JPS5831551B2 - X線検出器 - Google Patents

X線検出器

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JPS5831551B2
JPS5831551B2 JP51018541A JP1854176A JPS5831551B2 JP S5831551 B2 JPS5831551 B2 JP S5831551B2 JP 51018541 A JP51018541 A JP 51018541A JP 1854176 A JP1854176 A JP 1854176A JP S5831551 B2 JPS5831551 B2 JP S5831551B2
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ray
ray detector
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anode
anodes
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ジヨン・メピス・ヒユーストン
ナツサン・レイ・ホウエツテン
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General Electric Co
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Publication date
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J47/00Tubes for determining the presence, intensity, density or energy of radiation or particles
    • H01J47/02Ionisation chambers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/29Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2914Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2921Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras
    • G01T1/2935Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras using ionisation detectors

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電離箱X線検出器に係わる。
より詳しくは、本発明はコンピユータ化された断層写真
装置に高圧気体を使用して成る多層検出器に関する。
コンピユータ化されたX線レントゲン断層写真に於いて
は、空間的に分布されたX線強度分布を電気信号に翻訳
しこの信号を処理して像を形成しなければならない。
こうした装置に使用するための検出器は高度な空間的分
解能をもって効率よくX線電磁エネルギを検出しなけれ
ばならない。
断層写真装置に於けるX線パルス繰返数は一般にX線検
出器の回復時間によって限定される。
それ故、早い回復時間、高い感度及び精細な空間分解能
によって特徴づけられるX線検出器の利用が望ましい。
提案されたX線断層写真装置は数百のこうしたX線検出
器を使用する。
多数の空間的に分離された検出隔室を単一の検出器アセ
ンブリ内に導入する多層構造物はこうした装置の製造に
経済的な手段を提供する。
本発明によれば、X線電磁放射線は高い原子量の高圧気
体内で検出される。
X線光子が電界の存在下でこの気体と相互作用をなして
光電子−イオン対をもたらす。
こうして生じた電子は整夕1ルた正に荷電の電極上に集
められ電極近傍にX線強度に比例した電流を発生する。
本発明の一具体例に於りては、正の電極は線状に整夕1
ルた複数の平行な金属棒から戒って一対の平行に置かれ
た負の平坦な電極の中間に配置される。
X線光子と気体との相互作用によって生じる電子と正イ
オンは電界ラインに沿って流動しそれぞれ正及び負の電
極上に収集される。
後続のX線パルスがはっきりと検出される前に、X線パ
ルスと気体との相互作用によって生じた電子及びイオン
の殆んど全てが収集され検出器から取り出されていなけ
ればならない。
効率のよいコンピユータ化断層写真装置には高いパルス
繰返数が要求されるのでこうした装置に使用するために
はイオン−電子収集時間の短い検出器が望ましい。
本発明の一具体例では入射X線ビームとほぼ平行に横た
わる密な間隔で平行に置かれた複数の板状電極を有する
高圧電離箱から成る。
この電極配列形体は電子−イオン対の取り出しを早め比
較的低い電極電位にて高いX線パルス繰返数の使用を可
能にする。
本発明の電離X線検出器に使われる重い気体原子はケイ
光を発する傾向があり、低いエネルギのX線周波数で光
子を放射する。
これ等の低エネルギX線光子は検出器気体内に於いて比
較的長い飛程を有し検出器の空間分解能を劣化せしめる
傾向がある。
本発明の平行な板電極は原子量の大きな物質で構成する
ことができこれによりそうした低エネルギの二次光子を
検出器隔室の境界域で吸収する働きをなししかして検出
