
Therefore, the correct harmonic order N can be determined by the following equation.

こ\でαは0又は小数点以下の数であり、例えばα二0
.5とすれば(3)式のnを四捨五入したものとしてN
が決定される。
Here, α is 0 or a number below the decimal point, for example α20
.. 5, then N in equation (3) is rounded off.
is determined.

このようにして得られた整数値、つまり正しい高調波次
数Nより次の式を演算して入力信号周波数Fxを求める
The input signal frequency Fx is determined by calculating the following equation from the integer value thus obtained, that is, the correct harmonic order N.

こ\でF7は先に測定したFl1或いはFl2、又これ
らとは別に測定した局部発振周波数でも良い。
Here, F7 may be Fl1 or Fl2 measured previously, or a local oscillation frequency measured separately from these.

又Fiも同様にFi1或いはF 12又は別に測定した
中間信号周波数でも良い。
Similarly, Fi may be Fi1 or F12 or a separately measured intermediate signal frequency.

しかし伺れにしてもこれ等局部発振周波数と中間信号周
波数とは同時に測定したものを用いる。
However, in any case, the local oscillation frequency and intermediate signal frequency are measured at the same time.

一般には高調波次数Nを求めるためには短かい測定時間
で得た中間周波数、局部発振周波数によっても決定する
ことができ、っまりNを求めるための中間周波信号周波
数や局部発振周波数の測定精度は比較的低くても良い。
Generally, in order to obtain the harmonic order N, it can also be determined by the intermediate frequency and local oscillation frequency obtained in a short measurement time, and the measurement accuracy of the intermediate frequency signal frequency and local oscillation frequency to obtain the exact N. may be relatively low.

しかし(5)式の演算の精度を高くするためには高い精
度の局部発振周波数及び中間周波数を必要とする。
However, in order to improve the accuracy of the calculation of equation (5), a highly accurate local oscillation frequency and intermediate frequency are required.

従ってNを求めるための測定とは別に局部発振周波数及
び中間周波信号周波数を測定すると良い。
Therefore, it is preferable to measure the local oscillation frequency and intermediate frequency signal frequency separately from the measurement for determining N.

今局部発振周波数を高い方より低い方に下げるように掃
引する場合においては測定されたFl1−よりもFA?
2の方が小さくなり、入力信号周波数Fxは一定である
からFxが高い場合は測定された中間周波数Fi1より
もF i2の方が高くなる。
When sweeping the local oscillation frequency from high to low, FA?
2 becomes smaller, and since the input signal frequency Fx is constant, when Fx is high, Fi2 becomes higher than the measured intermediate frequency Fi1.

従ってこのような状態の場合には(5)式は和を取る。Therefore, in such a state, equation (5) takes the sum.

一方入力信号周波数Fxの方が局部発振周波数よりも低
い場合においては得られた中間周波数FilはFi2よ
りも高くなり、従ってその場合においては(5)式は差
を取るようにする。
On the other hand, when the input signal frequency Fx is lower than the local oscillation frequency, the obtained intermediate frequency Fil is higher than Fi2, and therefore, in that case, equation (5) is made to take the difference.

つまり測定された中間周波数FilとFt2との大小関
係を判定して(5)式の正を取るか負を取るかを決定す
る。
That is, the magnitude relationship between the measured intermediate frequencies Fil and Ft2 is determined to determine whether to take the positive or negative value of equation (5).

以上のような関係にあるから先に述べたように中間周波
数Fil P Fi2及び局部発振周波数Fl1,Fl
2を測定して演算回路により(3),(4)式の演算を
行なうと共にFi1及びF12の大小関係を判別してそ
の結果と(4)式より得られた高調波次数Nと、更に局
部発振周波数Fl及びこれと対応する中間周波数Fiと
から(5)式に基いて入力信号周波数Fxを演算する。
Because of the above relationship, as mentioned earlier, the intermediate frequency Fil P Fi2 and the local oscillation frequencies Fl1, Fl
2 is measured, and the arithmetic circuit calculates equations (3) and (4), and also determines the magnitude relationship between Fi1 and F12, and calculates the result, the harmonic order N obtained from equation (4), and the local The input signal frequency Fx is calculated from the oscillation frequency Fl and the corresponding intermediate frequency Fi based on equation (5).

以上のようにすれば局部発信器の制御信号に対する発振
周波数の直線性は良好なものでなくてもよく、またその
掃引周波数範囲も比較的狭いものでもよい。
With the above method, the linearity of the oscillation frequency with respect to the control signal of the local oscillator does not need to be good, and the sweep frequency range may also be relatively narrow.

しかし入力信号周波数が変動している場合、例えば入力
信号が周波数変調信号である場合においてはその入力信
号周波数の変動が、1回目に測定した局部発振周波数F
71と2回目に測定した周波数Fl2との差よりも大き
いと高調波次数Nを決定することはできない。
However, when the input signal frequency fluctuates, for example when the input signal is a frequency modulation signal, the fluctuation in the input signal frequency is the first measured local oscillation frequency F.
71 and the second measured frequency Fl2, the harmonic order N cannot be determined.

この発明の目的は人力信号の周波数が変動していても正
しくその周波数を測定することができる周波数測定装置
を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a frequency measuring device that can accurately measure the frequency of a human input signal even if the frequency fluctuates.

この発明によれば中間周波数の測定及び局部発振周波数
の測定を時間間隔をおいて同時に行うことを少くとも3
回行ない、それらの同時測定についての二つの組合せの
異なる複数に対して前記(3)式の演算をそれぞれ行っ
てその複数の演算結果の平均より高調波次数Nを決定す
る。
According to the present invention, the measurement of the intermediate frequency and the measurement of the local oscillation frequency are performed simultaneously with time intervals at least three times.
The calculation of the above equation (3) is performed for a plurality of different combinations of two of the simultaneous measurements, and the harmonic order N is determined from the average of the plurality of calculation results.

