JPS58216044A - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
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- JPS58216044A JPS58216044A JP9914082A JP9914082A JPS58216044A JP S58216044 A JPS58216044 A JP S58216044A JP 9914082 A JP9914082 A JP 9914082A JP 9914082 A JP9914082 A JP 9914082A JP S58216044 A JPS58216044 A JP S58216044A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- weighting
- weighting coefficient
- side lobe
- beam width
- ultrasonic diagnostic
- Prior art date
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- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は超音波診断装置に関するものである。
超音波診断装置において超音波反射エコーのサイドロブ
の軽減を図る試みが種々提案されている。
の軽減を図る試みが種々提案されている。
例えば送信あるいは受信時に１組として動作する振動子
群にそれぞれ異なる振幅重みを付加することＫより、そ
の指向性パターンを変化させ得ることに着目して超音波
診断装置におけるサイドロブを低減することが既に報告
されている（文献１：奥島、遠藤「電子走査超音波断層
像装置用探触子の最適重み係数の検討」日本超音波医学
会講演論文集Ｐ１１６〜Ｐ１７４（昭和５１年５月）瓢
照）。
群にそれぞれ異なる振幅重みを付加することＫより、そ
の指向性パターンを変化させ得ることに着目して超音波
診断装置におけるサイドロブを低減することが既に報告
されている（文献１：奥島、遠藤「電子走査超音波断層
像装置用探触子の最適重み係数の検討」日本超音波医学
会講演論文集Ｐ１１６〜Ｐ１７４（昭和５１年５月）瓢
照）。
一般にサイドロブを抑圧するとメインロブのビーム幅は
広がる傾向にあシ、またメインロブのビーム幅全細く絞
ろうとするとサイドロブは上ってくる。このため例えば
ドルフ（Ｄｏｌｐｈ ）はあるビーム幅を指定し、その
ビーム幅に対してサイドロブ全最低に抑圧するための振
幅重み係数、あるいはあるサイドロブレベルを指定し、
そのサイドロブレベルに対してビーム幅を最小とするた
めの振幅重み係数の算出方法を提案している（文献２：
Ｃ，Ｌ、 ＤｏＬｐｈ ｒＡ Ｃｕｒｒｅｎｔ Ｄｉｚ
ｔｒｉｂｕｔｉｏｙｓ ｆｏｒＢｒｏａｄｓｉｄｅ Ａ
ｒｒａｙｓ ＴＶｈｉｃｈ Ｏｐｔｉｍｉｚｅｓ ｔｈ
ｅＲｅＬａｔｉｏｎｓｈｉｐ Ｅｔｔｗｔｅｎ Ｂｅａ
ｍ Ｗｉｄｔｈ ａｎｃＬ ５ｉｄｅ−Ｌｏｂｅ Ｌｅ
ｖｅｌ Ｊ ｐｒｏｃ、 ＩＲＥ Ｊｗｎｔ、１９４６
７’３３’５〜Ｐ３４８参照）。そして、ここで提案さ
れている振幅重み係数は伝送する信号の周波数の関数と
なつている。
広がる傾向にあシ、またメインロブのビーム幅全細く絞
ろうとするとサイドロブは上ってくる。このため例えば
ドルフ（Ｄｏｌｐｈ ）はあるビーム幅を指定し、その
ビーム幅に対してサイドロブ全最低に抑圧するための振
幅重み係数、あるいはあるサイドロブレベルを指定し、
そのサイドロブレベルに対してビーム幅を最小とするた
めの振幅重み係数の算出方法を提案している（文献２：
Ｃ，Ｌ、 ＤｏＬｐｈ ｒＡ Ｃｕｒｒｅｎｔ Ｄｉｚ
ｔｒｉｂｕｔｉｏｙｓ ｆｏｒＢｒｏａｄｓｉｄｅ Ａ
ｒｒａｙｓ ＴＶｈｉｃｈ Ｏｐｔｉｍｉｚｅｓ ｔｈ
ｅＲｅＬａｔｉｏｎｓｈｉｐ Ｅｔｔｗｔｅｎ Ｂｅａ
