JPS5819544A - 光学的検査システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 製作品を自動的に検査することがｉＩｉれてかり。

そして仁の自動走査は製作品に接触することなく行なわ
れることが望ましい。

これを達成するｌりの方法はぜデオカメラを使用して製
作品を検査し、そして次に製作品に関する情報管得るた
めＶデオカメツからのＶデオ信号出力を分析することで
ある。

こＯ技留は検査の目的が単に製品の外部寸法ｔセエタす
ること、あるい嬬単にロンベヤ上の製品の位置ｔ４墨り
することであるとき特にかな〕の成功を収めてい喪、し
かし乍も、ｃのようなシステム拡円形Ｏ高精書製品及び
４’ｌＫ小さな製品あるいはこのような製品上Ｏ小′ｇ
１に特色ｔ−七二りしようとするときかｔ、ＶＯ欠点會
有しで−る。従来のＣデオ検査から得られ為Ｖデオ信号
で実施されなければならない信号分析線円形製作品が検
査畜れるとき非常に複雑である。従来Ｏｖデオカメラで
製作される製作品の円形像は一連の近接して離間された
平行線によ）形成されたラスターターンで走査されろ、
従って得られるビデオ情報は円形製作品を横切って砥び
ている多くの弦Ｏ路（Ｃｈａｒム１ｐｇ−ム）に関する
情報である。製作品の直径ある％Ａ拡円形に関する情報
を提供するためこの弦の（−五〇デムｌ）情報を分析す
ることは非常に困難であＪＰ、そしてｔた製作品上に含
まれたいかなる瀕状轡黴の幅及び位置ｔ４エタしようと
するときこの情報ｔＷＩＲみ蔵ることは特に困難である
。

本発ｖ４によれば１円形製作智の検査のための光学的検
査システムは電子的な活性像受像表面上に円形製作品の
像の焦点を合わせる光学的システム會有しでいる電子カ
メラと１円形製作品ｔカメラの光学的システムの視野内
の所定位置へ移動する手段と、＃ｆｉ力信号を生ずるた
め受像表面を横切って実質的に半径方向に砥びている方
向で受像表面を走査する丸めの手段と、製作品の中のい
かなる異常Ｏ存在ｔ％検出する大め各々の半径方向走査
（ｒａｄｉａｌ　５ｍｇ５　）　　に対応する出力信号
をモニタするよう配置された信号分析器とを具備してい
る。

本発明によるシステムを使用すると１円形製作品の各々
の半径方向走査に対応するビデオ出力信号線実質的に同
じである。ξれはつｔシ、各々の半径方向走査に沿って
所定の間隔で製作品の半径あるいは円形ｔモニタ“し、
あるいは生ずる又線虫ず６に：違いないいかなる他Ｏ特
徴゛の存在管モニタするための信号を分析するため仁れ
等の出力信号が拡るかによ〕容易に分析されるξとがで
きることを意味している。信号分析器は走査量のいかな
る変化あるいは相違をも検出する友め各々の走査に対応
する出力信号を次の走査と比較するよう配置されろこと
ができる。各々の走査に対応する信号は、製作品の咎々
〇−素０４！ｒ々の走査に沿って存在を決定し、且つ各
々の走査に沿っていかなゐ予期し１に％／％要素の不存
在ｔも決定するためモニタされるのが好ましい、ξれｔ
行なうため、各々の走査に対応する出力信号線、このシ
ステムが完成した製作品を検査すると龜システムにより
作られえ出力信号に対応する所定のデータと比較される
ことができるが、好ましくは各々の走査に対応す・る出
力信号は各々のタイ電ンダウインｙ　（ｔ＜悔４ｓｇ智
０−・替）内の事象（−豐−％ｔ）の存在又は不存在ｔ
ＩＩＩＬａｓするため異なるタイ電ンｒウイｙｌＦに亘
って・モニタされる。

翼々、光学的検査システムは製作品の大きなスループッ
ト（＠ｈｒｅｓｇルシ襲−）を検査することを要京畜れ
、そして、この場合に拡１本発明による光学的検査Ｖス
テム拡短時間だけ製作品を照明し得る＠−システムを含
む仁とが望ましい、これが。

製作品を移動し、製作品を連続してカメラの光学的シス
テムを通過して移動する手段を可能し、一方カメラＯ電
子的に活性な像受像表面上に形成される個々の製作品の
像は、製作品が照明される期間が非常に短いので製作品
Ｏ像Ｆｉ、製作品が照明される短時間中に動いているよ
うに見えないので。

見掛上圧しい位置に「固定」される、受像表面上に形成
される製作品の偉は、出力信号を生ずるため実質的に半
径方向に走査された電荷分布ノぐターンの形で製作品の
電子的な潜像を作）出す。

