JPS5848076A - 光走査光学系 - Google Patents
光走査光学系Info
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- JPS5848076A JPS5848076A JP14543281A JP14543281A JPS5848076A JP S5848076 A JPS5848076 A JP S5848076A JP 14543281 A JP14543281 A JP 14543281A JP 14543281 A JP14543281 A JP 14543281A JP S5848076 A JPS5848076 A JP S5848076A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
不発明け、半導体レーザから放射を九にレーザビームに
より走査面全走査する光走査光学系に関する。 例えばレーザプリンタの如き光書込み装置、又はファク
シミl]における光読取装置等の光学装置において半導
体レーザヶ含む光走査光学系ケ用いることは従来より周
知である。この場合、半導体レーザから放射1九にレー
ザビームは、その横断面形状が楕円形ケな[7ており、
かかる横断面形態ケ有するレーザビームケその壕ま用い
ることが不適当であるときには、光束形状変換手段によ
ってレーザビームの横断面形状ケ所望する形態に変換し
、かく変換しにレーザビームケ所定の目的に使用するよ
うにしている。そしてこの光束形状変換手段としてプリ
ズムケ用いることも従来より公知である。kだ、従来の
この種光学系においては、光束形状変換手段と
より走査面全走査する光走査光学系に関する。 例えばレーザプリンタの如き光書込み装置、又はファク
シミl]における光読取装置等の光学装置において半導
体レーザヶ含む光走査光学系ケ用いることは従来より周
知である。この場合、半導体レーザから放射1九にレー
ザビームは、その横断面形状が楕円形ケな[7ており、
かかる横断面形態ケ有するレーザビームケその壕ま用い
ることが不適当であるときには、光束形状変換手段によ
ってレーザビームの横断面形状ケ所望する形態に変換し
、かく変換しにレーザビームケ所定の目的に使用するよ
うにしている。そしてこの光束形状変換手段としてプリ
ズムケ用いることも従来より公知である。kだ、従来の
この種光学系においては、光束形状変換手段と
【〜てプ
リズムケ用いkときに、半導体レーザからのレーザ元ケ
、いかに無駄なく効率的に利用し得るかについては特に
考慮が払わねていhい。 不発明け上記認識に基き々で力にものでセ)す、うt束
形状変換手段と1.てプリズムケ用い、しかもレーザ光
の利ffl効率ケ高めることの可能な光走査光学系ケ祈
供1−ること7その第1の目的とする。 不発明の第2の目的は、レーザ光の利用効率が大幅に低
下するようが不都合ケ伴うこと々く、簡単な構成によっ
て、レーザビームの横断面形状ケ所望A−る形態に変換
することのできる光走査光学系’e ]’)%供するこ
吉である。 土配第1の目的口、特許請求の範囲第1項に記載の構成
によって達成はね、第2の目的は同第3項に記載の構成
によって達成プnる。 以下、不発明の有利庁実施例ケ説明する。 第1図は、不発明に係る光走査光学系ケ、レーザプリン
タに用いた具体例ケ示す模式図であり、本発明の理解の
kめ、先ず第1図に示す構成の概略ケその作用と共に説
明する。 第1図において、成る広がり角ケモって半導体レーザ1
から放射芒j女レーザビーム1.け、結合レンズ2によ
って平行なレーザビームLにを力、次いでプリズム3か
ら成る第1の光束形状変換手段と、スリット4ケ有する
第2の光束形状変換手段とケ通過し1、その際、後述す
る態様でレーザビームの横断面形態が変換gflる。上
記スリット4け、2つの板状遮光部材5によって区画形
成でれているが、この遮光部材5ケスリツzr有する1
つの部片によって構成してもよいことは当然である。ス
リット4′(I−通過し女平行レーザビームT−は、回
転多面鏡6から成る光偏向装置及びf・θレンズ7ケ介
し、て、走査面、即ち本例では感光体ドラム8の表面に
入射1−る。回転多面鏡6け、公知の如く複数のミラー
91t有し、L7かも第1図における反時計方間に回転
駆動−Jflるkめ、この回転に伴って、レーザビーム
Lは感光体ドラム8の表面ケ矢印Aで示す方向に主走査
し、半導体レーザ]に入力はれる 情報信号に応じて、
ドラム8)Iに画素から成る画像ケ形成する。その際の
走査線ケ第1図に符号X?、伺して示す。 上述の如き主走査が回転多面鏡6の回転に伴いその各ミ
ラー毎に順次行なわカ、シ、かも感光体ドラム8が副走
査方向にli″i1転駆動ζ檜るので、該ドラム8の表
面にしY所定の=次元的り両像が形5y、妊ハる。尚、
f・θレンズ7け、公知の如く回転多面鏡で偏量σn*
し〜ザビームケ、感光体ドラム8の表面に結像は一伊る
と共に、レーザビームケトラム表面にて等速で走査をせ
る用?なす。 上述の如く、レーザビームL H成る広かり角?もって
半導体レーザビームするが、この状態ケ第2図に模式的
に示す。第2図は、半導体レーザ1の一例と1〜て、異
種物質のn形半導体とn形半導体とケ接合1−2にへテ
ロ接合型半導体し下ザケ示し7、その半導体接合面]0
の活性領域からレーザビームLが放射ζ力でいる。この
場合、半導体レーザ1の半導体接合面10に平行な方向
(後述国−るX軸方向)におけるレーザビームLの広が
り角ω、ト、該接合面に対し垂直々方向(後述するV軸
方向)におけるレーザビームLの広がり角ω2とは等し
くなく、必ずω2〉ω1の関係が保にわる。従って、こ
のレーザビームLの横断面形状は円形とけならず必ず楕
円形となる。尚、不明細書に言うレーザビームの断面形
態は、レーザビームの横断面における光強度分布がガウ
ス分布ケなり、ているものと仮定(eld自然対数の底
)の光強度ケもつ位置で考えた断面形態である。第3図
けこカケ説明するグラフであり、半導体レーザから出射
するレーザビームの広がり角ケ横軸にとり、このビーム
の光強度ケ縦軸にとったものfある。第3図における実
線Aが接合面10に対し、垂直な方向に広がるレーザビ
ームの光強度分布?、そして破線Bが接合面に対して平
行な方向に広がるレーザビームの光強度分布ケ示り、て
いる。このように半導体レーザから出射するレーザビー
ムの横断面は楕円形?なしているため、もしもこね?整
形せずに感−光体ドラム8へ導びいkとすね、げ、該ド
