JPS58211635A - 三波長分光光度測定方法による不良品検査装置 - Google Patents
三波長分光光度測定方法による不良品検査装置Info
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- JPS58211635A JPS58211635A JP57094011A JP9401182A JPS58211635A JP S58211635 A JPS58211635 A JP S58211635A JP 57094011 A JP57094011 A JP 57094011A JP 9401182 A JP9401182 A JP 9401182A JP S58211635 A JPS58211635 A JP S58211635A
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9018—Dirt detection in containers
- G01N21/9027—Dirt detection in containers in containers after filling
-
- G—PHYSICS
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- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/38—Investigating fluid-tightness of structures by using light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、容器内のもれ検出、より具体的にはブルーパ
ス方法などと呼ばれている色素浴接術にもとづくアンプ
ル中のもれの光学的検出に関する。
ス方法などと呼ばれている色素浴接術にもとづくアンプ
ル中のもれの光学的検出に関する。
化学薬品や食品等を収納するアンプル、バイアル等にピ
ンホールが生じた場合、あるいはアンプルの密閉シール
が完全に行われなかった場合１ｃは液もれや細菌汚染が
生じる可能性がある。
ンホールが生じた場合、あるいはアンプルの密閉シール
が完全に行われなかった場合１ｃは液もれや細菌汚染が
生じる可能性がある。
そこで、アンプルを濃い青色素溶液（例えばメチレンブ
ルーや食用青色色素等）中に浸けて、真空圧を与えると
濃い色素はガラス中の小さな穴やもれのあるアングルを
見い出していたが、これには検出限界があり、また着色
されたアンプルや着色された内溶液の場合には検出が困
難であった。
ルーや食用青色色素等）中に浸けて、真空圧を与えると
濃い色素はガラス中の小さな穴やもれのあるアングルを
見い出していたが、これには検出限界があり、また着色
されたアンプルや着色された内溶液の場合には検出が困
難であった。
そこでこれを光学的手段で検出する方法としてアンプル
を透過した光エネルギーを測定するのに三波長分光光度
計による測定方法が特開昭５４−１３１１８３号等に示
されている。しかしながらこの二波長分光光度計による
測定においても、アンプル等の容器が茶色などに着色さ
れている場合は１個個のアンプルにおける着色度合の微
妙な違いが。
を透過した光エネルギーを測定するのに三波長分光光度
計による測定方法が特開昭５４−１３１１８３号等に示
されている。しかしながらこの二波長分光光度計による
測定においても、アンプル等の容器が茶色などに着色さ
れている場合は１個個のアンプルにおける着色度合の微
妙な違いが。
測定する波長の吸光度を変化させて、良品の判定域を良
品アンプルでも越えてしまうので、検出感度が悪くなる
結果が生じている。又、内容液が着色されている場合は
、温度の変化によって吸光度に変化が生じ、測定結果に
影響を及ぼすのである。
品アンプルでも越えてしまうので、検出感度が悪くなる
結果が生じている。又、内容液が着色されている場合は
、温度の変化によって吸光度に変化が生じ、測定結果に
影響を及ぼすのである。
しかるに１本発明の三波長分光光度計を用いる装置によ
れば前述のような欠点を改善し、容器の着色度あるいは
着色内容液の温度変化に伴う吸光度変化の影響を′減少
させることができるのである。
れば前述のような欠点を改善し、容器の着色度あるいは
着色内容液の温度変化に伴う吸光度変化の影響を′減少
させることができるのである。