シャッターあるいは類似の機械的装置を含んでいる機械
的システムを用いて製作品を照明することが可能である
が、ｒス放電管あるいはレーデのようないくつかｆ）Ａ
ルス発生（ｐｓｌａａｄ）光源を使用することは非常に
好ましい。このような−ぐルス発生光源拡典猿的に１秒
の１へ０００分の１程度のノ臂ルス長′＃を有してシシ
、そしてこれは殆んどの製作品の動きを「固定」するの
に充分表短かさである。好ましくはこのシステムは、カ
メラの光学システムの視野内へ製作品が移動されたとき
トｑｔ信号を与えるためカメラに対する所定の位置で劇
作Ａ？移動すゐ丸めの手段の位置即ち、ｉｍ作晶Ｏ位置
を感知する位置感知手段を具備している。好ＩＬ＜はト
リガ信号（ｔｒｉｇｇａｖｉｓｇ　ａ４ｇｖｙｓｌ）が
ＩＩＩＩ′＠源の作動ｔトリｆし、そしてｔ光カメラの
電子的にａｉｍな会費ＩＩ表面の走査をトダガする。

好ましく拡カメラの受像ｌ！Ｉｗｉ上に形成された電子
的な潜像はその中央から、そして半径方向外方に走査さ
れる。好壕しく嬬電子カメラＯ電子的に活性な会費像表
面は標準Ｘ及びＹ軸偏角；イルを有す為標準ビデイコン
チ具−ツである。仁の場合に、受像表Ｉｉｔ走査するた
めの手段紘好１１．＜は正弦液形であるが９０度位相が
外れている意つの償勺ｖｒ弗生ずゐための手段と、正弦
液形を有する鵞りの儒号會供給されゐランプ（デａｓｐ
）ｓ／エネレータとｔ會んでｓＰ６．従ってう３／ｆＮ
エネレーー〇出力は雪りＯ鋸歯状波形であ〕、その振幅
は正弦波形及び余弦波形によ〕変調される。ラングジェ
ネレータからの出力信号はビデイコンチ＆　−ツのＸ及
びＹ軸偏角コイルへ供給されセしてξれ等が、中心から
ｍｔｎそしてターグツトの周〕をす）こぎ運動する一連
の実質的に半径方向外方掃引でビデイ；ンチ為−ｆＯタ
ーｒツｔｆ走査するビデイーｙ？ニー１の電子ぜ一ムを
生ずる。

従来のビデイコンチ＾−ｙｌ使用する代）に他の形式の
Ｖデオカメラｔ＊用することが可能であ）、そしてまた
ホトダイオードアレイ又はマトリクスあるいはホトダイ
オ−ｒ又は電荷結合素子が中径方向分布を有していれば
電荷結合素子アレイ又はマトリクスを含んでいるカメラ
を使用するξとも可能であろう。

本発明はびん用Ｏ王冠キャップを検査するための光学的
検査システムとして特定Ｏ用法を有している。今日、シ
ール社科は、Ｉ！吊用中びんのネックＯＶａ口端をシー
ルする褒状リブと王冠キャップの内側金体に亘シ表面コ
ーテイｙ／を提供するため穂状νツの中心を完全に充填
している薄ｉ層との形でびんの丸めの王冠キャップの内
側上にそ−ｋＷｉ１れている０本発明による検査システ
ム拡。

こＯシステムが褒状シール部分ＯＭＰｑ！に方向の幅を
容品に４ＪＬりすることができ、且つｔたキャップの内
側上の表Ｑｉｉ：ｙ−ティンｒの連続性を４ニタする仁
とができるのでこのような物体の検査に特に適している
。４−ルド部分の検、Ｗ：に加えて本発明による装置は
王冠キャップの内壁の溝の形状をもチェツタする。

本発明による光学的検査システム０４ＩＩ定の実例を添
付図ｗを参照して説明する。

本発明による光学的検査システムの特定の実例昧びんＯ
ネックＯ開放端を閉じるのに使用される出来上つ九王冠
！ＩＯびんＯキャラｆｔ−検査するのに使用される。王
冠型のびんのキャップは縁曲げされた。溝付きの側壁！
！を備え喪金属製蓋１を具備している。キャップＯ閉じ
られた端部壁３は使用中、びんネックの開放端をシール
する環状直立リブ４の形でキャップ上にモールＰ−ｇｔ
したシーリング合成物と、ｌｌｌ状フッの中央部分を充
填してＴｈＬ　−ｔ−ｔ、てキャップｌの閉じた端部壁
３１！ｉ−おおっている薄い被覆物のシーｖｙｒ合成１
１１１Ｆｓとを有している０部分Ｓはキャップｌの内側
をおおうため不活性被覆ＩＩＩＩｔ備えている。