或いは上記二つの組合せの異なる複数に対して前記(4
)式より各高調波次数Nを演算し、そのNが一致したも
のが得られた時、そのNを正しい高調波次数とする。
Or the above (4) for a plurality of different combinations of the above two.
) Calculate each harmonic order N from the equation, and when the N matches are obtained, that N is determined to be the correct harmonic order.

次に図面を参照して説明する。Next, a description will be given with reference to the drawings.

先ず先きに提案した(4)式を用いる高調波次数決定に
よる周波数測定を第1図を参照して述べる。
First, frequency measurement by harmonic order determination using equation (4) proposed earlier will be described with reference to FIG.

入力端子11より周波数Fxの入力信号が周波数変換器
12に供給される。
An input signal having a frequency Fx is supplied from an input terminal 11 to a frequency converter 12 .

周波数変換器12は周波数掃引局部発振器13よりの周
波数F7の局部発振波が供給される。
The frequency converter 12 is supplied with a locally oscillated wave of frequency F7 from the frequency sweep local oscillator 13.

周波数掃引局部発振器13は例えば鋸歯状波電圧のよう
な掃引電圧を発生する掃引電圧発生器14と、その出力
掃引電圧によって周波数が制御される電圧制御発振器1
5とより構成される。
The frequency sweep local oscillator 13 includes a sweep voltage generator 14 that generates a sweep voltage such as a sawtooth voltage, and a voltage controlled oscillator 1 whose frequency is controlled by the output sweep voltage.
It consists of 5 and more.

周波数変換器12より入力信号周波数と局部発振周波数
及びその高調波の周波数との差の周波数を持つ中間周波
信号が出力され、これは増幅器16で増幅される。
The frequency converter 12 outputs an intermediate frequency signal having a frequency that is the difference between the input signal frequency, the local oscillation frequency, and the frequency of its harmonics, and this is amplified by the amplifier 16.

増幅器13は比較的広い増幅帯域、例えば10MHz〜
4 0 0 MHzの増幅帯域を持つ。
The amplifier 13 has a relatively wide amplification band, for example 10MHz~
It has an amplification band of 400 MHz.

増幅器16よりの中間周波信号の周波数Fiは中間周波
数測定千段17により、又局部発振器13の局部発振周
波数F7は局部発振周波数測定手段18によりそれぞれ
測定される。
The frequency Fi of the intermediate frequency signal from the amplifier 16 is measured by the intermediate frequency measuring stage 17, and the local oscillation frequency F7 of the local oscillator 13 is measured by the local oscillation frequency measuring means 18.

中間周波数測定千段17は例えば増幅器16の出力が供
給される中間周波ゲート21と、そのゲート21の出力
を計数するカウンタ22とにより構成される。
The intermediate frequency measurement stage 17 includes, for example, an intermediate frequency gate 21 to which the output of the amplifier 16 is supplied, and a counter 22 that counts the output of the gate 21.

局部発振周波数測定手段18は局部発振器13の出力が
供給される局部発振波ゲート23と、そのゲート23の
出力を計数する局部発振波力ウンタ24とから構成され
る。
The local oscillation frequency measuring means 18 includes a local oscillation wave gate 23 to which the output of the local oscillator 13 is supplied, and a local oscillation wave power counter 24 that counts the output of the gate 23.

これ等中間周波数測定手段17及び局部発振周波数測定
手段18は同時に、測定することが時間をおいて2回行
なわれる。
These intermediate frequency measuring means 17 and local oscillation frequency measuring means 18 simultaneously measure twice at intervals.

このための制御手段が設けられるが、制御手段としては
例えば制御回路25が設けられ、制御回路25の端子2
6から測定タイミングを決定するタイミング信号が出力
され、このタイミング信号によってゲート信号発生回路
27が駆動され、これより一定幅のゲート信号が発生し
、このゲート信号によってゲート21及び23が開閉制
御される。
A control means for this purpose is provided, and as the control means, for example, a control circuit 25 is provided, and a terminal 2 of the control circuit 25 is provided.
6 outputs a timing signal that determines the measurement timing, this timing signal drives the gate signal generation circuit 27, which generates a gate signal of a constant width, and this gate signal controls the opening and closing of the gates 21 and 23. .

増幅器16の出力の一部は分岐されて検出器28に供給
され、検波器28より増幅器16から中間周波信号が得
られたことが検出されると、これが制御回路25に供給
される。
A part of the output of the amplifier 16 is branched and supplied to a detector 28, and when the detector 28 detects that an intermediate frequency signal is obtained from the amplifier 16, it is supplied to the control circuit 25.

これにより制御回路25は前記タイミング信号を端子2
6に発生させる。
As a result, the control circuit 25 transfers the timing signal to the terminal 2.
6.

ゲート信号発生回路27からのゲート信号の立ち下がり
で演算回路29が起動されて、演算回路29はカウンタ
22,24の内容、つまり測定した各周波数を取り込み
、又その取り込んだ後において制御回路25の出力端子
31よりのリセット信号によりカウンタ22 ,24は
それぞれリセットされる。
The arithmetic circuit 29 is activated by the falling edge of the gate signal from the gate signal generation circuit 27, and the arithmetic circuit 29 takes in the contents of the counters 22 and 24, that is, each measured frequency, and after taking in the contents of the control circuit 25. The counters 22 and 24 are each reset by a reset signal from the output terminal 31.

周波数測定装置の起動スイッチがオンにされて端子33
より掃引電圧発生回路14に対して起動信号が与えられ
ると、局部信号発生器13より例えば第2図Aに示すよ
うに発振周波数Flが直線的に増加する。
When the start switch of the frequency measuring device is turned on, terminal 33
When a start signal is applied to the sweep voltage generation circuit 14, the oscillation frequency Fl increases linearly from the local signal generator 13, for example, as shown in FIG. 2A.

