JPS5833505B2 - 電力ケ−ブルの欠陥部検出方法 - Google Patents
電力ケ−ブルの欠陥部検出方法Info
- Publication number
- JPS5833505B2 JPS5833505B2 JP53159275A JP15927578A JPS5833505B2 JP S5833505 B2 JPS5833505 B2 JP S5833505B2 JP 53159275 A JP53159275 A JP 53159275A JP 15927578 A JP15927578 A JP 15927578A JP S5833505 B2 JPS5833505 B2 JP S5833505B2
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- JP
- Japan
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- cable
- conductive glass
- power cables
- conductor
- voltage
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、電カケープルの製造時に、ケーブルの内溝
突起や絶縁層中のボイドなどの欠陥部を容易に検出でき
るようにした電カケープルの欠陥部検出方法に関するも
のである。
突起や絶縁層中のボイドなどの欠陥部を容易に検出でき
るようにした電カケープルの欠陥部検出方法に関するも
のである。
一般に、電カケープルの欠陥には、内溝突起と絶縁層中
のボイドとの２つがある。
のボイドとの２つがある。
そして、内溝突起があると、その先端に印加ストレスに
よって非常に大きなストレスの集中が起り、ケーブル破
壊の原因となる。
よって非常に大きなストレスの集中が起り、ケーブル破
壊の原因となる。
また、絶縁層中にボイドがあると、ボイド内放電を生じ
て絶縁層の劣化が進み、遂に絶縁破壊に至る場合が非常
に多い。
て絶縁層の劣化が進み、遂に絶縁破壊に至る場合が非常
に多い。
このように、欠陥部が電カケープルにとって致命的であ
るにもかかわらず、従来は、前記欠陥部を直接検出する
方法がなかった。
るにもかかわらず、従来は、前記欠陥部を直接検出する
方法がなかった。
通常、スクリーニング試験は、電カケープル出荷時に枠
耐圧試験があり、高圧の交流電圧を印加してケーブルが
その電圧に耐えられるか否かの確認およびボイドからの
コロナ放電レベルのチェックをすることによってケーブ
ルの良否を判定している。
耐圧試験があり、高圧の交流電圧を印加してケーブルが
その電圧に耐えられるか否かの確認およびボイドからの
コロナ放電レベルのチェックをすることによってケーブ
ルの良否を判定している。
しかし、前述のようなスクリーニング試験では、（１）
電カケープルが完成するまでその良否の判定ができない
、 （！１）枠試験でケーブルが破壊した場合に、ケーブル
が長尺であるため、破壊点がどこにあるのか調査するこ
とが困難である、 （ｍ） 明らかな欠陥があるケーブルでも、枠試験を
行なうまで欠陥がわからないで、試験の結果ケーブル破
壊が生じた場合の経済的損失が非常に大きい、 という欠点がある。
電カケープルが完成するまでその良否の判定ができない
、 （！１）枠試験でケーブルが破壊した場合に、ケーブル
が長尺であるため、破壊点がどこにあるのか調査するこ
とが困難である、 （ｍ） 明らかな欠陥があるケーブルでも、枠試験を
行なうまで欠陥がわからないで、試験の結果ケーブル破
壊が生じた場合の経済的損失が非常に大きい、 という欠点がある。
この発明は、出荷時の枠耐圧試験を待たずに、電カケー
プルの製造時のシースを被覆する以前にケーブルにとっ
て致命的な前記欠陥部を早急に検出することができ、時
間およびコストの大幅な節約が可能となり、また、欠陥
部を直ちに検出できることによって、製造装置に即座に
フィードバックして安定した品質管理体制を整えること
ができ品質の向上に役立つ電カケープルの欠陥部検出方
法を提供することを目的とするものである。
プルの製造時のシースを被覆する以前にケーブルにとっ