ラムの表面ケ照射しにレーザビームのビームスポット形
態も、半導体レーザから放射をれにレーザビームの形態
に対応【−1た楕円形7a−3−d−ことになる。とこ
ろがドラム8の表面に、かかる形態のスポットケ結像さ
せることは一般に不適尚であり、半導体レーザ1がら放
射を力にレーザビームの断面形態ケ所望する形態に変換
シ2、ないしは整形する必要がある。 子連した必要性から既述のプリズム3と、遮光部材5に
」:り区画ζね、にスリット4とが用いらηる。以下に
その具体的な構成と、その作用ケ詳細に説明する。 先ず、説明の便宜上第2図に示すように、半導体レーザ
1のレーザビーム出射面、即ち第2図における半導体レ
ーザ右側面】00での接合面1o方回ケπ軸と(7、接
合面10に垂直な方間’ry軸とすると共に、Z il
’ll+と11軸とに垂直外方向、即ちレーザビームの
主九線の方向i g n’l11と定める。そして第1
図に示4−ように、レーザビームが結合レンズ2、プリ
ズム3及びスリット4ケそηぞゎ出射し、に位置I 、
IT 、 111、及び感光体ドラム8の表面ダレ−
ザビームが照射した位置1■においても、」二記′x3
/z軸にそ名、ぞれ光学的に対応はせて、Z’jlZ軸
ケ定める。この場合、各位置1乃至1■におけるxyz
軸方軸方あくまでも光学的に対応させkものであって、
各位置でのxyz軸方軸方、必ずしも空間的に一致する
ものでないことは第1図からも明らかである。このよう
に方向ケ定めると、第2図?参照して先に説明したとこ
ろから明らかなように、結合レンズ2全射出したレーザ
ビームLの横断面、即ち第1図のIの位置におけるビー
ム横断面は、第4図(1)の如く表わすことができ、こ
のレーザビームの横断面は、X軸方向に小さな幅a(矧
軸) k 、y軸方向に大なる幅b(長1111 )
k有する楕円形となっている。また1本実施例において
は、感光体ドラム8の表面に結像はねるビームスポット
の形状ケ、第4図mMVC示す如く、主走査方向(即ち
X軸方向)に短軸ケ有し一1副走査方回(即ちv軸方向
)に長軸ケ有する楕円形に形成する場合について考える
ことにする。かかる形状のビームスポットで走査7行な
うと、七ね自体公知な如く、高分解能な記録ケ為し、得
るからである(これけレーザプリンタだけで々く読取装
置においても同様である)。 ところで一般に、f・θレンズへ入射するレーザビーム
の径と、このレーザビーム出射面ねり走査面(即ち第1
図の例では感光体ドラム表面)における結像ビーノ・□
スポットの径とが反比例の関係ケ有していることはよく
知ら力でいる。例えばf・θレンズへ、直径φなる円形
横断面のレーザビームか入射(5、これが走査面に直径
dなるビームスポットとして結像gt1*とすると、 なる関係ケ満* −d−(但L、kけ係数、fけf・θ
レンスノ焦点距離、λけレーザビームの波長−vある)
。 従って感光体ドラノ・表面におけるビームスポットの形
態ケ上述の如き楕円形(第4図IM )にするには、(
1)式から判るように、f・θレンズ7へ入射するレー
ザビームLの横断面形状ケ、第4図(社)又は(財)に
示す如く、X軸方向に長袖(幅a又はa′)ケ有1−%
y +1q11方回に短軸(幅C)ケ有するほぼ楕円
状の形にする必要がある(第4図(II)の楕円形さ第
4図IVIの楕円形は、その長軸と短軸とが逆になって
いる)。 そこで、第1図に示す実施例ではプリズムがレーザビー
ムの横断面の一方向の幅ケ変換できることケ利用L5て
、プリズム3により、第4図(1)に示すレーザビーム
横断面のX軸方向の幅l]だけケ縮少し、プリズム3ヶ
出射しにレーザビーム横断面ケ、第4図(II)に□示
1−如く、x 11n方回に長軸(幅a)ケ有し、11
軸方向に短軸(幅C)ケ有する楕円形に整形するように
構5y、G nでいる(e<b)。プリズム3によりレ
ーザビームの横断面ケこのように変換できるようにする
には、例えば次のようにプリズム3の位置7足めればよ
い。即ち、レーザビームLが入射するプリズム屈折面(
入射面)11す如く、直角ケなしている場付には、この
側面J3が、I又け■1の位置でのxyz軸ケ基準とし
て、yg平面に対し平行と々るようにプリズム3紮配置
する。その際、断面形状変換前と後とにおける一ザビー
ムの主−+1線T、+cとの交点14ケ中心古シ、て(
勿論、他の位置でもよい)、プリズム3の側面】3と平
行力平面(yz平面)内で、プリズム3ヶ回転式せ、プ
リズノ、3へのレーザビームの入射角ケ変えることによ
って所望する太きをに適宜設定することができる。従っ
て、プリズム3ケ上記の如く適宜回転1−ることにより
、最終的なビームスボッl−(m4図(〜す)のvII
Illl方回の幅C″方向所望る大きさに定めることが
できる。即ち、プリズムケ射flj L、てf・θレン
ズに入射1−るレーザビーム径と、感光体ドラムl’T
のビーノ、スポット径とけ、既述の如り(1)式に示す
関係ケイイし、ているので、プリズム屈折面するレーザ
ビーム横断面のV軸方向の幅Cヶ調整すわば、X軸方向
に所望する太きての幅C″ケ持穴感光体ドラム状のビー
ムスポットケ得ることができる訳である。このようにし
て、感光体ドラム上のビームスポットのy軸方同幅C″
?、容易に所定の大食さに定めることができる。 まにル−ザビームの広がり角ω2の犬@では、個々の半
導体レーザによって多少ばらつくが、プリズム3ケ上記
の如く回転A−ることによって、最終的なビームスポッ
トの?/軸軸方の幅C// の犬@ζ?調整することが
でき、角度ω2のばらつきに対しても、支障なく対処す
ることができる。 次に感光体ドラム上でのビームスポットのX軸方向の幅
の定め方について考えると、プリズム3ケ串射1−7k
レーザビームLのπ軸方同幅aは、−プリズム3へ入射
する前の幅aと何ら変らない(第4図fl) 、 (I
I) )。プリズム3はレーザビーム幅yy軸方回にの
み縮少する働きケなすに留するからでるる。この場合、
半導体レーザ1から放射さ力5るレーザビームLOX軸
方回の広がり角ω1が一定しているとすれば、X軸方向
に所定の幅a″ケ持ビームスポットが得られるように、
結合レンズ2ケ構成するだけで、ビームスボッzr−第
4図■に示す如き形態にすることができる。ところが、
半導体レーザ1から放射1f’lるレーザビームLの広
がり角ω1も、半導体レーザによって僅かにばらつき、
広がり角ω1が一定り−でいないのが普通である。 このkめ、図示り、に構成においては、既述のスリット