入力端子11よりの入力信号は周波数変換器12で局部
発振器の出力及びその高調波と周波数混合され、周波数
変換器12の出力中間周波の周波数Fiは第2図Bに示
すように時間と共に減少する信号となる。
The input signal from the input terminal 11 is frequency-mixed with the output of the local oscillator and its harmonics in the frequency converter 12, and the frequency Fi of the intermediate frequency output from the frequency converter 12 decreases with time as shown in FIG. 2B. It becomes a signal.

入力信号周波数Fxは一定であるが、これと周波数混合
された局部発振波の高調波の周波数NF/はだんだん大
きくなるためFiは時間と共に減少する。
Although the input signal frequency Fx is constant, the frequency NF/ of the harmonic of the local oscillation wave frequency-mixed with it gradually increases, so Fi decreases with time.

この減少により増幅器16の増幅帯域に入ると、これは
検波器28により検出され第2図Cに示すようにその出
力がその時点t。
When this decrease enters the amplification band of amplifier 16, it is detected by detector 28 and its output is at time t, as shown in FIG. 2C.

より高レベルとなる。この検出信号は制御回路25に供
給され、これにより第2図Eに示すような幅T1のタイ
ミング信号が発生し、このタイミング信号がゲート信号
発生回路27に供給されると共に局部発振器の掃引電圧
発生回路14に供給されてその掃引動作が停止される。
Higher level. This detection signal is supplied to the control circuit 25, which generates a timing signal with a width T1 as shown in FIG. The signal is supplied to the circuit 14 and its sweep operation is stopped.

ゲート信号発生回路27においては第2図Fに示すよう
にT1よりも小さな時間幅T2のゲート信号を時点t。
In the gate signal generation circuit 27, as shown in FIG. 2F, a gate signal having a time width T2 smaller than T1 is generated at time t.

に発生し、このゲート信号によりゲート21.23がそ
れぞれ開かれる。
This gate signal causes gates 21 and 23 to be opened.

よって期間T2の間増幅器16よりの中間周波信号がカ
ウンタ22で計数されてその周波数Filが測定され、
又同時にゲート23を通過した局部発振信働ifyウン
タ24で計数されてその時の発振周波数F7l!1が測
定される。
Therefore, during the period T2, the intermediate frequency signal from the amplifier 16 is counted by the counter 22 and its frequency Fil is measured.
At the same time, the local oscillation signal passed through the gate 23 is counted by the local oscillation counter 24, and the oscillation frequency at that time is F7l! 1 is measured.

これ等の測定値は例えばゲート信号の立ち下がりで演算
回路29にそれぞれ取り込まれて記憶される。
These measured values are taken into the arithmetic circuit 29 and stored, for example, at the falling edge of the gate signal.

その後制御回路25の端子26に与えられていたタイミ
ング信号の期間T1が終ってこれより局部発振器13は
周波数掃引を開始し、従って第2図に示すように発振周
波数は再び増加し、また増幅器16よりの中間周波数は
減少する。
Thereafter, the period T1 of the timing signal applied to the terminal 26 of the control circuit 25 ends, and the local oscillator 13 starts frequency sweeping from this point on, so that the oscillation frequency increases again as shown in FIG. The intermediate frequency of the signal decreases.

その後制御回路25の端子31に第2図Dに示すように
リセット信号が発生し、これにょりカウンタ22,24
がリセットされる。
Thereafter, a reset signal is generated at the terminal 31 of the control circuit 25 as shown in FIG.
is reset.

更に適当な時間経過した後の時点t,において制御回路
25から端子26を通じて第2図Eに示すようにタイミ
ング信号が再び発生される。
After a further lapse of a suitable period of time, at time t, a timing signal is again generated from control circuit 25 through terminal 26 as shown in FIG. 2E.

よってゲート信号発生回路21より第2図Fに示すよう
に2番目のゲート信号が発生し、これによってその時の
中間周波信号の周波数F i2及び局部発振器の発振周
波数Fl2がそれぞれ測定され、前回と同様にしてこの
演算回路29に取り込まれる。
Therefore, the second gate signal is generated from the gate signal generation circuit 21 as shown in FIG. and is taken into this arithmetic circuit 29.

このようにして測定した局部発振周波数F71,Fll
2及び中間周波数Ft1 p Ft2はそれぞれ演算回
路29に取り込まれており、これ等に基いて先の(3)
及び(4)式の演算が行なわれて高調波次数Nが決定さ
れ、かつこの時の中間周波数Fil及びF i2の大小
関係が判別される。
Local oscillation frequency F71,Fll measured in this way
2 and intermediate frequencies Ft1 p Ft2 are respectively taken into the arithmetic circuit 29, and based on these, the above (3)
The calculation of equation (4) is performed to determine the harmonic order N, and the magnitude relationship between the intermediate frequencies Fil and F i2 at this time is determined.

その後これらN及び大小関係と中間周波数Fll(又は
Fi2)と局部発振周波数pzt (又はFl2)とに
より(5)式の演算を演算回路29で行う。
Thereafter, the arithmetic circuit 29 performs the calculation of equation (5) using N, the magnitude relationship, the intermediate frequency Fll (or Fi2), and the local oscillation frequency pzt (or Fl2).

この場合この例においてはFiが大きく、かつ局部発振
周波数が高くなるように掃引している状態であるから、
周波数変換器12における変換動作においては入カ信号
周波数からN倍のF7が引き算されて中間周波信号が得
られていることになる。
In this case, in this example, Fi is large and the local oscillation frequency is swept high, so
In the conversion operation in the frequency converter 12, an intermediate frequency signal is obtained by subtracting N times F7 from the input signal frequency.

