JPS5828211Y2 - Hentai-yoshi-gaisen-riyou-no-keikou-tai-kenshi-tsu-souchi - Google Patents

Hentai-yoshi-gaisen-riyou-no-keikou-tai-kenshi-tsu-souchi

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JPS5828211Y2
JPS5828211Y2 JP1975055401U JP5540175U JPS5828211Y2 JP S5828211 Y2 JPS5828211 Y2 JP S5828211Y2 JP 1975055401 U JP1975055401 U JP 1975055401U JP 5540175 U JP5540175 U JP 5540175U JP S5828211 Y2 JPS5828211 Y2 JP S5828211Y2
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JP
Japan
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light
ultraviolet
phosphor
detection
circuit
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JP1975055401U
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Japanese (ja)
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JPS51135584U (en
Inventor
祥司 大塚
Original Assignee
株式会社サンクス
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Publication date
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は一定の周波数で点滅する紫外線ランプの光を
照射することによって螢光体の存在を検出する装置に関
する。
[Detailed Description of the Invention] This invention relates to a device for detecting the presence of a phosphor by irradiating it with light from an ultraviolet lamp that flashes at a constant frequency.

紙や布のシートを自動裁断したり、木材や金属の表面に
きす等の欠陥を自動的に検出するためにこれら目的物の
表面に光を照射し、その反射光をフォトトランジスタ等
の光電変換素子に受光してチェックマークや表面欠隔等
(以下チェックマーク等という)を検出することが従来
から広(行なわれている。
In order to automatically cut sheets of paper or cloth or automatically detect defects such as scratches on the surface of wood or metal, light is irradiated onto the surface of these objects, and the reflected light is used for photoelectric conversion using phototransistors, etc. Conventionally, it has been widely used to detect check marks, surface gaps, etc. (hereinafter referred to as check marks, etc.) by receiving light into an element.

しかし、反射光を利用するチェックマーク等の検出は対
象物の表面の凹凸や色採の影響を受は易く、検出が困難
または不可能な場合が少くない。
However, detection of check marks and the like using reflected light is easily affected by unevenness and coloration of the surface of the object, and detection is often difficult or impossible.

たとえば、各種の色採および織目の布地が混在するとき
、これを自動裁断するためのチェックマークの検出、表
面状態が種々異なる木材表面の欠陥ケ所を切断除去する
ためのチェックマークの検出、研摩された金属表面のき
すの検出等はその例である。
For example, when fabrics of various colors and textures are mixed, check mark detection for automatic cutting, check mark detection for cutting and removing defects on wood surfaces with various surface conditions, and polishing. An example of this is the detection of scratches on a metal surface.

そこでこのような場合にもチェックマーク等を確実に検
出する方法が考えられた。
Therefore, a method was devised to reliably detect check marks and the like even in such cases.

すなわち、チェックマーク等を通常の塗料、染料、イン
ク等ではなく、予め螢光物を被検出局部につげておき、
該螢光体に紫外線を照射すると、紫外線のエネルギが吸
収され、より波長の長い可視光線が放射されることを利
用して、チェックマーク等を検出するのである。
In other words, instead of using ordinary paint, dye, ink, etc., to mark a checkmark, etc., a fluorescent material is applied to the local area to be detected in advance.
When the phosphor is irradiated with ultraviolet light, the energy of the ultraviolet light is absorbed and visible light with a longer wavelength is emitted, which is used to detect check marks and the like.

この方法においては、照射光は不可視の紫外線であるか
ら、被挟物表面からは紫外線が反射されるのみであるの
に対して、螢光体ノチェックマーク等からは一定波長の
可視光が放射される。
In this method, since the irradiation light is invisible ultraviolet rays, the ultraviolet rays are only reflected from the surface of the object to be sandwiched, whereas visible light of a certain wavelength is emitted from the phosphor check marks, etc. be done.