仁の光学的検査システムによって検査されなければなら
ない３つの重要なξとがあシ、第１にはシーりンｒ合成
物のセンター−ネルＳが均等であ〕、且ついかなる不必
要な介在吻あるいは破れのないこと；第３に拡直立濃状
１ツ４がびんネックの開放端と有効なシールを形成する
のに充分な幅を有して−ること１そして第３に伏キャッ
プの儒壁雪が縁曲げされ、溝が付けられていることであ
あ。

本発明によるシステムでは、王冠証のびんのキャラｆＨ
ビデオカメラによって調べられそしてビデオカメラ内に
形成され九びんのキャップの像が実質的に半径方向に走
査され、そしてこれが第３図に概略的に：例示されてい
る。このような半径方向Ｏ走査技術の使用により、キャ
ップが正しく成形されていれば各々の走査から実質的に
均勢なビデオ信号が得られる。こＯシステム拡キャップ
の像が全円周の周１Ｐｔ−移動する走査半径によって３
纂・關その中心から半径方向に走査されるように配置１
れているが、第３図でｔｉＴ本の走査ラインＯみが示さ
れている。従ってキャップが正しく成形され穴かどうか
を決定する次め得られたビデオ信号が分析され、そして
異常が検出畜れれば。

キャップは排除される。

如く、ビデオカメラ６と、半径方向走査を作シ出す回路
等を含むカメラに電力を与えろのに必要な電子回路丁と
、Ａルス発生光源８と、光５ｒｔｓｔ−ドライブする電
子光制御回路９と１位置検出・１゜と、同期電子装置１
１と、信号分析電子装置１２と、排除駆動回路１３と、
排除場所１４と【具備している。

機械的システム びんのキャップ１線シール成型機から回転スター＄４−
Ｊ／　（ａｇａｒ　ｍｅａｌ）　１　＠内ｏｑ部ｌｓ内
へ供給される。−４ルトーンベヤ−ｌマがスターホイー
ル１−の周囲の下方を通過してお〕、そしてキャップ１
はベルト；ンペヤー１？に：よってスターホィール１６
内Ｏ′凹部Ｉｇから堆去られる。ペルトーンベヤ−１丁
が下流の集会偏置に供給する。

排除シ二一）ＩＩＩがベルトツノベヤ−１マＯＳＳに、
且つベルト；ンペヤー１？から離れて位置づけされてＴ
ｈｅ、そして排除軸（図示せず）へ導かれている。ソレ
ノイド作動空気弁！−はペルトコｙ４ヤー１丁の上方に
位置づけされてｓＰ６．そしてベルト１丁から不良王冠
を押し出し、排除シェー）１・内へ押り込ｔｒ７ｔＪ６
ベルトコンペヤーｌγ上の％／％かなる不良王冠に対し
ても圧縮空気の衝風（ｋｌａａ感）を導くノズル黛Ｏｔ
含んでいる。

レンズシステム意ｌと、ターグツト！３及び一対Ｏみが
図示されて−る。互に直角に配置された８対の偏向＝イ
ル意４を有して−るＣディコンチ為−ｆ３冨とを含んで
いるビデオカメ９６は、そＯレンズシステム！１の開口
が蓋１０中心の通路の直談上方にあるように支持柱２ｓ
上に取付けら゛れて％Ａ４．光＠ｔｓはカメラのレンズ
システム！ｌの端部ｔＳんでお）、且つレンズシステム
８１とスターホイ−に１−との間の中間に置かれている
。

光電子放出器／光検出器の対１０１ｉ、光電子放出器か
ら光検出器へ通過する光線がレシーバ−１５の角度位置
に対応する角度位置でスターホイール１６かもたれ下っ
ている一連のＣン（図示せず］の通過によ〕さえぎられ
るようにスターホイール１６の下方に位置づけされる。

Ｖデオカメラーの構造はすべて従来通〕のものであり、
そしてしｙｔシステム冨ｌがシリプンターｒット意３の
高感度面上に焦点を合されるべきキャラｆＯｆｌｉｔｋ
する。従来Ｏ県東；イルと、その関連する制御回路と、
Ｖデオ増幅器がまたビデオカメラ・内に設けられてお〕
、そしてこれ等も構造におｈて金（従東通〕である。Ｖ
ディコンチ具−ツのターグツト材料としてシリフンの使
用は。