て致命的な前記欠陥部を早急に検出することができ、時
間およびコストの大幅な節約が可能となり、また、欠陥
部を直ちに検出できることによって、製造装置に即座に
フィードバックして安定した品質管理体制を整えること
ができ品質の向上に役立つ電カケープルの欠陥部検出方
法を提供することを目的とするものである。
この目的を達成するために、この発明による電カケープ
ルの欠陥部検出方法は、導体の外周側に絶縁層を形成し
た電カケープルに交流電圧を印加し、前記ケーブルの欠
陥部からの放電光をケーブルの外部に伝送して光増幅器
で増幅させ、光強度を測定することにより欠陥部を検出
するものである。
ルの欠陥部検出方法は、導体の外周側に絶縁層を形成し
た電カケープルに交流電圧を印加し、前記ケーブルの欠
陥部からの放電光をケーブルの外部に伝送して光増幅器
で増幅させ、光強度を測定することにより欠陥部を検出
するものである。
以下この発明につき図面を参照して詳述する。
第１図はこの発明による電カケープルの欠陥部検出方法
の一実施態様を示す。
の一実施態様を示す。
第１図において、１は製造中の電カケープルで、第２図
に示すように導体１１の外周に半導電層１２を形成し、
その外周に絶縁層１３を形成したものである。
に示すように導体１１の外周に半導電層１２を形成し、
その外周に絶縁層１３を形成したものである。
２は電カケープル１の導体１１に交流電圧を印加する電
源、３は電カケープル１の外周側に設置した導電ガラス
、４は光フアイバケーブル、５は光フアイバケーブル４
で導電ガラス３と接続された光電子増倍管からなる光増
幅器、６は記録計である。
源、３は電カケープル１の外周側に設置した導電ガラス
、４は光フアイバケーブル、５は光フアイバケーブル４
で導電ガラス３と接続された光電子増倍管からなる光増
幅器、６は記録計である。
前述した製造中の電カケープル１に電源２から通常数に
Ｖ〜１０にＶ程度の交流低電圧を連続印加しつつ、ケー
ブル１を導電ガラス３の設置部を通して移動させる。
Ｖ〜１０にＶ程度の交流低電圧を連続印加しつつ、ケー
ブル１を導電ガラス３の設置部を通して移動させる。
ケーブル１中に内環突起、ボイドのような欠陥部ができ
、この欠陥部が導電ガラス３内に入ると、欠陥部からの
放電光が導電ガラス３、光フアイバケーブル４によって
伝送され、光増幅器５によって増幅されて記録計６に記
録される。
、この欠陥部が導電ガラス３内に入ると、欠陥部からの
放電光が導電ガラス３、光フアイバケーブル４によって
伝送され、光増幅器５によって増幅されて記録計６に記
録される。
この記録計６で光強度を測定することによって、ケーブ
ル１中の欠陥部が検出できる。
ル１中の欠陥部が検出できる。
なお、第１図において、欠陥検出部に導電ガラス３を用
いているのは、これをアース電極として用い、導電ガラ
スを設置した区間でだけ電圧がケーブルに印加されるよ
うにするためである。
いているのは、これをアース電極として用い、導電ガラ
スを設置した区間でだけ電圧がケーブルに印加されるよ
うにするためである。
また、欠陥検出部の導電ガラス３、光フアイバケーブル
４は外光から遮蔽する。
４は外光から遮蔽する。
さらに、光フアイバケーブルは多数の光ファイバ端を円
周上に順に配列してリング状に形成して、電カケープル
の周囲全体から出る放電光を一度に捕捉できるようにす
ることが好ましい。
周上に順に配列してリング状に形成して、電カケープル
の周囲全体から出る放電光を一度に捕捉できるようにす
ることが好ましい。
そして、電カケーフルにどの程度の欠陥部があった場合
に不良とするかは、ケーブルの階級によって異なり、高
電圧階級になるに従ってより小さい欠陥部でも許容しな
いようにする必要があり、＊＊交流の印加電圧を上げる
とともしくは検出可能な範囲で検出器の感度を上げるこ
とによって調整する。
に不良とするかは、ケーブルの階級によって異なり、高
電圧階級になるに従ってより小さい欠陥部でも許容しな
いようにする必要があり、＊＊交流の印加電圧を上げる
とともしくは検出可能な範囲で検出器の感度を上げるこ
とによって調整する。
第３図に示すように、厚さ２１１Ｌ７ＩＬのポリエチレ
ンシート２Ｌ２２間に厚さ０．２朋、短軸ａ、長軸ｂと
する楕円体（−−４）の半導電層シート（材料：ＨＦＤ