そこで、光学フィルタを用いて可視光のみを通過せしめ
るようにすれば、被挟物表面の状態(凹凸9色採なと)
の影響を受けることなく、きわめて明瞭にチェックマー
ク等を検出することができるのである。
Therefore, if an optical filter is used to allow only visible light to pass through, the condition of the surface of the object (with 9 different colors of unevenness) can be improved.
Checkmarks and the like can be detected very clearly without being affected by this.

チェックマーク等を螢光体で付ける方法としては、布地
や木材の表面に通常の螢光チョークでマーキングすれば
良いのであるが、その他特殊な方法として、たとえば生
地の場合には織布の段階で螢光体を付着せしめられた糸
を所定の位置に織り込んでおく方法が考えられ、研摩さ
れた金属面のキズの発見等のためには、まず全面に螢光
体を塗布し、その後螢光体を拭き取ればキズの中にのみ
螢光体を残すことができるなどの方法が考えられる。
To mark checkmarks etc. with fluorescent material, you can mark the surface of fabric or wood with ordinary fluorescent chalk, but there are also other special methods, such as marking them on the surface of fabric or wood at the weaving stage. One possible method is to weave threads with phosphor attached to them at predetermined positions.In order to find scratches on polished metal surfaces, first coat the entire surface with phosphor, and then weave the phosphor into the thread. Possible methods include wiping the body and leaving the phosphor only in the scratches.

さて、本考案は前記方法の実施に必要な螢光体検出装置
を提供することを目的としてなされたものである。
The present invention has been made for the purpose of providing a phosphor detection device necessary for carrying out the above method.

該螢光体検出装置は、発光部Tと受光検出部Rとから成
り、該発光部は紫外線ランプと該紫外線ランプを一定の
周期で点滅せしめる手段とを含み、−力受光検出部は紫
外線をカットする光学フィルタおよび集光レンズから成
る光学系と、光電変換素子と、帯域ろ波、増巾、検波等
の電気回路とを含んでおり、自然光、照明光など検出環
境周囲の外乱光の影響を受けることなく、チェックマー
ク等の螢光体を確実に検出し得るものである。
The phosphor detection device consists of a light emitting section T and a light receiving detecting section R, the light emitting section including an ultraviolet lamp and a means for blinking the ultraviolet lamp at a constant cycle, and the light receiving detecting section detecting the ultraviolet rays. It includes an optical system consisting of an optical filter for cutting and a condensing lens, a photoelectric conversion element, and electric circuits for bandpass filtering, amplification, detection, etc., and is capable of handling the effects of ambient light surrounding the detection environment such as natural light and illumination light. This makes it possible to reliably detect fluorescent substances such as check marks without being affected by any interference.

つぎに本考案の構成、作用および効果について、その一
実施例を示す図面にもとすいて記述する。
Next, the configuration, operation, and effects of the present invention will be described with reference to the drawings showing one embodiment thereof.

第1図は本考案の螢光体検出装置の概要を示すフロック
図であり、第2図は発光部Tの実際の回路の一例を示す
回路図、第3図は向じく受光検出部Rの回路図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an outline of the phosphor detection device of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of an actual circuit of the light emitting section T, and FIG. 3 is a block diagram showing an example of the actual circuit of the light receiving section R. FIG.

第1図における各ブロックの出力波形を示す第4図を参
照しながら、本装置の概要を説明する。
The outline of this apparatus will be explained with reference to FIG. 4 showing the output waveforms of each block in FIG. 1.

まずDC−ACコンバータで一定周期のパルスを発生せ
しめ、ランプドライブ回路でこれを微分して得た駆動出
力で紫外線ランプ1(この部分については後に詳述する
First, a DC-AC converter generates pulses with a constant period, and a lamp drive circuit differentiates the pulses to generate a drive output for the ultraviolet lamp 1 (this part will be explained in detail later).

)を駆動せしめ、一定の周期(たとえば5KHz程度)
で明暗を繰返す紫外線(変調紫外線)を被検物表面へ照
射する。
) at a constant frequency (for example, about 5 KHz).
The surface of the specimen is irradiated with ultraviolet light (modulated ultraviolet light) that repeats brightness and darkness.

