JPS58214115A - 合焦検出装置 - Google Patents

合焦検出装置

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JPS58214115A
JPS58214115A JP57096534A JP9653482A JPS58214115A JP S58214115 A JPS58214115 A JP S58214115A JP 57096534 A JP57096534 A JP 57096534A JP 9653482 A JP9653482 A JP 9653482A JP S58214115 A JPS58214115 A JP S58214115A
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JP
Japan
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light
optical axis
optical
focus detection
detection device
Prior art date
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Pending
Application number
JP57096534A
Other languages
English (en)
Inventor
「しし」戸 芳雄
Yoshio Shishido
Susumu Takahashi
進 高橋
Kazumasa Matsuo
松尾 和正
Atsushi Miyazaki
敦之 宮崎
Shinichi Nishigaki
西垣 晋一
Shinichi Kato
伸一 加藤
Takeaki Nakamura
剛明 中村
Akifumi Ishikawa
石川 明文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Corp, Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Corp
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Priority to DE8383303249T priority patent/DE3377814D1/de
Priority to EP83303249A priority patent/EP0096570B1/en
Priority to AT83303249T priority patent/ATE36762T1/de
Publication of JPS58214115A publication Critical patent/JPS58214115A/ja
Priority to US07/003,423 priority patent/US4737622A/en
Priority to US07/005,282 priority patent/US4711999A/en
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/16Beam splitting or combining systems used as aids for focusing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Endoscopes (AREA)
  • Focusing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、簡単な構成によって高精度に合焦点検出を行
い得る合焦検出装置に関するものである。
一般に、内視鏡、力′メラ、テレビカメラ等の光学観察
装置及び光学撮影装置においては、被写体を鮮明に撮影
あるいは観察できるように、任意の被写体距離に対し、
装置の撮影用あるいは結像用光学系の結像位置がフィル
ム面等の結像面に鮮明に結像している合焦状態にあるか
否かを検出できる合焦検出手段が広く設けられている。
又、上記撮影光学系を自動的に合焦状態の位置に移動設
定できる手段が付設されている場合もある。
従来の合焦検出装置は、被写体が暗い場合あるいは暗い
撮影光学系を使用する場合においては、一般に受光素子
による検出出力が小さくなり、焦点検出が殆んど不可能
になる場合がある。
このため、特公昭49−19810号公報に開示されて
いるように、一定形状のビームを被写体に向けて照射す
る手段を設けたものがあるが、照射手段を撮影レンズ系
とは独立した光学系を使用しているため、一つの光路で
撮影を行なわなければならない内視鏡等には応用し難い
又特開昭56−128923号公報に開示されているよ
うにスゾリットゾリズムを使用する手段においては、一
定レベル以上の精度を必要とする場合には、前記受光素
子を多数配設すると共に、それらの出力信号を比較して
合焦か否かを検出する回路系が複雑となり、特に生産数
の少ない製品においては、高価となるという問題がある
さらに特開昭56−125713号公報に開示されてい
るように、光源を点滅して被写体に投光し、消灯区間に
おける出力信号を点灯区間における出力信号から差し引
くことにより、上記光源以外の外光の影響を軽減し、被
写体が暗い場合、及び暗い撮影光学系の場合においても
、合焦か否かを検出できる合焦検出装置があるが、フィ
ルム面等の所定の結像面の他にこの結像面と共役となる