すなわち２本発明の第１の目的は１着色アンプル、いわ
ゆるＡｍｂｅｒ Ａｍｐｏｕｌθの着色のバラツキによ
って生じる吸光度変化の影響を減少させるものである。
ゆるＡｍｂｅｒ Ａｍｐｏｕｌθの着色のバラツキによ
って生じる吸光度変化の影響を減少させるものである。
これらのＡｍｂｅｒ Ａｍｐｏｕｌθは、短い波長をカ
ットする目的をもったものである故に個々のアンプルで
の微妙な着色度合いの違いで、特に短い波長部分での吸
光度に違いが生じて来る。この波長特性の影響は、三波
長分光光度測定法ではさけられないのである。
ットする目的をもったものである故に個々のアンプルで
の微妙な着色度合いの違いで、特に短い波長部分での吸
光度に違いが生じて来る。この波長特性の影響は、三波
長分光光度測定法ではさけられないのである。
本発明の第２の目的は、アンプル液自身の特徴波長が測
定波長域にある場合、内容液の温度に応じて吸光度が変
化する影響を減少さぜるものである。例えば、茶色に濃
く着色された空アンプルＦ（Ｒ）と比較的薄く着色され
た空アンプルＦ （０１の透過率を測定すると、第１図
に示すグラフのような結果が生じる。
定波長域にある場合、内容液の温度に応じて吸光度が変
化する影響を減少さぜるものである。例えば、茶色に濃
く着色された空アンプルＦ（Ｒ）と比較的薄く着色され
た空アンプルＦ （０１の透過率を測定すると、第１図
に示すグラフのような結果が生じる。
波長５５０〜６００ ｎｍでの双方の差値と、波長６０
０〜６５０ ｎｍ、波長７００〜７５０ ｎｍあたりの
差値とを比較すると、それぞれ差位が生じ曲線に勾配が
生じているのに対し、双方の曲線の形は近似している。
０〜６５０ ｎｍ、波長７００〜７５０ ｎｍあたりの
差値とを比較すると、それぞれ差位が生じ曲線に勾配が
生じているのに対し、双方の曲線の形は近似している。
具体的に示すと、薄く着色された空アンプルＦ（０）の
示す波長５７０ｎｍ、 ６３０ｎｍ、 ７２０ｎｍでの
透過率をそれぞれａｌｒ Ｃ２＋ Ｒ３＋又同じく濃＜
、！Ｌａ−された空アンプルＦ（ＰＪの波長５７０ｎｍ
、 ６３０ｎｍ、 ７２０ｎｍ での透過率をす、、
ｂ、、 ｂ、とする。波長６３０ ｎｍは使用したブル
ーパス液９食用青色１号Ｍキレートの特性波長にあたり
、波長５７０ ｎｍ 、 ７２０ ｎｍは比較するため
に設定した基準波長である。
示す波長５７０ｎｍ、 ６３０ｎｍ、 ７２０ｎｍでの
透過率をそれぞれａｌｒ Ｃ２＋ Ｒ３＋又同じく濃＜
、！Ｌａ−された空アンプルＦ（ＰＪの波長５７０ｎｍ
、 ６３０ｎｍ、 ７２０ｎｍ での透過率をす、、
ｂ、、 ｂ、とする。波長６３０ ｎｍは使用したブル
ーパス液９食用青色１号Ｍキレートの特性波長にあたり
、波長５７０ ｎｍ 、 ７２０ ｎｍは比較するため
に設定した基準波長である。
今、三波長で測定する場合、波長６３０ ｎｍと７２０
ｎｍの透過率の差を比較すると＋（ａｓａ＊）と（ｂｓ
−す、）では（ｂｓ ｂｙ）の方、即ち空アンプルＦ
（Ｒ１の方の差値が大きい。このようにともｌこ空アン
プルで内容液の影響を全く有さないアンプルにもかかわ
らず、 Ｆ（Ｒ）とＦ（０）には、これだけの差が生
じてこの差は良品の判定域を越え、ノイズとなり判定精
度を悪くするのである。
ｎｍの透過率の差を比較すると＋（ａｓａ＊）と（ｂｓ
−す、）では（ｂｓ ｂｙ）の方、即ち空アンプルＦ
（Ｒ１の方の差値が大きい。このようにともｌこ空アン
プルで内容液の影響を全く有さないアンプルにもかかわ
らず、 Ｆ（Ｒ）とＦ（０）には、これだけの差が生
じてこの差は良品の判定域を越え、ノイズとなり判定精
度を悪くするのである。
しかしながら透過率曲線の形はほぼ変らないことから三
波長での測定を行う場合ｙ Ｒ３とａｌ を結ぶ直線
と、波長６３０ ｎｍとの交点をｙ、ｙとＣ２との差値
を（Ａｌとすると囚は＋ Ｆ（０）アンプルの曲線の
カーブの深さであり、これがほぼ曲線のカーブ度を決定
する値となる。Ｆ（Ｒ１アンプルの場合もｂ３とす。
波長での測定を行う場合ｙ Ｒ３とａｌ を結ぶ直線
と、波長６３０ ｎｍとの交点をｙ、ｙとＣ２との差値
を（Ａｌとすると囚は＋ Ｆ（０）アンプルの曲線の
カーブの深さであり、これがほぼ曲線のカーブ度を決定
する値となる。Ｆ（Ｒ１アンプルの場合もｂ３とす。
を結ぶ直線と波長６３０ ｎｍとの交点Ｘとす、との差
値（Ｂ）がＦ（Ｒ）アンプルの曲線のカーブ度を示す深
さであるが、 Ｆ（０１とＦ （Ｒ）のそれぞれの曲