以上が発光部Tである。The above is the light emitting section T.

さて、照射された紫外線は被検物表面で反射されるが、
被検物弐面に螢光体が存在すると、該螢光体は紫外線を
吸収して可視光線を放射する。
Now, the irradiated ultraviolet rays are reflected by the surface of the test object,
When a phosphor is present on the other side of the object, the phosphor absorbs ultraviolet light and emits visible light.

したがって螢光体から放射された可視光線と1反射紫外
線と、外乱光線とが受光検出部のフォトトランジスタ2
に到達することになるが、実際には光学フィルタAを用
いて紫外線および赤外線をカットし、可視光線のみをフ
ォトトランジスタ2に受光せしめるようにする(この部
分については後に詳述する。
Therefore, the visible light emitted from the phosphor, the reflected ultraviolet rays, and the disturbance light are transmitted to the phototransistor 2 of the light receiving detection section.
However, in reality, the optical filter A is used to cut out ultraviolet rays and infrared rays, and only visible rays are allowed to be received by the phototransistor 2 (this part will be explained in detail later).

)フォトトランジスタ2で光信号を電気信号に変え、帯
域ろ波回路で自然光、照明光等外乱光に相当する電気信
号をカットし、発光部から照射される変調紫外線と同一
の周波数の電気信号のみを取り出し、これを増巾し、検
波すると第4図に示すように、螢光体から放射された可
視光線を受光している時間中は大きな出力が得られ、螢
光体を検出することができる。
) The phototransistor 2 converts the optical signal into an electrical signal, and the bandpass filter circuit cuts out the electrical signal corresponding to ambient light such as natural light and illumination light, and only the electrical signal with the same frequency as the modulated ultraviolet light emitted from the light emitting part is generated. When the signal is extracted, amplified, and detected, as shown in Figure 4, a large output is obtained during the time when visible light emitted from the phosphor is being received, making it possible to detect the phosphor. can.

さらにこの出力を積分し、シュミツ、ト回路で波形整形
し、さらに増巾すれば外部制御器機のリレー等の駆動出
力を得ることが可能となる。
Furthermore, by integrating this output, shaping the waveform using a Schmidts circuit, and further amplifying it, it becomes possible to obtain a drive output for a relay or the like of an external control device.

次に発光部と受光検出部Rの光学系について詳述する。Next, the optical systems of the light emitting section and the light receiving and detecting section R will be described in detail.

近紫外線領域(波長320〜380nm)の紫外線を照
射したとき波長550 nm付近の可視光線(緑色)を
放射する螢光体を使用する場合を例に取って説明する。
An example of using a phosphor that emits visible light (green) with a wavelength of around 550 nm when irradiated with ultraviolet light in the near-ultraviolet region (wavelength 320 to 380 nm) will be explained.

まず発光部であるが、近紫外領域に発光特性を有する紫
外線ランプとしては、たとえば第5図に示すような分光
エネルギ分布を有する巾販のランプ(螢光ケミカルラン
プ)を使用すればよい。
First, regarding the light emitting section, as an ultraviolet lamp having light emitting characteristics in the near ultraviolet region, a commercially available lamp (fluorescent chemical lamp) having a spectral energy distribution as shown in FIG. 5, for example, may be used.

発光部の外形を第6図および第1図に示す。The outline of the light emitting part is shown in FIGS. 6 and 1.

紫外線ランプは取外し可能であり、主要部は密閉構造と
なっている。
The UV lamp is removable, and the main part has a sealed structure.

次に受光検出部の光学系について第8図にもとすいて詳
述する。
Next, the optical system of the light receiving and detecting section will be described in detail with reference to FIG.

