JPS5847270A - 計数装置 - Google Patents

計数装置

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JPS5847270A
JPS5847270A JP14504181A JP14504181A JPS5847270A JP S5847270 A JPS5847270 A JP S5847270A JP 14504181 A JP14504181 A JP 14504181A JP 14504181 A JP14504181 A JP 14504181A JP S5847270 A JPS5847270 A JP S5847270A
Authority
JP
Japan
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frequency
circuit
division ratio
frequency division
gate
Prior art date
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Pending
Application number
JP14504181A
Other languages
English (en)
Inventor
Sadaji Komiyama
小見山 貞治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP14504181A priority Critical patent/JPS5847270A/ja
Publication of JPS5847270A publication Critical patent/JPS5847270A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/02Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
    • G01R23/10Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into a train of pulses, which are then counted, i.e. converting the signal into a square wave

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、計数装置、特に被測定入力信号の周期をゲー
トにして基準信号のノ々ルス数をカウントし、それを表
示するいわゆるレジゾロカル方式の計数装置において、
被測定入力信号の周波数に対応して上記ゲートの開放し
ている時間を制御することにより、被測定入力信号の周
波数の如何をとわず予め設定され几所望の単位(桁)ま
で分解能が自動的に得られる計数装置に関するものであ
る。
従来のレシプロカル方式の計数装置は被測定入力信号の
周期をゲートに用いて基準信号の・ξルス数をカウント
し、被測定入力信号の周期測定から演算により周波数を
表示させているため、例えば被測定入力信号の周波数が
IKHzでは1000.000Hzの如(mHz″I!
での分解能を有するのに対し、被測定入力信号の周波数
がIMHzでは1000000HzのようにI Hzま
での分解能しかなく、被測定入力信号の周波数によって
読み取れる分解能が変化する欠点があった。
これは被測定入力信号の周波数と無関係に、時間測定で
の分解能が常に一定であることに起因している。従がっ
てI M K Hzを1KHzと同じ1m1−1z分解
能で読み取りたい場合には、測定者が被測定入力信号の
周波数に対応して測定周期数を1000倍にしてゲート
を開き、基準信号のパルス数をカウントさせるような操
作を必要とし、使い難く、また被測定入力信号の周波数
が変化する毎に測定周期の倍率を気にしなければならず
、面倒でわずられしい操作を必要とする欠点があった。
本発明は上記の欠点を解決することを目的としており、
被測定入力信号の周波数に対応させて測定の周期数、即
ち基本信号のノソルスを通過させるゲートの開放してい
る時間を制御することによって、計数装置に入力される
被測定入力信号の周波数の如何にかかわらず、予め設定
された所望の単位(桁)まで自動的に分解能が得られる
計数装置を提供することを目的としている。そしてその
ため本発明の計数装置はゲート回路に入力された被測定
入力信号の周期をゲートにして基準信号のパルス数を計
数回路でカウントする計数装置xt、vcおいて、被測
定入力信号を分周し、分周された被測定信号を上記ゲー
ト回路に入力させる分周回路と、設定された所望の分解
能とイニシャル周期における計数回路のカウント値とか
ら上記分周回路Vこ対しその分周比を指定する分周比選
定回路と、該分周比選定回路から出力さ扛る上記分周比
と計数周期における計数回路のカウント値とから被測定
入力信号の周波数を計算する演算器とを備え、被測定入
力信号の周波数の如何をとわず予め設定さ扛た所望の単
位(桁)まで分解能を有するようにしたことを特徴とし
ている。以下図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明に係る計数装置の一実施例構成、第2図
は基準信号に対するゲートのかけ方を説明する説明図、
第3図は第1図の動作サイクルを説明するフローチャー
トを示している。
第1図において、符号1は分周回路、2はアンドゲート
、3はテーブル、4は計数回路、5は演算器、6は表示
器をそれぞれ表わしている。
分周回路1は計数回路4からの信号により、イニシャル
周期(後で説明する) VCおける分局比の値と、テー
ブル3から出力される計数周期(後で説明する)におけ
る分局比の値にそれぞn設定される可変分周回路であり
、その時設定された分局比で被測定入力信号を分周する
回路である。
テーブル3はイニシャル周期における計数回路40カウ
ント値と設定された所望の分解能とによって一定の成る
分局比を分周回路1に与えるべき各係数値が格納された
メモリである。
計数回路4はアンドゲート2から出力される基準信号の
パルス数をカウントすると共に、当該計数回路4が所定
の数り以上のパルス数をカウントしたとき分周回路1の
分局比をイニシャル周期における分周比に設定させる信
号を出力するものである。
演算器5は基準信号の周波数f。と分周回路1vCセツ
トされ被測定入力信号が分周された分局比Nとの積Nf
oを、計数回路4でカウントされたカウント値にで割っ
たNfn/Kを演算し、被測定入力信号の周波数を求め
る回路である。
第1図図示の如く構成された本発明の計数装置の動作を
第2図の基準信号に対するゲートのかけ方を説明する説
明図を用いて次に説明する。
第2図に示すように測定の1サイクルはイニシャル周期
Toと計数周期T、とから成立している。イニシャル周
期T、においては分周回路1の分局比は例えば1にセッ
トされ、そして被測定入力信号の周期について1周期成
いは数周期定まった周期の時間だけアンドゲート2のゲ
ートを開かせる。これによって計数回路4は基準信号の
