JPS5845748B2 - 機械的に検査可能な確認情報を有する認識カ−ドおよびクレジツトカ−ド等の如き記録媒体およびその確認情報を検査する方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は機械的に検査可能な確認情報を有する認識カー
ド、クレジットカード等のような記録媒体およびその確
認情報を検査する方法にか＼わる。

偽造を防止するのに、証券等に確認情報を与えることは
昔から実施されて来た。

良く知られている例としては筋とか透かし等がある。

こうした確認情報は主として例えば証券を受は取った人
の目視による点検を意図したものであり、機械的検査に
おいては特別な条件下においてのみ可能であった。

故に、機械的に検査可能な多くの確認情報はまだらの細
糸からなる紙、螢光物質、放射性物質或は磁気的に活性
の添加物等を利用して実施されていた。

更に、本物の書類に与えられている情報を偽造できない
ようにする方法も多く知られている。

そうした方法の中には、螢光層を適用したり、浮彫りに
したり、ホログラムの形態で情報を符号化したり、或は
磁気ストリップ上に目に見えない形で情報を書き込んだ
りして行われている。

例え変換された形においても、情報はその情報を伝達す
る信号の実像として記録媒体上にあることはそれらすべ
ての方法に共通である。

保護対策としては情報を符号化することおよび（或は）
人間の感覚では知覚できないが一般に知られている測定
器によっては判読し得るようにその信号をベース材料の
物理的性質についての変調として書込む方法がある。

更に、抹消に対しては、例えば、書込み情報についての
例等かの処置を示している螢光層かもしくは浮彫りの形
態で安全策を適用させることも可能である。

防護対策としては抹消に対する保護のみならず、記録媒
体を細分し、それを再び別な形に組合せるような情報の
変更を意図したごまかしに対しても保護が必要であるこ
とを理解されたい。

本物についての防護とは別に、偽造に対してその付与さ
れている情報を防護する従来の方法は、それに課せられ
た必要条件を完全に満たしてはいない。

多くの場合、文書を偽造するためにその情報を理解する
必要は全くなく、単に符号化されている情報を複写する
だけで十分なこともある。

他方、情報が不可祝的に書込まれる方法では、そうした
材料を正確に用いると同時に、一般に知られていてしか
も多くの場所で容易に得られかつ比較的低価格で得られ
る技術的手段を正確に利用することである。

この曲型的例としては磁気ストリップ上における情報の
符号化書込みがある。

当業者はこうした問題を良く知っている。

更に、良く知られている方法のうちの大半のものを自動
機械に使用するには部分的にしか適用できない。

自動機械での検査は、通常、完全な文書をカバーするこ
とができない。

すなわち、その検査過程は一般に規定された信号が所定
の点にあるかどうかについての敏速でしかも信頼性のあ
る試検に制限される。

この制限は、コラ−シュ（ｃｏｌｌａｇｅｓ）による偽
造に対する可能性を広げると云う重大な欠点を有してい
る。

このために、文書は細分されそして変った形に再度構成
される。

従って、信号が異なる点で発生し、それによって情報は
変造されることになるが、その接ぎ合せ部分を機械的照
合中に検出することはできない。

本発明の目的は、改変できないように書込まれそしてそ
の配列には情報の伝達される確認情報が隠されていて、
しかもその確認情報は複写作業によって複製されること
がない性質を持った偽造防止形の記録媒体を提供するに
ある。

本発明の他の目的は、変造に対する情報はもとよりコラ
−シュによる偽造に対しても、その記録媒体自体を検査
できる検査方法を提供するにある。

かくして、本発明は機械的に点検され得る確認情報を持
った認識カード、クレジットカード等の如き記録媒体と
、そして変造に対する内容すなわち情報を検査するのに
適した方法に課題をおいている。

本発明は、高導電層と高絶縁層とがカード基体上に設け
られ、それら２つの層間には、導電性を変えることによ
って確認情報の導入できる化学的に均質な層が与えられ
ていることを特徴としている。

化学的に均質な層は半導体層であっても良いし、或は光
伝導層であっても良い。

適当な光伝導材料としてはセレン又はテルリウムの添加
されたセレンがある。

良く知られている如く、半導体層および光伝導層内では
結晶度の程度についての変動が行われる。

本発明において、これは情報を運ぶ化学的に均質な層に
異なる導電率を有する規定領域を作り出して実施される
が、それはただ２つの異なる導電率値を使用することに
て行なわれる。

