JPS5833170A - ケ−ブルテスタ - Google Patents
ケ−ブルテスタInfo
- Publication number
- JPS5833170A JPS5833170A JP56131341A JP13134181A JPS5833170A JP S5833170 A JPS5833170 A JP S5833170A JP 56131341 A JP56131341 A JP 56131341A JP 13134181 A JP13134181 A JP 13134181A JP S5833170 A JPS5833170 A JP S5833170A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- terminal
- signal
- test
- pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はケーブルテスタに関する。
従来、ζＯｓのケーブルテスタはランプによる導通テス
タが用いられたためランプの貌み散Ｊミスが発生したシ
、また信号線が多数となると読みｊｌ！！＞時間を多く
必要とする欠点があった。
タが用いられたためランプの貌み散Ｊミスが発生したシ
、また信号線が多数となると読みｊｌ！！＞時間を多く
必要とする欠点があった。
本発明は従来のもののこのような欠点を除去しテストパ
タンを自動送出し送出パタンと受信パタンを比較してケ
ーブルが正常の場合はそ０表示を行ない、異常の場合は
そのテストパタンを送出し続は各ケーブルの状態をラン
プ表示するようにしたケーブルテスタを提供するもので
ある。
タンを自動送出し送出パタンと受信パタンを比較してケ
ーブルが正常の場合はそ０表示を行ない、異常の場合は
そのテストパタンを送出し続は各ケーブルの状態をラン
プ表示するようにしたケーブルテスタを提供するもので
ある。
本発明によると、複数０４１号線を有する被試験ケーブ
ルの両端に設けられた各々のコネクタに対応して設けら
れた接続コネクタと、誼接続コネクタ０１つに収容され
る複数の信号線の１つｋｌ！号を送出し残シの信号線Ｋ
ｉ信号と異なる信号を送出する手段と、送出信号パタン
を表示する手段と、他のコネクタで検出される信号パタ
ンを表示する手段と、検出信号パタンの一致検出を行な
う手段とを有し、送出信号パタンを順次生成し前記一致
検出を行って得た信号をもとに自動的に信号送出、検出
をくシ返し、全バタン終了前に不一致が起こりた時はこ
れを表示し動作を停止させる手段及び全パタンかすべて
一致検出した事を表示す賃へ 次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
ルの両端に設けられた各々のコネクタに対応して設けら
れた接続コネクタと、誼接続コネクタ０１つに収容され
る複数の信号線の１つｋｌ！号を送出し残シの信号線Ｋ
ｉ信号と異なる信号を送出する手段と、送出信号パタン
を表示する手段と、他のコネクタで検出される信号パタ
ンを表示する手段と、検出信号パタンの一致検出を行な
う手段とを有し、送出信号パタンを順次生成し前記一致
検出を行って得た信号をもとに自動的に信号送出、検出
をくシ返し、全バタン終了前に不一致が起こりた時はこ
れを表示し動作を停止させる手段及び全パタンかすべて
一致検出した事を表示す賃へ 次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例のブロック図で、この因で１
．２は１対のケーブルを接続するコネクタで、該コネク
タ１，２間に接続されたケーブルがテストされる。ｓ、
４１ｄ聚示器で、各信号線のレベルを発光ダイオードの
点灯／消灯により表示する。
．２は１対のケーブルを接続するコネクタで、該コネク
タ１，２間に接続されたケーブルがテストされる。ｓ、
４１ｄ聚示器で、各信号線のレベルを発光ダイオードの
点灯／消灯により表示する。
りＩＫ与えている。同じデータは比較器６に入力されコ
ネクタ２の出力と比較される。比較され九データは一致
／不一致信号としてＯＲゲート７に入力され７す、プフ
ロッグ８に入力される。フリ、プフロ、グ８は端子８−
２のクロックにより端子８−１よｐｖ入力信号を保持し
その反転出力が端子８−３よシクロツクゲート回路１４
に接続される。該クロックゲート回路１４の一方の入力
にはクロツクパルス１５が入力される。１０は押ボタ、
ンスイッチで、この出力はフリップフロップ１１更に７
リツプフロツプ１１の出力はフリ、プフロ、プ１２に接
続される。ＮＡＮＤゲート１３はフリップフロツブ１２
０反転出力とフリップフロップ１１０出力を入力とし、
出力の一方はシフトレジスタ５のデータ入力端子５−Ｉ
Ｋ、他の一方は微分回路９を通してシフトレジスタ５の
リセット入力端子５−２と、フリ、ラフ０．プ８のリセ
ット人力に入力される。
ネクタ２の出力と比較される。比較され九データは一致
／不一致信号としてＯＲゲート７に入力され７す、プフ
ロッグ８に入力される。フリ、プフロ、グ８は端子８−
２のクロックにより端子８−１よｐｖ入力信号を保持し
その反転出力が端子８−３よシクロツクゲート回路１４