それが走査後低馳値の電荷保持（ａｈａｒｇｅデーｔａ
＊−ｔ４・悌）を提供するので仁のシステムに好ましい
。

パルス発生先ＩＩ８は円筒状拡散器（ｄｉｆハ■−デ）
＊ｓｏｍｎに対称に置かれている局部的拡散要素３畠を
有する３つの高ノルス周波数閃光放電管意ｉを具備して
−る０円筒状拡散器ａＳは、Ａルス発生電光システム８
がビデオカメラ６と同軸心にあるようにビデオカメラ６
のレンズシステム１１を囲んでｉる。閃光放電管ｓ７と
、拡散善意＄及び意−と社高反射性の内部表面を有して
いる円筒状ハウジング３０の内側に取付けられている。

光＠０下方端紘環状端部カバー３雪によ、りカー−され
ている。光源丁はキャップ１の周夛に均一であるが、キ
ャラ７’ｌの端壁３の表面に対して急勾配ｔ−６してい
る電光を与えるよう配置されている。

キャラｆ１がＣデオカメラ＊ｏｒｉｔｔａ下方にあると
自回光放電管がキャラ７”ｌ￥ｔ＠射するように次のキ
ャラｆ１が光学システム２１に接近するとき光検出器と
光電子放出器の対１０との間の光路を通過するビン（図
示せず）によって閃光放電管２丁の作動がトリガーされ
る。／臂ルス状の（μ１ａｎｄ）照明が光源８によ〕与
えられ、従ってや果的に。

キャラ７’ｌの動きを固定する（！デーｅｘｅ　）　。

閃光放電管２７は第７図に示された容量性のエネルギー
充放電システムによって作動される。！１個の１５ｏｆ
ルトツエナメイオードＺＤｌ及びＺＤｍは閃光放電管２
丁を横切って並列に接続堪れ九充電スンデンサＣｘとＣ
２と０３に供給されるトランジスタＴＲ１゜を経て電圧
を制御する。光電子放出器／光検出器対１Ｇからの出力
に応答して同期電子装置によル発せられた閃光トリガパ
ルスは端子Ｔｌｔ−経てサイリスク５ＣＲ１（ＤＩ’−
）へ印加される。高電圧が麦圧器ＴＦｘｔ−経て発生さ
れ、そして閃光放電管！ｉの電極を点弧するのに印加さ
れる。

亭籠方向走査−路 標準Ｖディ；ンチェ−２１１及び走査偏向コイｋａ立体
富４が使用されでいるので、Ｘ軸の方向Ｋｊｌ！査Ｖ−
ムを標準的に偏向する偏向＝イル意４６１ｙ軸Ｏ方向に
走査Ｃ−ムを標準的に偏向する偏向；イル雪４よりｔ、
それ等の中に１９少い巻数を有している。

ｓｏＨｇ正弦＃ＩＬが端子Ｔ！を経て同期電子装置１．
１から供給され、そしてラディアス（デ＠ｄ４％１）号
セット／＃ルスが端子Ｔｓｔ−経て同期電子装置から供
給される。端子Ｔ！からの５ｏＨｓ正弦波拡増幅器ＡＳ
Ｋよ〕増幅され、それから作動増幅器Ａ雪と、抵抗体及
びコンデノナ０１回路網７１１゜Ｃ４とよ）成る積分器
へ供給される。増幅器Ａ１からの出力はまたＳＯ度の位
相偏移を生ずるように配置１れた抵抗体Ｒ１及び；ンデ
ンサーＣｓｆ：備え良増幅＠Ａｓへ供給される。増幅器
Ａ８０出力は抵抗体Ｒ３及びコｙｒｙｔｃｓによ〕形成
された積算回路網（１ｓｔｓｌｙｒｇｔ（ｓｙ％−ｔｖ
ａｏｒｋ）ｆ含んでいるその他の増幅器Ａ４へ供給され
る。それ故、増＠＠Ａ４からの出力唸増＠器４２からの
出力２９０度位相が離れ為、コンデンサＣ４及びＣ６は
それぞれアナ四ダスイッチ７Ｃ１４１及びＩＣｘｋｏ別
備の段階に前記Ｏ増幅器Ａ！、λ４に平行に接続された
。アナ田ダスイッチＩＣ１の仁れ等の段階は、ラブイア
スリ噸ットΔルスｔ−受信し九′ときアナ四ｒスイッチ
ＩＣ１が；ンデンナＣ４及びＣｓｔ放電するように端子
Ｔ３へ供給されたラディアスリセットノルスによ〕制御
される。