4に」:つて、プリズム3ケ射出【−1にレーザビーム
横断面のX軸方向における端の一部ケ、必要に応じて僅
かにカッ1−1−、、こわケ第4図ITIに示す如く整
形するようにしている。こノ1によって、感光体ドラム
8土には所定の形状のビームスポットか得らねる(第4
図(1v)。尚、スリット4け、レーザビームLの横断
面y7x軸方回にのみ絞り得るように、X軸方向に平行
な方間に位置しているこ吉は当然である。またスリット
4の幅wi調整できるように、遮光部材5ケ移動可能に
配置することが有利である。 ところで上述の如くして光束形状変換ケ行なう際、一般
に、プリズムケ用いてこ47行がえば、一部の元がプリ
ズムに吸収−Jflるとし、てもその大部分の光は有効
に利用できるので、光束形状変換時における光の損失は
非常に小はく、その反面、スリツtl+−用いてレーザ
ビーム横断面の幅ケ縮めると、その際にカットさ力に光
は全く無駄となり、従ってその介の損失はかなり太きい
と言える。その点、図示14本発明に係る構成において
は、半導体レーザ1から出射したし〜ザビーム■」の横
断面は、その広幅方間(y軸方口)ケ、プリズム3によ
つt縮少ζ力、かく縮少式η女し−ザビーム横断面の極
く一部だけがスリット4によって縮少ζ力るようになっ
ており、換言すれば、大幅に縮少を力るべきレーザビー
ム横断面の幅が、プリズム3によって実質的に光の損失
ケ伴うことなく縮少ζね、最終的に一部の幅のみケ縮少
するときにはスリット4が使用σれ、その結果、元の損
失は大幅に抑制ζわる。逆vrCも1.も、第4図(1
)におけるxiI¥11方回の小なる幅arプリズムに
よって縮少し、y軸方口の大きな幅l)ケスリットでカ
ットして縮少1−るように1−* 、!: −=l−n
ば、うしの損失は大きくならざるケ得ない。 いす力にしても、半導体レーザから放射は力5るレーザ
ビームの大きな広がり?持つ幅に、プリズムによって縮
少するという、本発明による構成に」二つて、光の損失
ケ有効に抑え、光ケ効果的に利用することかできる。尚
、X軸方口の幅の縮少も、図示し2でいない他のプリズ
ムケ用いて行なえは、光の損失ケ一層低軽減でき、その
意味では有利であると言える。ところがこのようにする
と全体で2つのプリズムケ使用することになり、その構
成が複雑且つ高価と々るだけでなく、各プリズムの位置
決めケ行なうことが大変面倒上々る欠点ケ免fI々い。 その点、図示しに構成の如く、1つのプ1)ズムにより
レーザビーム横断面の幅ケ大きく縮少すべきところでは
プリズムケ、この横断面ケ僅かに縮少σせるだけでよい
ところにはスリット?用い力ば、大幅な光損失の発生ケ
防止し、つつ、光学系の構成ケ非常に簡単にすることか
でき、特に有利−1′ある。−手1ζ、図示しに実施例
’Tは、感光体ドラム−にに第4図IMに示す如き楕円
形のビームスボッ) 7a−生せしめる場合について説
明したが、このビームスボットチ他の形態、例えば円形
等に形成1−るときにも、レーザビームの広幅方間の幅
を、プリズム3によって変換し、光損失ケ低減ζせるこ
とができること(d当然であり、またスリット等ケ用い
ずに、1つのプリズムだけでビーム形状の整形ケ行なう
ように(−7穴場合も同様である。 ところで、先に説明しに光偏向装置としては、第1図に
示り、7ζ回転多面鏡以外に、カルバノミラー、音響光
学変換素子(所謂A、 0素子)又はホログラムスキャ
ナ等全適宜用いることができるが、その際反射面(例え
ばミラー)ケ有する光偏向装置(例えば、回転多面鏡又
はガルバノミラ−)ケ用いkときには、第1図に示すよ
うに、半導体レーザ1のレーザビーム出射面100にお
ける半導体接合面方間と、感光体ドラノ、における主走
査方間と4、光学的に一致σせ、共にX軸方口とするこ
とが有利である。そこでこれについて、光信同装置とし
て回転多面鏡ケ用い友第1図の構成に則して、以下に詳
細に説明シ、」:う。 一般に成る反射面に/lが入射したとき、その複素屈折
率kn−’jkとすると、反射面に平行な成分の反射率
Rpと、垂直な成分の反射率Rsi、次式で表わすこと
ができる。 (但(、θけ入射角である) 反射面が例えば、アルミ蒸着面であるとすると、n=3
.9.1c=7.0と々す、こ力ら?(2) 、 (3
)式に代入して、入射角θに対する反射率R,p’、R
s ’rグラフで示すと、第6図の如く々る。従って、
第1図に示す回転多面鏡6の各ミラー9かアルミ蒸着面
であるとすると、第6図に示す反射率でレーザビームが
各ミラーヶ反射することになる。 一方、回転多面鏡6は回転している反面、こjに入射す
るレーザビームの位置は一定しているので、回転多面鏡
の各ミラーへ入射するレーザビームの入射角は時々刻々
変動する。この場合、この入射角の変化に伴って、各ミ
ラーでのレーザ光の反射率が変動したとすると、感光体
ドラム8上のレーザスポットの光量もこねに伴って変化
し1.1回の主走査中の光量が不均一となり、露光むら
が発生することになる。従ってミラー9への入射角が変
化しても、該ミラーにおける光の反射率が変化し、ない
ことが最も望ましい。かかる観点より、第6図に示す反
射率RpとRSS見見と、11.pは入射角θの変化に
伴ってかなり大きく変動しているのに対し、 、It、
sの変動は少なく、従ってレーザビームが1118 の
反射率ケもってミラー9にて反射すれば有利であると言
える。例えば、f・θレンズ7の焦点距離k 271
、6 mmとし、このレンズ7r用いて、230鰭の長
この走査ケ行なう場合ケー例吉して考えると、このとき
のミラー9への入射角0は、45°?!−中央値として
32゜87°から57.13°の範囲となる。 かかる範囲における反射率1(pとRsとケW、ると、
入射角45°のときの1(、p?1.0とり、にとき、
1(1)は1.03乃至(1,95とな、す、その範囲
はかなり大キく、これに対しRs[0,98乃至]、0
2f、%つて、その範囲はかなり小さい。このことから
レーザビームp R,sの反射率で反射きせると有利で
あることが判る。一方、よく知らねでいるように半導体
レーザ1から出射てるレーザ光は、半導体接合面10に
対して平行な方向に偏光面ケ有する直線偏光声なってお
り、従つて半導体し〜ザ1のレーザビーム出射面100
における接合面1()方向と主走査方向Xとが光学的に
見て一致するように、回転多面鏡6と半導体レーザ1と
ケ位置決めすわば、レーザ光の偏光方向と、ミラー9に