ＡＯ５８０）２３を内溝突起模擬物として挾み、プレス
圧力２５０ ｋｇ／ｃｒｉｔ、温度１６０℃、３０分間
の条件で、プレスモールドしたものをブロックサンプル
として第４図に示す実験を行なった。
ンシート２Ｌ２２間に厚さ０．２朋、短軸ａ、長軸ｂと
する楕円体（−−４）の半導電層シート（材料：ＨＦＤ
ＡＯ５８０）２３を内溝突起模擬物として挾み、プレス
圧力２５０ ｋｇ／ｃｒｉｔ、温度１６０℃、３０分間
の条件で、プレスモールドしたものをブロックサンプル
として第４図に示す実験を行なった。
なお、第４図中、第１図と同一符号は同一部分を示し、
７は絶縁体、８は半導電層シートである。
７は絶縁体、８は半導電層シートである。
ブロックサンプルの内溝突起模擬物であり
る半導電層シート８の大きさく−）を種々変えて、同様
な交流電圧を印加し、光強度がどのように変化するかを
調べた結果は、第５図の通りであった。
な交流電圧を印加し、光強度がどのように変化するかを
調べた結果は、第５図の通りであった。
なお、第５図中、光強度は光増幅器から出力されたもの
、犬、中、小は光導電シートの大きさであり す、それぞれ−−８，４、■である。
、犬、中、小は光導電シートの大きさであり す、それぞれ−−８，４、■である。
この実験結果から明らかなように、内溝突起模擬物が小
さくなるに従って光強度が低下していることがわかる。
さくなるに従って光強度が低下していることがわかる。
また、波長が短くなるに従って光強度が増加するのはコ
ロナ放電が起きていることを示す。
ロナ放電が起きていることを示す。
そして、電カケープルに交流電圧を印加し、放電光の光
強度を測定することにより、欠陥部を検出できることが
確認された。
強度を測定することにより、欠陥部を検出できることが
確認された。
次に、この発明の実施例について説明する。
導体断面積２５０ｄ、半導電層厚さ０．８ｍｍ、架橋ポ
リエチレンからなる絶縁層厚さ３．２關の第２図に示す
通常の６ＫＶ用Ｃｖケーブルを用い、種々の大きさの欠
陥部を故意に作り、これを第１図の実施態様の検出方法
で光強さを測定し、その後Ａ、 Ｃ破壊試験を行なった
結果は下表の通りであった。
リエチレンからなる絶縁層厚さ３．２關の第２図に示す
通常の６ＫＶ用Ｃｖケーブルを用い、種々の大きさの欠
陥部を故意に作り、これを第１図の実施態様の検出方法
で光強さを測定し、その後Ａ、 Ｃ破壊試験を行なった
結果は下表の通りであった。
但し印加電圧は１０にＶである。
なお、使用した光増幅器は、浜松テレビ■製の光電子増
倍管Ｒ２１２ＵＨである。
倍管Ｒ２１２ＵＨである。
以上詳述したようにこの発明は、電カケープルの製造時
にケーブルの内環突起、絶縁層のボイドのような欠陥部
を容易に検出でき、即座にケーブルの良否を判断できる
ので時間およびコストの大幅な節約ができ、また製造時
にケーブルの欠陥部を検出できるので、品質の管理体制
を整え、品質の向上に役立つ新規な電カケープルの欠陥
部検出方法を提供でき、さらに、この発明の検出方法は
初期欠陥だけではなく、水トリーなどの発生した劣化ケ
ーブルの劣化度合の推定にも適用できる効果がある。
にケーブルの内環突起、絶縁層のボイドのような欠陥部
を容易に検出でき、即座にケーブルの良否を判断できる
ので時間およびコストの大幅な節約ができ、また製造時
にケーブルの欠陥部を検出できるので、品質の管理体制
を整え、品質の向上に役立つ新規な電カケープルの欠陥
部検出方法を提供でき、さらに、この発明の検出方法は
初期欠陥だけではなく、水トリーなどの発生した劣化ケ
ーブルの劣化度合の推定にも適用できる効果がある。
第１図はこの発明の一実施態様を示す構成説明図、第２
図は電カケープルの一例を示す断面図、第３図はこの発
明の実験例に用いるブロックサンプルの分解斜視図、第
４図は実験例の構成説明図、第５図は実験例の結果を示
す図である。 １・・・・・・電カケープル、２・・・・・・電源、３
・・・・・・導電ガラス、４・・・・・・光フアイバケ
ーブル、５・・・・・・光増幅器、６・・・・・・記録
計、７・・・・・・絶縁体、８・・・・・・半導電層シ
ート、１１・・・・・・導体、１２・・曲半導電層、１
３・・・・・・絶縁層。