つまり入力信号周波数Fxはその周波数変換に作用した
局部発振波の高調波周波数よりも高いものであるから、
(5)式における入力周波数Fxの演算は加算を行うよ
うにされる。
In other words, since the input signal frequency Fx is higher than the harmonic frequency of the local oscillation wave that acted on the frequency conversion,
The input frequency Fx in equation (5) is calculated by addition.

その演算結果は表示器34に表示される。The calculation result is displayed on the display 34.

演算回路29及び制御回路25はいわゆるマイクロコン
ピュータにより一つのものとして容易に構成できる。
The arithmetic circuit 29 and the control circuit 25 can be easily constructed as a single unit using a so-called microcomputer.

その場合そのマイクロコンピュータによって検波器28
の出力を周期的に監視し、検波器28に出力が得られる
と、第2図Eに示したタイミングパルスを発生し、その
発生の時間間隔もマイクロコンピュータによって制御し
、これに基いて発振器13の掃引を停止すると共にゲー
ト信号発生回路27においては正確な時間幅T2のゲー
ト信号を例えば正確なクロックを計数することによって
発生する。
In that case, the detector 28 is controlled by the microcomputer.
The output of the oscillator 13 is periodically monitored, and when the output is obtained from the wave detector 28, the timing pulse shown in FIG. At the same time, the gate signal generating circuit 27 generates a gate signal having an accurate time width T2 by counting accurate clocks, for example.

カウンタ22,24でそれぞれ中間周波数及び局部発振
周波数が測定されるがその測定されたことはゲート信号
の立ち下がりで検出しても良いが、前記マイクロコンピ
ュータ内でも第2図Eに示したタイミング信号を発生し
ている関係から、カウンタ22,24の計数の終了をマ
イクロコンピュータ自身で知ることができ、従ってマイ
クロコンピュータにより適当な時間にカウンタ22,2
4の内容を取り込み記憶する。
The intermediate frequency and local oscillation frequency are measured by the counters 22 and 24, respectively, and the measurement may be detected by the falling edge of the gate signal, but the timing signal shown in FIG. 2E can also be detected in the microcomputer. , the microcomputer itself can know when the counting of the counters 22 and 24 has finished, and therefore the microcomputer can start the counting of the counters 22 and 2 at an appropriate time.
Capture and store the contents of step 4.

そのようにして各周波数に対して時間をおいて2回の測
定を行ない、それ等測定結果について(4)式及び(5
)式の演算をプログラム制御によって行なわせることは
容易にできる。
In this way, each frequency is measured twice at intervals, and the measurement results are expressed using equations (4) and (5).
) can easily be performed under program control.

高調波の次数Nを演算する(3)及び(4)式のための
中間周波数Fi及び局部発振周波数F7の測定は比較的
短時間に行なうことが入方信号の周波数を高速度に測定
する点から好ましい。
The point of measuring the frequency of the incoming signal at high speed is to measure the intermediate frequency Fi and local oscillation frequency F7 for formulas (3) and (4) for calculating the harmonic order N in a relatively short time. preferred.

しかし入カ信号周波数Fxを求める(5)式の演算にお
いては高い精度で求める点より、その時用いる中間周波
数及び局部発振周波数は高い精度で測定することが望ま
しい。
However, in order to calculate the input signal frequency Fx using equation (5) with high precision, it is desirable to measure the intermediate frequency and local oscillation frequency used at that time with high precision.

この点より高調波次数Nを演算するための周波数の測定
とは別に比較的長い時間のゲート信号をゲート21,2
3に供給して局部発振周波数及び中間周波数を測定する
ことが好ましい。
From this point, in addition to measuring the frequency for calculating the harmonic order N, a gate signal of relatively long time is applied to the gates 21 and 2.
3 to measure the local oscillation frequency and intermediate frequency.

このため例えば第3図に第1図と対応する部分に同一符
号を付けて示すが、ゲート信号発生回路21として端子
36よりのクロックを計数するいわゆる分周器であって
、タイムベースと言われる半導体集積回路を用いること
ができる。
For this reason, for example, in FIG. 3, parts corresponding to those in FIG. A semiconductor integrated circuit can be used.

これはクロックを計数し、複数の端子の何れを選択する
かによってその選択した端子に対応した時間幅のパルス
を発生するものである。
This counts clocks and, depending on which of a plurality of terminals is selected, generates a pulse with a time width corresponding to the selected terminal.

従って次数Nを決定するためにゲート信号を発生する場
合においては例えばマイクロコンピュータ35の端子3
7の出力を高レベルとしてタイムベース38の1つの端
子に与えて第2図における時間幅がT2のゲート信号パ
ルスを発生するようにされる。
Therefore, when generating a gate signal to determine the order N, for example, the terminal 3 of the microcomputer 35
7 is set to a high level and is applied to one terminal of the time base 38 to generate a gate signal pulse having a time width T2 in FIG.

しかし周波数測定用、つまり入力信号周波数を演算する
ための中間周波数測定及び局部発振周波数測定のための
ゲート信号の発生の際にはマイクロコンピュータ35の
端子31を低レベルとしてインバータ39を通じてタイ
ムベースの他の予め決められた端子に信号を与えてこれ
により所望の時間幅、つまりT2より広い時間幅のゲー
ト信号を発生するようにする。
However, when generating a gate signal for frequency measurement, that is, intermediate frequency measurement for calculating the input signal frequency and local oscillation frequency measurement, the terminal 31 of the microcomputer 35 is set to a low level, and the time base and other signals are transmitted through the inverter 39. A signal is applied to a predetermined terminal of , thereby generating a gate signal having a desired time width, that is, a time width wider than T2.

