JPS5827980A - 真空蒸着法 - Google Patents

真空蒸着法

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Publication number
JPS5827980A
JPS5827980A JP12529581A JP12529581A JPS5827980A JP S5827980 A JPS5827980 A JP S5827980A JP 12529581 A JP12529581 A JP 12529581A JP 12529581 A JP12529581 A JP 12529581A JP S5827980 A JPS5827980 A JP S5827980A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
recess
porous layer
porous
evaporation
evaporated
Prior art date
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Pending
Application number
JP12529581A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideo Koizumi
小泉 英雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS5827980A publication Critical patent/JPS5827980A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • C23C14/243Crucibles for source material

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、基体の表面に膜欠陥のない蒸着膜を形成する
ために有効な真空蒸着法に関する。
真空蒸着法は、真空中で蒸発材料(例えばA)Auなど
の金属)を蒸発させて、これを各種の基体の表面に沈着
させ、該基体に薄膜を形成する方法であって、各種の工
業分野で広く適用されている。
この真空蒸着法において、ヒータとしては主としてタン
グステン又はモリブデンが用いられ、その形状もフィラ
メント状、箔状、ボート状。
等積々のものがある。
このうち、箔状、ボート状のものは、蒸発材料を収容し
、一定の面積を有する上方開口の凹みを備えている。使
用に際しては、この凹みの中に蒸発材料を収容し、適宜
ガ加熱手段(例えば高周波加熱9通電加熱)によって該
ヒータを所定温度にまで加熱して、凹みに収容されてい
る蒸発材料を蒸発させるものである。蒸発した蒸発材料
は、該凹みの上方位置に設置された基体の表面に沈着し
て薄膜を形成する。
このとき、蒸発材料の表面温度の不均一に起因するもの
と思われるが、基体表面に形成され ゛る薄膜(蒸着膜
)には、″ピンホール”又は“ふくれ″等の膜欠陥の生
ずることがある。この膜欠陥は、半導体素子用Aノミ極
の形成などのように均質な薄膜が要求される分野におい
ては重大な問題である。
本発明は、上記のような膜欠陥のない均質な蒸着膜を基
体の表面に形成する真空熱オ)法の提供を目的とするも
のである。
すなわち、本発明方法は、蒸発材料をI1g容する凹み
を備えたヒータを用いて行なう真空蒸着法において、該
凹みの中に該蒸発材料を収容し、ついで該蒸発材料の表
面を櫟って多孔質層を形成した後、常法により、#蒸発
材料を蒸発せしめることを特徴とするものである。
本発明方法にかかるヒータは、蒸発材料の蒸発温度に耐
用できるものであれば、何を用いてもよいが1通常はタ
ングステン又はモリブデンが用いられる。iた。その形
状は、蒸発材料を収容し得る凹みを備えたものである。
例えば、ボート状のものが最も好ましい。
本発明方法は次のようにして行なわれる。まず、上記し
たヒータの凹みに蒸発材料を収容する。蒸発材料が粉末
の場合には、凹みの底に一様にならして収容する。つい
で、蒸発材料の表面を多孔質材料で覆う。このようにし
て、多孔質材料は、蒸発材料と蒸発空間の間に介在する
多孔質層として形成される。
本発明方法においては1例えば、凹みの上方開口部を多
孔質板で密閉する方法、または、蒸発材料の表面をタン
グステン細線のウール、クロス等で覆う方法、更には、
蒸発材料の表面をタングステン粗粒で覆う方法などが適
用される。
これらの多孔質板、ウール、クロス、粗粒等はいずれも
蒸発材料の蒸発温度に耐用できるものでなければならな
いが、例えばタングステン。
モリブデンから構成されることが好ましい。
これら多孔質層は、蒸発材料の凹み(蒸発源)からの蒸
発時、不均一に蒸発する蒸発材料を一旦吸収し、均一な
状態で蒸発空間に放射する緩衝材の働きをするものと考
えられる。したがって、これら多孔質層の多孔構造の状
態は重要であり、気孔率lO〜30%のものが好ましい
なお、ウール、クロス、粗粒を用いる場合には、蒸発材
料をこれらとまぶして同時にヒータの凹部に収容しても
、同様の効果が得られる。
以下に本発明を実施例に基づいて説明する。
実施例1 厚さ0.2寵のタングステン板の中央部に凹みを有する
タングステンボートをヒータとした。
このヒータの凹みの中に金の箔を5〜7り収納した。
ついで、この凹みの上に長さ40o+幅12萌厚み1.
2 mのタングステンの多孔質板を載せて凹み全体を覆
った。タングステン多孔質板は気孔率10〜30%(比
重13〜16)のものであった。
これら全体を常用の真空蒸着炉に入れ、最大電流370
Aでアルミナの上に金を0.3〜1,5μ真空蒸着した
得られた蒸着膜の任意の個所の面積300■2を顕微鏡
で表面観察し、その個所における゛ピンホール”の有無
を調べた。
その結果を、上記面積当シの個数の平均値として表に示
した。またピンホールの大きさも示した。なお比較のた
めに、タングステン多孔質板を用いない場合の結果もあ
わせて記した。
実施例2 実施例1と同様に作成した金の粉末層の上に、平均粒径
0.5〜21a+のタングステン粗粒の層を厚み1〜2
+wで形成した。
実施例1と同様にアルミナの上に金を1.2μ蒸着し、
得られた蒸着膜の膜欠陥を調べた。
実施例1と同じ面積当りの膜欠陥の個数は平均で3個以
内であった。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 発熱体に設けた凹みの中に蒸発材料を収容し、該
    蒸発材料の表面を多孔質層にて覆った後、蒸着すること
    を特徴とする真空蒸着法。 2、該多孔質層がタングステン又はモリブデンから成る
    特許請求の範囲第1項記載の真空蒸着法。 五 該多孔質層が多孔質板、ウール、クロス。 粗粒粉末のいずれかである特許請求の範囲第1項又は第
    2項記載の真空蒸着法。
JP12529581A 1981-08-12 1981-08-12 真空蒸着法 Pending JPS5827980A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61151014A (ja) * 1984-12-24 1986-07-09 Ulvac Corp 金属炭化物超微粉末製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61151014A (ja) * 1984-12-24 1986-07-09 Ulvac Corp 金属炭化物超微粉末製造方法
JPH0377125B2 (ja) * 1984-12-24 1991-12-09 Ulvac Corp

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