JPS5848076A - 光走査光学系 - Google Patents

光走査光学系

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JPS5848076A
JPS5848076A JP14543281A JP14543281A JPS5848076A JP S5848076 A JPS5848076 A JP S5848076A JP 14543281 A JP14543281 A JP 14543281A JP 14543281 A JP14543281 A JP 14543281A JP S5848076 A JPS5848076 A JP S5848076A
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semiconductor
laser
prism
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Yukio Ogura
小椋 行夫
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Ricoh Co Ltd
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    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
不発明け、半導体レーザから放射を九にレーザビームに
より走査面全走査する光走査光学系に関する。 例えばレーザプリンタの如き光書込み装置、又はファク
シミl]における光読取装置等の光学装置において半導
体レーザヶ含む光走査光学系ケ用いることは従来より周
知である。この場合、半導体レーザから放射1九にレー
ザビームは、その横断面形状が楕円形ケな[7ており、
かかる横断面形態ケ有するレーザビームケその壕ま用い
ることが不適当であるときには、光束形状変換手段によ
ってレーザビームの横断面形状ケ所望する形態に変換し
、かく変換しにレーザビームケ所定の目的に使用するよ
うにしている。そしてこの光束形状変換手段としてプリ
ズムケ用いることも従来より公知である。kだ、従来の
この種光学系においては、光束形状変換手段と
【〜てプ
リズムケ用いkときに、半導体レーザからのレーザ元ケ
、いかに無駄なく効率的に利用し得るかについては特に
考慮が払わねていhい。 不発明け上記認識に基き々で力にものでセ)す、うt束
形状変換手段と1.てプリズムケ用い、しかもレーザ光
の利ffl効率ケ高めることの可能な光走査光学系ケ祈
供1−ること7その第1の目的とする。 不発明の第2の目的は、レーザ光の利用効率が大幅に低
下するようが不都合ケ伴うこと々く、簡単な構成によっ
て、レーザビームの横断面形状ケ所望A−る形態に変換
することのできる光走査光学系’e ]’)%供するこ
吉である。 土配第1の目的口、特許請求の範囲第1項に記載の構成
によって達成はね、第2の目的は同第3項に記載の構成
によって達成プnる。 以下、不発明の有利庁実施例ケ説明する。 第1図は、不発明に係る光走査光学系ケ、レーザプリン
タに用いた具体例ケ示す模式図であり、本発明の理解の
kめ、先ず第1図に示す構成の概略ケその作用と共に説
明する。 第1図において、成る広がり角ケモって半導体レーザ1
から放射芒j女レーザビーム1.け、結合レンズ2によ
って平行なレーザビームLにを力、次いでプリズム3か
ら成る第1の光束形状変換手段と、スリット4ケ有する
第2の光束形状変換手段とケ通過し1、その際、後述す
る態様でレーザビームの横断面形態が変換gflる。上
記スリット4け、2つの板状遮光部材5によって区画形
成でれているが、この遮光部材5ケスリツzr有する1
つの部片によって構成してもよいことは当然である。ス
リット4′(I−通過し女平行レーザビームT−は、回
転多面鏡6から成る光偏向装置及びf・θレンズ7ケ介
し、て、走査面、即ち本例では感光体ドラム8の表面に
入射1−る。回転多面鏡6け、公知の如く複数のミラー
91t有し、L7かも第1図における反時計方間に回転
駆動−Jflるkめ、この回転に伴って、レーザビーム
Lは感光体ドラム8の表面ケ矢印Aで示す方向に主走査
し、半導体レーザ]に入力はれる 情報信号に応じて、
ドラム8)Iに画素から成る画像ケ形成する。その際の
走査線ケ第1図に符号X?、伺して示す。 上述の如き主走査が回転多面鏡6の回転に伴いその各ミ