おける反射面とケ垂直にすることができ、これによって
レーザビームLiR5の反射率で反射はせることができ
る。 上の例では−)L偏向装置とし、て回転多面鏡?用い、
その反射面ケアルミ蒸着面と1.7. JJA&の例ケ
示り。 女が、ガルバノミラ−から成る光偏向装置ケ用い1(す
、反射面ケアルミ蒸着面以外の反射面とじたときにも、
上述[1,に考えと全く同様な考えに従って、反射面に
おける反射率の変動ケ小さく留めるように構成1〜るこ
とができる。 以上、不発明の有利な実施例ケ説明したが、不発明け」
二記実施例に限定式わず各種改変することができる。例
えば、結合レンズでレーザビーム横断面にしてからこ7
1ケプリズムに入射させる代りに、先ずプリズムによっ
てレーザビーム?整形り7、次いでこi?結付会レンズ
よって平行光にすることも可能である。才女レーザビー
ムの光路中に、ビームコンプレッサ又はビームエクスパ
ンダケ介在させに光学系や、ベルト状ないし、けシート
状の感光体ケ有する光学系、或いは読取装置における光
学系等にも、本発明ケ有利に用いることができる。
リズムケ用いkときに、半導体レーザからのレーザ元ケ
、いかに無駄なく効率的に利用し得るかについては特に
考慮が払わねていhい。 不発明け上記認識に基き々で力にものでセ)す、うt束
形状変換手段と1.てプリズムケ用い、しかもレーザ光
の利ffl効率ケ高めることの可能な光走査光学系ケ祈
供1−ること7その第1の目的とする。 不発明の第2の目的は、レーザ光の利用効率が大幅に低
下するようが不都合ケ伴うこと々く、簡単な構成によっ
て、レーザビームの横断面形状ケ所望A−る形態に変換
することのできる光走査光学系’e ]’)%供するこ
吉である。 土配第1の目的口、特許請求の範囲第1項に記載の構成
によって達成はね、第2の目的は同第3項に記載の構成
によって達成プnる。 以下、不発明の有利庁実施例ケ説明する。 第1図は、不発明に係る光走査光学系ケ、レーザプリン
タに用いた具体例ケ示す模式図であり、本発明の理解の
kめ、先ず第1図に示す構成の概略ケその作用と共に説
明する。 第1図において、成る広がり角ケモって半導体レーザ1
から放射芒j女レーザビーム1.け、結合レンズ2によ
って平行なレーザビームLにを力、次いでプリズム3か
ら成る第1の光束形状変換手段と、スリット4ケ有する
第2の光束形状変換手段とケ通過し1、その際、後述す
る態様でレーザビームの横断面形態が変換gflる。上
記スリット4け、2つの板状遮光部材5によって区画形
成でれているが、この遮光部材5ケスリツzr有する1
つの部片によって構成してもよいことは当然である。ス
リット4′(I−通過し女平行レーザビームT−は、回
転多面鏡6から成る光偏向装置及びf・θレンズ7ケ介
し、て、走査面、即ち本例では感光体ドラム8の表面に
入射1−る。回転多面鏡6け、公知の如く複数のミラー
91t有し、L7かも第1図における反時計方間に回転
駆動−Jflるkめ、この回転に伴って、レーザビーム
Lは感光体ドラム8の表面ケ矢印Aで示す方向に主走査
し、半導体レーザ]に入力はれる 情報信号に応じて、
ドラム8)Iに画素から成る画像ケ形成する。その際の
走査線ケ第1図に符号X?、伺して示す。 上述の如き主走査が回転多面鏡6の回転に伴いその各ミ
ラー毎に順次行なわカ、シ、かも感光体ドラム8が副走
査方向にli″i1転駆動ζ檜るので、該ドラム8の表
面にしY所定の=次元的り両像が形5y、妊ハる。尚、
f・θレンズ7け、公知の如く回転多面鏡で偏量σn*
し〜ザビームケ、感光体ドラム8の表面に結像は一伊る
と共に、レーザビームケトラム表面にて等速で走査をせ
る用?なす。 上述の如く、レーザビームL H成る広かり角?もって
半導体レーザビームするが、この状態ケ第2図に模式的
に示す。第2図は、半導体レーザ1の一例と1〜て、異
種物質のn形半導体とn形半導体とケ接合1−2にへテ
ロ接合型半導体し下ザケ示し7、その半導体接合面]0
の活性領域からレーザビームLが放射ζ力でいる。この
場合、半導体レーザ1の半導体接合面10に平行な方向
(後述国−るX軸方向)におけるレーザビームLの広が
り角ω、ト、該接合面に対し垂直々方向(後述するV軸
方向)におけるレーザビームLの広がり角ω2とは等し
くなく、必ずω2〉ω1の関係が保にわる。従って、こ
のレーザビームLの横断面形状は円形とけならず必ず楕
円形となる。尚、不明細書に言うレーザビームの断面形
態は、レーザビームの横断面における光強度分布がガウ
ス分布ケなり、ているものと仮定(eld自然対数の底
)の光強度ケもつ位置で考えた断面形態である。第3図
けこカケ説明するグラフであり、半導体レーザから出射
するレーザビームの広がり角ケ横軸にとり、このビーム
の光強度ケ縦軸にとったものfある。第3図における実
線Aが接合面10に対し、垂直な方向に広がるレーザビ
ームの光強度分布?、そして破線Bが接合面に対して平
行な方向に広がるレーザビームの光強度分布ケ示り、て
いる。このように半導体レーザから出射するレーザビー
ムの横断面は楕円形?なしているため、もしもこね?整
形せずに感−光体ドラム8へ導びいkとすね、げ、該ド
ラムの表面ケ照射しにレーザビームのビームスポット形
態も、半導体レーザから放射をれにレーザビームの形態
に対応【−1た楕円形7a−3−d−ことになる。とこ
ろがドラム8の表面に、かかる形態のスポットケ結像さ
せることは一般に不適尚であり、半導体レーザ1がら放
射を力にレーザビームの断面形態ケ所望する形態に変換
シ2、ないしは整形する必要がある。 子連した必要性から既述のプリズム3と、遮光部材5に
」:り区画ζね、にスリット4とが用いらηる。以下に
その具体的な構成と、その作用ケ詳細に説明する。 先ず、説明の便宜上第2図に示すように、半導体レーザ
1のレーザビーム出射面、即ち第2図における半導体レ
ーザ右側面】00での接合面1o方回ケπ軸と(7、接
合面10に垂直な方間’ry軸とすると共に、Z il
’ll+と11軸とに垂直外方向、即ちレーザビームの
主九線の方向i g n’l11と定める。そして第1
図に示4−ように、レーザビームが結合レンズ2、プリ
ズム3及びスリット4ケそηぞゎ出射し、に位置I 、
IT 、 111、及び感光体ドラム8の表面ダレ−
ザビームが照射した位置1■においても、」二記′x3
/z軸にそ名、ぞれ光学的に対応はせて、Z’jlZ軸
ケ定める。この場合、各位置1乃至1■におけるxyz
軸方軸方あくまでも光学的に対応させkものであって、