に接続される。該クロックゲート回路１４の一方の入力
にはクロツクパルス１５が入力される。１０は押ボタ、
ンスイッチで、この出力はフリップフロップ１１更に７
リツプフロツプ１１の出力はフリ、プフロ、プ１２に接
続される。ＮＡＮＤゲート１３はフリップフロツブ１２
０反転出力とフリップフロップ１１０出力を入力とし、
出力の一方はシフトレジスタ５のデータ入力端子５−Ｉ
Ｋ、他の一方は微分回路９を通してシフトレジスタ５の
リセット入力端子５−２と、フリ、ラフ０．プ８のリセ
ット人力に入力される。
次にその動作を説明する。スイッチ１０をオン一オフす
るスイッチｌＯの出力として押している間だけ論理レベ
ル１１１０信号が現われる。これによりフリップフロッ
グ１１は１クロ、り周期間１１１になる。次いで次の周
期ＫＦｉ７＋）ｙプフロ、プ１２が１クロ、り周期間“
ｌ”ｋなる。ＮＡＮＤゲート１″３はフリップフロッグ
１１と７リツプフロツプ１２０反転出力を供給され、Ｎ
ＡＮＤゲート１３の出力は、従ってスイッチ１０を押し
た時ｌクロック肩期分だけ６０°の出力が得られる。こ
れは第２図のタイムテヤトではクロ、クパルス１５．押
しボタン信号１０−１．ＮＡＮＤゲート１３の出力１３
−１として表わされている。ＮＡＮＤゲート１３０出力
の１つは立ち下が１微分回路９によりシフトレジスタ５
を全１１１に、またフリ、グフロ、プ８をリセットする
信号となる。フリップフロ、プ８がリセットされる事に
よシ反転出力端子８−３よシｅ信号は＠１’ＫＩＡＮＤ
ゲート１４がＷＩａＩクロックパルスがシフトレジスタ
５に供給される。
るスイッチｌＯの出力として押している間だけ論理レベ
ル１１１０信号が現われる。これによりフリップフロッ
グ１１は１クロ、り周期間１１１になる。次いで次の周
期ＫＦｉ７＋）ｙプフロ、プ１２が１クロ、り周期間“
ｌ”ｋなる。ＮＡＮＤゲート１″３はフリップフロッグ
１１と７リツプフロツプ１２０反転出力を供給され、Ｎ
ＡＮＤゲート１３の出力は、従ってスイッチ１０を押し
た時ｌクロック肩期分だけ６０°の出力が得られる。こ
れは第２図のタイムテヤトではクロ、クパルス１５．押
しボタン信号１０−１．ＮＡＮＤゲート１３の出力１３
−１として表わされている。ＮＡＮＤゲート１３０出力
の１つは立ち下が１微分回路９によりシフトレジスタ５
を全１１１に、またフリ、グフロ、プ８をリセットする
信号となる。フリップフロ、プ８がリセットされる事に
よシ反転出力端子８−３よシｅ信号は＠１’ＫＩＡＮＤ
ゲート１４がＷＩａＩクロックパルスがシフトレジスタ
５に供給される。
シフトレジスタ５０直列データ入力端子５−１ＫはＮＡ
ＮＤゲート１３の出力が接続されているので端子５−３
にクロックが到来すると端子５−５の出力は”Ｏ’にな
る。端子５−６〜５−８は＠１１である。被テストケー
ブルはコネクタ１，２に関に接続されているのでこの信
号はコネクタ２に到達する。比較器６はコネクターに与
えられ信号とコネクタ２に到達した信号を比較し一致し
ていれば比較器出力端子６−１の出力は１１８となる。
ＮＤゲート１３の出力が接続されているので端子５−３
にクロックが到来すると端子５−５の出力は”Ｏ’にな
る。端子５−６〜５−８は＠１１である。被テストケー
ブルはコネクタ１，２に関に接続されているのでこの信
号はコネクタ２に到達する。比較器６はコネクターに与
えられ信号とコネクタ２に到達した信号を比較し一致し
ていれば比較器出力端子６−１の出力は１１８となる。
もし端子５−５．６−２間が断線していれば端子６−２
はオープン状態となり、比較器はオープン状態、を１１
１と判定するよう設計されている為比較器出力は１０１
となる。また端子５−５．６−２間が接続正常でたとえ
ば端子６−２．６−３間がケーブル短絡しているとすれ
ば、端子５−５の出力は０レベルにｉ多端子６−３の出
力もＯレベルになシやは夛不一致となる。このようにす
るためシフトレジスタの各出力はオープンコレクタ出力
になっている。
はオープン状態となり、比較器はオープン状態、を１１
１と判定するよう設計されている為比較器出力は１０１
となる。また端子５−５．６−２間が接続正常でたとえ
ば端子６−２．６−３間がケーブル短絡しているとすれ
ば、端子５−５の出力は０レベルにｉ多端子６−３の出
力もＯレベルになシやは夛不一致となる。このようにす
るためシフトレジスタの各出力はオープンコレクタ出力
になっている。
正常であると端子６−１の出力１１１がＯＲゲート７に
達しＯＲゲート７の出力は８０ｍとなる。従って７リツ
プフロツプ８には１０１が端子８−２のクロ、りによシ
ラッチされるので出力端子８−３の信号は１１１の１ま
である。こうして４クロ、り周期経過すると端子５−８
の出力が１６１とな夛０較スゲ−ドア出力が°１°とな
り、フリ、グフロ、プ８がａｌｌを読み込み端子８−３
の出力が１０１になるのでゲートが閉じシフトレジスタ
は停止する。
達しＯＲゲート７の出力は８０ｍとなる。従って７リツ
プフロツプ８には１０１が端子８−２のクロ、りによシ
ラッチされるので出力端子８−３の信号は１１１の１ま
である。こうして４クロ、り周期経過すると端子５−８