化学的に均質な層における異なる導電領域は、例えば公
知の熱圧縮ヘッドでもって作り出すことができる。

安全度を増すには、２つの導電率値を持ついくつかの領
域をその記録媒体上に与えても良い。

もしも伝導領域が適当に配列されそして限定されるとす
ると、それらはまた符号化された情報として使用される
。

記録媒体が仕上げられた後、しかるべく準備された情報
運搬層は薄い絶縁層にて覆われ、確認情報は潜在的像と
して蓄積されるために、直接的測定は受けつけない。

測定し得かつ抹消し得る信号が本発明の課題とする方法
によって得られるが、もしもそれを成功させるには、こ
の問題についての一般的技術知識に加えて、特別なデー
タを必要とする。

確認情報は不可視的に且つ改変できないように入れられ
るので、偽造や変造は実際問題として不可能である。

何故ならば、かへるごまかしは照査段階で確実に検出さ
れるからである。

確認情報を機械的に検査すなわち読出すための本発明に
よる方法は、電気的に良好な絶縁層上に補助電極をその
絶縁層と接触するように配置しそしてその補助電極と伝
導層とを横切って短いパルス電圧を適用することで、化
学的に均質な層の導電領域に所望の荷電像を作り出し、
そして絶縁層上に作られた荷電像を走査し、測定器内で
評価し、そしてその評価後に抹消することを特徴として
いる。

上述の如く、記録媒体を細分し、それらを再び組合せて
、化学的層の伝導領域について別な許容し得る組合せを
形成して記録媒体を偽造することも可能であるが、その
ようにして造られた記録媒体は上述の検査を通して偽造
品として判別される。

本発明に別な面によると、か＼るごまかしを的確に検出
するのに、第１の検査方法とは異なる別な検査方法も実
施できる。

すなわち、短いパルス電圧に代って、長いパルス電圧を
適用することで、その確認情報とは関係のない均一な電
荷配分が絶縁層上に得られるので、この電荷の配分を、
電荷の均一配分の中断として現われる記録媒体における
切断部と共に、適当な測定器で検査するのである。

もしも必要ならば２つの検査方法が実行できることは明
らかである。

第１の検査方法は、もしもコラ−シュによるごまかしが
不可能である場合には十分である。

他方、コラ−シュのみを検出しても良い。

この場合、第２の検査方法のみで十分であり、それは抹
消に対する防護を検査する働らきをする。

これに対する必要条件は、その記録媒体が高導電性層と
高絶縁層とを有し、一方、抹消に対する防護の検査に対
しては、確認情報を形成している化学的均質層はその記
録媒体には必要ではないと云うことである。

検査方法はその記録媒体が運動している状態でも又静止
している状態でも実行される。

本発明は、導電層を記録媒体に導入するための技術的手
段が広い範囲において選択し得るので、すでに製造中に
ある記録媒体にも適用することが可能であると云う大き
な利点を有しており、これは安全筋の導入に比較し得る
大きな利点でもある。