フォトトランジスタ2がケース7の一端に取付けられて
おり、その直前には赤外線カットフィルタ6が、さらに
その前方には集光レンズ5、近紫外線カットフィルタ4
、−次フィルタ3が装着されている。
A phototransistor 2 is attached to one end of the case 7, and in front of it is an infrared cut filter 6, and further in front of it is a condensing lens 5 and a near ultraviolet cut filter 4.
, -order filter 3 is installed.

これらフィルタはすべて市販のものを選択使用すればよ
く、その透過特性の一例を第9図にそれぞれの特性曲線
にそれぞれの番号を付して示すが、ちょうど螢光体から
放射される可視光の波長550nmにおいて最大の透過
率を有している。
All of these filters can be selected from commercially available filters, and an example of their transmission characteristics is shown in Figure 9 with respective numbers assigned to each characteristic curve. It has maximum transmittance at a wavelength of 550 nm.

さて、前記紫外線ランプから照射された近紫外線10は
被検物80表面で反射されるが、被検物表面に螢光体9
が存在すると、該螢光体から550nm付近の可視光1
1が放射される。
Now, the near ultraviolet light 10 irradiated from the ultraviolet lamp is reflected on the surface of the test object 80, but the phosphor 9 is on the surface of the test object.
is present, visible light around 550 nm from the phosphor1
1 is emitted.

したがって螢光体9から放射された可視光11は反射近
紫外線12および自然光、照明光等の外乱光と共に受光
部へ到達する。
Therefore, visible light 11 emitted from phosphor 9 reaches the light receiving section together with reflected near ultraviolet rays 12 and disturbance light such as natural light and illumination light.

しかしフォトトランジスタ2の前には近紫外線カットフ
ィルタ4と赤外線カットフィルタ6が装着されているの
で、螢光体から放射された可視光11と外乱光のうち可
視部のみが集光レンズ5で集光されてフォトトランジス
タ2に受光される。
However, since a near-ultraviolet cut filter 4 and an infrared cut filter 6 are installed in front of the phototransistor 2, only the visible part of the visible light 11 emitted from the phosphor and the disturbance light is collected by the condenser lens 5. The light is emitted and received by the phototransistor 2.

なお近紫外線カットフィルタ4に波長の短い紫外線が照
射されると近紫外線カットフィルタ4自身が螢光を発す
る性質を有し、目的とする螢光体9の検出が困難となっ
てしまうので、あらかじめ波長の短い紫外線を除いてお
く必要がある。
Note that if the near ultraviolet cut filter 4 is irradiated with ultraviolet light with a short wavelength, the near ultraviolet cut filter 4 itself has the property of emitting fluorescence, making it difficult to detect the desired phosphor 9. It is necessary to exclude short wavelength ultraviolet rays.

−次フィルタ3はそのために装着されている。-order filter 3 is installed for this purpose.

結局、螢光体9から放射された可視光11と外乱可視光
はフォトトランジスタ2で電気信号13に変換されるが
、前述のごとく帯域ろ波回路で外乱可視光に相当する電
気信号はカットされ、螢光体9から放射された可視光1
1に対応する電気信号のみが得られることとなる。
In the end, the visible light 11 emitted from the phosphor 9 and the disturbance visible light are converted into an electrical signal 13 by the phototransistor 2, but as mentioned above, the electrical signal corresponding to the disturbance visible light is cut by the bandpass filter circuit. , visible light 1 emitted from the phosphor 9
Only the electrical signal corresponding to 1 will be obtained.

したがって本螢光体検出装置と被検物を一定間隔を保っ
て対向せしめながら相対的に移動せしめれば、螢光体が
存在する場合にのみ十分な大きさの電気信号を得ること
が可能であり、必要に応じて外部制御機器の駆動出力を
得ることも可能である。
Therefore, if the present fluorophore detection device and the object to be measured are moved relative to each other while facing each other at a constant distance, it is possible to obtain a sufficiently large electrical signal only when the fluorophore is present. It is also possible to obtain the drive output of external control equipment if necessary.

