JPS5844594Y2 - 半導体ペレツト - Google Patents

半導体ペレツト

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JPS5844594Y2
JPS5844594Y2 JP1978040806U JP4080678U JPS5844594Y2 JP S5844594 Y2 JPS5844594 Y2 JP S5844594Y2 JP 1978040806 U JP1978040806 U JP 1978040806U JP 4080678 U JP4080678 U JP 4080678U JP S5844594 Y2 JPS5844594 Y2 JP S5844594Y2
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JP
Japan
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electrode
semiconductor
electrode layer
semiconductor pellet
emitter
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Expired
Application number
JP1978040806U
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English (en)
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JPS54145069U (ja
Inventor
光幸 松崎
Original Assignee
株式会社日立製作所
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Filing date
Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto

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  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は半導体ペレットに係り、特に生産性及び熱放散
がすぐれたDoble Heat−sink型(以下D
H型と呼ぶ)の3端子及び4端子型半導体装置用の半導
体ペレットに関する。
3端子及び4端子型半導体装置、例えばトランジスタ等
の製造工程において不可欠であった、ワイアーポンチ゛
イング、ペレットポンチ゛イング時のペレット表裏識別
及びペレットの位置合せ等を必要とせず、生産性のすぐ
れた3端子及び4端子型半導体装置として、例えば第1
図に示すD−H型のトランジスタ、サイリスタ等が提案
され、半導体ペレットとして、例えば゛第2図に示すト
ランジスタペレットが使用されていた。
第1図において、10は半導体ペレット、11,12は
電極リードアセンブリ、13 A、13 Bは導電棒、
14A、14Bは導電環、15A、15Bは絶縁環、1
6はガラススリーブ、17は補助端子であり、第2図に
おいて、21はコレクタ層、22はベース層、23はエ
ミツタ層、24はシリコン酸化膜、25はコレクタ電極
、26はエミッタ電極、27はベース電極である。
しかし、第2図に示す従来の半導体ペレットにはエミッ
タ電極26及びベース電極の厚さがそろっていないと、
電気的、熱的に良好な半導体ペレッ) 10と電極リー
ドアセンブリ11.12の接続が得られないと云う問題
があった。
それゆえ、本考案の目的は、電気的、熱的に半導体ペレ
ットと電極リードアセンブリが良好に接続されるD−H
型3端子及び4端子型半導体装置用の半導体ペレットを
提供することにある。
本考案の目的は、第1図に示す電極リードアセンブリ1
1.12に接続される半導体ペレット10の主面に平行
な断面の断面積が第3図に示すようにエミッタ電極36
より小さいベース電極37の厚み、即ち、半導体ペレッ
ト10の主面に垂直な方向での厚みをエミッタ電極36
より厚くすることにより遠戚できる。
第1図において半導体ペレット10を電極リードアセン
ブリ11.12とガラススリーブ16で封止する際、電
極リードアセンブリ11.12とガラススリーブ16の
熱膨張係数の差により半導体ペレット10に対し圧縮応
力がかかる。
ここで、ベース電極37の方がエミッタ電極36より厚
くされているから、電極リードアセンブリ11は先ずベ
ース電極37に接触する。
このため、熱膨張係数差による圧縮応力はベース電極3
7に対して作用し、ベース電極37の厚さが薄くなる。
即ち、ベース電極37とエミッタ電極36の厚みの差が
小さくなるようにベース電極37は弾性変形し、ついに
はエミッタ電極36とベース電極37は電極リードアセ
ンブリ11に対し同じ厚さで接続され、半導体ペレット
10と電極リードアセンブリ11.12は電気的、熱的
に良好に接続される。
以下本考案によるD−H型トランジスタの実施例を示す
第3図に示す様、選択拡散法により、コレクタ層31、
エミツタ層33を形成した後、真空蒸着法等によりベー
ス電極37A及びこれを取囲む様にエミッタ電極36を
形成する。
さらにベース電極37A上にベース電極37 Bを形威
し、ベース電極37の厚みをエミッタ電極36より厚く
する。
尚、34はシリコン酸化膜、35はコレクタ電極である
上記の如く製造された半導体ペレツ) 10を電極リー
ドアセンブリ11及び12によりはさみ、さらに導電環
14A、14B上にガラススリーブ16を配置する。
次にガラススリーブ16の軟化温度より高温で熱処理す
ることにより、ガラススリーブ16と導電環14A、1
4Bを接着させガラススリーブ16と電極リードアセン
ブリ11及び12の熱膨張係数の差により半導体ペレツ
l−10を圧着させる。
最後に電気的にエミッタ側の電極リードアセンブリ11
を判定し、エミッタ側の電極リードアセ711月1の導
電環14Aに補助端子17を半田付等により接続して、
第1図に示すD−H型トランジスタが製造される。
以上により本考案による第3図に示す半導体ペレットを
使用した第1図のD−H型トランジスタは、従来の第2
図に示す半導体ペレットを使用したものと比較して、次
にあげる効果を有する。
(1)コレクタ、エミッタ、ベース等の各電極は、電極
リードアセンブリに対し、熱的、電気的に良好に接続さ
れるため、半導体装置の信頼性が向上する。
(2)接続不良が低減するため半導体装置の合格率が向
上し安価となる。
(3)半導体ペレットと電極リードアセンブリ間の熱放
散率が向上するため、装置の許容損失を大きくできる。
本考案はトランジスタに限定されることなく、サイリス
タ等化の3端子型半導体装置や双方向サイリスタ等の4
端子型半導体装置においても同様の効果を得ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のD−H型トランジスタの断面図、第2図
は第1図に示す従来のD−H型トランジスタ用半導体ペ
レットの断面図、第3図は本考案によるD−H型トラン
ジスタ用半導体ペレットの断面図である。 10・・・・・・半導体ペレツ)、11.12・・・・
・・電極リードアセンブリ、13 A、13 B・・・
・・・導電棒、14A、14B・・・・・・導電環、1
5A、15B・・・・・・絶縁環、16・・・・・・ガ
ラススリーブ、17・・・・・・補助端子、35・・・
・・・コレクタ電極、36・・・・・・エミッタ電極、
37,37 A、37 B・・・・・・ベース電極。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. たがいに対向する2主面を有し、その一方の主面には第
    1電極層と、この第1電極層から離間してこれを取囲む
    ように配置された第2電極層とが設けられるとともに反
    対主面には第3の電極層が設けられている半導体ペレッ
    トにおいて、前記第1電極層及び第2電極層のうち前記
    両型面に平行な断面の断面積が小なる方の電極が前記両
    型面に垂直な方向での厚さが厚いことを特徴とする半導
    体ペレット。
JP1978040806U 1978-03-31 1978-03-31 半導体ペレツト Expired JPS5844594Y2 (ja)

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JP1978040806U JPS5844594Y2 (ja) 1978-03-31 1978-03-31 半導体ペレツト

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JP1978040806U JPS5844594Y2 (ja) 1978-03-31 1978-03-31 半導体ペレツト

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JPS54145069U JPS54145069U (ja) 1979-10-08
JPS5844594Y2 true JPS5844594Y2 (ja) 1983-10-08

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ID=28910209

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JP1978040806U Expired JPS5844594Y2 (ja) 1978-03-31 1978-03-31 半導体ペレツト

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JPS5812339A (ja) * 1981-07-16 1983-01-24 Nec Corp 半導体装置

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JPS54145069U (ja) 1979-10-08

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