位置を前記結像面の両側に二締所設け、一方の箇所に配
設された投光手段にて被写体に投光した元を他方の箇所
に配置した受光手段にて受光するよう構成されているた
め、この従来例においては投光手段及び受光手段に比較
的大きなスペースを必要とすると共に、合焦検出の光学
系及び回路系の構成が複雑となっているため、高価にな
るという問題があった。
本発明は上述した点にかんがみてなされたもので、近軸
光線から離間した部分のレンズを経て被写体にスポット
的に投光し、該被写体で反射された光を離間して配設さ
れた若しくは開口部を有する受光素子にて測定すること
により、高精度で合焦点を検出することのできる合焦検
出装置を提供することを目的とする。
以下、図面を参照して本発明を具体的に説明する0 第1図ないし第4図は本発明の第1実施例に係り、第1
図はスコープに第1実施例を適用した図を示し、第2図
は第1実施例における絞りの形状を示し、第3図は投光
部及び受光部周辺を拡大して示し、第4図は撮影若しく
は結像光学系が合焦か否かによって結像される位置が異
ることを示す説明図である。
第1図において、スコープ1はその接眼部2外周に形成
されたフォーカスリング3を回動することにより、スコ
ープ1の結像光学系の焦点位置が変化し、スコープ1前
方の被写体4の結像位置が可変調整されるように構成さ
れている。
上記スコープ1の接眼部2後端側には本発明の合焦検出
装置5の第1実施例が装着されるように構成されている
上記合焦検出装置5内には、接眼部2後方に二つの直角
プリズム5A、 5Bを接合して形成した(ハーフミラ
−で形成することもできる。)ビームスプリッタ6が配
設され、該ビームスシリツタ6後方に透過する一部の光
電によって観察者は観察できると共に、直角方向に反射
された光軸7上の後方(図示では下方)には絞り8に近
接して投影用で且つ合焦検出用のレンズ9が配設され、
該レンズ9のさらに後方に、光軸7の両側にわずかに隔
てた離間部10を形成した二つの受光素子11.12が
配設され、さらに該離間部10の直後に投光用光源13
が配設されている。
上記絞り8は、第2図及び第3図に示すように、光軸7
から離間し、レンズ9周辺部に近い位置に光を通すピン
ホール状の開口部14が形成されている〇 一方、第3図に示すように両受光素子11.12は、各
前面側が受光された光量に応じて光電流が流れる等の光
電変換機能を有する光!(変換)面が形成され、該光電
面が光軸7と垂直で、光軸7から離間する開口部14方
向の光軸7の両側にわずかに離間して配設され、被写体
4側からこれら両党型面に至る光路長が共に等しくなる
よう構成されている。これら両党型面の裏面個は光軸7
上に位置するピンホール状等の開口部を形成した遮光板
16に接着され、該遮光板16によって光源13の光が
直接光電面に受光されないように構成されている。
尚、上記両受光素子11.12は、観察者が観察する場
合には被写体4の光学偉が例えば明視の距離等所定の結
像位置に結像される位置の時、ビームスシリツタ6で反
射されて該受光素子11.12の離間部10の位置に鮮
明に結像されるという光学的に対応する位置関係に配設
されている。この場合、光路長が共に等しい共役な位置
関係に配役しても良いし、共役な位置に結像したものを
さらに結像レンズ等で後方に結像させた場合における光
学的に対応する位置関係に配設しても良い。
このように構成された第1実施例の動作を第4図を参照
して以下に説明する。
今、仮りにスコープ1の結像光学系が被写体4の位置よ
りも近距離、つまり後方の位置にピントが合った(状態
、以下前ピンという。)のときには、光源13からレン
ズ9を経て、さらに開口部14を経て被写体4側にスポ
ット的に投光され、被写体4で反射された光を前記開口
部14を通して測光するとき、上記光は第411(a)
に示すように両受光素子11.12より前方位置の光軸
7上ですでに結像され、その後拡開すると共に、光軸7
から離間する。従ってこの場合にはレンズ9に近接して
形成された開口部14を通って入射される光束が該開口
部14と光軸7に対し、反対側に配設された受光素子1
1の゛光電面に受光され、該受光された光電に応じた光
電流等の検出信号が出力される。一方光軸1に対し、開
口部14側に配設された受光素子12の光電面には受光
きれない。
従って、両受光素子11.12の出力レベルを比較すれ
ば、前♂ン状態であることが検知される。
一方、スコープ1の結像光学系が被写体4の位置にピン
トが合った合焦状態のときには、開口部14を経て被写
体4側にス1ット的に投光され、該被写体4で反射され
、開口部14を経た光は第4図(b)に示すように、両
受光素子11.12の間の離間部10が結像位置となる
ので、両受光素子11,12(の各光電面)には共に光
が届かないで、検出信号は共に殆んど零となる。
さらに、スコープ1の結像光学系が被写体4の位置より
も遠距離、つまり前方の位置にピントが合った(状態、
以下後ビンという。)のときには、光源13から開口部
14を経て被写体4側にスポット的に投光され、被写体
4で反射され、開口部14を経た光は、第4図(C)に
示すように、両受光素子11゜12より後方の位置が結
像(収束)点となるので、この場合には光軸7について
、開口部14側に配設された受光素子12(の光電面)
に届き、受光された光量に応じた検出信号が出力される
。この場合他方の受光素子11は受光しないので、その
信号出力は殆んど零となる。