尚このタイムベース38は必要な時だけ動作するように
マイクロコンピュータ35の端子26よりの信号がタイ
ムベース38のリセット端子に与えられ、端子26の信
号が高レベルの間だけ動作するようにされ、その他の場
合はリセット状態にされる。
In order for this time base 38 to operate only when necessary, a signal from the terminal 26 of the microcomputer 35 is applied to the reset terminal of the time base 38, so that it operates only while the signal at the terminal 26 is at a high level. In other cases, it is placed in the reset state.

入力信号周波数Fxの演算の際に局部発振周波数Flは
N倍とされるため、これに誤差があるとそれはN倍に拡
大される。
When calculating the input signal frequency Fx, the local oscillation frequency Fl is multiplied by N times, so if there is an error in this, it is multiplied by N times.

この点より1ビットの誤差も許さないようにすることが
好ましい。
From this point of view, it is preferable not to allow even one bit of error.

このためには例えば局部発振器13内において掃引電圧
発生器14の出力が加算回路41に供給され加算回路4
1の出力が低域炉波器42を通じて電圧制御発振器15
に制御電圧として与えられる。
For this purpose, for example, within the local oscillator 13, the output of the sweep voltage generator 14 is supplied to the adder circuit 41.
1 output is passed through the low frequency wave generator 42 to the voltage controlled oscillator 15.
is given as a control voltage.

一方この電圧制御発振器15の出力は、ゲート信号発生
回路27の精度を決定するためのクロツク、つまり端子
36のクロツクと位相比較回路43において位相比較さ
れ、その位相差出力が加算器41に供給されて掃引電圧
発生回路14の掃引電圧と加算される。
On the other hand, the output of the voltage controlled oscillator 15 is phase-compared with the clock for determining the accuracy of the gate signal generation circuit 27, that is, the clock of the terminal 36, in the phase comparison circuit 43, and the phase difference output is supplied to the adder 41. and is added to the sweep voltage of the sweep voltage generation circuit 14.

このようにすると電圧制御発振器15に対する位相比較
器43よりの帰還制御ループは掃引電圧発生回路14よ
りの電圧が或る程度以上大きいとその位相制御範囲から
外れてしまって結局掃引電圧によって電圧制御発振器1
5の周波数が制御される。
In this way, the feedback control loop from the phase comparator 43 for the voltage controlled oscillator 15 will deviate from its phase control range if the voltage from the sweep voltage generating circuit 14 is larger than a certain degree, and the voltage controlled oscillator 15 will eventually be forced to move out of the voltage controlled oscillator 15 by the sweep voltage. 1
5 frequencies are controlled.

しかし掃引電圧発生回路14の掃引電圧の変化が所定値
以下、或いは掃引電圧の掃引が停止された状態において
は位相比較回路43の出力により電圧制御発振器15の
周波数が制御さ札従って端子36のクロツクと発振器1
5の発振位相とが位相同期し、つまり局部発振器13の
発振位相がゲート21 .23を制御するゲート信号と
同期したものとなる。
However, when the change in the sweep voltage of the sweep voltage generation circuit 14 is less than a predetermined value, or when the sweep of the sweep voltage is stopped, the frequency of the voltage controlled oscillator 15 is controlled by the output of the phase comparison circuit 43. and oscillator 1
The oscillation phase of the local oscillator 13 is synchronized with the oscillation phase of the gates 21 . It is synchronized with the gate signal that controls 23.

従って局部発振周波数を測定するカウンタ24において
一つの計数誤りもなく正しく測定することが可能となる
Therefore, the counter 24 that measures the local oscillation frequency can accurately measure the local oscillation frequency without any counting errors.

尚第3図においては掃引電圧発生回路14としてカウン
タを利用した場合であって端子36よりのクロツクが禁
止ゲート44を通じてカウンタ45に供給され、このカ
ウンタ45の計数値がDA変換器46によりアナログ信
号に変換され、このDA変換器46より鋸歯状波の掃引
電圧が得られるようにした場合である。
In FIG. 3, a counter is used as the sweep voltage generating circuit 14, and the clock from the terminal 36 is supplied to the counter 45 through the inhibit gate 44, and the count value of the counter 45 is converted into an analog signal by the DA converter 46. This is a case where a sawtooth wave sweep voltage is obtained from this DA converter 46.

掃引電圧発生回路14に対する電圧の掃引を停止させる
ため、端子26の出力が禁止ゲート44に与えられて端
子26の信号が高レベルの間端子36のクロツクがカウ
ンタ45に供給されず、カウンタ45はその時の計数状
態保持する。
In order to stop the voltage sweep to the sweep voltage generating circuit 14, the output of the terminal 26 is applied to the inhibit gate 44, and while the signal of the terminal 26 is at a high level, the clock of the terminal 36 is not supplied to the counter 45, and the counter 45 is The counting state at that time is maintained.

端子36のクロツクの周波数は例えばIMHz程度に選
定される。
The frequency of the clock at terminal 36 is selected, for example, to be on the order of IMHz.

ゲート信号発生回路2Tのゲート信号を発生させるため
のクロツクと掃引電圧発生回路14におけるカウンタ4
5に供給するクロツクとは別のものを用いても良い。
A clock for generating the gate signal of the gate signal generation circuit 2T and a counter 4 in the sweep voltage generation circuit 14
A clock other than the clock supplied to 5 may be used.

掃引電圧発生回路14としてはこのようにカウンタを利
用する場合のみならず、例えば一定の直流電圧を積分し
て発生するようにしても良く、その他各種の掃引電圧発
生回路を用いることができる。
The sweep voltage generation circuit 14 may not only use a counter as described above, but may also generate a voltage by integrating a constant DC voltage, and various other types of sweep voltage generation circuits may be used.

前述のように中間周波数及び局部発振周波数の同時測定
を2回行うことより、高調波次数Nを決定することがで
きる。
The harmonic order N can be determined by simultaneously measuring the intermediate frequency and the local oscillation frequency twice as described above.