これが一連のランデ機能（デａｍｐ　／側ｈａｔｉ＊％
＃）’ｔＪＩＥじ、その振幅紘、増幅器Ａｆｔ及びＡ４
Ｏ出力として正弦波の包絡Ｓによって変調される。従っ
て、増幅器Ａｔ及びＡ４の出力波形ｉ正弦波の包結線に
よ）変調された鋸歯形状管有する。実際には正弦波形の
各々の完全なサイクルに対して鋸歯波形Ｏｓｓ　ｓｏぜ
−クがあるのセ、第會図は波形を概略的にのみ表わして
いる。増幅器Ａ！及びＡ４から、の出力は更に他の増幅
器Ａｓ及びＡ６とそれぞれ１輪偏向コイル１！４及びＹ
軸側向コイル意４に供給する対応するプツシ具・プル出
力、Ｐライｆｉ１ｍ＠器とを経て供給される。抵抗体Ｒ
４及びＲ８ｔ横切って発生したフィーｙｓツク信号は増
＠＠１８及びＡ６へフイードバツクされる。Ｙ軸偏向冨
イル雪４へ接続されたブツシュ・プル走査コイルｒライ
ブ増幅器はプラス及びマイナス６＋＃ルト電源で作動し
、これに反しＸ軸偏向コイル寓４の良めの出力プツシ轟
−プル駆動増幅器はプラス及びマイナス６＋＃ルト電源
で作動する。従って、１輪偏向コイル及びｔ軸偏向；イ
ルの巻数差を考慮して、Ｘ軸偏向コイルに対するよルも
高い電圧出力がＹ軸偏向；イルに与えられる。

メラのＸ−及びＹ軸偏向コイル！４へ印加が、ターグツ
ト２３の中心から半径方向外方路における電子の走査Ｖ
−ムを偏向すゐ、従って、Ａルス発生（ｐｓＥａａｄ　
）光６［８及びレレｘｙｘテム２１がシリコンターグツ
目ｌ上に電荷（ａｈｓｒｇｍ　）分布／臂ターンの形で
電気的漕像（１ａｔｅｓｔ　ａ１ｇａｅデ１ａａｌ（謝
り−）を生じた後１次に仁の電気的潜偉は。

第３図ＫＦＩ示されている如く、各々の走査が前の　。

走査から角度的に変位されていて、半径方向外方へ走査
される電子ぜ−ムによってターグツトから除かれる。

同期電子装置 周波数調整電位差計ＲＶｌｔ−有する集積回路正弦波発
振器ｒｃ＠Ｂ緩衝増幅器Ａｌｔ−経てｓｏＨｇ正弦波を
端子７！へ供給し、これから、既述の如（、ＳＯｆｆｇ
正弦波は第龜図にガ示された走査コイルドライバへ供給
される。ｓｏｆｆｇ正弦波紘正弦波幅Ｉｎｆｃ含まれて
いるシュミツト（Ｂａｈ講１ｔす）９ｆ−回路Ｏ形式の
ゼ鴛交差（Ｓ−デ・６デＯ＃＃（鶴ｌ）検出器へ供給さ
れる。シエミットトリガー回路からの矩形波線、〆デル
インパータＩＣｓの第２段階の出力に短いパルスを発生
するため抵抗容量製回路網Ｊ！１（１，（１’ｌｌによ
って弁別される（　ｄ４ｆｆｅ−ｒｓｓ＊（ｇｔｇ）、
こ０Ａｓｐｘｌ；ｊＳ　ＯＨｓ正弦波のゼｗｓｖｒ通る
負性移行（＊ｇｇａｇ４ｒａ　ｔｒａ＊ａ４ｔ４＊ｓ　
）Ｏと１１に生じそして変調された走査／臂ルス（１１
，Ｍ。

Ｓ）のスタートを生ずるのに便用される。ＩＣｓかもの
８Ｍ８Ａルス出力はｃｈｔｏｓ　（シーモス）集積回路
フエーオロツクルーｙＰＩｃ４へ供給される。ツエーｔ
ロツタルーｆｌｃ４かもの発信器出力は単安定マルチバ
イブレータＩＣｓのクロック入力へ供給される。デエア
ル単安定マルチバイブレータＩＣ５（ｔ）Ｑ出力は前後
に接続されたデ為アル４’ットニ進カウｙ声ＩＣ＠ｍ及
びＩＣ６ｋによ）形成されたＩＩ分周カウンタ（ａ　ｄ
ｉ＊ｔｄａｉｙ　Ｉ’Ｓ’＠　−・５ｓｔ４デ）へ供給
される。それから！ｓ６分馬カウンタＩＣ・からの出力
はフェーズ胃ツクルーｆＹｒ完成するためフエーＩｎツ
クループのフエーオ比較ａｆｃよってＩＩＭＢと比較さ
れるフエーＪｅロックルーｆｌｃ４へ戻される。従って
。