ラー毎に順次行なわカ、シ、かも感光体ドラム8が副走
査方向にli″i1転駆動ζ檜るので、該ドラム8の表
面にしY所定の=次元的り両像が形5y、妊ハる。尚、
f・θレンズ7け、公知の如く回転多面鏡で偏量σn*
し〜ザビームケ、感光体ドラム8の表面に結像は一伊る
と共に、レーザビームケトラム表面にて等速で走査をせ
る用?なす。 上述の如く、レーザビームL H成る広かり角?もって
半導体レーザビームするが、この状態ケ第2図に模式的
に示す。第2図は、半導体レーザ1の一例と1〜て、異
種物質のn形半導体とn形半導体とケ接合1−2にへテ
ロ接合型半導体し下ザケ示し7、その半導体接合面]0
の活性領域からレーザビームLが放射ζ力でいる。この
場合、半導体レーザ1の半導体接合面10に平行な方向
(後述国−るX軸方向)におけるレーザビームLの広が
り角ω、ト、該接合面に対し垂直々方向(後述するV軸
方向)におけるレーザビームLの広がり角ω2とは等し
くなく、必ずω2〉ω1の関係が保にわる。従って、こ
のレーザビームLの横断面形状は円形とけならず必ず楕
円形となる。尚、不明細書に言うレーザビームの断面形
態は、レーザビームの横断面における光強度分布がガウ
ス分布ケなり、ているものと仮定(eld自然対数の底
)の光強度ケもつ位置で考えた断面形態である。第3図
けこカケ説明するグラフであり、半導体レーザから出射
するレーザビームの広がり角ケ横軸にとり、このビーム
の光強度ケ縦軸にとったものfある。第3図における実
線Aが接合面10に対し、垂直な方向に広がるレーザビ
ームの光強度分布?、そして破線Bが接合面に対して平
行な方向に広がるレーザビームの光強度分布ケ示り、て
いる。このように半導体レーザから出射するレーザビー
ムの横断面は楕円形?なしているため、もしもこね?整
形せずに感−光体ドラム8へ導びいkとすね、げ、該ド
ラムの表面ケ照射しにレーザビームのビームスポット形
態も、半導体レーザから放射をれにレーザビームの形態
に対応【−1た楕円形7a−3−d−ことになる。とこ
ろがドラム8の表面に、かかる形態のスポットケ結像さ
せることは一般に不適尚であり、半導体レーザ1がら放
射を力にレーザビームの断面形態ケ所望する形態に変換
シ2、ないしは整形する必要がある。 子連した必要性から既述のプリズム3と、遮光部材5に
」:り区画ζね、にスリット4とが用いらηる。以下に
その具体的な構成と、その作用ケ詳細に説明する。 先ず、説明の便宜上第2図に示すように、半導体レーザ
1のレーザビーム出射面、即ち第2図における半導体レ
ーザ右側面】00での接合面1o方回ケπ軸と(7、接
合面10に垂直な方間’ry軸とすると共に、Z il
’ll+と11軸とに垂直外方向、即ちレーザビームの
主九線の方向i g n’l11と定める。そして第1
図に示4−ように、レーザビームが結合レンズ2、プリ
ズム3及びスリット4ケそηぞゎ出射し、に位置I 、
 IT 、 111、及び感光体ドラム8の表面ダレ−
ザビームが照射した位置1■においても、」二記′x3
/z軸にそ名、ぞれ光学的に対応はせて、Z’jlZ軸
ケ定める。この場合、各位置1乃至1■におけるxyz
軸方軸方あくまでも光学的に対応させkものであって、
各位置でのxyz軸方軸方、必ずしも空間的に一致する
ものでないことは第1図からも明らかである。このよう
に方向ケ定めると、第2図?参照して先に説明したとこ
ろから明らかなように、結合レンズ2全射出したレーザ
ビームLの横断面、即ち第1図のIの位置におけるビー
ム横断面は、第4図(1)の如く表わすことができ、こ
のレーザビームの横断面は、X軸方向に小さな幅a(矧
軸) k 、y軸方向に大なる幅b(長1111 ) 
k有する楕円形となっている。また1本実施例において
は、感光体ドラム8の表面に結像はねるビームスポット
の形状ケ、第4図mMVC示す如く、主走査方向(即ち
X軸方向)に短軸ケ有し一1副走査方回(即ちv軸方向
)に長軸ケ有する楕円形に形成する場合について考える
ことにする。かかる形状のビームスポットで走査7行な
うと、七ね自体公知な如く、高分解能な記録ケ為し、得
るからである(これけレーザプリンタだけで々く読取装
置においても同様である)。 ところで一般に、f・θレンズへ入射するレーザビーム
の径と、このレーザビーム出射面ねり走査面(即ち第1
図の例では感光体ドラム表面)における結像ビーノ・□