線のカーブ度。
値（Ｂ）がＦ（Ｒ）アンプルの曲線のカーブ度を示す深
さであるが、 Ｆ（０１とＦ （Ｒ）のそれぞれの曲
線のカーブ度。
形状はほぼ等しいことから（Ａ） ’＝ｖ （Ｂ）とな
る。
る。
このように曲線のカーブの深さｌ （（Ａｌ、 （Ｂ）
）はアンプルの着色度合によってあまり影響を受けな
いのである。そこで、ブルーバス用の色素２例えば食用
青色１号キレートが混入した不良アンプルになると、波
長６３０ ｎｍの吸光度が高くなるため透過率がさがり
、カーブの深さは（Ａ）あるいは（Ｂ）より低い値とな
る曲線を形成する。故に＋Ａｌ値あるいはＩＢｌ値を一
定基準値とし、これより低い値を示すものを不良アンプ
ルと判断すれば９曲線の勾配や透過率の絶対値に左右さ
れずに選別することができるのである。
）はアンプルの着色度合によってあまり影響を受けな
いのである。そこで、ブルーバス用の色素２例えば食用
青色１号キレートが混入した不良アンプルになると、波
長６３０ ｎｍの吸光度が高くなるため透過率がさがり
、カーブの深さは（Ａ）あるいは（Ｂ）より低い値とな
る曲線を形成する。故に＋Ａｌ値あるいはＩＢｌ値を一
定基準値とし、これより低い値を示すものを不良アンプ
ルと判断すれば９曲線の勾配や透過率の絶対値に左右さ
れずに選別することができるのである。
第２図には着色した内容液の室温時の透過率と６０“Ｃ
の温度時の透過率とを示したものであるが。
の温度時の透過率とを示したものであるが。
図表に明らかなように高温になると、 ６３０ｎｍから
６７０ ｎｍの色素の特長波長あたりを軸として、波長
の短い方と長い方がシンメトリックに変化するが。
６７０ ｎｍの色素の特長波長あたりを軸として、波長
の短い方と長い方がシンメトリックに変化するが。
この場合も曲線の形４幻マ変らないという現象を示す。
すなわち、波長５７０ ｎｍ 、 ６３０ ｎｍ 、
７２０ ｎｍ での透過率の測定値を室温（１８℃）の
場合Ｃ１ｖ Ｃ９ｒ ＣＬ６０℃の場合をｄ、 、 ｄ
、 、 ｄ、とすれば、 ＣｓとＣ８を結ぶ直線と波長
６３０ ｎｍとの交点にとＣ７との差値ｔｃ）と。
７２０ ｎｍ での透過率の測定値を室温（１８℃）の
場合Ｃ１ｖ Ｃ９ｒ ＣＬ６０℃の場合をｄ、 、 ｄ
、 、 ｄ、とすれば、 ＣｓとＣ８を結ぶ直線と波長
６３０ ｎｍとの交点にとＣ７との差値ｔｃ）と。
ｄ、とｄ、を結ぶ直線と６３０ ｎｍとの交点１とｄ、
との差値（ＤＪとはほぼ等しい。従ってＣ＝Ｄ＝一定基
準値とすればブルーパス着色液の混入した不良アンプル
は、当然透過率が低下するので、該一定基準値より低い
値を示し、容易に判別することができる。
との差値（ＤＪとはほぼ等しい。従ってＣ＝Ｄ＝一定基
準値とすればブルーパス着色液の混入した不良アンプル
は、当然透過率が低下するので、該一定基準値より低い
値を示し、容易に判別することができる。
三点の波長の選択は、メチレンブルーでは６６０ｎｍ（
１近２食用青色１号キレートでは６３０ ｎｍ付近がピ
ークを示すように、それぞれのブルーパス液の色素の特
性波長及びアンプルや内容液の特性波長に応じて任意に
設定する。
１近２食用青色１号キレートでは６３０ ｎｍ付近がピ
ークを示すように、それぞれのブルーパス液の色素の特
性波長及びアンプルや内容液の特性波長に応じて任意に
設定する。
第３図は、アンプル（１）を透過した光を小区画に分画
された微小受光部の集合体からなる受光部（２）で受光
し、各分画での異物による光の遮蔽度を信ね 号としてとられる異物の検査装置において、受光部の一
分画からの光束を本発明の測定に利用した装置の実施例
を示す略図であるが、このような分画された微小受光部
は異物の検出限度を正確に設定し、かつ検出精度を高め
る効果があるのに加えて９本発明の液もれ検査にも利用
できるために極めて有利である。さて、受光部の中の一
分画の光束をライトガイド（３）でコンデンサレンス（
４）に導き平行光にした光を、ブリズｌ、フィルター（
６）（６’）で三つの波長域に分割する。三方に分割さ
れた透過光 、は、それぞれブルーパス着色色素の
吸収領域に応じたスペクトル分布を示す波長フィルター
（６）と。
された微小受光部の集合体からなる受光部（２）で受光
し、各分画での異物による光の遮蔽度を信ね 号としてとられる異物の検査装置において、受光部の一
分画からの光束を本発明の測定に利用した装置の実施例