フエーＪｅｏツクループＯ発振器は各々の入力５Ｍ５ｄ
ルスＯ間、１ｇち正弦波発振器ＩＣｓによ〕発生され曳
正弦波の咎々Ｏ完全ｔイ、りｓｐ　（ａ・ｍｐＬａｔｍ
　、ｍ、１１ｍ１ｍ）の間に！６・Ｏ出力パルスを提供
する。ラディアスシセットパルス管形成する単安定ｉル
チΔイツレータＩＣ＠ＯＱ出力唸端子Ｔ’Ｓへ供給され
セしてそζから第、龜ｌｌＩに示された走査ツイルｒツ
イΔ−鴎路へ供給電れる。ラディアスリセツシΔルスＧ
Ａルス＠拡可変抵抗器ｎｖ意ｏ調整によ６ｔｏＪｓｏ／
＃ルス＠に設定される。

１Ｍ８ＡルスａｔたＩＣｓの出力から詳細に図示されて
い１ｋＩＡスタートアツプ（５ｔａｒｔす）遅嶌閤路Ｄ
Ｃへ供給される。スタートアップ遅延回路Ｏ終）に尚）
、スター七アップ回路ＤＣは一定の信号管端子デ４へ送
る。

スターホイール１６が回転すると、光検出１）／光電子
放出ＳＯ対１ｏの間を通過する光線がさま良けられ、光
検出器の出力上に下降エツジ（ｆａｌ１４ｍｇ　ｅｄｇ
ｅ）　ｆ生ｆｈ、ＣＯ下ｆｌｌｘｙＮはｓ／ｘ、アル単
安定マルチｄイッレータＩＣ丁の第１半部ＩＣ丁−のク
ロック入力端子へ供給される。

単安走マルチ／曹イッレータＩＣ丁のパルス幅ハ可変抵
抗１１１ＪＹｓＫよ〕設定され、そして弛張の際（・悌
デａｌ＠ｍ４５ｇ　）　　ジ具チル単安定マルチｄイッ
レータＩＣマの第１半部ＩＣ丁ａＦｉｓＦ：ｓ−アル７
リツプフ曹ツｆ１ｃｍの第１部分のＤ入カ上に「ｌ」１
生ずる良め第意牛部ＩＣマｂを初期設定する。

ＩＣ８ｍのクロック入力へ接続されておＬ従りて次のラ
ディアスリセットＡルス管受信すると。

７リツプフーツ！ＩＣ８ａＯＱ出力は、閃光放電管によ
って放出されるべ１閃光を生ずるため、ぐルス発生光源
及び第７図に示された容量性のエネルギー充−放電シス
テムへ接続されている出力端子Ｔｌ上へ閃光トリガパル
スを与えて正となる（ｔＩ＠ν・−４ｔｏｗｓ）、　　
次ＯラディアスリセットＡルスが７リツプ７田ツｆｌｃ
ｔＪ・のリセットを生じ、従って閃光トリｆ　／４　Ｊ
＆Ｉスは持続期間（ｄｓｒａｔｉ轄）中１本Ｏ走査纏で
ある。閃光トリがパルスの端部と同時に、スタートの走
査パルス（ＳＯ８）ｆ）ＥＮエアルＤフリリブ７四ツｆ
ｌｃ８０第２半部ＩＣ８１０Ｑ出力上に発生声れる。仁
０８Ｏ８Ａルスは７リツｔフロツｆｌｃ＊０端子Ｑを「
ｌ」へ設定するＯに使用される。

フ゛ニー／四ツクルーグＩＣ４からの発振器出力領号拡
壜良カウン）！６６ビツトに配置されている第３デ為ア
ル４ビツトニ進カウンタＩＣ１ｏへ供給される。カウン
タＩＣＩＱからの出力は２１Ｓ６ラデイアスリセツト／
ダルスがカウンタ７Ｃ１Ｇによシカラントされた後フリ
ップフロッグＩＣ９をリセットする大めフリップフロッ
グＩＣ９の人力ｔＶ＊ツトするのく供給される。従って
、フリツデフ田ツｆｌｃ＊（１）出力ＱＫよる信号出力
は、正弦波発領器ＩＣＭの完全１サイクル中、「１」に
保たれ、そして走査継続パルス（ｓｅ＠ｓ　ｄｓｒａ＊
４ｅ％ｐｍｌｓｅ）ＳＤと呼ばれる。走査継続パルスは
出力端子Ｔｓへ供給１れる。゛ 信号分析回路は、特定ＯＶデオイベｙ　）　（Ｖ４ｄ−
〇〇１−％＃）が特定のタイ電ンダクインＰ（ｔ（ｍ４
％１ｗ４Ｋｄｍ　）中に存在するか不存在であるかにつ
いてキャップ内Ｏ欠陥の゛存在ある叡は不存在をモニタ
する。タイｆンダウィｙｒｔ−発生するための手段が第
１１図に示されており、そして一連の単安定マルチΔイ
ツレータ管具備している゛、シュアル単安定ｉルチΔイ
ツレータＩＣ１１の第１半部ＩＣ１１ｇは可変電位差針
ＲＹ４によって設定されるフライバッタ（Ｌｙ　ｋａａ
ｈ　）時間間隔管決定するＯに使用される。端子Ｔ３か
らのラディアル　。