本考案は、以上詳記したように、紫外線を照射したとき
螢光体から放射される可視光を利用してチェックマーク
等を検出するものであるので、被検出物表面の状態(凹
凸9色採等)の影響を受けることが少なく、反射を利用
した検出装置では検出が困難な被検物表面のチェックマ
ーク等を容易に検出することができる顕著な効果を有す
るものである。
As described in detail above, the present invention detects check marks, etc. by using visible light emitted from a phosphor when irradiated with ultraviolet rays. This method has the remarkable effect of being able to easily detect check marks and the like on the surface of a test object, which are difficult to detect with a detection device that uses reflection.

また、変調紫外線を使用するので、外乱光の電気信号を
分離排除することが容易であり、使用環境の制約が非常
に少い特徴をも有する。
Furthermore, since modulated ultraviolet rays are used, it is easy to separate and exclude electrical signals of disturbance light, and there are also characteristics that there are very few restrictions on the usage environment.

さらに、ある種の食品(たとえばスープ)は雑菌が混入
すると螢光を発する性質を有するので、本装置をその不
良検出に利用できるなど、一般的に螢光体の検出に使用
できる特長をも併せ有するものである。
Furthermore, since certain foods (for example, soups) have the property of emitting fluorescence when contaminated with bacteria, this device can be used to detect defects in these foods. It is something that you have.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本考案の螢光体検出装置の概要を示すブロック
図、第2図は発光部の電気回路の一例を示す図、第3図
は同じく受光検出部の回路図、第4図は第1図の各ブロ
ックの出力波形を示す図、第5図は本装置に使用できる
市販紫外線ランプの発光特性図、第6図は検出器の正面
図、第7図は同じく平面図、第8図は受光検出部の光学
系の概略図、第9図は第8図の各光学フィルタの透過特
性図である。 1・・・・・・紫外線ランプ、2・・・・・・フォトト
ランジスタ、3・・・・・・−次フィルタ、4・・・・
・・近紫外線カットフィルタ、5・・・・・・集光レン
ズ、6・・・・・・赤外線カットフィルタ、7・・・・
・・ケース、T・・・・・・発光部、R・・・・・・受
光検出部。
FIG. 1 is a block diagram showing an overview of the phosphor detection device of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing an example of the electric circuit of the light emitting section, FIG. 3 is a circuit diagram of the light receiving detection section, and FIG. FIG. 5 is a diagram showing the output waveform of each block in FIG. The figure is a schematic diagram of the optical system of the light receiving and detecting section, and FIG. 9 is a transmission characteristic diagram of each optical filter in FIG. 8. 1... Ultraviolet lamp, 2... Phototransistor, 3... -order filter, 4...
... Near ultraviolet cut filter, 5 ... Condensing lens, 6 ... Infrared cut filter, 7 ...
...Case, T...Light emitting section, R...Light receiving detection section.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 分光エネルギの分布を近紫外線領域内に集中せしめた紫
外線発生手段と該紫外線発生手段を一定周期をもって明
滅せしめる手段とを含む発光部Tと、可視光線のみを透
過せしめる光学フィルタ手段と光電変換素子と帯域濾波
回路、増幅回路および検波回路とを含む受光検出部Rと
の2部分から成る変調紫外線利用の螢光体検出装置。
A light emitting section T including an ultraviolet generating means that concentrates the distribution of spectral energy in the near ultraviolet region and a means that makes the ultraviolet generating means flicker at a certain period; an optical filter means that transmits only visible light; and a photoelectric conversion element. A phosphor detection device using modulated ultraviolet light consisting of two parts: a light reception detection section R including a bandpass filter circuit, an amplifier circuit, and a detection circuit.
JP1975055401U 1975-04-23 1975-04-23 Hentai-yoshi-gaisen-riyou-no-keikou-tai-kenshi-tsu-souchi Expired JPS5828211Y2 (en)

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JPS51135584U JPS51135584U (en) 1976-11-01
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49133084A (en) * 1972-08-04 1974-12-20

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49133084A (en) * 1972-08-04 1974-12-20

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