しかし、入力信号周波数Fxが変化している場合で中間
周波数及び局部発振周波数の同時測定の1回目から2回
目になるまでにその変化が、局部発振周波数の変化(F
l1〜Fl2)よりも大きいと正しいNの決定ができな
くなる。
However, when the input signal frequency Fx changes, the change in the local oscillation frequency (F
l1 to Fl2), it becomes impossible to determine N correctly.

この問題を解決するにこの発明では次のようにする。In order to solve this problem, the present invention does the following.

即ち中間周波数及び局部発振周波数の同時測定を時間間
隔をおいて3回以上行なう。
That is, simultaneous measurement of the intermediate frequency and local oscillation frequency is performed three or more times at time intervals.

それらの同時測定結果の各異なる二組について(3)式
の演算をそれぞれ行ってその平均値を求め、その平均値
から高調波次数Nを決定する。
Equation (3) is calculated for each of the two different sets of simultaneous measurement results to obtain the average value, and the harmonic order N is determined from the average value.

或いは上記同時測定結果の各異なる二組について(4)
式の演算をそれぞれ行い、その演算結果のNが一致すれ
ばこれを正しい高調波次数とし、不一致の場合は測定を
やり直す。
Or for each two different sets of the above simultaneous measurement results (4)
The calculations of each equation are performed, and if the calculation results N match, this is determined as the correct harmonic order; if they do not match, the measurement is repeated.

上記測定時間間隔を異ならせ、特に多数回測定する場合
においてはその測定間隔をランダムに変化させると、入
力信号周波数はランダムに変化することがないためより
正しい測定が行なわれる。
If the measurement time interval is varied, and the measurement interval is randomly varied, especially when measurements are to be made a large number of times, the input signal frequency will not change randomly, and more accurate measurements will be performed.

しかもその場合は入力信号周波数が局部発振周波数の掃
引周波数範囲よりも大きく変化しても正しい測定を行な
うことができる。
Furthermore, in this case, accurate measurements can be made even if the input signal frequency changes more than the sweep frequency range of the local oscillation frequency.

その例を第4図に第1図と対応する部分に同一符号をつ
けて示す。
An example of this is shown in FIG. 4, in which parts corresponding to those in FIG. 1 are given the same reference numerals.

この場合における特徴となる部分はゲート信号発生回路
21であって、そのゲート信号の発生タイミングがラン
ダムになされた場合である。
The characteristic feature in this case is the gate signal generation circuit 21, in which the gate signal is generated at random timing.

このため例えば擬似ランダムパルス発生器51が設けら
れる。
For this purpose, for example, a pseudorandom pulse generator 51 is provided.

即ち例えば端子36の周波数IMHzのクロツクが分周
回路52で100とされて擬似ランダム発生器51に供
給される。
That is, for example, a clock having a frequency of IMHz at the terminal 36 is set to 100 by the frequency dividing circuit 52 and is supplied to the pseudo random generator 51.

擬似ランダムパルス発生器51の出力と端子36のクロ
ックとの一致がナンドゲート53で検出される。
A match between the output of the pseudo-random pulse generator 51 and the clock at the terminal 36 is detected by the NAND gate 53.

擬似ランダムパルス発生器51の出力は例えば第5図A
に示すようにそのパルス幅やパルス間隔がランダムな信
号として発生し、その各立ち上がり時点で負の擬似ラン
ダムのタイミング信号が、第5図Bに示すようにナンド
ゲート53の出力として得られる。
The output of the pseudorandom pulse generator 51 is, for example, as shown in FIG. 5A.
As shown in FIG. 5B, the pulse width and pulse interval are generated as a random signal, and at each rising point, a negative pseudo-random timing signal is obtained as the output of the NAND gate 53 as shown in FIG. 5B.

このタイミングで一定幅のゲート信号を得るためナンド
ゲート53の出カパルスによりフリツプフロツプ54が
セットされフリップフロツプ54の出力はゲート55に
供給されると共に中間周波数及び局部発振周波数をそれ
ぞれ計数すルタめのゲート21,23に供給される。
In order to obtain a gate signal of a constant width at this timing, a flip-flop 54 is set by the output pulse of the NAND gate 53, and the output of the flip-flop 54 is supplied to a gate 55, and a gate 21, which is a router that counts the intermediate frequency and local oscillation frequency, respectively. 23.

ゲート55には端子36よりのクロックが供給されてお
り、そのゲート55の出力クロックがタイムベース38
に与えられる。
A clock from the terminal 36 is supplied to the gate 55, and the output clock of the gate 55 is connected to the time base 38.
given to.

そのタイムベース38の出力によってフリップフロップ
54がリセットされる。
The output of time base 38 resets flip-flop 54.

このようにして第5図Cに示すようにナンドゲート53
の出力パルスの発生毎に一定幅T2のゲート信号が得ら
れ、これ等がゲート21 .23にそれぞれ供給される
In this way, as shown in FIG. 5C, the NAND gate 53
A gate signal with a constant width T2 is obtained every time an output pulse of 21 . 23 respectively.

このようにして複数回周波数測定されるが、各ゲート信
号の後縁の立ち下りにおいてマイクロコンピュータ35
はそのゲート信号を監視してその立ち下りでカウンタ2
2,24の各計数内容、つまり測定した中間周波数及び
局部発振周波数がそれぞれ取り込まれる。
In this way, the frequency is measured multiple times, but at the trailing edge of each gate signal, the microcomputer 35
monitors the gate signal, and when it falls, counter 2
2 and 24, that is, the measured intermediate frequency and local oscillation frequency are respectively taken in.