ｍ Ｗｉｄｔｈ ａｎｃＬ ５ｉｄｅ−Ｌｏｂｅ Ｌｅ
ｖｅｌ Ｊ ｐｒｏｃ、 ＩＲＥ Ｊｗｎｔ、１９４６
７’３３’５〜Ｐ３４８参照）。そして、ここで提案さ
れている振幅重み係数は伝送する信号の周波数の関数と
なつている。
一方、通常の超音波診断装置における伝送信号は、第１
図に示すように約１〜１０癩の広帯域の連続スペクトラ
ム全有するパルス波であシ、シかも被検体内深度はいわ
ゆる近距離音場内にあシ、上記文献２で取シ扱っている
連続波にて形成される無限遠点における指向性パターン
に関する問題とは事情が異なっており文献２の結果をそ
のまま適用することはできない。但し、集束を行なつ几
際の集束点における指向性パターンは無限遠点における
ものと近似的に等しい。
図に示すように約１〜１０癩の広帯域の連続スペクトラ
ム全有するパルス波であシ、シかも被検体内深度はいわ
ゆる近距離音場内にあシ、上記文献２で取シ扱っている
連続波にて形成される無限遠点における指向性パターン
に関する問題とは事情が異なっており文献２の結果をそ
のまま適用することはできない。但し、集束を行なつ几
際の集束点における指向性パターンは無限遠点における
ものと近似的に等しい。
そこでパルス波を用いた計算機シミュレーションによっ
て中心周波数ｆ、と集束点での指向性ノくターンにおけ
るサイドロブレベルの関係を調べ第２図の曲線１を得た
。この場合、振幅重みは全て１である（すなわち一様と
している）。この結果から明らかなように、サイドロブ
レベルは各周波数成分によって異なシ、ある周波数（こ
の場合２朋χ付近）において最小となシ、それ以上高い
周波数に対しては周波数が高くなればなる程サイドロブ
レベルも大きくなっている。
て中心周波数ｆ、と集束点での指向性ノくターンにおけ
るサイドロブレベルの関係を調べ第２図の曲線１を得た
。この場合、振幅重みは全て１である（すなわち一様と
している）。この結果から明らかなように、サイドロブ
レベルは各周波数成分によって異なシ、ある周波数（こ
の場合２朋χ付近）において最小となシ、それ以上高い
周波数に対しては周波数が高くなればなる程サイドロブ
レベルも大きくなっている。
ところで、超音波診断装置にあっては超音波の生体内伝
搬による減衰の問題があシ、シかもその減衰は周波数依
存性を有するという問題が指摘される。すなわち、第６
図の実線で示すように被検体内深度の各距離における中
心周波数は距離が遠くなればなる程低域にシフトする。
搬による減衰の問題があシ、シかもその減衰は周波数依
存性を有するという問題が指摘される。すなわち、第６
図の実線で示すように被検体内深度の各距離における中
心周波数は距離が遠くなればなる程低域にシフトする。
ここで、反射波の中心周波数は被検体内全域を考えた場
合、１〜５ ＭＨｚの範囲を変化することになる。また
、高周波成分が存在する浅い部分では低周波成分をカッ
トし、その中心周波数を高域にすることＫよって細いビ
ームを得る目的で距離によってバンドパスフィルタの中
心周波数をずらす方式をとることがあるが、このような
方式をとると中心周波数の変化幅は更に大きくなシ、１
〜７ ＭＨｚの範囲を変化することになるｄ第２図（ｈ
）は前記文献２の方法で算出した振幅重み係数を用いて
シミュレーションによって求めたメインロブの送受信音
場における−２ Ｑ ｄＢビーム幅の周波数依存性を示
すものである◎ことで、振幅重み係数は第４図（α）〜
（ｄ）に示す様に、重みが一様のもの（α）と一様な場
合よりもメインビーム幅を細くする様な重みを６種類選
び（ｂ）→（Ｃ）→（ｄ）の順に順次ビーム幅が細くな
るように設定した。第４図においては横軸が一組として
選択される振動子の番号であり、縦軸に重みの程度を示
し７ｊｏ前述の第２図（α） 、 Ｃｈ）における数字
１〜４はそれぞれ第４図の（α）〜（ｄ）に対応してお
り、第２図＜ｈ＞のシミュレーション結果から明らかな
ようにビーム幅が細くなっている。ところが第２図（α
）に着目すると、サイドロブレベル 幅が細くなればなる程高くなってきており、特に最も細