本発明の別な利点は、導入された情報は如何なる複写過
程を通してもその再製が防止されることである。

それは情報が隠されていて更に、確認情報の書込まれる
物理的過程がそれらが検査される過程とは異なっている
ためである。

本発明の更に別な利点は、例え、その検査が自動的であ
ってさえ、本物の記録媒体を細分しそして再構成するこ
とで作られる偽造は確実に検出できることである。

破壊されていない情報担持領域は、第２の検査方法では
電荷の均一な配分を与える。

しかじなから、もしも試験トラックが少なくとも一度は
交差しなければならない状態でその領域が切断されると
すると、それら切断部には電荷はないことになる。

パッシェンの法則で示されている如く電極分離に依存し
ているために、絶縁および導電層の効果的つなぎ合せは
不可能である。

もしも書き込まれている信号の数が知られているとする
と、記録媒体における切断部は第２の検査過程なしに検
出される。

すなわち、切断部は初めの検査過程中に荷電像における
付加的信号として現われることになり、付加的信号とし
て検出される。

本発明の別な態様によると、その記録媒体が使用し得る
回数は簡単に制限できる。

すなわち、それは、記録媒体が使用される度に、熱圧縮
ヘッドによって付加的信号がこの目的のために与えられ
た記録媒体の空間に書き込まれたためである。

その書込み動作はその半導体を原子の周期性で特徴つけ
られる熱力学平衡の状態に持ち込むので か） かる状態で蓄積された信号は抹消できないのである。

検査装置はこうした信号の回数をも決定する。もしもそ
の使用を示している信号の回数が所定の回数を越えてい
るならば、その記録媒体は無効と考えられることになる
。

又、自動機械における記録媒体は簡単でしかも改変でき
ない方法で無効にされる。

このために、熱圧縮ヘッドはしかるべき回数の信号をそ
の空間に書込み、これにより所定の最大使用回数を検出
する。

これはその記録媒体を改変できない方法で無効にする。

以下、本発明は好ましき実施例である添付図面を参照し
て一層詳細に説明される。

実施例において、その記録媒体は第１図において中性状
態で示されているカードであると仮定する。

そのカードはベース１、蒸着にて付着されている好まし
くはアルミニウムの金属膜２、例えば砒素の如き結晶化
抑制剤が前取って付与されしかも金属膜２に蒸着された
無定形セレン層３を含み、セレン層３は薄い誘電体膜４
で覆われている。

確認情報をセレン層３に導入するためには、その層の伝
導度が熱圧縮ヘッド５により所定の点で変えられる必要
がある。

第２図において、２つの情報部分６は、それらの点に熱
圧縮ヘッドにより適当な圧力と温度とを同時に発生する
ことにより書込まれ、それに供なって結晶化過程が開始
されるものと仮定している。

結果的に、セレン層３における導電性が局部的に増大さ
れる。

必要とする局部的加熱はレーザー光に対し露出させるこ
とにより達成される。

潜在的に書込まれている内容すなわち情報を読出したり
検査したりする本発明による方法は第３〜第７図に従っ
て記述される。

明瞭化のために、セレン層３には２つの異なる導電率領
域６ａおよび６ｂのみがあるものと仮定する。

第３図は情報６ａおよび６ｂに対応する荷電像が絶縁層
４に書込まれる構成を示している。

直流源９の一端は層２にモして他端は補助電極７に接続
され、補助電極７は誘電体層４と隣接している。

スイッチ１０が閉成されると、期間が数ミリ秒のオーダ
ーで、大きさが３８０Ｖ−ＩＫＶの範囲にあるパルス電
圧１１がそれら２つの電極に印加される。

第４および第５図はパルス電圧の印加に際しての帯電過
程を示し、明瞭化のために、空隙８がかなり拡大して示
されている。

これらの図は誘電体層４での領域６ａおよび６ｂにおけ
る電圧状態を図示している第６図を参照しての説明で容
易に理解されよう。

誘電体層４の２つの表面間における電圧は時間に対して
描かれ、３つの異なる弛緩時間を有する指数的曲線が示
されている。

曲線１５は層３の低導電率の領域６ｂと接触している層
４の領域に対する電圧曲線である。

時刻ｔｏにおけるパルス１１の印加から時刻ｔ２におけ
るパルス１１の終りまで、電圧は直線的に増加し、スイ
ッチ１０が再度開かれると電圧は零に復帰する。

領域６ａに対しては異なる電圧曲線が得られている。

曲線１３が示すように、領域６ａと関連のある領域にお
いて、誘電体を横切っての電圧は、誘電体層と補助電極
７との間におけるスパーク電圧ＵＺが時刻ｔ１に到るま
では、残りの領６ｂにおけるよりも早く増大する。

時刻ｔ１からの誘電体４での充電過程はガス放電にて有
効になるが、それは曲線１４にて示されるように以前よ
りも早い速度で行われ、そしてパルス１１の終了時点で
は電圧Ｕ２に到達する。