の出力が１６１とな夛０較スゲ−ドア出力が°１°とな
り、フリ、グフロ、プ８がａｌｌを読み込み端子８−３
の出力が１０１になるのでゲートが閉じシフトレジスタ
は停止する。
その時表示器３．４は第３図のように点灯する。
もし途中で例えば第４図のように断線があればシフトレ
ジスタはその箇所で停止し第４図のように点灯して２番
目が断線であるとわかる。また線内の短絡の場合には、
第５図のように点灯する。
ジスタはその箇所で停止し第４図のように点灯して２番
目が断線であるとわかる。また線内の短絡の場合には、
第５図のように点灯する。
本発明は以上説明したようにケーブルテスタを容易に構
成する事ができ持ち運びが容易で、ケーブルの異常を迅
速に見つける事のできるケーブルテスタを提供できる効
果がある。
成する事ができ持ち運びが容易で、ケーブルの異常を迅
速に見つける事のできるケーブルテスタを提供できる効
果がある。
第１図は本発明の一実施例を示すプロ、り図、第２図は
その各部波形図、第３図、第４図、第５図はそのランプ
の点灯状態を示す図である。 １．２−−−−ケーブルテスタ、３．４−・・・・表示
器、５°°゛°−シフトレジスタ、５−１″″″°°°
直列データ入力端子、５−２・・・−ａｌｌ”ｌ雪すセ
、ト端子、５−３′・°・・・クロック入力、５−５〜
５−８−・・・・並列データオープンコレクタ出力、６
・・・・・・比較器、６−１−−一比較出力、６−２〜
６−５．６−６〜６−９−・・・・比較器入力、７・−
・・・−０８ゲート、８・−・°°°フリップフロ、プ
、８−１−・・・・データ入力、８−２°°°−クロッ
ク入力、８−３・・・・−反転出力、９・・ニー微分回
路、１０・・・−・・押しボタン回路、１１゜１２・・
−一・フリップフロ、プ、−１３・・・・・・ＮＡＮＤ
ゲート、１４・−・−・ＡＮＤゲート、１５−・・・・
クロ、クパルス入力。 第３図 第４図 第５図
その各部波形図、第３図、第４図、第５図はそのランプ
の点灯状態を示す図である。 １．２−−−−ケーブルテスタ、３．４−・・・・表示
器、５°°゛°−シフトレジスタ、５−１″″″°°°
直列データ入力端子、５−２・・・−ａｌｌ”ｌ雪すセ
、ト端子、５−３′・°・・・クロック入力、５−５〜
５−８−・・・・並列データオープンコレクタ出力、６
・・・・・・比較器、６−１−−一比較出力、６−２〜
６−５．６−６〜６−９−・・・・比較器入力、７・−
・・・−０８ゲート、８・−・°°°フリップフロ、プ
、８−１−・・・・データ入力、８−２°°°−クロッ
ク入力、８−３・・・・−反転出力、９・・ニー微分回
路、１０・・・−・・押しボタン回路、１１゜１２・・
−一・フリップフロ、プ、−１３・・・・・・ＮＡＮＤ
ゲート、１４・−・−・ＡＮＤゲート、１５−・・・・
クロ、クパルス入力。 第３図 第４図 第５図
Claims (1)
- 複数Ｏ１！号線を有する被試験ケーブルの両端に設けら
れ丸缶々のコネクタに対応して設けられた接続コネクタ
と、該接続コネクタの１つに収容さ送出信号パタンを表
示する手段と、他のコネクタで検出される信号パタンを
表示する手段と、検出信号メタンの一致検出を行なう手
段とを有し、送出信号パタンを順次生成し前記一致検出
を行って得た信号をもとに自動的Ｅｌ１号送出、・検出
をくシ返し、全パタン終了前に不一致が起こった時はこ
れを表示し動作を停止させる手段及び全バタンが
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56131341A JPS5833170A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | ケ−ブルテスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56131341A JPS5833170A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | ケ−ブルテスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5833170A true JPS5833170A (ja) | 1983-02-26 |
Family
ID=15055671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56131341A Pending JPS5833170A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | ケ−ブルテスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5833170A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0518068A1 (de) * | 1991-06-10 | 1992-12-16 | GRUNDIG E.M.V. Elektro-Mechanische Versuchsanstalt Max Grundig holländ. Stiftung & Co. KG. | Verfahren zum Testen von Displaybausteinen und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens |
| WO2008061413A1 (fr) * | 2006-11-24 | 2008-05-29 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Procédé, dispositif et système permettant de reconnaître un type de câble et un câble de commutation |
-
1981
- 1981-08-21 JP JP56131341A patent/JPS5833170A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0518068A1 (de) * | 1991-06-10 | 1992-12-16 | GRUNDIG E.M.V. Elektro-Mechanische Versuchsanstalt Max Grundig holländ. Stiftung & Co. KG. | Verfahren zum Testen von Displaybausteinen und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens |
| WO2008061413A1 (fr) * | 2006-11-24 | 2008-05-29 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Procédé, dispositif et système permettant de reconnaître un type de câble et un câble de commutation |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5228072A (en) | Multiwire-pair telecommunications test system | |
| US4901003A (en) | Telecommunications wiring test apparatus and method including two color display indicating correct wiring | |
| CN210894646U (zh) | 一种用于电缆芯快速对线的装置 | |
| CN204116430U (zh) | 一种继电保护多路出口压板脉冲电压检测装置 | |
| CN104237603A (zh) | 一种继电保护多路出口压板脉冲电压检测装置 | |
| US4385272A (en) | Cable checker utilizing logic circuitry | |
| US20050083067A1 (en) | Coded multi-frequency transmitter and receiver for testing multi-conductor cables | |
| CN110609190A (zh) | 一种继电保护装置出口校验仪器及其方法 | |
| JPS5833170A (ja) | ケ−ブルテスタ | |
| US4009437A (en) | Net analyzer for electronic circuits | |
| CN209513951U (zh) | 伺服驱动系统线缆检测装置 | |
| JPH0234071A (ja) | ポート・テスト装置 | |
| US6605966B1 (en) | Apparatus and method for testing crossover voltage of differential signals | |
| CN2159029Y (zh) | 多芯电缆检测仪 | |
| CN202512728U (zh) | 抄表终端硬件检测工装 | |
| JPS5850379B2 (ja) | 回路試験装置 | |
| CN221199905U (zh) | 一种航插电缆通断检测装置 | |
| JP3203787B2 (ja) | 接続器の接続状態試験器 | |
| CN214473744U (zh) | 运用于芯片开短路测试及漏电流测试的测试电路 | |
| JPS5839421Y2 (ja) | 線路接続状態検出装置 | |
| CN219799640U (zh) | 一种电缆检测装置 | |
| CN202018475U (zh) | 一种可以进行信号连接提示的测试设备 | |
| CN213149204U (zh) | 一种航空线缆的检测装置 | |
| JPS6319811Y2 (ja) | ||
| SU564611A1 (ru) | Устройство дл проверки и маркировки многожильного кабел |