スポットの径とが反比例の関係ケ有していることはよく
知ら力でいる。例えばf・θレンズへ、直径φなる円形
横断面のレーザビームか入射(5、これが走査面に直径
dなるビームスポットとして結像gt1*とすると、 なる関係ケ満* −d−(但L、kけ係数、fけf・θ
レンスノ焦点距離、λけレーザビームの波長−vある)
。 従って感光体ドラノ・表面におけるビームスポットの形
態ケ上述の如き楕円形(第4図IM )にするには、(
1)式から判るように、f・θレンズ7へ入射するレー
ザビームLの横断面形状ケ、第4図(社)又は(財)に
示す如く、X軸方向に長袖(幅a又はa′)ケ有1−%
 y +1q11方回に短軸(幅C)ケ有するほぼ楕円
状の形にする必要がある(第4図(II)の楕円形さ第
4図IVIの楕円形は、その長軸と短軸とが逆になって
いる)。 そこで、第1図に示す実施例ではプリズムがレーザビー
ムの横断面の一方向の幅ケ変換できることケ利用L5て
、プリズム3により、第4図(1)に示すレーザビーム
横断面のX軸方向の幅l]だけケ縮少し、プリズム3ヶ
出射しにレーザビーム横断面ケ、第4図(II)に□示
1−如く、x 11n方回に長軸(幅a)ケ有し、11
軸方向に短軸(幅C)ケ有する楕円形に整形するように
構5y、G nでいる(e<b)。プリズム3によりレ
ーザビームの横断面ケこのように変換できるようにする
には、例えば次のようにプリズム3の位置7足めればよ
い。即ち、レーザビームLが入射するプリズム屈折面(
入射面)11す如く、直角ケなしている場付には、この
側面J3が、I又け■1の位置でのxyz軸ケ基準とし
て、yg平面に対し平行と々るようにプリズム3紮配置
する。その際、断面形状変換前と後とにおける一ザビー
ムの主−+1線T、+cとの交点14ケ中心古シ、て(
勿論、他の位置でもよい)、プリズム3の側面】3と平
行力平面(yz平面)内で、プリズム3ヶ回転式せ、プ
リズノ、3へのレーザビームの入射角ケ変えることによ
って所望する太きをに適宜設定することができる。従っ
て、プリズム3ケ上記の如く適宜回転1−ることにより
、最終的なビームスボッl−(m4図(〜す)のvII
Illl方回の幅C″方向所望る大きさに定めることが
できる。即ち、プリズムケ射flj L、てf・θレン
ズに入射1−るレーザビーム径と、感光体ドラムl’T
のビーノ、スポット径とけ、既述の如り(1)式に示す
関係ケイイし、ているので、プリズム屈折面するレーザ
ビーム横断面のV軸方向の幅Cヶ調整すわば、X軸方向
に所望する太きての幅C″ケ持穴感光体ドラム状のビー
ムスポットケ得ることができる訳である。このようにし
て、感光体ドラム上のビームスポットのy軸方同幅C″
?、容易に所定の大食さに定めることができる。 まにル−ザビームの広がり角ω2の犬@では、個々の半
導体レーザによって多少ばらつくが、プリズム3ケ上記
の如く回転A−ることによって、最終的なビームスポッ
トの?/軸軸方の幅C// の犬@ζ?調整することが
でき、角度ω2のばらつきに対しても、支障なく対処す
ることができる。 次に感光体ドラム上でのビームスポットのX軸方向の幅
の定め方について考えると、プリズム3ケ串射1−7k
レーザビームLのπ軸方同幅aは、−プリズム3へ入射
する前の幅aと何ら変らない(第4図fl) 、 (I
I) )。プリズム3はレーザビーム幅yy軸方回にの
み縮少する働きケなすに留するからでるる。この場合、
半導体レーザ1から放射さ力5るレーザビームLOX軸
方回の広がり角ω1が一定しているとすれば、X軸方向
に所定の幅a″ケ持ビームスポットが得られるように、
結合レンズ2ケ構成するだけで、ビームスボッzr−第
4図■に示す如き形態にすることができる。ところが、
半導体レーザ1から放射1f’lるレーザビームLの広
がり角ω1も、半導体レーザによって僅かにばらつき、
広がり角ω1が一定り−でいないのが普通である。 このkめ、図示り、に構成においては、既述のスリット
4に」:つて、プリズム3ケ射出【−1にレーザビーム
横断面のX軸方向における端の一部ケ、必要に応じて僅
かにカッ1−1−、、こわケ第4図ITIに示す如く整
形するようにしている。こノ1によって、感光体ドラム
8土には所定の形状のビームスポットか得らねる(第4
図(1v)。尚、スリット4け、レーザビームLの横断
面y7x軸方回にのみ絞り得るように、X軸方向に平行
な方間に位置しているこ吉は当然である。またスリット