もしも電圧が時刻ｔ２において再びターンオフされると
すると、ガス放電にて付着されるイオンのみが誘電体層
４上にとどまることになる。

これは６ａおよび６ｂ（０およびＵ３）と関連のある誘
電体層４上でのそうした領域間に明白な充電差を生じさ
せる。

この時点において始めてその誘電体層４の荷電像が適当
な方法で測定でき、それは第７図において図式的に示さ
れている。

このために、補助電極７が除去された後、センサー１６
が誘電体層４近くに置かれる。

測定は測定器１７（概略的に示されている）でもって行
なわれる。

測定後、その荷電像は適当な手段にて再び除去される。

抹消に対する安全確認方法は、以後、第８および第９図
を参照して説明されよう。

第８図は３層のみから成るカードを示しており、層３は
情報を担持しない層で、抹７削こ対する安全確認の検査
なので除外しである。

検査は、時刻ｔ３におけるガス放電がそのカードの全領
域に渡って開始されるように、十分に長い期間のパルス
電圧１２が印加されることを除いては、第１〜第５図の
例と同様に実施される。

もしも電圧が印加され続けると、曲線１４および１５は
、最終的には、時刻ｔ４において電圧Ｕ４に到達する。

かくして、同じ電荷密度が誘電体層のあらゆる点におい
て得られる。

しかしながら、もしも、ごまかしがそのカード上におい
てそれを細断してそしてそれを再構成することによって
実施されたとすると、そのために、均一な荷電像は妨げ
られることになり、こうした妨害は、電圧降下がそこに
あるのでセンサー１６でもって検出できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による記録媒体の断面図、第２図は書込
み情報を持った第１図の記録媒体の図、第３〜第５図は
第１の検査法を実行するための構成および回路の概略図
、第６図は第１の検査法における誘電体層での電圧曲線
を示しているグラフ、第７図は、検査後に、荷電像を消
去するための構成および回路の概略図、第８図は三層か
ら成る記録媒体の図、そして第９図は、第８図における
確認情報の抹消された記録媒体を検査するための第２の
方法の構成および回路の概略図である。 なお図中上な構成要素と参照数字との関係は次の通りで
ある。 １・・・・・・ベース、２・・・・・・金属膜、３・・
・・・・セレン層、４・・・・・・誘電体層、５・・・
・・・熱圧縮ヘッド、６・・・・・・情報部分、８・・
・・・・空隙、９・・・・・・直流源、１０・・・・・
・スイッチ、１１・・・・・・パルス、１６・・・・・
・センサー、１７・・・・・・測定器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 機械的に検査可能な確認情報を有する記録媒体にお
   いて、高導電率層２と高絶縁層４とがカード基板１上に
   付着され、前記２つの層２，４間には化学的に均質な層
   ３が設けられていて、前記均質層３には確認情報６がそ
   の導電性を変えることによって導入されることを特徴と
   する記録媒体。 ２、特許請求の範囲１に記載の記録媒体において、前記
   化学的に均質な層３は半導体層であることを特徴とする
   記録媒体。 ３ 特許請求の範囲１に記載の記録媒体において、前記
   化学的に均質な層３は光導体層であることを特徴とする
   記録媒体。 ４ 特許請求の範囲３に記載の記録媒体において、前記
   化学的に均質な層３はセレンか或はテルリウムの付加さ
   れたセレンであることを特徴とする記録媒体。 ５ 特許請求の範囲１〜４のいづれかに記載の記録媒体
   において、異なる導電性の領域６は熱圧縮ヘッドにより
   作り出されることを特徴とする記録媒体。 ６ 記録媒体における確認情報を機械的に検査すなわち
   読出す方法において、電気的に高絶縁性の層４上に、化
   学的に均質な層３の導電領域６ａ。 ６ｂに対応した荷電像を、補助電極７を絶縁層４に接触
   させそして該補助電極７と導電層２とを横切って短いパ
   ルス電圧１１を印加させることによって作り出し、その
   後、前記絶縁層４上に作られた荷電像は走査されてそし
   て測定具１７で評価され、評価後その荷電像は再び抹消
   されることを特徴とする方法。 ７ 特許請求の範囲６に記載の記録媒体における確認情
   報を機械的に検査する方法において、その検査は記録媒
   体の運動中に実施されることを特徴とする方亀 ８ 特許請求の範囲６に記載の記録媒体における確認情
   報を機械的に検査する方法において、その検査は記録媒
   体の静止状態で実施されることを特徴とする方法。