くビームを絞った屋４の曲線の場合などは高周波成分例
えば７ ＭＨｚでのサイドロブレベル＋ ｉ Ｑ ｄＢ
と非常に大きくなっている。
合、１〜５ ＭＨｚの範囲を変化することになる。また
、高周波成分が存在する浅い部分では低周波成分をカッ
トし、その中心周波数を高域にすることＫよって細いビ
ームを得る目的で距離によってバンドパスフィルタの中
心周波数をずらす方式をとることがあるが、このような
方式をとると中心周波数の変化幅は更に大きくなシ、１
〜７ ＭＨｚの範囲を変化することになるｄ第２図（ｈ
）は前記文献２の方法で算出した振幅重み係数を用いて
シミュレーションによって求めたメインロブの送受信音
場における−２ Ｑ ｄＢビーム幅の周波数依存性を示
すものである◎ことで、振幅重み係数は第４図（α）〜
（ｄ）に示す様に、重みが一様のもの（α）と一様な場
合よりもメインビーム幅を細くする様な重みを６種類選
び（ｂ）→（Ｃ）→（ｄ）の順に順次ビーム幅が細くな
るように設定した。第４図においては横軸が一組として
選択される振動子の番号であり、縦軸に重みの程度を示
し７ｊｏ前述の第２図（α） 、 Ｃｈ）における数字
１〜４はそれぞれ第４図の（α）〜（ｄ）に対応してお
り、第２図＜ｈ＞のシミュレーション結果から明らかな
ようにビーム幅が細くなっている。ところが第２図（α
）に着目すると、サイドロブレベル 幅が細くなればなる程高くなってきており、特に最も細
くビームを絞った屋４の曲線の場合などは高周波成分例
えば７ ＭＨｚでのサイドロブレベル＋ ｉ Ｑ ｄＢ
と非常に大きくなっている。
以上のことから明らかなように、従来公知の振幅重みを
用いてメインロブのビーム幅を絞る方法はサイドロブレ
ベルが実用上問題ないレベル以下であるという制約条件
による限界があυ、シ力工も反射波の全ての周波数成分
に対してサイドロブレベルが低減されている必要がある
が、それらの条件を満たす友めには同一開口幅内の素子
数を増加させる等の方法をとればよいがシステムの規模
が大きくなり好ましくない。
用いてメインロブのビーム幅を絞る方法はサイドロブレ
ベルが実用上問題ないレベル以下であるという制約条件
による限界があυ、シ力工も反射波の全ての周波数成分
に対してサイドロブレベルが低減されている必要がある
が、それらの条件を満たす友めには同一開口幅内の素子
数を増加させる等の方法をとればよいがシステムの規模
が大きくなり好ましくない。
本発明は前記事情に鑑みてなされたものであシ、現状の
システム規模を増大させることなく被検体内全域に亘っ
てサイドロブレベルを抑圧することのできる超音波診断
装置全提供することを目的とするものである。
システム規模を増大させることなく被検体内全域に亘っ
てサイドロブレベルを抑圧することのできる超音波診断
装置全提供することを目的とするものである。
本発明は上記目的を達成するために、超音波の生体内の
減衰を考慮し、受信時に生体内からの反射エコーの周波
数成分に応じて適宜各振動子に与える振動重みを変化さ
せてメインロブのビーム幅を細く絞り、しかも被検体内
距離の全域に亘って実用上差し支えない程度にサイドロ
ブを抑圧することを特徴とするものである。
減衰を考慮し、受信時に生体内からの反射エコーの周波
数成分に応じて適宜各振動子に与える振動重みを変化さ
せてメインロブのビーム幅を細く絞り、しかも被検体内
距離の全域に亘って実用上差し支えない程度にサイドロ
ブを抑圧することを特徴とするものである。
以下実施例によシ本発明奮具体的に説明する０第５図は
本発明の一実施例たる超音波診断装置の受信部の構成を
示すブロック図である。同図において１は超音波振動子
群であシ複数個（例えば６４個）の振動子１Ａ〜１Ｎｔ
−有し、各振動子の一端が共通に接地されている０５け
ナナログスイッチ群であシ前記各振動子１７〜１Ｎに対
応して複数個のスイッチ５Ａ〜５Ｎが設けられている０
６はマルチブレフサ群であシ、前記スイッチ群５會介し
てそれぞれ８個１組の振動子の出力を選択的に切換て出