4の幅wi調整できるように、遮光部材5ケ移動可能に
配置することが有利である。 ところで上述の如くして光束形状変換ケ行なう際、一般
に、プリズムケ用いてこ47行がえば、一部の元がプリ
ズムに吸収−Jflるとし、てもその大部分の光は有効
に利用できるので、光束形状変換時における光の損失は
非常に小はく、その反面、スリツtl+−用いてレーザ
ビーム横断面の幅ケ縮めると、その際にカットさ力に光
は全く無駄となり、従ってその介の損失はかなり太きい
と言える。その点、図示14本発明に係る構成において
は、半導体レーザ1から出射したし〜ザビーム■」の横
断面は、その広幅方間(y軸方口)ケ、プリズム3によ
つt縮少ζ力、かく縮少式η女し−ザビーム横断面の極
く一部だけがスリット4によって縮少ζ力るようになっ
ており、換言すれば、大幅に縮少を力るべきレーザビー
ム横断面の幅が、プリズム3によって実質的に光の損失
ケ伴うことなく縮少ζね、最終的に一部の幅のみケ縮少
するときにはスリット4が使用σれ、その結果、元の損
失は大幅に抑制ζわる。逆vrCも1.も、第4図(1
)におけるxiI¥11方回の小なる幅arプリズムに
よって縮少し、y軸方口の大きな幅l)ケスリットでカ
ットして縮少1−るように1−* 、!: −=l−n
ば、うしの損失は大きくならざるケ得ない。 いす力にしても、半導体レーザから放射は力5るレーザ
ビームの大きな広がり?持つ幅に、プリズムによって縮
少するという、本発明による構成に」二つて、光の損失
ケ有効に抑え、光ケ効果的に利用することかできる。尚
、X軸方口の幅の縮少も、図示し2でいない他のプリズ
ムケ用いて行なえは、光の損失ケ一層低軽減でき、その
意味では有利であると言える。ところがこのようにする
と全体で2つのプリズムケ使用することになり、その構
成が複雑且つ高価と々るだけでなく、各プリズムの位置
決めケ行なうことが大変面倒上々る欠点ケ免fI々い。 その点、図示しに構成の如く、1つのプ1)ズムにより
レーザビーム横断面の幅ケ大きく縮少すべきところでは
プリズムケ、この横断面ケ僅かに縮少σせるだけでよい
ところにはスリット?用い力ば、大幅な光損失の発生ケ
防止し、つつ、光学系の構成ケ非常に簡単にすることか
でき、特に有利−1′ある。−手1ζ、図示しに実施例
’Tは、感光体ドラム−にに第4図IMに示す如き楕円
形のビームスボッ) 7a−生せしめる場合について説
明したが、このビームスボットチ他の形態、例えば円形
等に形成1−るときにも、レーザビームの広幅方間の幅
を、プリズム3によって変換し、光損失ケ低減ζせるこ
とができること(d当然であり、またスリット等ケ用い
ずに、1つのプリズムだけでビーム形状の整形ケ行なう
ように(−7穴場合も同様である。 ところで、先に説明しに光偏向装置としては、第1図に
示り、7ζ回転多面鏡以外に、カルバノミラー、音響光
学変換素子(所謂A、 0素子)又はホログラムスキャ
ナ等全適宜用いることができるが、その際反射面(例え
ばミラー)ケ有する光偏向装置(例えば、回転多面鏡又
はガルバノミラ−)ケ用いkときには、第1図に示すよ
うに、半導体レーザ1のレーザビーム出射面100にお
ける半導体接合面方間と、感光体ドラノ、における主走
査方間と4、光学的に一致σせ、共にX軸方口とするこ
とが有利である。そこでこれについて、光信同装置とし
て回転多面鏡ケ用い友第1図の構成に則して、以下に詳
細に説明シ、」:う。 一般に成る反射面に/lが入射したとき、その複素屈折
率kn−’jkとすると、反射面に平行な成分の反射率
Rpと、垂直な成分の反射率Rsi、次式で表わすこと
ができる。 (但(、θけ入射角である) 反射面が例えば、アルミ蒸着面であるとすると、n=3
.9.1c=7.0と々す、こ力ら?(2) 、 (3
)式に代入して、入射角θに対する反射率R,p’、R
s ’rグラフで示すと、第6図の如く々る。従って、
第1図に示す回転多面鏡6の各ミラー9かアルミ蒸着面
であるとすると、第6図に示す反射率でレーザビームが
各ミラーヶ反射することになる。 一方、回転多面鏡6は回転している反面、こjに入射す
るレーザビームの位置は一定しているので、回転多面鏡
の各ミラーへ入射するレーザビームの入射角は時々刻々
変動する。この場合、この入射角の変化に伴って、各ミ
ラーでのレーザ光の反射率が変動したとすると、感光体
ドラム8上のレーザスポットの光量もこねに伴って変化
し1.1回の主走査中の光量が不均一となり、露光むら