各位置でのxyz軸方軸方、必ずしも空間的に一致する
ものでないことは第1図からも明らかである。このよう
に方向ケ定めると、第2図?参照して先に説明したとこ
ろから明らかなように、結合レンズ2全射出したレーザ
ビームLの横断面、即ち第1図のIの位置におけるビー
ム横断面は、第4図(1)の如く表わすことができ、こ
のレーザビームの横断面は、X軸方向に小さな幅a(矧
軸) k 、y軸方向に大なる幅b(長1111 )
k有する楕円形となっている。また1本実施例において
は、感光体ドラム8の表面に結像はねるビームスポット
の形状ケ、第4図mMVC示す如く、主走査方向(即ち
X軸方向)に短軸ケ有し一1副走査方回(即ちv軸方向
)に長軸ケ有する楕円形に形成する場合について考える
ことにする。かかる形状のビームスポットで走査7行な
うと、七ね自体公知な如く、高分解能な記録ケ為し、得
るからである(これけレーザプリンタだけで々く読取装
置においても同様である)。 ところで一般に、f・θレンズへ入射するレーザビーム
の径と、このレーザビーム出射面ねり走査面(即ち第1
図の例では感光体ドラム表面)における結像ビーノ・□
スポットの径とが反比例の関係ケ有していることはよく
知ら力でいる。例えばf・θレンズへ、直径φなる円形
横断面のレーザビームか入射(5、これが走査面に直径
dなるビームスポットとして結像gt1*とすると、 なる関係ケ満* −d−(但L、kけ係数、fけf・θ
レンスノ焦点距離、λけレーザビームの波長−vある)
。 従って感光体ドラノ・表面におけるビームスポットの形
態ケ上述の如き楕円形(第4図IM )にするには、(
1)式から判るように、f・θレンズ7へ入射するレー
ザビームLの横断面形状ケ、第4図(社)又は(財)に
示す如く、X軸方向に長袖(幅a又はa′)ケ有1−%
y +1q11方回に短軸(幅C)ケ有するほぼ楕円
状の形にする必要がある(第4図(II)の楕円形さ第
4図IVIの楕円形は、その長軸と短軸とが逆になって
いる)。 そこで、第1図に示す実施例ではプリズムがレーザビー
ムの横断面の一方向の幅ケ変換できることケ利用L5て
、プリズム3により、第4図(1)に示すレーザビーム
横断面のX軸方向の幅l]だけケ縮少し、プリズム3ヶ
出射しにレーザビーム横断面ケ、第4図(II)に□示
1−如く、x 11n方回に長軸(幅a)ケ有し、11
軸方向に短軸(幅C)ケ有する楕円形に整形するように
構5y、G nでいる(e<b)。プリズム3によりレ
ーザビームの横断面ケこのように変換できるようにする
には、例えば次のようにプリズム3の位置7足めればよ
い。即ち、レーザビームLが入射するプリズム屈折面(
入射面)11す如く、直角ケなしている場付には、この
側面J3が、I又け■1の位置でのxyz軸ケ基準とし
て、yg平面に対し平行と々るようにプリズム3紮配置
する。その際、断面形状変換前と後とにおける一ザビー
ムの主−+1線T、+cとの交点14ケ中心古シ、て(
勿論、他の位置でもよい)、プリズム3の側面】3と平
行力平面(yz平面)内で、プリズム3ヶ回転式せ、プ
リズノ、3へのレーザビームの入射角ケ変えることによ
って所望する太きをに適宜設定することができる。従っ
て、プリズム3ケ上記の如く適宜回転1−ることにより
、最終的なビームスボッl−(m4図(〜す)のvII
Illl方回の幅C″方向所望る大きさに定めることが
できる。即ち、プリズムケ射flj L、てf・θレン
ズに入射1−るレーザビーム径と、感光体ドラムl’T
のビーノ、スポット径とけ、既述の如り(1)式に示す
関係ケイイし、ているので、プリズム屈折面するレーザ
ビーム横断面のV軸方向の幅Cヶ調整すわば、X軸方向
に所望する太きての幅C″ケ持穴感光体ドラム状のビー
ムスポットケ得ることができる訳である。このようにし
て、感光体ドラム上のビームスポットのy軸方同幅C″
?、容易に所定の大食さに定めることができる。 まにル−ザビームの広がり角ω2の犬@では、個々の半
導体レーザによって多少ばらつくが、プリズム3ケ上記
の如く回転A−ることによって、最終的なビームスポッ
トの?/軸軸方の幅C// の犬@ζ?調整することが
でき、角度ω2のばらつきに対しても、支障なく対処す
ることができる。 次に感光体ドラム上でのビームスポットのX軸方向の幅
の定め方について考えると、プリズム3ケ串射1−7k
レーザビームLのπ軸方同幅aは、−プリズム3へ入射
する前の幅aと何ら変らない(第4図fl) 、 (I
I) )。プリズム3はレーザビーム幅yy軸方回にの
み縮少する働きケなすに留するからでるる。この場合、
半導体レーザ1から放射さ力5るレーザビームLOX軸
方回の広がり角ω1が一定しているとすれば、X軸方向
に所定の幅a″ケ持ビームスポットが得られるように、
結合レンズ2ケ構成するだけで、ビームスボッzr−第
4図■に示す如き形態にすることができる。ところが、
半導体レーザ1から放射1f’lるレーザビームLの広
がり角ω1も、半導体レーザによって僅かにばらつき、
広がり角ω1が一定り−でいないのが普通である。 このkめ、図示り、に構成においては、既述のスリット
4に」:つて、プリズム3ケ射出【−1にレーザビーム
横断面のX軸方向における端の一部ケ、必要に応じて僅
かにカッ1−1−、、こわケ第4図ITIに示す如く整
形するようにしている。こノ1によって、感光体ドラム
8土には所定の形状のビームスポットか得らねる(第4
図(1v)。尚、スリット4け、レーザビームLの横断
面y7x軸方回にのみ絞り得るように、X軸方向に平行
な方間に位置しているこ吉は当然である。またスリット
4の幅wi調整できるように、遮光部材5ケ移動可能に
配置することが有利である。 ところで上述の如くして光束形状変換ケ行なう際、一般
に、プリズムケ用いてこ47行がえば、一部の元がプリ
ズムに吸収−Jflるとし、てもその大部分の光は有効
に利用できるので、光束形状変換時における光の損失は
非常に小はく、その反面、スリツtl+−用いてレーザ
ビーム横断面の幅ケ縮めると、その際にカットさ力に光
は全く無駄となり、従ってその介の損失はかなり太きい
と言える。その点、図示14本発明に係る構成において
は、半導体レーザ1から出射したし〜ザビーム■」の横
断面は、その広幅方間(y軸方口)ケ、プリズム3によ
つt縮少ζ力、かく縮少式η女し−ザビーム横断面の極
く一部だけがスリット4によって縮少ζ力るようになっ
ており、換言すれば、大幅に縮少を力るべきレーザビー