その後ゲート信号は遅延回路56にも供給され、ゲート
信号の後緑より一定時間遅れたリセットパルスが第5図
Dに示すように得られ、これ等リセットパルスにょリカ
ウンタ22,24がリセットされる。
Thereafter, the gate signal is also supplied to the delay circuit 56, and a reset pulse delayed by a certain period of time after the gate signal is obtained as shown in FIG. 5D, and these reset pulse counters 22 and 24 are reset.

測定された各中間周波数及び局部発振周波数の組を、隣
接する異なる二つの測定時点に対するものを取り出し、
それFi Fi の複数組について−ユ一一』の演算をそれぞれ行Fl2
F4 ない、それ等の各値を平均してそれにαを加算して整数
Nを得る。
Take out sets of each measured intermediate frequency and local oscillation frequency for two different adjacent measurement points,
For multiple sets of Fi - 11', the calculations are performed in line Fl2, respectively.
F4 No, average each of those values and add α to it to get an integer N.

或いは前記複数組について(4)式の演算を行い、その
結果のNが一致した場合はそれを正しい高調波次数とし
、一致しない場合は前記3回以上の測定をやり直す。
Alternatively, the calculation of equation (4) is performed for the plurality of sets, and if the resulting N matches, it is set as the correct harmonic order, and if they do not match, the three or more measurements are repeated.

そのようにして高調波次数Nが決定され、更にその次数
の決定後或いは前にマイクロコンピュータ35の端子5
Tよリパルスをオアゲート58を通じてフリップフロツ
プ54のセット端子に与えてセットし、同時に端子3T
を低レベルとしてインバータ39の出力を高レベルとし
てタイムベース38の時間を切替えてゲート信号の時間
幅を十分大きくする。
In this way, the harmonic order N is determined, and furthermore, after or before determining the harmonic order, the terminal 5 of the microcomputer 35 is
A repulse from T is applied to the set terminal of the flip-flop 54 through the OR gate 58 to set it, and at the same time, the repulse from the terminal 3T is applied to the set terminal of the flip-flop 54.
is set to a low level, the output of the inverter 39 is set to a high level, and the time of the time base 38 is switched to make the time width of the gate signal sufficiently large.

この十分大きくされたゲート信号によって中間周波数及
び局部発振周波数を測定してこれ等と先に平均によって
決定された高調波次数とから入力信号周波数Fxを演算
する。
The intermediate frequency and local oscillation frequency are measured using this sufficiently large gate signal, and the input signal frequency Fx is calculated from these and the harmonic order previously determined by averaging.

上述において局部発振周波数の測定は局部発振波をカウ
ンタ24によって直接計数して測定したが、例えば掃引
電圧発生回路14より得た信号により周波数を測定する
こともできる。
In the above description, the local oscillation frequency was measured by directly counting the local oscillation waves with the counter 24, but the frequency can also be measured using a signal obtained from the sweep voltage generation circuit 14, for example.

例えば第4図にその要部を示すように掃引電圧発生回路
14内のカウンタ45の内容を係数器59で局部発振周
波数と対応した信号に変換し、これをマイクロコンピュ
ータ35に与え、カウンタ22で測定された中間周波数
を取り込む際に、同時に係数器59の内容を取込むよう
にすれば良い。
For example, as shown in the main part of FIG. When the measured intermediate frequency is fetched, the contents of the coefficient multiplier 59 may be fetched at the same time.

中間周波数の測定を通常の周期測定器を用いて周期を測
定して周波数に変換しても良い。
The intermediate frequency may be measured using a regular period measuring device to measure the period and convert it into a frequency.

上述においては高調波の次数を決定するための中間周波
数や局部発振周波数の測定の際にその都度局部発振器の
掃引を停止したが、そのような停止を行なうことなく、
従って周波数が変化している状態で周波数測定しても良
い。
In the above, the sweep of the local oscillator was stopped each time the intermediate frequency or local oscillation frequency was measured to determine the harmonic order, but without such a stop,
Therefore, the frequency may be measured while the frequency is changing.

しかし測定時間T2内において中間周波数が中間周波増
幅器16の増幅帯域より外れない範囲内に限られること
は勿論であり、更にその状態において局部発振器の制御
電圧に対し、発振周波数が直線的に変化している場合は
、測定周波数は測定時間T2における平均的な周波数、
っまりT2の中点の周波数が測定される。
However, it goes without saying that the intermediate frequency within the measurement time T2 is limited to a range that does not deviate from the amplification band of the intermediate frequency amplifier 16, and furthermore, in this state, the oscillation frequency changes linearly with respect to the control voltage of the local oscillator. , the measurement frequency is the average frequency at measurement time T2,
The frequency at the midpoint of T2 is measured.

制御電圧に対し局部発振周波数の変化が非直線的である
場合でも、時間T2が小さく、周波数の変化、乃至は前
記非直線性が充分小さければ同様に周波数掃引を停止す
ることなく測定することができる。
Even if the change in the local oscillation frequency is nonlinear with respect to the control voltage, if the time T2 is small and the change in frequency or the nonlinearity is sufficiently small, measurement can be similarly performed without stopping the frequency sweep. can.

以上述べたようにこの発明による周波数測定装置におい
ては高調波次数の決定を行なう場合、比較的容易に行な
うことができ、しかも局部発振器としては例えば2 0
0 MHz程度の変化範囲があれば十分であり、従っ
て高価なものを必要としない。
As described above, in the frequency measuring device according to the present invention, when determining the harmonic order, it is relatively easy to determine the harmonic order.
A variation range of about 0 MHz is sufficient, so an expensive one is not required.

このように周波数の変化範囲が小さくてよいから制御電
圧に対する発振周波数の直線性の良いものが得られ、高
い精度の測定が可能である。
Since the frequency change range may be small in this way, good linearity of the oscillation frequency with respect to the control voltage can be obtained, and highly accurate measurement is possible.