が発生することになる。従ってミラー9への入射角が変
化しても、該ミラーにおける光の反射率が変化し、ない
ことが最も望ましい。かかる観点より、第6図に示す反
射率RpとRSS見見と、11.pは入射角θの変化に
伴ってかなり大きく変動しているのに対し、 、It、
sの変動は少なく、従ってレーザビームが1118 の
反射率ケもってミラー9にて反射すれば有利であると言
える。例えば、f・θレンズ7の焦点距離k 271 
、6 mmとし、このレンズ7r用いて、230鰭の長
この走査ケ行なう場合ケー例吉して考えると、このとき
のミラー9への入射角0は、45°?!−中央値として
32゜87°から57.13°の範囲となる。 かかる範囲における反射率1(pとRsとケW、ると、
入射角45°のときの1(、p?1.0とり、にとき、
1(1)は1.03乃至(1,95とな、す、その範囲
はかなり大キく、これに対しRs[0,98乃至]、0
2f、%つて、その範囲はかなり小さい。このことから
レーザビームp R,sの反射率で反射きせると有利で
あることが判る。一方、よく知らねでいるように半導体
レーザ1から出射てるレーザ光は、半導体接合面10に
対して平行な方向に偏光面ケ有する直線偏光声なってお
り、従つて半導体し〜ザ1のレーザビーム出射面100
における接合面1()方向と主走査方向Xとが光学的に
見て一致するように、回転多面鏡6と半導体レーザ1と
ケ位置決めすわば、レーザ光の偏光方向と、ミラー9に
おける反射面とケ垂直にすることができ、これによって
レーザビームLiR5の反射率で反射はせることができ
る。 上の例では−)L偏向装置とし、て回転多面鏡?用い、
その反射面ケアルミ蒸着面と1.7. JJA&の例ケ
示り。 女が、ガルバノミラ−から成る光偏向装置ケ用い1(す
、反射面ケアルミ蒸着面以外の反射面とじたときにも、
上述[1,に考えと全く同様な考えに従って、反射面に
おける反射率の変動ケ小さく留めるように構成1〜るこ
とができる。 以上、不発明の有利な実施例ケ説明したが、不発明け」
二記実施例に限定式わず各種改変することができる。例
えば、結合レンズでレーザビーム横断面にしてからこ7
1ケプリズムに入射させる代りに、先ずプリズムによっ
てレーザビーム?整形り7、次いでこi?結付会レンズ
よって平行光にすることも可能である。才女レーザビー
ムの光路中に、ビームコンプレッサ又はビームエクスパ
ンダケ介在させに光学系や、ベルト状ないし、けシート
状の感光体ケ有する光学系、或いは読取装置における光
学系等にも、本発明ケ有利に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は不発明に係る光学系ケ用いにレーザプリンタの
一例ケ示す模式斜視図、第2図は半導体レーザから出射
するレーザビームの広がり状態ケ示す説明図、第3図は
レーザビームの広がり状態デ説明するグラフ、第4図は
第1図に示す各位置1、’[、m、TVにおけるレーザ
ビーム横断面の形態ケ示す説明図、第5図ばプリズムの
配置状態ケ説明する説明図、第6図は反射面における入
射角と反射率との関係ケ示すグラフでめる。 1・・・半導体レーザ 2・・・結合レンズ 3・・・プリズム 4・・・スリット 10  ・・・接合面 100・・・レーザビーム出射面 a、b、c・・・幅 L・・・レーザビーム 第2図 第3図 広カ(り泊 第4図 (I)   (II)  (I[)   (V)手続補
正書(自発) 昭和57年12月15日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 1小件の表示 昭和56年特許願第1.45432号 2、発明の名称 光走査)L学系 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 住所 東京都太田区中馬込1丁目3番6号名称 (67
4)株式会社リコー 4代 理 人  〒105 住所 東京都港区西新橋1丁目9番9号中銀第5ビル3
階置(501)4887番(11明細書の特許請求の範
囲の欄 (2)明細書の発明の詳細な説明の欄 6補正の内容 (1)特許請求の範囲を別紙の通りに補正する。 (2)明細書第8頁2行乃至3行の1対応した」を1応
じた形の」と補正する。 (3)同第8頁下から4行及び第12頁4行の[主2行
、11行、及び12行の1少」を1小」と捕る。 1− 別  紙 [2、特許請求の範囲 (1)介源としての半導体レーザと、該半導体レーザか