を示す略図であるが、このような分画された微小受光部
は異物の検出限度を正確に設定し、かつ検出精度を高め
る効果があるのに加えて９本発明の液もれ検査にも利用
できるために極めて有利である。さて、受光部の中の一
分画の光束をライトガイド（３）でコンデンサレンス（
４）に導き平行光にした光を、ブリズｌ、フィルター（
６）（６’）で三つの波長域に分割する。三方に分割さ
れた透過光 、は、それぞれブルーパス着色色素の
吸収領域に応じたスペクトル分布を示す波長フィルター
（６）と。
ガラスアンプルによる基準吸収領域をそれぞれ分離する
基準波長フィルター（７） （８１を通過させ、それぞ
れ任意に設定された三つの波長の光エネルギー（光学信
号）を生せしめる。
基準波長フィルター（７） （８１を通過させ、それぞ
れ任意に設定された三つの波長の光エネルギー（光学信
号）を生せしめる。
プリズムフィルター＋５１＋６つ、波長フィルター （
６）（７１ｆ８）は常にこれに限定されるものではなく
、 三つの波長の光学信号を発生する光フィルタ一手段
を設定すればよい。該波長フィルター＜６） （７）
（８）を通過した光学信号は該波長フィルターと共に配
置された三個の光検出器手段、１体的にはフォトダイオ
ードのような光電変換素子（９） （１０） ０１）に
よってそれぞれに対応したアナグロ出力信号を得る。該
出力信号は増幅器（１２’ 、 １２”、 １２”’）
経て、比較回路（１３）で、それぞれ相互に比較値が算
出され、前述の（Ａ） −＝＝ （Ｂ）に該当する−
予め設定した判定基準値（Ｚ）と該比較値とを比較する
比較回路（国によって。
６）（７１ｆ８）は常にこれに限定されるものではなく
、 三つの波長の光学信号を発生する光フィルタ一手段
を設定すればよい。該波長フィルター＜６） （７）
（８）を通過した光学信号は該波長フィルターと共に配
置された三個の光検出器手段、１体的にはフォトダイオ
ードのような光電変換素子（９） （１０） ０１）に
よってそれぞれに対応したアナグロ出力信号を得る。該
出力信号は増幅器（１２’ 、 １２”、 １２”’）
経て、比較回路（１３）で、それぞれ相互に比較値が算
出され、前述の（Ａ） −＝＝ （Ｂ）に該当する−
予め設定した判定基準値（Ｚ）と該比較値とを比較する
比較回路（国によって。
良、不良を判定する信号が出力される。
第４図は上記の比較回路群を具体的に示した実施例であ
り９例えば波長７２０ ｎｍ、 ６３０ ｎｍ 、 ５
７０ ｎｍの透過率に対応した出力信号は、それぞれプ
リアンプ（＊ｓ） （ｌｓ’） （１５”）およびゲイ
ン調整（１６） （ｘｒ） （’１６″）を経て比較器
（１７） （１８）に入力される。比較器（１７）では
波長７２０ ｎｍと６３０ ｎｍの出力信号が入力され
てその差値１例えば前述の（ａｓ ’ｈ）が出力され
一方の比較器（１８）では６３０ ｎｍと５７０ ｎｍ
からの出力信号が比較されてその差値２例えば（ａｙ−
ａｔ）が出力され２次いでそれぞれの差値は次に接続さ
れる比較器（１９）で更に比較されて、比較値が算出さ
れるのである。
り９例えば波長７２０ ｎｍ、 ６３０ ｎｍ 、 ５
７０ ｎｍの透過率に対応した出力信号は、それぞれプ
リアンプ（＊ｓ） （ｌｓ’） （１５”）およびゲイ
ン調整（１６） （ｘｒ） （’１６″）を経て比較器
（１７） （１８）に入力される。比較器（１７）では
波長７２０ ｎｍと６３０ ｎｍの出力信号が入力され
てその差値１例えば前述の（ａｓ ’ｈ）が出力され
一方の比較器（１８）では６３０ ｎｍと５７０ ｎｍ
からの出力信号が比較されてその差値２例えば（ａｙ−
ａｔ）が出力され２次いでそれぞれの差値は次に接続さ
れる比較器（１９）で更に比較されて、比較値が算出さ
れるのである。
以上のように本発明は、三波長分光光度測定法を用いる
ことによって、従来の問題点であった着色液２着色容器
における波長特性の変化の影響を減少させ検出精度を高
めるように設計された検査装置にして、アンプル等の異
物、ピンホール等をチェックする不良品検査装置に極め
て優れた効果を発揮するものである。
ことによって、従来の問題点であった着色液２着色容器
における波長特性の変化の影響を減少させ検出精度を高
めるように設計された検査装置にして、アンプル等の異
物、ピンホール等をチェックする不良品検査装置に極め
て優れた効果を発揮するものである。
第１図は本発明装置の動作に関連した濃淡着色アンプル