ム横断面の幅が、プリズム3によって実質的に光の損失
ケ伴うことなく縮少ζね、最終的に一部の幅のみケ縮少
するときにはスリット4が使用σれ、その結果、元の損
失は大幅に抑制ζわる。逆vrCも1.も、第4図(1
)におけるxiI¥11方回の小なる幅arプリズムに
よって縮少し、y軸方口の大きな幅l)ケスリットでカ
ットして縮少1−るように1−* 、!: −=l−n
ば、うしの損失は大きくならざるケ得ない。 いす力にしても、半導体レーザから放射は力5るレーザ
ビームの大きな広がり?持つ幅に、プリズムによって縮
少するという、本発明による構成に」二つて、光の損失
ケ有効に抑え、光ケ効果的に利用することかできる。尚
、X軸方口の幅の縮少も、図示し2でいない他のプリズ
ムケ用いて行なえは、光の損失ケ一層低軽減でき、その
意味では有利であると言える。ところがこのようにする
と全体で2つのプリズムケ使用することになり、その構
成が複雑且つ高価と々るだけでなく、各プリズムの位置
決めケ行なうことが大変面倒上々る欠点ケ免fI々い。 その点、図示しに構成の如く、1つのプ1)ズムにより
レーザビーム横断面の幅ケ大きく縮少すべきところでは
プリズムケ、この横断面ケ僅かに縮少σせるだけでよい
ところにはスリット?用い力ば、大幅な光損失の発生ケ
防止し、つつ、光学系の構成ケ非常に簡単にすることか
でき、特に有利−1′ある。−手1ζ、図示しに実施例
’Tは、感光体ドラム−にに第4図IMに示す如き楕円
形のビームスボッ) 7a−生せしめる場合について説
明したが、このビームスボットチ他の形態、例えば円形
等に形成1−るときにも、レーザビームの広幅方間の幅
を、プリズム3によって変換し、光損失ケ低減ζせるこ
とができること(d当然であり、またスリット等ケ用い
ずに、1つのプリズムだけでビーム形状の整形ケ行なう
ように(−7穴場合も同様である。 ところで、先に説明しに光偏向装置としては、第1図に
示り、7ζ回転多面鏡以外に、カルバノミラー、音響光
学変換素子(所謂A、 0素子)又はホログラムスキャ
ナ等全適宜用いることができるが、その際反射面(例え
ばミラー)ケ有する光偏向装置(例えば、回転多面鏡又
はガルバノミラ−)ケ用いkときには、第1図に示すよ
うに、半導体レーザ1のレーザビーム出射面100にお
ける半導体接合面方間と、感光体ドラノ、における主走
査方間と4、光学的に一致σせ、共にX軸方口とするこ
とが有利である。そこでこれについて、光信同装置とし
て回転多面鏡ケ用い友第1図の構成に則して、以下に詳
細に説明シ、」:う。 一般に成る反射面に/lが入射したとき、その複素屈折
率kn−’jkとすると、反射面に平行な成分の反射率
Rpと、垂直な成分の反射率Rsi、次式で表わすこと
ができる。 (但(、θけ入射角である) 反射面が例えば、アルミ蒸着面であるとすると、n=3
.9.1c=7.0と々す、こ力ら?(2) 、 (3
)式に代入して、入射角θに対する反射率R,p’、R
s ’rグラフで示すと、第6図の如く々る。従って、
第1図に示す回転多面鏡6の各ミラー9かアルミ蒸着面
であるとすると、第6図に示す反射率でレーザビームが
各ミラーヶ反射することになる。 一方、回転多面鏡6は回転している反面、こjに入射す
るレーザビームの位置は一定しているので、回転多面鏡
の各ミラーへ入射するレーザビームの入射角は時々刻々
変動する。この場合、この入射角の変化に伴って、各ミ
ラーでのレーザ光の反射率が変動したとすると、感光体
ドラム8上のレーザスポットの光量もこねに伴って変化
し1.1回の主走査中の光量が不均一となり、露光むら
が発生することになる。従ってミラー9への入射角が変
化しても、該ミラーにおける光の反射率が変化し、ない
ことが最も望ましい。かかる観点より、第6図に示す反
射率RpとRSS見見と、11.pは入射角θの変化に
伴ってかなり大きく変動しているのに対し、 、It、
sの変動は少なく、従ってレーザビームが1118 の
反射率ケもってミラー9にて反射すれば有利であると言
える。例えば、f・θレンズ7の焦点距離k 271
、6 mmとし、このレンズ7r用いて、230鰭の長
この走査ケ行なう場合ケー例吉して考えると、このとき
のミラー9への入射角0は、45°?!−中央値として
32゜87°から57.13°の範囲となる。 かかる範囲における反射率1(pとRsとケW、ると、
入射角45°のときの1(、p?1.0とり、にとき、
1(1)は1.03乃至(1,95とな、す、その範囲
はかなり大キく、これに対しRs[0,98乃至]、0
2f、%つて、その範囲はかなり小さい。このことから
レーザビームp R,sの反射率で反射きせると有利で
あることが判る。一方、よく知らねでいるように半導体
レーザ1から出射てるレーザ光は、半導体接合面10に
対して平行な方向に偏光面ケ有する直線偏光声なってお
り、従つて半導体し〜ザ1のレーザビーム出射面100
における接合面1()方向と主走査方向Xとが光学的に
見て一致するように、回転多面鏡6と半導体レーザ1と
ケ位置決めすわば、レーザ光の偏光方向と、ミラー9に
おける反射面とケ垂直にすることができ、これによって
レーザビームLiR5の反射率で反射はせることができ
る。 上の例では−)L偏向装置とし、て回転多面鏡?用い、
その反射面ケアルミ蒸着面と1.7. JJA&の例ケ
示り。 女が、ガルバノミラ−から成る光偏向装置ケ用い1(す
、反射面ケアルミ蒸着面以外の反射面とじたときにも、
上述[1,に考えと全く同様な考えに従って、反射面に
おける反射率の変動ケ小さく留めるように構成1〜るこ
とができる。 以上、不発明の有利な実施例ケ説明したが、不発明け」
二記実施例に限定式わず各種改変することができる。例
えば、結合レンズでレーザビーム横断面にしてからこ7
1ケプリズムに入射させる代りに、先ずプリズムによっ
てレーザビーム?整形り7、次いでこi?結付会レンズ
よって平行光にすることも可能である。才女レーザビー
ムの光路中に、ビームコンプレッサ又はビームエクスパ
ンダケ介在させに光学系や、ベルト状ないし、けシート
状の感光体ケ有する光学系、或いは読取装置における光
学系等にも、本発明ケ有利に用いることができる。
第1図は不発明に係る光学系ケ用いにレーザプリンタの
一例ケ示す模式斜視図、第2図は半導体レーザから出射
するレーザビームの広がり状態ケ示す説明図、第3図は
レーザビームの広がり状態デ説明するグラフ、第4図は
第1図に示す各位置1、’[、m、TVにおけるレーザ
