JPS5829569B2 - パタ−ン内蔵形撮像管 - Google Patents

パタ−ン内蔵形撮像管

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JPS5829569B2
JPS5829569B2 JP10055676A JP10055676A JPS5829569B2 JP S5829569 B2 JPS5829569 B2 JP S5829569B2 JP 10055676 A JP10055676 A JP 10055676A JP 10055676 A JP10055676 A JP 10055676A JP S5829569 B2 JPS5829569 B2 JP S5829569B2
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JP
Japan
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pattern
image
built
test pattern
image pickup
Prior art date
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Expired
Application number
JP10055676A
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English (en)
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JPS5326519A (en
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博一 惣慶
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS5326519A publication Critical patent/JPS5326519A/ja
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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はテスト用のパターンを内蔵した撮像管に関する
ものである。
従来、撮蔵機の画質特性を調整するのには、テストパタ
ーン図形を撮像管で撮像しこれをブラウン管で受像しこ
のフェースプレート面に映った図形を見て画像歪等を測
定していた。
しかしながらこの方法によると目でわかる程度の大きい
歪は測定できるが微細な歪を測定することは不可能であ
った。
本発明は従来のこのような点を改善すべく考えられたも
ので、撮像間の中にテストパターンを内蔵させこれと同
図形のテストパターンを結像レンズを通して撮像し、両
方の出力信号を比較することにより、結像レンズの画像
歪等各種特性の測定を簡易にしかも精度良くなすことが
出来るようなパターン内蔵形撮像管を提供することを目
的とするものである。
以下、本発明の詳細を実施例により説明する。
第１図は本発明のパターン内蔵形撮像管の一実施例のビ
ジコン形撮像管の概略側断面図を示す。
図において、ガラス円筒容器１の前面にはガラスのフェ
ースプレート２が形成され、これらの内部は真空に気密
されており、この中に陰極３、第１グリツド４、第２グ
リツド５からなる電子銃６と集束電極７とメツシュ８が
封入されている。
フェースプレート２の内面には透光性材料にテストパタ
ーンを印刷した内蔵テストパターン９が形成されている
。
内蔵テストパターン９の上にはＳｎＯ２等の透明導電膜
１０が形成され、さらにその上に５ｂ２８３等の光導電
膜１１が形成されている。
透明導電膜１０は導電シール材１２を介して外部取出電
極１３に電気的に接続されている。
ガラス円筒容器１の外側には電子銃６から出た電子ビー
ムを集束させるための集束コイル１４と電子ビームを光
導電膜１１の面上に走査させるための偏向コイル１５が
設けられている。
このような構成において、結像レンズ１６を通して撮像
された被撮像体１７の像は、フェースプレート２、内蔵
テストパターン９、透明導電膜１０を通過して、光導電
膜１１の面にその明暗光学画像に対応した電荷画像を生
成する。
電子銃６から発射された電子ビームは偏向コイル１５に
より水平、垂直方向に走査され、この走査位置の電荷の
量に応じて透明導電膜１０に電流が流れ外部取出電極１
３から出力電流となって外部回路に導かれる。
この出力電流は抵抗１８に流れコンデンサ１９を経て出
力信号となって取出され、映像増幅器２０に入り、ここ
で各種画像処理された後、映像信号となる。
なお、２１は透明導電膜１０に電圧を供給するための電
源である。
この撮像管においては、光導電膜１１の前面に内蔵テス
トパターン９が設けられているので、この印刷されたパ
ターン画像が光導電膜１１上に常時生成されており、被
撮像体の有無にかかわらずテストパターン信号が出力と
して得られる。
いま内蔵テストパターン９に第２図９ａに示すようなパ
ターンを印刷しであるとすると、これと相似的に同形の
図形パターン１７ａを有するような被撮像体を撮像管に
より結像レンズ１６を通して撮像すると、光導電膜１１
には同一の画像が生成される。
従ってこれらの出力信号を比較すると歪がなければ完全
に一致して一個のパターンが得られるが、面出力信号に
差異があればこれを測定することにより結像レンズの画
像歪等の特性を調べることができる。
両信号を比較して測定するので、わずかの差でも検出で
き高精度の測定が非熟練者でも容易に行なうことができ
る。
第２図に示すパターンの例では内蔵テストパターンと被
撮像体の各パターンを相似で同一にしたが、これらを相
似の同図形で一方をポジ像とし他方をネガ像として印刷
すると、両者を合成して得られる出力信号は平担になり
、もし撮像したパターンに差異があると信号として顕著
にあられれるので測定精度をさらに向上させることが可
能である。
また、均一で適度な照度の白色光を撮像管の前面から照
射することにより、内蔵テストパターン９の信号のみ出
力信号として取出し映像増幅器２０で画像処理し、モノ
スコープ装置と同様に各種機器のテスト信号として用い
ることも可能である。
また、前記撮像管と別の実施例として、内蔵テストパタ
ーンを別個に設けないで透明導電膜の中に一体に形成す
ることもできる。
例えば第２図に示したような網目のテストパターンの場
合、網目部のみ導電性にし他は絶縁性にした膜を形成し
て内蔵テストパターンを構成し、光学画像を経ず等価的
に直接電荷画像を作って電子ビームの走査により網目パ
ターンの出力信号を得ることができる。
ネガ像でもポジ像でも同図形の被撮像体を撮像した網目
のパターンは透明導電膜の網目の上に一致して生成した
像のみ信号として送出されるので、結像レンズが歪んで
いると出力信号からこれを検出できる。
このようにして撮像機でテストパターンの被撮像体を本
発明の撮像管で撮像し、その出力信号により結像レンズ
等の光学系に歪があれば、これを修正して画像歪のない
ようにして後正式の撮像管をセットして撮像することが
できる。
以上のように本発明のパターン内成形撮像管によれば、
撮像管のフェースプレート内面にテストパターンを形成
し、前記テストパターンと同図形のパターンを有する被
撮像体を結像レンズを通して撮像し、電子ビームの走査
により得られる信号を比較して前記結像レンズの特性を
測定するようにしたことにより、テレビ撮像機の結像レ
ンズの画像歪等の特性測定を簡易にしかも非常に精度良
く行ない得る効果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明のパターン内成形撮像管の一実施例の概
略側断面図、第２図は内蔵テストパターンと被撮像管の
パターン図形の一実施例の図である。 １・・・・・・ガラス円筒容器、２・・・・・・フェー
スプレート、６・・・・・・電子銃、７・・・・・・集
束電極、８・・・・・・メツシュ、９・・・・・・内蔵
テストパターン、１０・・・・・・透明導電膜、１１・
・・・・・光導電膜、１３・・・・・・外部取出電極、
１４・・・・・・集束コイル、１５・・・・・・偏向コ
イル、１６・・・・・・結像レンズ、１１・・・・・・
被撮像体。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １ 撮像管のフェースプレート内面にテストパターンを
    形成し、前記テストパターンと同図形のパターンを有す
    る被撮像体を結像レンズを通して撮像し、電子ビームの
    走査により得られる信号を比較して前記結像レンズの特
    性を測定するようにしたことを特徴とするパターン内蔵
    形撮像管。
JP10055676A 1976-08-25 1976-08-25 パタ−ン内蔵形撮像管 Expired JPS5829569B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP10055676A JPS5829569B2 (ja) 1976-08-25 1976-08-25 パタ−ン内蔵形撮像管

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JPS5326519A JPS5326519A (en) 1978-03-11
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