らのレーザビームをほぼ平行にするための結合レンズと
、レーザビームの横断面形状を変換するためのプリズム
と、レーザビー1、?:偏向するための偏向装置と、偏
向きれたレーザビーム・全集束させて走査面へ導ひく結
像レンズとを具備する光走査光学系において、半導体レ
ーザにおける半導体接合面に対し、光学的に見てほぼ直
角な方向のレーザビーム幅を前記プリズムによって変換
することを特徴とする前記光走査光学系。 (2)偏向装置として反射面を含む装置を使用し、半導
体レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方
向と、走査面における主走査方向とを、光学的にほぼ一
致させた特許請求の範囲第1項に記載の光走査光学系。 (3)賞源としての半導体レーザと、該半導体レーザか
らのレーザビームをほぼ平行にするた 2− めの結合レンズと、レーザビームの横断面形状を変換す
るためのプリズムと、レーザビームを偏向するための偏
向装置と、偏向きれたレーザビームを集束させて走査面
へ導ひく結像レンズとを具備する光走査光学系において
、半導体レーザにおける半導体接合面に対し、光学的に
見てほぼ直角な方向のレーザビーム幅を前記プリズムに
よって変換すること、及び レーザビームの進行方向における結像レンズ以前の連取
に、スリットを有する光束形状変換手段を設け、半導体
レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方向
に対し、光学的に見てほぼ平行な方向のレーザビーム幅
を前記スリットによって変換することを特徴とする前記
光走査光学系。 (4)偏向装置として反射面を含む装置を使用し、半導
体レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方
向と、走査面における主走査方向とを、光学的にほぼ一
致させた特許請求の範囲部3項に記載の光走査光学系。 」−3− 417−

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源としての半導体レーザと、該半導体レーザか
    らのレーザビームゲはぼ平行にするための結合レンズと
    、レーザビームの横断面形状ケ変換するためのプリズム
    と、レーザビーム全偏向するkめの偏向装置と、偏向き
    れたレーザビームを集束1せて走査面へ導ひく結像レン
    ズとケ含む光走査光学系において、半導体レーザにおけ
    る半導体接合面に対し、光学的に見てほぼ直角な方向の
    レーザビーム幅ケ前記プリズムによって変換することケ
    特徴とする前記光走査光学系。
  2. (2)偏向装置として反射面ケ含む装置ケ使用し、半導
    体レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方
    回と、走査面における主走査方向と?、光学的にほぼ一
    致はせた特許請求の範囲第1項に記載の光走査光学系。
  3. (3)光源とI5ての半導体レーザと、該半導体レーザ
    からのレーザビームヶはぼ平行にするための結合レンズ
    と、レーザビームの横断面形状ケ変換するためのプリズ
    ムと、レーザビーム全偏向するための偏向装置と、偏向
    ざゎにレーザビーム出射面プせて走査面へ導びく結像レ
    ンズとケ含む)′t1走査光学系において、半導体レー
    ザにおける半導体接合面に対し、光学的に見てほぼ直角
    な方向のレーザビーム幅ケ前記プリズムによって変換す
    ること、及び レーザビームの進行方間における結像レンズ以前の適所
    に、スリンBr有する光束形状変換手段ケ設け、半導体
    レーザのレーザビーム出射面における半導体接合面方間
    に対し、光学的に見てほぼ平行な方向のレーザビーム幅
    ケ前記スリットで絞ることにより、該幅の犬@芒ケ変換
    することケ特徴とする前記光走査光学系。
  4. (4)偏向装置として反射面ケ含む装置ケ使用し、半導
    体レーザのレーザビーム、出射面における半導体接合面
    方向と、走査面における主走査方向りを、光学的にほぼ
    一致をせに特許請求の範囲第3項に記載の光走査光学系
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