力できる８個のマルチプレクサ６α〜６ｈによって構成
されている。７はプリアンプ群であ夛、前記各マルチプ
レクサ６α〜６ｈによって選択された振動子からの出力
を増幅する８個のプリアンプ７α〜７ｈによって構成さ
れている。８は各プリアンプ７α〜７ｈに重み付は會施
す増幅器群であシ、外部印加電圧によって増幅率をコン
トロールできる８個の増幅器８α〜８Ａｔ−有する。９
はクロックパルス発生器であシ、１０はこのクロックパ
ルス発生器９からの出力５１に基づいて重み係数の切換
タイミングを与えるタイミングパルスＳ２’ｔ−作シ出
すタイミングパルス発生器であり、１１は予め指定され
た順序で前記増幅器８α〜８Ａの各外部印加電圧端子に
所定の直流電圧を与える増幅率制御回路であシ、１２は
遅延回路、１６は加算器である。
本発明の一実施例たる超音波診断装置の受信部の構成を
示すブロック図である。同図において１は超音波振動子
群であシ複数個（例えば６４個）の振動子１Ａ〜１Ｎｔ
−有し、各振動子の一端が共通に接地されている０５け
ナナログスイッチ群であシ前記各振動子１７〜１Ｎに対
応して複数個のスイッチ５Ａ〜５Ｎが設けられている０
６はマルチブレフサ群であシ、前記スイッチ群５會介し
てそれぞれ８個１組の振動子の出力を選択的に切換て出
力できる８個のマルチプレクサ６α〜６ｈによって構成
されている。７はプリアンプ群であ夛、前記各マルチプ
レクサ６α〜６ｈによって選択された振動子からの出力
を増幅する８個のプリアンプ７α〜７ｈによって構成さ
れている。８は各プリアンプ７α〜７ｈに重み付は會施
す増幅器群であシ、外部印加電圧によって増幅率をコン
トロールできる８個の増幅器８α〜８Ａｔ−有する。９
はクロックパルス発生器であシ、１０はこのクロックパ
ルス発生器９からの出力５１に基づいて重み係数の切換
タイミングを与えるタイミングパルスＳ２’ｔ−作シ出
すタイミングパルス発生器であり、１１は予め指定され
た順序で前記増幅器８α〜８Ａの各外部印加電圧端子に
所定の直流電圧を与える増幅率制御回路であシ、１２は
遅延回路、１６は加算器である。
前記構成の装置において、前記増幅率制御回路１１から
の直流電圧出力ａ６〜α、の組合せ全変化させることに
よシ重み係数を変えることができる。
の直流電圧出力ａ６〜α、の組合せ全変化させることに
よシ重み係数を変えることができる。
そζでこのような重み係数の設定の仕方の一例を第６図
をも参照に加えて詳細に説明する。
をも参照に加えて詳細に説明する。
前述の第２図（α）に注目すると、同じ重み付は係数に
対しては低周波成分程すイドロブＶベルが低く（但し’
ｌ ＭＨｚ以上において）、このことは低周波成分に対
しては実用上差し支えない範囲内でサイドロブＶべ）ｖ
ｆ上げる代シにメインビーム幅を細く絞ることができる
こと金意味している。例えば今仮シに実用上サイドロブ
レベルが−２０ｄ、Ｂ程度以下であれば問題ないとする
と、第２図（α）の破線で示したように１〜３．５ Ｊ
ｆＨｚに対してはＡ４０曲線（重み係数は第４図（ｄ）
） 、３．５〜５ Ｍｌｌｚに対してはＡ６の曲線（第
４図（’）） 、５〜６ Ｊｌｌｌｚに対してはＡ２０
曲線（第４図（Ａ）） 、６〜７勘に対してはＡ１の曲
ＩＮ（第４図（α））となるようにそれぞれ重み付けを
行なえば、メインビーム幅は第２図（Ａ）の破線で示し
た様に低周波では一様な重み付け（第４図（α））の場
合より約２０％程度ビーム幅が細くなっておシ、シかも
サイドロブは全ての周波数成分に対して約−２０ｄ、Ｂ
程度となっていることが分る。但し、７ＭＨ２ではメイ
ンビーム幅はその他の重み付けの場合（第４図（ｈ）
、 （Ｃ） 、 ＠）の場合）よりも太くなる。
対しては低周波成分程すイドロブＶベルが低く（但し’
ｌ ＭＨｚ以上において）、このことは低周波成分に対
しては実用上差し支えない範囲内でサイドロブＶべ）ｖ
ｆ上げる代シにメインビーム幅を細く絞ることができる
こと金意味している。例えば今仮シに実用上サイドロブ