このように、両受光素子11.12の検出信号の出力レ
ベルから合焦状態であるか、前ピンあるいは後ピンのよ
うにず゛れた状態であるかを知ることができるので、ず
れた状態に応じてフォーカスリング3を右回りあるいは
左回りに回動ずれば、速やかに合焦状態に設定できる。
尚、上述における光源13として通常のランプ等に限ら
れるものでなく、赤外域の光を用い、受光素子11.1
2111もその波長の光に感度の高いものを用いれば、
信号対雑音比CSN比)を向上でき、より検出し易くで
きる。又、光源13を点滅し、受光素子11.12の出
力を交流的に増幅すれば、簡単にSN比を向上できる。
上記第1実施例においては、円板状のレンズ9に一ンホ
ール状の開口部14を形成したものを用いたが、上述の
原理から判断されるように、開口部14に隣接するレン
ズ部分のみが合焦検出に用いられるので、この開口部に
隣接する部分のみにレンズがあれば充分である。
従って、1iIS5図に示すように正方形の(勿論ピン
ホール状等でも良い。)開口部21の位置する両側を切
り欠いた形状の第2実施例におけるレンズ22を用いて
も良い。
さらに、第6図に示すように、上記開口部21の光#i
I側に位置するレンズ部分をも切り欠いた形状の第3実
施例におけるレンズ23とすることができるし、第7図
に示すように第4実施例における7リンドリカルレンズ
24とすることができる。
又、上記開口部14.21は、二つの受光素子11゜1
2を上下等両側にわずかに離間して配設した場合には、
第8図に示すように横長の開口部25でも良い。
又、絞り8をレンズ9.22.23.24の後方側に配
設しても良いし、絞り8とレンズ9とを一体化、つまり
レンズ9.22.23.24の一方の面に遮光膜等をコ
ーティングしても良いし、液晶板を通すことにより電界
等で制御して開口部(光の透過部)及び遮光膜の機能を
させるように構成することもできる。又、開口部14.
21.25等をガラス板等の透明部材で閉塞した光の透
過部としても良い。
尚、上述における受光素子11.12を段差状に配設し
、光軸7に関して開口部(14,21等)側の受光素子
12に至る光路長を他方の受光素子11よりわずかに短
くなるよう配設することもできる。又、段差状に配設す
るのでな°く、傾斜面に沿って配設しても良いし、第9
図に示すように、受光素子11の前面に透明部材26を
当接して接着若しくは離間して配設することにより光路
長をゎずかに変えるよう構成することもできる。このよ
うにすれば、ずれの状態において受光される光敞をより
増加させることができる場合がある(尚、上述とは逆に
受光素子12側の光路長が大きくなるものについても合
焦か否かを検出できる場合があり、この場合についても
本発明の範ちゅうに入るものである)。
上述においては二つの受光素子11.12を用いである
が三個以上の多数用い、どの受光素子の出力が大きいか
を検出することにより、どれだけずれているかをも検出
できるよう構成することもできる0 尚、本発明はスコープのみならず、フィルム面等所定の
結像面に被写体の光学像を鮮明に結像させる光学装置類
に適用できることは明らかであり、この装置を組み込ん
でも良いし、着脱自在に装着できるよう構成することも
できる。
以上述べたように本発明によれば、光軸から離間した位
置に設けた光の透過部を形成したレンズを経て合焦検出
用の光をスポット的に被写体側に投光する手段を設け、
上記光軸から離間した透過部の方向の光軸の両側に配設
した複数の受光手段によって透過部を経た光を測光する
ように構成しであるので、簡単な構成によって高精度に
合焦検出を行うことができる0又、低コストで実現でき
るという利点を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図は本発明の第1実施1例に係り、第
1図はスコープに適用した第1実施例の光学系を示す説
明図、第2図は絞り8の形状を示す正面図、第3図は投
光部及び受光部を拡大して示す説明図、第4図は合焦状
態か否かを検出する原理を示す説明図、第5図ないし第
7図はレンズの形状を変えた実施例を示し、第5図(a
)及び(b)は第2実施例におけるレンズの正面図及び
絞りと共に配置した状態を示す側面図、第6図(a)及
び(b)は第3実施例におけるレンズの正面図及び絞り
と共に配置した状態を示す側面図、第7図(a)及び(
b)は第4実施例におけるレンズの斜視図及び絞りと共
に配置した状態を示す側面図、第8図は絞りに形成した
開口部の他の実施例を示す正面図、第9図は受光手段の
他の実施例を示す説明図である。 1・・・スコープ    2・・・接眼部3・・・フォ
ーカスリング 4・・・被写体5・・・合焦検出装置 
 6A、6B・・・プリズムI・・・光軸      
8・・・絞り9、22.23.24・−・レンズ 10
・・・離間部11.12・・・受光素子 13・・・光
源14、21.25・−・開口部 16・・・遮光板2
6・・・透明部材 第1図 第2図       第3図 第4図 第1頁の続き 0発 明 者 西垣晋− 東京都渋谷区幡ケ谷二丁目43番 2号才リンパス光学工業株式会 社内 0発 明 者 加藤伸− 東京都渋谷区幡ケ谷二丁目43番 2号才リンパス光学工業株式会 社内 0発 明 者 中村開明 東京都渋谷区幡ケ谷二丁目43番 2号才リンパス光学工業株式会 社内 0発 明 者 石川明文 東京都渋谷区幡ケ谷二丁目43番 2号才リンパス光学工業株式会 社内