ビーム横断面の形態ケ示す説明図、第5図ばプリズムの
配置状態ケ説明する説明図、第6図は反射面における入
射角と反射率との関係ケ示すグラフでめる。 1・・・半導体レーザ 2・・・結合レンズ 3・・・プリズム 4・・・スリット 10 ・・・接合面 100・・・レーザビーム出射面 a、b、c・・・幅 L・・・レーザビーム 第2図 第3図 広カ(り泊 第4図 (I) (II) (I[) (V)手続補
正書(自発) 昭和57年12月15日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 1小件の表示 昭和56年特許願第1.45432号 2、発明の名称 光走査)L学系 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都太田区中馬込1丁目3番6号名称 (67
4)株式会社リコー 4代 理 人 〒105 住所 東京都港区西新橋1丁目9番9号中銀第5ビル3
階置(501)4887番(11明細書の特許請求の範
囲の欄 (2)明細書の発明の詳細な説明の欄 6補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙の通りに補正する。 (2)明細書第8頁2行乃至3行の1対応した」を1応
じた形の」と補正する。 (3)同第8頁下から4行及び第12頁4行の[主2行
、11行、及び12行の1少」を1小」と捕る。 1− 別 紙 [2、特許請求の範囲 (1)介源としての半導体レーザと、該半導体レーザか
らのレーザビームをほぼ平行にするための結合レンズと
、レーザビームの横断面形状を変換するためのプリズム
と、レーザビー1、?:偏向するための偏向装置と、偏
向きれたレーザビーム・全集束させて走査面へ導ひく結
像レンズとを具備する光走査光学系において、半導体レ
ーザにおける半導体接合面に対し、光学的に見てほぼ直
角な方向のレーザビーム幅を前記プリズムによって変換
することを特徴とする前記光走査光学系。 (2)偏向装置として反射面を含む装置を使用し、半導
体レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方
向と、走査面における主走査方向とを、光学的にほぼ一
致させた特許請求の範囲第1項に記載の光走査光学系。 (3)賞源としての半導体レーザと、該半導体レーザか
らのレーザビームをほぼ平行にするた 2− めの結合レンズと、レーザビームの横断面形状を変換す
るためのプリズムと、レーザビームを偏向するための偏
向装置と、偏向きれたレーザビームを集束させて走査面
へ導ひく結像レンズとを具備する光走査光学系において
、半導体レーザにおける半導体接合面に対し、光学的に
見てほぼ直角な方向のレーザビーム幅を前記プリズムに
よって変換すること、及び レーザビームの進行方向における結像レンズ以前の連取
に、スリットを有する光束形状変換手段を設け、半導体
レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方向
に対し、光学的に見てほぼ平行な方向のレーザビーム幅
を前記スリットによって変換することを特徴とする前記
光走査光学系。 (4)偏向装置として反射面を含む装置を使用し、半導
体レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方
向と、走査面における主走査方向とを、光学的にほぼ一
致させた特許請求の範囲部3項に記載の光走査光学系。 」−3− 417−
一例ケ示す模式斜視図、第2図は半導体レーザから出射
するレーザビームの広がり状態ケ示す説明図、第3図は
レーザビームの広がり状態デ説明するグラフ、第4図は
第1図に示す各位置1、’[、m、TVにおけるレーザ
ビーム横断面の形態ケ示す説明図、第5図ばプリズムの
配置状態ケ説明する説明図、第6図は反射面における入
射角と反射率との関係ケ示すグラフでめる。 1・・・半導体レーザ 2・・・結合レンズ 3・・・プリズム 4・・・スリット 10 ・・・接合面 100・・・レーザビーム出射面 a、b、c・・・幅 L・・・レーザビーム 第2図 第3図 広カ(り泊 第4図 (I) (II) (I[) (V)手続補
正書(自発) 昭和57年12月15日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 1小件の表示 昭和56年特許願第1.45432号 2、発明の名称 光走査)L学系 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都太田区中馬込1丁目3番6号名称 (67
4)株式会社リコー 4代 理 人 〒105 住所 東京都港区西新橋1丁目9番9号中銀第5ビル3
階置(501)4887番(11明細書の特許請求の範
囲の欄 (2)明細書の発明の詳細な説明の欄 6補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙の通りに補正する。 (2)明細書第8頁2行乃至3行の1対応した」を1応
じた形の」と補正する。 (3)同第8頁下から4行及び第12頁4行の[主2行
、11行、及び12行の1少」を1小」と捕る。 1− 別 紙 [2、特許請求の範囲 (1)介源としての半導体レーザと、該半導体レーザか
らのレーザビームをほぼ平行にするための結合レンズと
、レーザビームの横断面形状を変換するためのプリズム
と、レーザビー1、?:偏向するための偏向装置と、偏
向きれたレーザビーム・全集束させて走査面へ導ひく結
像レンズとを具備する光走査光学系において、半導体レ
ーザにおける半導体接合面に対し、光学的に見てほぼ直
角な方向のレーザビーム幅を前記プリズムによって変換
することを特徴とする前記光走査光学系。 (2)偏向装置として反射面を含む装置を使用し、半導
体レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方
向と、走査面における主走査方向とを、光学的にほぼ一
致させた特許請求の範囲第1項に記載の光走査光学系。 (3)賞源としての半導体レーザと、該半導体レーザか
らのレーザビームをほぼ平行にするた 2− めの結合レンズと、レーザビームの横断面形状を変換す
るためのプリズムと、レーザビームを偏向するための偏
向装置と、偏向きれたレーザビームを集束させて走査面
へ導ひく結像レンズとを具備する光走査光学系において