特に先に述べたように高調波次数の決定を平均をとって
行なっている場合は入力信号周波数が変動しても測定す
ることが可能である。
Particularly, as mentioned above, when the harmonic order is determined by averaging, it is possible to measure even if the input signal frequency fluctuates.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は提案されている周波数測定装置の一例を示すブ
ロック図、第2図はその動作の説明に供するためのタイ
ムチャート、第3図は第1図に示した周波数測定装置の
一部変形例を示すブロック図、第4図はこの発明による
周波数測定装置の一例を示すブロック図、第5図はその
動作の説明に供するためのタイムチャート、第6図はこ
の発明装置の一部変形例を示すブロック図である。 11・・・・・・入力端子、12・・・・・・周波数変
換器、13・・・・・・局部発振器、16・・・・・・
増幅器、17・・・・・・中間周波数測定手段、18・
・・・・・局部発振周波数測定手段、25・・・・・・
制御回路、29・・・・・・演算回路。
Fig. 1 is a block diagram showing an example of the proposed frequency measuring device, Fig. 2 is a time chart for explaining its operation, and Fig. 3 is a partial modification of the frequency measuring device shown in Fig. 1. FIG. 4 is a block diagram showing an example of the frequency measuring device according to the present invention, FIG. 5 is a time chart for explaining its operation, and FIG. 6 is a partial modification of the device of the present invention. FIG. 11...Input terminal, 12...Frequency converter, 13...Local oscillator, 16...
Amplifier, 17...Intermediate frequency measuring means, 18.
...Local oscillation frequency measuring means, 25...
Control circuit, 29... Arithmetic circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 周波数掃引局部発振器と、その局部発振器の出力及
び入力信号が供給されて、その入力信号の周波数と上記
局部発振器の出力周波数及びその高調波の周波数との差
の周波数の中間周波信号を発生する周波数変換器と、そ
の周波数変換器の出力を増幅する増幅器と、その増幅器
の出力周波数を測定する中間周波数測定手段と、上記局
部発振器の出力周波数を測定する局部発振周波数測定手
段と、上期中間周波数測定手段及び上記局部発振周波数
測定手段に対し、それぞれ時間間隔をおいて同時に3回
以上測定させる制御手段と、上記3回以上の同時測定に
ついての異なる二つの組合せについて、その二つの測定
中間周波数Fi1,Fi2及び二つの測定局部発振周波
数Fl1,Fl2よりFtI Ft2の演算を行ない
、これら複数の演算Fl2−Fl1 結果から高調波次数Nを求め、そのNと局部発振周波数
FA?及びこれと対応する中間周波数Fiとから上記人
力信号の周波数を演算する演算回路とを具備する周波数
測定装置。
[Claims] 1. A frequency sweeping local oscillator, which is supplied with an output and an input signal of the local oscillator, and whose frequency is the difference between the frequency of the input signal and the output frequency of the local oscillator and the frequency of its harmonics. A frequency converter that generates an intermediate frequency signal, an amplifier that amplifies the output of the frequency converter, an intermediate frequency measuring means that measures the output frequency of the amplifier, and a local oscillation frequency measurement that measures the output frequency of the local oscillator. means, a control means for causing the first half intermediate frequency measuring means and the local oscillation frequency measuring means to simultaneously measure three or more times at time intervals, and two different combinations of the three or more simultaneous measurements. Calculate FtI Ft2 from the two measured intermediate frequencies Fi1 and Fi2 and the two measured local oscillation frequencies Fl1 and Fl2, find the harmonic order N from the results of these multiple calculations Fl2-Fl1, and calculate the harmonic order N and the local oscillation frequency FA? and a calculation circuit that calculates the frequency of the human input signal from the corresponding intermediate frequency Fi.
JP40680A 1980-01-07 1980-01-07 frequency measurement device Expired JPS5849828B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP40680A JPS5849828B2 (en) 1980-01-07 1980-01-07 frequency measurement device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP40680A JPS5849828B2 (en) 1980-01-07 1980-01-07 frequency measurement device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5697881A JPS5697881A (en) 1981-08-06
JPS5849828B2 true JPS5849828B2 (en) 1983-11-07

Family

ID=11472911

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP40680A Expired JPS5849828B2 (en) 1980-01-07 1980-01-07 frequency measurement device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5849828B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5697881A (en) 1981-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4310891A (en) Frequency measuring apparatus
US5367200A (en) Method and apparatus for measuring the duty cycle of a digital signal
US6233529B1 (en) Frequency spectrum analyzer having time domain analysis function
JPH0371064A (en) Circuit and method for generating gate
US4468614A (en) Average frequency measuring apparatus
EP2351237B1 (en) Method and device for estimating parameters of a system for spreading the spectrum of a clock signal
JPH02124637A (en) Synchronization detection circuit
JPS6356503B2 (en)
JPS5849828B2 (en) frequency measurement device
JP2649823B2 (en) A time standard device with remarkably constant stability for short- and long-term time measurements
JPH11326404A (en) Minute error detecting device for frequency
JP3271323B2 (en) Time measurement circuit
US4896095A (en) Apparatus and method for determining frequency response of a system under test
US20070172009A1 (en) Timing device with coarse-duration and fine-phase measurement
JPS5849827B2 (en) frequency measurement device
US6952373B2 (en) Semiconductor device having PLL-circuit
JP3516778B2 (en) Frequency measurement method for semiconductor test equipment
JPS62291573A (en) Electric device
RU17666U1 (en) FREQUENCY COMPARATOR
Nizamani A novel frequency comparator: applications in frequency meters and in difference clocks for generator frequency error monitors
JPS6042382Y2 (en) Average frequency measuring device
JPH0745025Y2 (en) Pulse duty ratio measuring instrument
JPS61260120A (en) Electronic integrating instrument
SU1725180A2 (en) Meter of total time of delay
JP3164206B2 (en) Time interval measurement method