レベルが−２０ｄ、Ｂ程度以下であれば問題ないとする
と、第２図（α）の破線で示したように１〜３．５ Ｊ
ｆＨｚに対してはＡ４０曲線（重み係数は第４図（ｄ）
） 、３．５〜５ Ｍｌｌｚに対してはＡ６の曲線（第
４図（’）） 、５〜６ Ｊｌｌｌｚに対してはＡ２０
曲線（第４図（Ａ）） 、６〜７勘に対してはＡ１の曲
ＩＮ（第４図（α））となるようにそれぞれ重み付けを
行なえば、メインビーム幅は第２図（Ａ）の破線で示し
た様に低周波では一様な重み付け（第４図（α））の場
合より約２０％程度ビーム幅が細くなっておシ、シかも
サイドロブは全ての周波数成分に対して約−２０ｄ、Ｂ
程度となっていることが分る。但し、７ＭＨ２ではメイ
ンビーム幅はその他の重み付けの場合（第４図（ｈ）
、 （Ｃ） 、 ＠）の場合）よりも太くなる。
第６図は以上の検討を基にして得られた重み係数を切換
える領域を示したものである。同図に示したように反射
波の中心周波数は被検体内距離と共に次第に低域にシフ
トして行き、第２図（α） 、 （Ａ）の破線と合せて
考えると、第６図のｉの領域（深さ０〜２０ｗ迄）は第
４図（ｄ）の重み係数、■の領域は第４図（Ｃ）の重み
係数、■の領域は第４図（ｂ）の重み係数、■の領域は
第４図（α）の重み係数全採用することによって目的を
達成できる。
える領域を示したものである。同図に示したように反射
波の中心周波数は被検体内距離と共に次第に低域にシフ
トして行き、第２図（α） 、 （Ａ）の破線と合せて
考えると、第６図のｉの領域（深さ０〜２０ｗ迄）は第
４図（ｄ）の重み係数、■の領域は第４図（Ｃ）の重み
係数、■の領域は第４図（ｂ）の重み係数、■の領域は
第４図（α）の重み係数全採用することによって目的を
達成できる。
前記実施例の増幅率制御回路１１内には少なくとも前記
４種類の重み係数が格納されており、これらがタイミン
グパルス発生器１０からの信号Ｓ２によって深さに応じ
て自動的に切換えられるようになっている。この意味に
おいて、増幅器群８と増幅率制御回路１１とを総称して
重み付は手段と言うことができ、クロックパルス発生器
９及びタイミングパルス発生器１０を総称して重み係数
を経時的に変化させる制御手段ということができる０次
に、第７図のタイムチャートと共に前記実施例装置の動
作全説明する。先ず、アナログスイッチ群５のアナログ
スイッチを選択して一組として動作する振動子を選択す
る。例えば８個の振動子１０〜１Ｊを選択したとすると
、これらの振動子からの信号のみが受信されることにな
る。次にこれらの８チヤンネルの信号はマルチプレクサ
群乙によって後段の装置の処理が容易になるように信号
の並べ替え処理に供される。すなわち、ここに例示した
リニア走査型の場合には一組として動作する振動子群を
一走査線毎のタイミングで一振励子ずつずらして送信あ
るいは受信を行なうため、例えば振動子１Ｄからの信号
は現在のタイミングで２段目のプリアンプ７ｈＫ導ひか
れるが、次のタイミングでは１段目のプリアンプ７ａに
導びかれなければならない。このようなタイミング設定
がマルチプレクサ群６の動作によって順次実行されるわ
けである０マルチプレクサ群６及びプリアンプ群７を介
して増幅された信号は増幅器群８に入力される。ここで
増幅器群８は増幅率制御回路１１から出力されるα＠”
ｇｍの直流電圧に比例してその増幅率が変化するもので
ある。第７図に示すようＦＣ１走査線毎に発生するクロ
ックパルスＳ１ヲトリガ信号にして重み係数を切換える
タイミングに対応するパルスＳ２がタイミングパルス発
生器１０よシ出力され、信号Ｓ２の立上シ毎に制御回路
１１の出力ａ（１〜α３が前述の各重み係数に対応して
図の如く出力される。この結果、各チャンネルに所定の
タイミングで所定の重み付け（第４図（ａ）〜（ｄ）と
第６図との関係）が可能となシ、これらの信号は遅延回
路１２によシ集束のための遅延が施されて加算器１３に
入力される０このようにして本発明の目的が達成できる
。
４種類の重み係数が格納されており、これらがタイミン