す竜ットｄルスはマルチバイブレータＩｃ１１１をクロ
ックするのに使用されそしてマルチバイブレータＩＣ１
１ｇの端子Ｑからｐ出力はフライ・／４ツクブランク（
ｉｊ＠ｓ＆）パルス（Ｆ、Ｂ、）ｙ生ずる。この／譬ル
スは走査Ｃ−ムの７ライΔツク中にぜディコンからの出
力を抑制するのに使用され゛　・る、ｙエアル単安定マ
ルチΔイツレータＩＣ１１の他の半部ＩＣ１ｌ＆唸溝表
示ウィンＰ　（ｆｌｓｇａｄｉａｐｌ＠ｙ　ｗ（ｓｆ＊
ｓ　（ＦＤＷ）　）　ｆ生ず６７’ｈめ配置されでいる
。こＯ単安定マルチΔイツレータはま九端子デ３へ印加
され九うディアスリ竜ットΔルスからり四ツクされ、そ
して溝表示ウィンドの幅！＊化せしめ得る可変電位差計
ＲＶｓｔそれへ接続した。溝表示ウィンドを形成するた
め信号が単安定マルチ−イブレータＩＣ１１１０出力Ｑ
から端子ＴＩへ蹴出される。更に他のｙ＆アル単安定マ
ルチｄイツレータＩＣ１雪ａが令ンタ一対シーｈＡｈｘ
　（ｍａｓｅｒｓ　ｔｏ　ｓｅ＠ｌ　ｐｓｌａｍ　（Ｃ
ＥＦ）　）を生ずる。ζＯｖルチパイツレータＯ時間期
間は可変電位差計ＢＹ６により変化され、そして仁のマ
ルチバイブレータのクロック入力もｔたそれに印加され
大端子Ｔ３からのラディアスリセットΔルスを有してい
る。マルチバイブレータｚｃｔｓａからのＱ出力は出力
端子？？へ供給される。Ｑ出力状単安定ＹＪ＋Ｆチｄイ
ｆＶ−夕ＩＣ１ｓｈの他Ｏ部分へ供給される。単安定！
ルチｄイル−タＩＣ１雪ｈｏ時間期間（Ｂｓａ　ｐｅｒ
ｉｏｄ　）は可変電位差計ｎｖｔｒｃよって設定され、
そしてこの単安定！ルチｄイツレータがシールフィンｒ
の持続期間を決定する。単安定マルチ−ぐイブレータＩ
Ｃ１！ｈ唸単安定！ルチｄイツレータＩＣ１！−からｔ
）ＱＡパルスよ）り璽ツタされそして単安定マルチバイ
ブレータｌＧ１１１かものＱ出力は出力端子Ｔ畠へ供給
される。単安定マルチｄイツレーーＪＣ１１１０Ｑ出力
からの出力は単安定マルチパイツレータｚｃｔｓｇｏ期
間を制御する大め配置され九可変電位差計Ｂｙ＠ｅ有し
ている更に他の単安定！ルチｄイブレータ７ＣＩＳｇの
クロツタ入力へ供給される。ζ０単安宛マルチΔイブレ
一タ７Ｃ１１＠拡シール対壽時間（＃＠＠ｌｔ・１ｉｓ
ｔｓ　ｔ（ｓｓ　（８１？Ｔ）　）　ｆ設定し、そｌ、
ＣＣＯ単安定マルチｄイツレータｏＱ端子からの出力線
単安定マルチｄイツレータＩＣ１８ｋＯクロック入力端
子へ供給宴れ、ξれが溝感知時間パルス（／Ｊｓ４ｓ　
ｇｌｉｍｐｓｅ　ｇ（ｓｓ　ｐｓｌａａ　（ＩｃＧ）　
）　＠設定すゐ、単安定マルチパイツレ−タフ０１８＆
Ｏ期間（シープ（・ｄ）は可変電位差計ＰＹ９によ〕設
定される。

第１１図は壕大溝計数及び検出回路を示している。溝検
出パルスは端子Ｔ―を経て受信され、そしてこれ勢社単
安定マルチｄイｆＶ−１１Ｃ１１ｔｈＯ出力Ｑから蹴出
された溝感知時間−ルスと共に。