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)  結像用若しくは撮影用の光学系によって、フ
    ィルム面等所定の結像面に結像された被写体の光学像が
    鮮明に結像される合焦状態か否かが、前記光学系に付設
    されたレンズを経て被写体側に投光された反射光を測光
    することにより検出される合焦検出装置において、前記
    光学系における光軸から離れた位置のレンズ部分に光の
    透過部を形成し前記光軸から離れた位置の方向における
    光軸の両側で、前記所定の結像面と光学的に対応する位
    置に、少くとも二つの光電変換面を有する受光素子を配
    設したことを特徴とする合焦検出装置。 (2)  前記受光素子は、光軸の両側に各光電変換面
    が光軸と垂直となるように二つ配設するか、各光電変換
    面に至る光路長がわずかに異るように傾斜して、若しく
    は段差状に配設することを特徴とすることを特許請求の
    範囲第1項記載の合焦検出装置。 (8)前記受光素子は、光軸の両側に、各光電面に至る
    光路長がわずかに異るように、前面に当接して若しくは
    離間して平板状の透明部材又は楔状のレンズを配設する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の合焦検出
    装置。
JP57096534A 1982-06-05 1982-06-05 合焦検出装置 Pending JPS58214115A (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57096534A JPS58214115A (ja) 1982-06-05 1982-06-05 合焦検出装置
DE8383303249T DE3377814D1 (en) 1982-06-05 1983-06-06 An optical system focus-state detector
EP83303249A EP0096570B1 (en) 1982-06-05 1983-06-06 An optical system focus-state detector
AT83303249T ATE36762T1 (de) 1982-06-05 1983-06-06 Optische einrichtung zur messung des brennpunktes.
US07/003,423 US4737622A (en) 1982-06-05 1987-01-13 Apparatus for photometrically detecting an optically focused condition of an optical system
US07/005,282 US4711999A (en) 1982-06-05 1987-01-14 Apparatus for photometrically detecting an optically focused condition of an optical system

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57096534A JPS58214115A (ja) 1982-06-05 1982-06-05 合焦検出装置

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JPS58214115A true JPS58214115A (ja) 1983-12-13

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ID=14167787

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