JPS58223746A - 超音波探傷記録装置 - Google Patents
超音波探傷記録装置Info
- Publication number
- JPS58223746A JPS58223746A JP57106801A JP10680182A JPS58223746A JP S58223746 A JPS58223746 A JP S58223746A JP 57106801 A JP57106801 A JP 57106801A JP 10680182 A JP10680182 A JP 10680182A JP S58223746 A JPS58223746 A JP S58223746A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- defect
- recording
- analog signal
- ultrasonic flaw
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/36—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/38—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by time filtering, e.g. using time gates
Landscapes
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明け、被検査体を連続的に探傷および記録する装置
に係り、特に被検査体の欠陥評価基準を明確にして記録
する方法に関するものである。
に係り、特に被検査体の欠陥評価基準を明確にして記録
する方法に関するものである。
従来、超音波探傷結果を記録する方法には、超音波探傷
器のＡスコープ波形上の必要な部分にゲートを設け、そ
のゲート内に発生する欠陥信号をそのまま記録するアナ
ログ信号記録方法や、標準試験片の基準欠陥をもとにあ
らかじめ欠陥検出レベルを設定して、その設定レベルよ
り高い欠陥信号か、低い欠陥信号かを判別して記録する
オン／オフ信号記録方法があるが、前者の記録方法にお
いては、欠陥サイズの大小または、雑エコーと呼ばれる
微少信号つまり被検査体の組織エコーや、高い増幅度で
使用する時等の装置自身からの電気的ノイズなどがこれ
に相当し、これらの信号も記録してしまうため欠陥評価
において判別が困難という欠点がある。
器のＡスコープ波形上の必要な部分にゲートを設け、そ
のゲート内に発生する欠陥信号をそのまま記録するアナ
ログ信号記録方法や、標準試験片の基準欠陥をもとにあ
らかじめ欠陥検出レベルを設定して、その設定レベルよ
り高い欠陥信号か、低い欠陥信号かを判別して記録する
オン／オフ信号記録方法があるが、前者の記録方法にお
いては、欠陥サイズの大小または、雑エコーと呼ばれる
微少信号つまり被検査体の組織エコーや、高い増幅度で
使用する時等の装置自身からの電気的ノイズなどがこれ
に相当し、これらの信号も記録してしまうため欠陥評価
において判別が困難という欠点がある。
捷た後者の記録方法では、前者で述べた欠点を除去する
のに有効であるが、欠陥評価基準より高いか低いかの判
別のみであるため、欠陥評価基準より高い欠陥が一体ど
の程度の欠陥サイズが判定できず、欠陥の進展状況や、
被検査体の健全性を評価する上において問題がある。
のに有効であるが、欠陥評価基準より高いか低いかの判
別のみであるため、欠陥評価基準より高い欠陥が一体ど
の程度の欠陥サイズが判定できず、欠陥の進展状況や、
被検査体の健全性を評価する上において問題がある。
以上述べた欠点や問題を解決する方法として、前記した
アナログ信号をアナログ／ディジタル変換して、ディジ
タル信号を作り、前記オン／寸フ信号を割込み信号とし
、欠陥評価基準より高い欠陥を超音波探傷器のブラウン
管のエコー高さ全数値でタイプ−ｒつ卜する装置がある
が、この装置においては、装置構成上大規模となり、計
算機により処理してｂるため、処理速度が限定され記録
のリアルタイム化が困難となり、さらに連続探傷に使用
する場合等は、想定される欠陥の数に応じた記憶容量が
必要となり、当然これらを処理するためのソフトウェア
も必要となり、実用性に欠ける等の欠点があり、また、
環境の悪い現場等では、適用が困難である。
アナログ信号をアナログ／ディジタル変換して、ディジ
タル信号を作り、前記オン／寸フ信号を割込み信号とし
、欠陥評価基準より高い欠陥を超音波探傷器のブラウン
管のエコー高さ全数値でタイプ−ｒつ卜する装置がある
が、この装置においては、装置構成上大規模となり、計
算機により処理してｂるため、処理速度が限定され記録
のリアルタイム化が困難となり、さらに連続探傷に使用
する場合等は、想定される欠陥の数に応じた記憶容量が
必要となり、当然これらを処理するためのソフトウェア
も必要となり、実用性に欠ける等の欠点があり、また、
環境の悪い現場等では、適用が困難である。
最近では、超音波探傷器の付加機能として、余分な微少
信号等を、除去するりジエクション機能があるが、これ
らは、欠陥信号も含め全ての受信信号の増幅度を低下さ
れるものであるため、欠陥評価面から見ると増幅直線性
が悪くなり、正確なノ 評価ができなくな
る等の大小１がある。