グパルス発生器１０からの信号Ｓ２によって深さに応じ
て自動的に切換えられるようになっている。この意味に
おいて、増幅器群８と増幅率制御回路１１とを総称して
重み付は手段と言うことができ、クロックパルス発生器
９及びタイミングパルス発生器１０を総称して重み係数
を経時的に変化させる制御手段ということができる０次
に、第７図のタイムチャートと共に前記実施例装置の動
作全説明する。先ず、アナログスイッチ群５のアナログ
スイッチを選択して一組として動作する振動子を選択す
る。例えば８個の振動子１０〜１Ｊを選択したとすると
、これらの振動子からの信号のみが受信されることにな
る。次にこれらの８チヤンネルの信号はマルチプレクサ
群乙によって後段の装置の処理が容易になるように信号
の並べ替え処理に供される。すなわち、ここに例示した
リニア走査型の場合には一組として動作する振動子群を
一走査線毎のタイミングで一振励子ずつずらして送信あ
るいは受信を行なうため、例えば振動子１Ｄからの信号
は現在のタイミングで２段目のプリアンプ７ｈＫ導ひか
れるが、次のタイミングでは１段目のプリアンプ７ａに
導びかれなければならない。このようなタイミング設定
がマルチプレクサ群６の動作によって順次実行されるわ
けである０マルチプレクサ群６及びプリアンプ群７を介
して増幅された信号は増幅器群８に入力される。ここで
増幅器群８は増幅率制御回路１１から出力されるα＠”
ｇｍの直流電圧に比例してその増幅率が変化するもので
ある。第７図に示すようＦＣ１走査線毎に発生するクロ
ックパルスＳ１ヲトリガ信号にして重み係数を切換える
タイミングに対応するパルスＳ２がタイミングパルス発
生器１０よシ出力され、信号Ｓ２の立上シ毎に制御回路
１１の出力ａ（１〜α３が前述の各重み係数に対応して
図の如く出力される。この結果、各チャンネルに所定の
タイミングで所定の重み付け（第４図（ａ）〜（ｄ）と
第６図との関係）が可能となシ、これらの信号は遅延回
路１２によシ集束のための遅延が施されて加算器１３に
入力される０このようにして本発明の目的が達成できる
。
尚、前記実施例ではリニア走査型を説明したが、セクタ
走査型あるいは円環状配列の１振動子においても適用で
き乏ことは明らかである。
走査型あるいは円環状配列の１振動子においても適用で
き乏ことは明らかである。
また、上記実施例では重み係数を４通シとして変化させ
たが、更に距離を細かく分割したシ、あるいは拡張して
距離に対して連続的に重み係数を変化させてもよい。
たが、更に距離を細かく分割したシ、あるいは拡張して
距離に対して連続的に重み係数を変化させてもよい。
更に上記実施例では重み係数として中央の素子の係数よ
シ端の素子の係数に太きくシ、メインビームを重み係数
が一様な場合よシも細くすることを目的とじ几場合を示
したが、特にサイドロブの低減だけを目的とする場合に
は重み係数の具体的数値を実施例の場合とは逆の関係に
よるように設定すればよい。
シ端の素子の係数に太きくシ、メインビームを重み係数
が一様な場合よシも細くすることを目的とじ几場合を示
したが、特にサイドロブの低減だけを目的とする場合に
は重み係数の具体的数値を実施例の場合とは逆の関係に
よるように設定すればよい。
以上詳述し九本発明によれば重み付は手段を付加するだ
けで済み、現状のシステムの規模を増大させることなく
被検体内全域に亘ってサイドロブレベルを抑圧できる超
音波診断装置を提供することができる。
けで済み、現状のシステムの規模を増大させることなく
被検体内全域に亘ってサイドロブレベルを抑圧できる超
音波診断装置を提供することができる。
第１図は超音波振動子から放射される超音波ノくルスの
パワースペクトラム図、第２図（’Ｅ） 、 （ｂ）
ハ振幅重み付けを行なった場合のサイドロブレベル及び
メインビームの周波数依存性のシミュレーション結果金
示す図、第３図は被検体内全域離における反射波のスペ
クトラムにおける中心周波数を示す図、第４図（ａ）〜
（樽は各振動子に与える振幅重み分布図、第５図は本発