図は電カケープルの一例を示す断面図、第３図はこの発
明の実験例に用いるブロックサンプルの分解斜視図、第
４図は実験例の構成説明図、第５図は実験例の結果を示
す図である。 １・・・・・・電カケープル、２・・・・・・電源、３
・・・・・・導電ガラス、４・・・・・・光フアイバケ
ーブル、５・・・・・・光増幅器、６・・・・・・記録
計、７・・・・・・絶縁体、８・・・・・・半導電層シ
ート、１１・・・・・・導体、１２・・曲半導電層、１
３・・・・・・絶縁層。
Claims (1)
- １ 導体の外周側にプラスチック絶縁層を形成した電カ
ケープルが通過しうるようにその外側に配置した導電ガ
ラスからなる電極と該導体との間に交流電圧を印加し、
前記ケーブルの欠陥部からの放電光を前記導電ガラスを
介して光フアイバ受光しかつケーブルの外部に伝送して
光増幅器で増幅させ、光強度を測定することにより、欠
陥部を検出することを特徴とする電カケープルの欠陥部
検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53159275A JPS5833505B2 (ja) | 1978-12-26 | 1978-12-26 | 電力ケ−ブルの欠陥部検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53159275A JPS5833505B2 (ja) | 1978-12-26 | 1978-12-26 | 電力ケ−ブルの欠陥部検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55101063A JPS55101063A (en) | 1980-08-01 |
| JPS5833505B2 true JPS5833505B2 (ja) | 1983-07-20 |
Family
ID=15690214
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53159275A Expired JPS5833505B2 (ja) | 1978-12-26 | 1978-12-26 | 電力ケ−ブルの欠陥部検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5833505B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2852572B2 (ja) * | 1991-07-04 | 1999-02-03 | 株式会社大塚製薬工場 | 複室容器の独立室間の密閉不良検査装置 |
| KR20020043340A (ko) * | 2000-12-02 | 2002-06-10 | 최영자 | 고전압 인가방식을 채용한 선피막 검사장치 |
| JP4497790B2 (ja) * | 2002-04-26 | 2010-07-07 | 株式会社東芝 | コイル劣化診断方法およびこの診断方法に適用するコイル劣化診断装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52110678A (en) * | 1976-03-15 | 1977-09-16 | Fuji Electric Co Ltd | Troubled point detector of gaseous insulators |
-
1978
- 1978-12-26 JP JP53159275A patent/JPS5833505B2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52110678A (en) * | 1976-03-15 | 1977-09-16 | Fuji Electric Co Ltd | Troubled point detector of gaseous insulators |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55101063A (en) | 1980-08-01 |
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