のスペクトル分布を示す透過率の応答曲線。 第２図は本発明装置の動作に関連した温度の違ケ いによるアンプルの内容液のスペクトル分布を示す透過
率の応答曲線。 第３図は１本発明装置の一実施例を示す略図。 第４図は１本発明装置の比較回路群の実施例を示す略図
である。 １ アンプル ２ 受光部 ３ ライトガイド ５．５′ プリズムフィルター６、
７． ８ 波長フィルター９、１０．１１
光学変換素子１２、１２’、 １２”
増幅器１３、１４．１７．１８．１９ 比
較器１．５．１５’、 １５” プリアンプ１
６．１６’、 １６” ゲイン調整Ｚ
判定基準値 特許出願人 第１図 波長 第２図 波長 手続補正書（自発） 昭和５７年を月７０日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年特許願第９４０１１号 ２、発明の名称 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都文京区小石川４丁目６番１０号名称
（０２１） エーザイ株式会社４、補正命令の日ｆ＝
ｔ （自発） ５、補正の対象 願書及び明細書 ６、補正の内容
のスペクトル分布を示す透過率の応答曲線。 第２図は本発明装置の動作に関連した温度の違ケ いによるアンプルの内容液のスペクトル分布を示す透過
率の応答曲線。 第３図は１本発明装置の一実施例を示す略図。 第４図は１本発明装置の比較回路群の実施例を示す略図
である。 １ アンプル ２ 受光部 ３ ライトガイド ５．５′ プリズムフィルター６、
７． ８ 波長フィルター９、１０．１１
光学変換素子１２、１２’、 １２”
増幅器１３、１４．１７．１８．１９ 比
較器１．５．１５’、 １５” プリアンプ１
６．１６’、 １６” ゲイン調整Ｚ
判定基準値 特許出願人 第１図 波長 第２図 波長 手続補正書（自発） 昭和５７年を月７０日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年特許願第９４０１１号 ２、発明の名称 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都文京区小石川４丁目６番１０号名称
（０２１） エーザイ株式会社４、補正命令の日ｆ＝
ｔ （自発） ５、補正の対象 願書及び明細書 ６、補正の内容
Claims (1)
- 液体が充填された容器中に混入した異物あるいは若色液
を光学的に検知する不良品検出装置であって、光源と、
容器又は、内容液を透過した光源からの光束を受光する
容器に対応して設けられた光検知器の受光部と、該受光
部からの光束を三個の波長域の光学信号を発生するよう
に任意に選択された三個の光フィルタ一手段と、前記三
個の光フィルタ一手段からの光学信号をそれぞれ表わす
三つの出力信号を与える前記光フィルタ一手段と共に配
置された三個の光検出器手段と、前記三個の出力信号を
相互に比較して、該比較値を予め設定した判定基準値と
比較する。比較器手段とからなる三波長分光光度測定方
法による不良品検出装置。
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57094011A JPS58211635A (ja) | 1982-06-03 | 1982-06-03 | 三波長分光光度測定方法による不良品検査装置 |
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| MX196309A MX152480A (es) | 1982-06-03 | 1983-02-17 | Aparato de prueba que usa un espectrofotometro de tres valores de longitud de onda |
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| JP57094011A JPS58211635A (ja) | 1982-06-03 | 1982-06-03 | 三波長分光光度測定方法による不良品検査装置 |
Publications (1)
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Family
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