明の一実施例を示すブロック図、第６図は被検体内の各
領域において振幅重みを切換える様子を示す説明図、第
７図は動作説明の１ζめのタイムチャートである０ 代理人弁理士 則 近 憲 佑 （ｉか１名）−＝Ｐ１
須脳（パＨｒ） （０） 一圀慎わ’（ＭＨｉ） （ｂ） 一周１わとＨｈｚフ １２３４５５１５ １２３４５６７ｔｊ
パワースペクトラム図、第２図（’Ｅ） 、 （ｂ）
ハ振幅重み付けを行なった場合のサイドロブレベル及び
メインビームの周波数依存性のシミュレーション結果金
示す図、第３図は被検体内全域離における反射波のスペ
クトラムにおける中心周波数を示す図、第４図（ａ）〜
（樽は各振動子に与える振幅重み分布図、第５図は本発
明の一実施例を示すブロック図、第６図は被検体内の各
領域において振幅重みを切換える様子を示す説明図、第
７図は動作説明の１ζめのタイムチャートである０ 代理人弁理士 則 近 憲 佑 （ｉか１名）−＝Ｐ１
須脳（パＨｒ） （０） 一圀慎わ’（ＭＨｉ） （ｂ） 一周１わとＨｈｚフ １２３４５５１５ １２３４５６７ｔｊ
Claims (1)
- 複数個の超音波振動子を一組として送受信を行なって超
音波像を得る超音波診断装置において、受信時に一組と
して動作する振動子群のそれぞれに振幅重み係数を付加
する重み付は手段と、該重み付手段の振幅重み係数を経
時的に変化させる制御手段とを設けたことを特徴とする
超音波診断装置０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9914082A JPS58216044A (ja) | 1982-06-11 | 1982-06-11 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9914082A JPS58216044A (ja) | 1982-06-11 | 1982-06-11 | 超音波診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58216044A true JPS58216044A (ja) | 1983-12-15 |
Family
ID=14239395
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9914082A Pending JPS58216044A (ja) | 1982-06-11 | 1982-06-11 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58216044A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59171542A (ja) * | 1983-03-18 | 1984-09-28 | 三菱電機株式会社 | 超音波診断装置 |
| JPS6468238A (en) * | 1987-09-10 | 1989-03-14 | Toshiba Corp | Ultrasonic diagnostic apparatus |
-
1982
- 1982-06-11 JP JP9914082A patent/JPS58216044A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59171542A (ja) * | 1983-03-18 | 1984-09-28 | 三菱電機株式会社 | 超音波診断装置 |
| JPH0344773B2 (ja) * | 1983-03-18 | 1991-07-09 | Mitsubishi Electric Corp | |
| JPS6468238A (en) * | 1987-09-10 | 1989-03-14 | Toshiba Corp | Ultrasonic diagnostic apparatus |
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