、半導体レーザにおける半導体接合面に対し、光学的に
見てほぼ直角な方向のレーザビーム幅を前記プリズムに
よって変換すること、及び レーザビームの進行方向における結像レンズ以前の連取
に、スリットを有する光束形状変換手段を設け、半導体
レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方向
に対し、光学的に見てほぼ平行な方向のレーザビーム幅
を前記スリットによって変換することを特徴とする前記
光走査光学系。 (4)偏向装置として反射面を含む装置を使用し、半導
体レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方
向と、走査面における主走査方向とを、光学的にほぼ一
致させた特許請求の範囲部3項に記載の光走査光学系。 」−3− 417−
Claims (4)
- (1)光源としての半導体レーザと、該半導体レーザか
らのレーザビームゲはぼ平行にするための結合レンズと
、レーザビームの横断面形状ケ変換するためのプリズム
と、レーザビーム全偏向するkめの偏向装置と、偏向き
れたレーザビームを集束1せて走査面へ導ひく結像レン
ズとケ含む光走査光学系において、半導体レーザにおけ
る半導体接合面に対し、光学的に見てほぼ直角な方向の
レーザビーム幅ケ前記プリズムによって変換することケ
特徴とする前記光走査光学系。 - (2)偏向装置として反射面ケ含む装置ケ使用し、半導
体レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方
回と、走査面における主走査方向と?、光学的にほぼ一
致はせた特許請求の範囲第1項に記載の光走査光学系。 - (3)光源とI5ての半導体レーザと、該半導体レーザ
からのレーザビームヶはぼ平行にするための結合レンズ
と、レーザビームの横断面形状ケ変換するためのプリズ
ムと、レーザビーム全偏向するための偏向装置と、偏向
ざゎにレーザビーム出射面プせて走査面へ導びく結像レ
ンズとケ含む)′t1走査光学系において、半導体レー
ザにおける半導体接合面に対し、光学的に見てほぼ直角
な方向のレーザビーム幅ケ前記プリズムによって変換す
ること、及び レーザビームの進行方間における結像レンズ以前の適所
に、スリンBr有する光束形状変換手段ケ設け、半導体
レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方間
に対し、光学的に見てほぼ平行な方向のレーザビーム幅
ケ前記スリットで絞ることにより、該幅の犬@芒ケ変換
することケ特徴とする前記光走査光学系。 - (4)偏向装置として反射面ケ含む装置ケ使用し、半導
体レーザのレーザビーム、出射面における半導体接合面
方向と、走査面における主走査方向りを、光学的にほぼ
一致をせに特許請求の範囲第3項に記載の光走査光学系
0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14543281A JPS5848076A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 光走査光学系 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14543281A JPS5848076A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 光走査光学系 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5848076A true JPS5848076A (ja) | 1983-03-19 |
JPH0261724B2 JPH0261724B2 (ja) | 1990-12-20 |
Family
ID=15385103
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14543281A Granted JPS5848076A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 光走査光学系 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5848076A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63300257A (ja) * | 1987-05-29 | 1988-12-07 | Minolta Camera Co Ltd | 2色プリンタ |
US6725662B2 (en) | 1999-12-08 | 2004-04-27 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Drive device |
US6953083B2 (en) | 2000-03-17 | 2005-10-11 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Condenser |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04136968U (ja) * | 1991-06-14 | 1992-12-21 | 三菱自動車工業株式会社 | 自動車用ドアシール装置 |
-
1981
- 1981-09-17 JP JP14543281A patent/JPS5848076A/ja active Granted
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63300257A (ja) * | 1987-05-29 | 1988-12-07 | Minolta Camera Co Ltd | 2色プリンタ |
US6725662B2 (en) | 1999-12-08 | 2004-04-27 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Drive device |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0261724B2 (ja) | 1990-12-20 |
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