器の空間分解能を改善する。
各X線照射から入手できる情報を最大限に利用ししかし
て全放射線照射量を最小とするためには効率の高いX線
検出器が必要である。
断層写真検出器はその為、入射するX線光子の少なくと
も50%を検出する必要がある。
装置が安全かつ効率よく動作するには普通、代表的なエ
ネルギ範囲が30KEV〜100KEVである入射X線
ビームの70%以上を検出できる検出器が必要である。
本発明の特徴と信ぜられる新規な特性は特許請求の範囲
に開示されている。
以下図面をもとに詳述するところにより、本発明はその
目的及び利点と共に一層理解されよう。
X線光子は検出器の重い気体の原子と相互作用し電子−
イオン対を発生する。
X線光子は一般に気体原子によって吸収され、この原子
がその一電子レベルから光電子を放出する。
光電子は気体中を移動して他の気体原子と相互作用をな
しこれをイオン化して電子と正イオンとを雨を降らす如
くもたらし、これ等電子及び正イオンは適当な電極上に
収集され電流の流れを発生せしむる。
例えばもし約10気圧のキセノンガスを60KEYのX
線光子で照射すると、光電子が34.5KEYのキセノ
ンに殻から約25.5KEYで噴射される。
25.5KEYの光電子はキセノン中で約1間の飛程を
有し、各々が約800電子−イオン対をもたらす。
もしこれ等の電子−イオン対が反対の極性をした2つの
電極間に於ける領域に生ずると、これ等は電解ラインに
沿って電極まで流動し電極間に正味電流流れをもたらす
しかして電極間を流れる電流はこうした電極の近傍で相
互作用するX線光子の総数の関数となる。
X線光子の検出の確率は収集電極間に介在する気体の原
子番号及び原子量の関数である。
しかして、感度の高い検出器は比較的高圧下にある原子
量の大きな気体から構成できる。
検出器の感度は又、電極間の空間を増し、しかしてその
間の気体分子の数を増大することによっても増大しうる
しかし、電極間の空間を増せば電子−イオン対が収集に
向って流動しなければならない距離が増すから検出器の
回復時間を増す傾向がある。
電極間の電界勾配を増せば電子−イオン流動速度を増大
し検出器回復時間を幾分短縮することになろうが、この
流動速度は電極の電圧の増加につれて比較的小さな割合
でしか増大しない。
更に、電界勾配が過度になると気体崩壊のなだれ現象を
起し検出感度に於ける応答に極めて非線形的な応答を生
せしめる。
本発明の検出器は気体のなだれ崩壊を起すに満たない電
界勾配で動作するものである。
即ち、本発明の検出器は電離箱として特徴づけることが
でき比例計算管として特徴づけることはできない。
上述した電子−イオン対の発生はに殻噴射の光電子から
のエネルギ伝達のみに起因するものであって、印加電界
の影響下に移動する電子又はイオンの衝突によって起る
のではない。
電離箱検出器に使用するのに適した電界勾配の値は当業
界で周知でありMedical Radiation
Physics。
W、 R,Hendee 9Year Book Me
d 1calPubl 1shers 、 Chica
goのChapter 4及び17に十分記載されてい
る。
本発明の検出器が動作する電界勾配は略10v/mm乃
至略1000v/關である。
重い気体原子からに殻光電子が放出して生じた間隙は一
般に1殻電子の落下によって充填される。
1殻からに殻レベルへの電子の落下によって生じたエネ
ルギ差は二次X線光子の形態で放射される。
例えば、キセノンガスでは1殻からに殻レベルへの移動
によって29KEYのX線光子が生ずる。
高圧気体に於けるこれ等の二次光子の飛程は光電子の飛
程より一般にずっと大きい。
例えば、10気圧のキセノン中に於いては、25.5K
EYの光電子は略1關の飛程を有するのに対し29KE
YのX線は約20mmの飛程を有する。
入射X線光子により励起されて重い気体原子がケイ光を
発しこれによって二次光子が生ずるが、この二次光子は
検出器内の他の重い気体分子によって吸収され入射X線
光子と区別できなくなる。
このように、−個の電極隔室の領域でケイ光によって生
じた光子は多層検出器を通ってもう一つの電極隔室の領
域まで走行できここで入射X線と同じように検出される
それ故、k殻のケイ光効果は多層電離箱検出器に於ける
空間分解能を劣化させる原因となるものと見ることがで
きる。
第1図は本発明の多層X線検出器の具体例を例示する。
圧力容器10は高圧の検出器ガス12を含む。
圧力容器10の一方の側は薄い窓14を区画し、窓14
はX線周波数にある電磁放射線に対し実質上透過性であ
る。
窓14は放射線検出技術界に於けるこうした目的に対し
周知でありかつ又普通に使用されているところの任意の
物質から構成でき、例えばアルミニウム、プラスチック
樹脂又は原子番号の低い金属によって強化されたプラス
チック樹脂マトリックスから構成できる。
術語1実質上透過性“という語はここでは、X線放射線
が窓物質と相互作用をなす確率がそうしたX線放射線が
検出器ガス12と相互作用をなす確率よりもずっと小さ
いことを意味する。
検出器ガス12は圧力容器10を充填し、そしてX線周
波数の電磁放射線に対し実質上不透過性であるように選
択される。
ここに使用する術語1実質上不透過性“とは、X線放射
線が検出器ガス12と相互作用をなす確率が、そうした
電磁放射線が窓14と相互作用する確率よりずっと大き
いことを意味する。
ガス12の気体の種類、気体の圧力及び電極間隔は当業