パルス数をカウントする。このカウント値をもって計数
回路4はテーブル3を参照する。測定者は測定する前に
所望の単位(桁)までの分解能を予め設定しているから
、この分解能設定値と上記計数回路4がカウントしたカ
ウント値とに対応した分周比Nがテーブル3から選び出
され、分周回路1の分周比をNにセットさせる。このよ
うにしてアンドゲート2へのゲート時間を制御する。
次の計数周期T1では分周回路1から出力される周波数
f+/ N (被測定入力信号の周波数をflとしてい
る)がアンドゲート2に入力され、そして周波数f。の
基準信号のノぐルスが当該アンドゲート2に加えられて
いるから、該アンドゲート2はに=Nfo/f+のパル
スが出力される。計数回路4はこのパルス数Kを数え演
算器5に送り込む。演算器5にはテーブル3から分周回
路1に対し情報として送出した上記分周比Nが入力され
ており、この分周比Nと計数回路4から送られてき友上
記カウント値にとから、次に示す演算を実行する。
Nf。
F=−−・・−・・・・・・・・・・・・(1)ここで
KはK = Nfo/ft  であるから式(1)に代
入すると となり、被測定信号の周波数f、が測定されることにな
る。
式(2)から明らかなように被測定信号の周波数ftの
桁数は式(2)の右辺Nfo/にの桁に相当する。従が
って被測定信号の周波数f、の分解能はN fa / 
Kの分解能と同一となるから、分周比Nを大きくとるこ
とによって、即ちアンドゲート2のゲート開放時間を長
くすることによってアンドゲート2から出力されるパル
スのカウント値Kを大きな値にすることができ、被測定
信号の周波数f、の分解能が向上することを理解するこ
とができる。
また上記説明では設定される分解能と測定される被測定
入力信号の周波数とから計算により、予め最適値となる
分周比の値をメモリに記憶させたテーブル3が用いられ
ているが、該テーブル3に替え、設定された分解能と入
力された被測定入力信号のイニシャル周期T。における
計数回路4のカウント値とから、上記テーブル3に記憶
されている最適値となる分周比の値をイニシャル周期T
0のつと演算して求める分周比演算器を用いることも可
能である。
第3図は第1図の動作を説明するフローチャートを示し
ており、捷ず測定を開始するに際し、分周回路1の分局
比を定めるため、イニシャル周期Toのカウント値を測
定する。この値が設定された所望の分解能を保証するに
足るカウント値により大きければ、所望の分解能が得ら
れるのでそのまま演算器5に送り、表示器6で表示され
る。そして捷た最初のイニシャル周期T。のカウントを
測定する。これは被測定入力信号の周波数が低く、所望
の分解能が余り冒くない値に設定されている場合である
。上記イニシャル周期T。のカウント値が値により小さ
いとき、設定された所望の分解能が得られないので、ア
ンドゲート2のゲート開放時間を延ばし、上記値により
大きなカウント値を得るようにテーブル3を参照する。
そしてイニシャル周期T0のカウント値に対応ずけられ
た分周比Nを読み出し、分周回路1の分周比をNにセッ
トさせ、計数周期T、に入る。計数回路4でカウントさ
れたカウント値が上記値Kを超え値り以・下のとき1計
数回路4でカウントされたカウント値は演算器5へ送ら
れ、演算器5で上記説明の演算を行なってその結果を表
示器6で表示する。そして再びイニシャル周期T。のカ
ウントを開始する。なおこのとき分周回路1の分周比は
演算器5からの出力により1にセットされている。
計数周期T、において計数回路4でカウントされたカウ
ント値が値りを超えると、該計数回路4から分周回路1
の分周比を1にする信号が出され、最初のイニシャル周
期Toに戻される。これは例えば測定途中で被測定入力
信号の周波数が変化し、その周波数が低くなったときに
発生する。これによって誤測定が避けられる。
以上説明した如く、本発明によ扛ば、被測定入力信号の
周波数に対応して自動的にアンドゲートのゲート時間が
制御され、これによって周波数の如何にかかわらず常に
所望の単位(桁)までの分解能で被測定入力信号の周波
数を読み取ることが可能となる。
またアンドゲートのゲート時間を延ばすことによりトリ
ガ誤差の平均化がなされるので測定確度が向上し、更に
演算誤差をも取り除くことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る計数装置の一実施例構成、第2図
は基準信号に対するゲートのかけ方を説明する説明図、
第3図は第1図の動作サイクルを説明するフローチャー
トを示している。 図中、1は分周回路、2はアンドゲート、3はテーブル
、4は計数回路、5は演算器、6は表示器を表わしてい
る。 特許出願人  安立電気株式会社 笛IF?! 第2図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  ゲート回路に入力された被測定入力信号の周
    期をゲートにして基準信号のノぐルス数を計数回路でカ
    ウントする計数装置において:被測定入力信号を分周し
    、分周され几被測定信号を上記ゲート回路に入力させる
    分周回路と;設定された所望の分解能とイニシャル周期
    における計数回路のカウント値とから上記分周回路に対
    しその分周比を指定する分周比選定回路と;該分周比選
    定回路から出力される上記分周比と計数周期における計
    数回路のカウント値とから被測定入力信号の周波数を計
    算する演算器とを備え、被測定入力信号の周波数の如何
    をとわず予め設定された所望の単位(桁)まで分解能を
    有するようにしたことを特徴とする計数装置。
  2. (2)  分周比選定回路は分周回路に設定されるべき
    分局比の値が予め用意され格納されているテーブルであ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の計
    数装置。
  3. (3)  分周比選定回路は設定された所望の分解能と
    イニシャル周期における計数回路のカウント値とから分
    周回路に設定されるべき分周比の値が計算される分局比
    演算回路であることを特徴とする特許請求の範囲第(1
    )項記載の計数装置。
JP14504181A 1981-09-15 1981-09-15 計数装置 Pending JPS5847270A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63135870A (ja) * 1986-11-28 1988-06-08 Sony Corp 周波数測定装置
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US6608474B2 (en) 2000-03-31 2003-08-19 President Of Nagoya University Frequency change measuring device

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