信号等を、除去するりジエクション機能があるが、これ
らは、欠陥信号も含め全ての受信信号の増幅度を低下さ
れるものであるため、欠陥評価面から見ると増幅直線性
が悪くなり、正確なノ 評価ができなくな
る等の大小１がある。
本発明の目的は、従来の記録方法として用いられている
アナログ信号記録方法と、オン／オフ信号記鍮方法を効
果的に発揮させることにより、超音波探傷結果をより効
果的に記録する超音波探傷記録装置ａを提供するにある
。
アナログ信号記録方法と、オン／オフ信号記鍮方法を効
果的に発揮させることにより、超音波探傷結果をより効
果的に記録する超音波探傷記録装置ａを提供するにある
。
超音波探傷器からのオン／オフ信号は、適状欠陥評価基
準より高いか低いかを／１０／／か、１″つまり０■か
、５ｖの′４圧で出力している、この点に着目し、この
電圧においてスイッチ−＆１１できるゲート回路を設け
、この回路の入力信号にアナログ信号を入ね、てやれば
、このゲート回路の出力信号は、欠陥評価基準より高い
アナログ信号つまり、欠陥の大小に比例した信号を出力
することができる。
準より高いか低いかを／１０／／か、１″つまり０■か
、５ｖの′４圧で出力している、この点に着目し、この
電圧においてスイッチ−＆１１できるゲート回路を設け
、この回路の入力信号にアナログ信号を入ね、てやれば
、このゲート回路の出力信号は、欠陥評価基準より高い
アナログ信号つまり、欠陥の大小に比例した信号を出力
することができる。
第１図１．第２図、第３図は、従来例を図面で説明した
本のである。第１図は、従来の一構成例で、超音波探触
子１を、被検有休５に設置し超音波探傷器２からの駆動
パルスにより被検有休５に超音波を照射し、被検森林５
内の欠陥８．９や底面７からの反射エコー信号、を超音
波探傷器２でアナログ信号、オン／オフ信号に変換し記
録計３に記録する。位１り検出器４け、被検有休５−ヒ
での超音波探触子１の位置を記録計３に出力する本ので
ある。
本のである。第１図は、従来の一構成例で、超音波探触
子１を、被検有休５に設置し超音波探傷器２からの駆動
パルスにより被検有休５に超音波を照射し、被検森林５
内の欠陥８．９や底面７からの反射エコー信号、を超音
波探傷器２でアナログ信号、オン／オフ信号に変換し記
録計３に記録する。位１り検出器４け、被検有休５−ヒ
での超音波探触子１の位置を記録計３に出力する本ので
ある。
第２図は、従来例におけるＡスコープ波形を示したもの
である。Ａスコープ波形１０を詳細に説明すると、超音
波探触子１からの送信波１１と、欠陥８からの欠陥エコ
ー１４、底面７からの底面エコー１２それに溶接部６の
範囲の欠陥検出結果を記録するためのゲート１７とから
なっている。境界エコー１５け、溶接部６と被検有休５
の境界からの雑エコーの一例を示した本のであろう第３
図は、従来の記録例を示したものである。
である。Ａスコープ波形１０を詳細に説明すると、超音
波探触子１からの送信波１１と、欠陥８からの欠陥エコ
ー１４、底面７からの底面エコー１２それに溶接部６の
範囲の欠陥検出結果を記録するためのゲート１７とから
なっている。境界エコー１５け、溶接部６と被検有休５
の境界からの雑エコーの一例を示した本のであろう第３
図は、従来の記録例を示したものである。
オン／オフ信号記録１８は、第２図中欠陥検出基準レベ
ル１６より高い信号を記録したものである。
ル１６より高い信号を記録したものである。
またアナログ信号記録１９け、ゲート１７内のすべての
信号つまり欠陥エコー１４、境界エコー１５がｌ己録さ
れたものである。
信号つまり欠陥エコー１４、境界エコー１５がｌ己録さ
れたものである。
図からもわかるように、オン／オフ信号記録１８は、欠
陥検出基準レベル１６より高い信号であれば全て、同じ
高さの信号として記録するため、結果を評価する場合、
いったいどの程度の欠陥なのか不明である。捷た、アナ
ログ信号記録１９け、欠陥信号以外の信号も記録するた
め、欠陥評価ト見づらいことや、誤判定をしてしまう等
の問題がある。
陥検出基準レベル１６より高い信号であれば全て、同じ
高さの信号として記録するため、結果を評価する場合、
いったいどの程度の欠陥なのか不明である。捷た、アナ
ログ信号記録１９け、欠陥信号以外の信号も記録するた
め、欠陥評価ト見づらいことや、誤判定をしてしまう等
の問題がある。
このため、欠陥評価の効率が悪く、連続探傷の結果記録
や、経年変化による欠陥の進展状況等を知るものへの通
用がむずかしい等の欠点がある。
や、経年変化による欠陥の進展状況等を知るものへの通
用がむずかしい等の欠点がある。
第４図は、本発明における一実施例を示したものである
。
。
つまり、超音波探傷器２からのオン／オフ信号をゲート
回路２０のゲート開閉信号とすると共に、アナログ信号
をゲート回路２０の入力信号とすることにより、記録計
３への記録は、雑エコー等が除去されたアナログ信号と
なり、また、欠陥検出基準より高い信号も欠陥の大小に
応じてＦｌｅ録できる。第５図は、本発明における一記
録例を示したものである。アナログ信号２１は、本実施
例におけるゲート回路部を通過した信号を記録した結果
である。さらに欠陥サイズに応じたレベル２２をあらか
じめ目盛っておけばこの記録結果を観察するだけで欠陥
評価が可能となり、従来方法の欠点を除去した記録を行
なうことができる。