界に周知の方法を使って選び、入射X線光子の犬き゛な
割合(典型的には70%以上)が気体内に吸収されるよ
うにする。
検出器ガス12は典型的には原子番号の大きな希ガス例
えばキセノン、クリプトン、アルゴン、又はアルゴンの
原子量より大きい原子量をした原子を含んだ分子状ガス
から成ることができ、その圧力は約10気圧乃至約50
気圧である。
第1及び1a図は本発明の検出器のもう一つの具体例を
示している。
X線透過性の窓14を持った圧力容器10に上述した種
類の検出器ガス12を上述したように充填する。
複数の平坦なアノード42を窓14に対しほぼ垂直な方
向に向けて圧力容器10内に整列させる。
アノード42は複数のリード22に個別に接続されてお
り、リード22は圧力容器を通って誘電性貫通送り24
上を通る。
金属板カソード38をアノード42の各々の間に等距離
で位置づける。
カソード38はり−ド30によって並列に接続され、リ
ード30は圧力容器10を通って誘電性貫通送り40上
を通る。
アノード板42とカソード板38はX線周波数の電磁放
射線に対し実質上不透過性の金属から構成される。
原子番号の大きな金属例えばモリブデン、タンタル又は
タングステンがアノード42及びカソード38として使
用するのに適している。
単に説明として掲げると、典型的な検出器に於けるアノ
ード及びカソード板は0.05mmのモリブデン又はタ
ングステンシートから構成される。
カソードリード30及びアノードリード22を信号プロ
セッサ26及び電位源28に上述の態様にて電気的に接
続する。
X線放射線32の光子は窓14からアノード板42及び
カソード板38に対しほぼ平行な方向にて検出器に入る
光子はアノード板42とカソード板38の間の領域で充
填ガス12と相互作用する。
ガス12と光子32との相互作用によって生じた電子−
イオン対はアノードとカソードの間の電界ラインに沿っ
て流動しこれ等電極上に集められて電流信号を発生する
ある特定のアノード42から流れる電流はそのアノード
とこれに隣接する一対のカソード38との間の空間に於
けるガス12と相互作用をなすX線光子の数に比例する
検出器のこの具体例にあっては、k帯X線ケイ光の分解
能制限効果には非感応性である。
アノード板42とカソード板38との間の領域でのケイ
光現象によって生ずるいかなるX線光子も、電子−イオ
ン対を発生しこれ等の対が隣接するアノードまで流動す
る可能性が生ずる前に、カソード板38を通過しなけれ
ばならない。
上述したように、カソード板38はX線光子に対し実質
的に不透過性の材料から構成されておりしかして隣接す
るアノード隔室に電流を生ずるに十分な飛程を有するケ
イ光X線光子の入射は大いに減少する。
この具体例のアノード42及びカソード38構造物は光
子の入射方向に対し平行に横たわる。
それ故、アノード42とカソード38の板は比較的密な
間隔で組み立てられて検出器の回復時間を短縮し、他方
板の長さが増大できるから検出器の感度が高くなる。
説明にとどまるものであるが、典型的な検出器ではアノ
ード及びカソード板は2間センタ上に装着される。
この具体例の検出器の電極板が平行であることは又外部
の物体(即ち検査中の組のから散乱されたり斜角をなし
て検出器に入って来る入射光子を吸収するにも役立つ。
第2図は第1図の検出器に利用できるアノード板42の
別の具体例を示している。
この具体例では、各アノード板は薄い誘電体シート46
から成っており、このシート46は例えばセラミック、
マイカ、又はMy I a r (商標名)プラスチッ
ク樹脂のシートから構成できる。
X線周波数の電磁放射線に対し実質上不透過性の金属か
ら構成された1対の電極44を誘電体シート46の両側
に配置する。
別々のリード22を各々の金属電極44に接続しこれ等
リードを圧力容器10を通して別々の誘電体貫通送り2
3上に通す。
アノード板42の対向側に流れる電子の流れをこのよう
にして別々の金属シート44上に集めて信号プロセッサ
26に別個に伝送する。
この検出器の空間分解能はこうして2倍増大する。
アノードとカソード板の組立体を構成する方法が第3図
に例示されている。
アノード板42とカソード板38が複数の絶縁ボルト上
に交互に積み重られる。
一連の管状絶縁物50をアノード板42とカソード板3
8との間にあってボルト48上にねじ込み電極板を位置
づける。
平行化したX線ビームの検出に対しては電極板を平行に
整列させて装置でき又絶縁物50の厚さを変えて発散す
るX線ビームの検出に適した曲線型の電極整列を形成す
ることもできる。
以上より、本発明が線形の空間分布をしたX線強度に応
答した電気信号を発生するX線検出器構造を提供するこ
とがわかる。
この構造は感度力塙く、回復時間が短くそして空間分解
能が精細であリに殻のX線ケイ光の悪影響に対し比較的
非感応性である検出器の構成を可能にする。
本発明の好ましい具体例の記載例に於ける電極は記載の
容易さから1カソード“及びゝアノード“とじて言及さ
れている。
しかし、これ等電極に印加する電位の極性をば開示の発
明の動作原理に影響を及ぼすことなく逆転することがで
き、又1カソード”電位に対して、負の電位を印加して
1アノード“構造を動作させることができることを理解
されるべきである。
ここに使用する術語1カソード“及び1アノード“は反
対の極性をした電極を意味するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は平行な板カソードとアノードを導入した本発明
の検出器の別の具体例、第1a図は第1図の検出器の具
体例の頂面図、第2図は第1図の検出器のためのアノー
ド構造の別な具体例、そして第3図は第1a図に示した
種類の検出器に第2図のアノードを導入した構造の図で
ある。 10・・・・・・圧力容器、12・・・・・・検出器ガ
ス、14・・・・・・窓、26・・・・・・信号処理回
路、28・・・・・・直流電位源、32・・・・・・入
射X線、34・・・・・・38・・・・・・カソード、
42・・・・・・アノード、44・・・・・・電極、4
6・・・・・・誘電体シート。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 X線周波数にある電磁放射線に対し実質的に不透過
    性であると特徴づけられる種類の気体状媒質、前記気体
    状媒質内に配置されX線周波数にある電磁放射線に対し
    実質的に不透過性であると特徴づけられる物質からなる
    複数の実質上平面なシート状アノード、前記気体状媒質
    内に配置されX線周波数にある電磁放射線に対し実質的
    に不透過性であると特徴づけられる物質からなり各々が
    前記アノードの2個の間にほぼ等距離で横たわる複数の
    実質上平面なシート状カソード、前記カソードと前記ア
    ノードの間に直流電位を印加する手段及び前記アノード
    と前記電位を印加する手段との間に直列に接続され各ア
    ノードからの電流を別々に測定する手段を有し、前記ア
    ノードとカソードが検出される放射線の方向に実質上平
    行に配置されたX線検出器。 2 前記アノードが実質上平行である特許請求の範囲第
    1項記載のX線検出器。 3 前記アノードが互いに等距離に隔てられている特許
    請求の範囲第1項又は第2項記載のX線検出器。 4 前記アノードのそれぞれが、2つの側部を持った平
    坦な誘電体板と該誘電体板の前記側部に配置された2つ
    の金属性電極から戒っている特許請求の範囲第1項乃至
    第3項のいずれか1項に記載のX線検出器。 5 前記アノード、前記カソード及び前記気体状媒質を
    内蔵するようにこれ等のまわりに圧力容器を配置した特
    許請求の範囲第1項乃至第4項のいずれか1項に記載の
    X線検出器。 6 前記の圧力容器が前記カソードと垂直をなした窓を
    含み、故意がX線周波数にある電磁放射線に対し実質上
    透過性であると特徴づけられる特許請求の範囲第5項記
    載のX線検出器。 7 前記窓がアルミニウム又はプラスチック樹脂から成
    っている特許請求の範囲第6項記載のX線検出器。 8 前記気体状媒質がアルゴンの原子量よりか大きいか
    又はこれと等しい原子量の元素から成っている特許請求
    の範囲第1項乃至第7項のいずれか1項に記載のX線検
    出器。 9 前記気体状媒質がアルゴン、クリプトン又はキセノ
    ンである特許請求の範囲第8項記載のX線検出器。 10前記気体状媒質の圧力が略10気圧及至約50気圧
    である特許請求の範囲第1項乃至第9項のいずれか1項
    に記載のX線検出器。 11 前記の電位源が前記アノードと前記カソードを
    分離している領域内に略10 v /mrn乃至略10
    00 v/mrrtの電界勾配を印加するのに適してい
    る特許請求の範囲第1項乃至第10項のいずれか1項に
    記載のX線検出器。 12前記電位源の大きさが前記検出器を電離箱の態様で
    動作されるよう選択されている特許請求の範囲第1項乃
    至第11項のいずれか1項に記載のX線検出器。 13前記アノード及びカソードがタンタル、タングステ
    ン、又はモリブデンからなる特許請求の範囲第1項乃至
    第12のいずれか1項に記載のX線検出器。
JP51018541A 1975-02-28 1976-02-24 X線検出器 Expired JPS5831551B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US55417175A 1975-02-28 1975-02-28

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JPS51126085A JPS51126085A (en) 1976-11-02
JPS5831551B2 true JPS5831551B2 (ja) 1983-07-06

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ID=24212303

Family Applications (1)

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AU (1) AU500502B2 (ja)
BE (1) BE838956A (ja)
BR (1) BR7601222A (ja)
DE (2) DE2607801A1 (ja)
ES (1) ES445664A1 (ja)
FR (1) FR2302587A1 (ja)
GB (2) GB1543651A (ja)
IT (1) IT1054879B (ja)
NL (1) NL186122C (ja)
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