回路２０のゲート開閉信号とすると共に、アナログ信号
をゲート回路２０の入力信号とすることにより、記録計
３への記録は、雑エコー等が除去されたアナログ信号と
なり、また、欠陥検出基準より高い信号も欠陥の大小に
応じてＦｌｅ録できる。第５図は、本発明における一記
録例を示したものである。アナログ信号２１は、本実施
例におけるゲート回路部を通過した信号を記録した結果
である。さらに欠陥サイズに応じたレベル２２をあらか
じめ目盛っておけばこの記録結果を観察するだけで欠陥
評価が可能となり、従来方法の欠点を除去した記録を行
なうことができる。
本発明によれば、被検査体に応じて欠陥検出基準を設定
することにより、より効果的な欠陥アナログ信号を記録
することができ、連続探傷時の欠陥分布や、欠陥評価に
おいて効果がある。
することにより、より効果的な欠陥アナログ信号を記録
することができ、連続探傷時の欠陥分布や、欠陥評価に
おいて効果がある。
また、システム構盛の規模においては、従来構成と同等
であるが、記録計の用紙の記録有効範囲を従来の２分の
１に短縮でき、大型構造物や、パイプ等の連続探傷の記
録にはより効果的である。
であるが、記録計の用紙の記録有効範囲を従来の２分の
１に短縮でき、大型構造物や、パイプ等の連続探傷の記
録にはより効果的である。
超音波探傷器と、記録計の組合せた従来装置であれば本
発明品は適用可能で、北記効果も酋め探傷結果記録にお
いて効果的かつ効率よく記録することができる。
発明品は適用可能で、北記効果も酋め探傷結果記録にお
いて効果的かつ効率よく記録することができる。
第１図は、従来の超音波探傷記録装置の構成図、第２図
は、Ａスコープ波形例を示した図、第３図７１
は従来の記録例を示した図、第４図は本発明の実
施例を示した図、第５図は本発明の実施例におけるアナ
ログ信号の記録例を示した図である。 １・・・超音波探触子、２・・・超音波探傷器、３・・
・記録計、４・・・位置検出器、５・・・被検査体、６
・・・溶接部、７・・・底面、８．９・・・欠陥、１０
・・・Ａスコープ波形、１１・・・】Ａ倍波、１２・・
・底面エコー、１４・・・欠陥エコー、１５・・・境界
エコー、１６・・・欠陥検出基準、１７・・・ゲート、
１８・・・オン／オフ信号記録例、１９・・・アナログ
信号記録例、２０・・・ゲー ト回路、２１・・・アナ
ログ信号記録例、２２・・・レベル。 ’、゛、、、ｔ−ｆｊノ ゛〜ルビ２ｉ ＝ １ 図 第 ３ ロ 第４−凹 茅５ 目
は、Ａスコープ波形例を示した図、第３図７１
は従来の記録例を示した図、第４図は本発明の実
施例を示した図、第５図は本発明の実施例におけるアナ
ログ信号の記録例を示した図である。 １・・・超音波探触子、２・・・超音波探傷器、３・・
・記録計、４・・・位置検出器、５・・・被検査体、６
・・・溶接部、７・・・底面、８．９・・・欠陥、１０
・・・Ａスコープ波形、１１・・・】Ａ倍波、１２・・
・底面エコー、１４・・・欠陥エコー、１５・・・境界
エコー、１６・・・欠陥検出基準、１７・・・ゲート、
１８・・・オン／オフ信号記録例、１９・・・アナログ
信号記録例、２０・・・ゲー ト回路、２１・・・アナ
ログ信号記録例、２２・・・レベル。 ’、゛、、、ｔ−ｆｊノ ゛〜ルビ２ｉ ＝ １ 図 第 ３ ロ 第４−凹 茅５ 目
Claims (1)
- １、超音波の送・受信により被検査体の欠陥検出を行な
うと共に、検出された欠陥のアナログ信号と、あらかじ
め設定さねた基準値以上のオン／オフ信号を出力できる
超音波探傷器と、前記アナログ信号と、オン／オフ信号
とを記録する記録計からなる超音波探傷記録装置におい
て、前記超音波′探傷器と、記録計の間に、前ｍｌオン
／オフ信号をゲート′開閉信号とし、前記アナログ信号
を入力信号とする。ゲート回路を備えたことを特徴とす
る超音波探傷記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57106801A JPS58223746A (ja) | 1982-06-23 | 1982-06-23 | 超音波探傷記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57106801A JPS58223746A (ja) | 1982-06-23 | 1982-06-23 | 超音波探傷記録装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58223746A true JPS58223746A (ja) | 1983-12-26 |
Family
ID=14442971
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57106801A Pending JPS58223746A (ja) | 1982-06-23 | 1982-06-23 | 超音波探傷記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58223746A (ja) |
-
1982
- 1982-06-23 JP JP57106801A patent/JPS58223746A/ja active Pending
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