アンＦＦ−トＧＩＫｒ−）される、溝感知時間つイｙ　
Ｐ　（ｆｉｓｔｓ　ｇｌｈ４ａａ　１（ｓｓ　ｗ（ｓｎ
ｏｗ　）中に溝Ｏ存在を表わすアンＦｒ−）Ｇｌかもの
出力は可変電位差計ＲＦｔｏを経て；ンデンナＣ’？を
荷電する。溝感知時間の終りに単安定マルチ／者イツレ
ータ７Ｃ１＄１０９出力からの出力パルスの上昇縁（ｖ
ｉａ４ｓｇ　ｅｄｇｅ　）はコンデンｆＣ丁のレベルｔ
−Ｄｙリフデフ四ツデＩＣ１４ｔ）Ｄ入力内へりジッタ
し、そしてこれがトランジスタＴＲ雪及び抵抗体Ｒ６ｔ
−経て＝ｔｙデンナＣマ會荷電する。従って、溝が溝感
知時間つイｙｙ中に検出されると。

フリブデフ四ツｆｌｃ１＜ｏＱ出出力量低レベル１・菅
）でア）、　　そしてこの時間期間中に溝が検出されな
けれにフリツデツ菅ツブｚｃｔ　４のＱ出力線高レベル
（ｈすｈ）である、ＩＣ１４のＱ出力からの仁の信号は
アンドｒ−）　Ｇ　！へ供給され、且つインΔ−タＩＮ
Ｖ１？経てアンドｒ−）Ｇ３へ供給される。端子Ｔｓか
ものラブイアスリセット／臂ルスはｔたアンＷ？”−）
Ｇ３艮びＧ３に供給されているので、ＩＣ１４のＱ出力
上に出力パルスが存在するとき出力がアンＦｒ−トＧ２
から与えられ、ｃｔＬに反してＩＣ１４のＱ出力上に出
力がなければ、出力はア）／Ｉｒｅ’−トＧ３かも与え
られる。アン・）Ｐｒ−）Ｇｌ及びＧ３からの信号はカ
ウンターＩＣ１ｍの異なる・段階へ供給される。

溝の不存在が一意の連続半極方向走査で検出されれば、
カウンターｌＣｘ５ｂからの出力はアシドｒ−トＧ４ｔ
−経テＤ７９　ｙｆｙ　ａ　ｙｆｌ　Ｃ１６ｋへ供＊さ
れる。１２以上の半径走査に対する溝の不存在線、出カ
フ１６上゛に溝不良を表わすためフシツデ７曹ツｆｌｃ
１ｆＪｋのＱ出力を高レベルに設定する。カクンターＩ
ＣＩＢ内のカウントが１露に達する前に少くとも２つの
正しい連続する溝儒号がｒ−１！’ｉ経てカウンターｌ
Ｃｘ５へ供給されればカウンターはインバータＩＮＶ２
及びｏＲｒ−トａｉｔ経てリセットされる。

ｒｃｘｔは各々の半径方向走査中に＋フタ−パネル。シ
ール及び溝の不良検出回路の状ｌＩを記憶する。−にン
ターΔネル及びｌ−ル不良線それぞれ端子デ１１及び端
子１２に経て入力する。記憶装ｆｌｌｌｃ＊マＯ内容拡
、ｖデイコンチＪＬ−ｆ！１のターグツト雪３がクリア
されるときにその時間期間中、第１１１１を参照して次
に説明されるべき不信号分析回路 信号分析回路は入力端子Ｔｌｓ及びＴ１４ｔ＠て差動増
幅器Ａ８へ供給される平衡したビデオ信号を受信すゐ、
コンデ３／？Ｃ＠及びＤＣ復帰回路は端子Ｔ３上に現わ
れ・るラブイアスリ竜ットΔルスによ〕リセットされる
アナＷｒスイッチＩＣｘａｇｔ含んでいる。得られ良ビ
デオ信号はそれから更に増＠＠１９で増幅される０分析
回路へ供給されたぜデオ信号がＶチオカメラ６からのＤ
Ｃ信号レベルの変化によって影響されないことｔこ６Ｄ
Ｃｖペルシセット日路が保証する。

増幅器Ａｍからの出力線、各々の半径方向走査中に発生
された最大Ｖデオ信号レベルを保持する増幅器、４１＠
ｔ−含んでいる−一り検出器へ供給される。増幅器Ａ１
＠０出力拡反転（４ｓｖ−デｔ（ｓｙ）増幅器Ａｌｌに
よって反転され、そして２つの更に倫Ｏ増輻器Ａｌｌ及
びＡＩＱ−経て差動増幅器Ａ１８によ）形成され大電圧
比較器の非反転（％ｅ％−（ｓｗ＊ｒｔ（ｓｌ　）入力
へ供給される。差動増＠＠Ａ１８０非反転入力へ印加さ
れた信号のレペ＃轄可変電位差針ｊｌＦｘｘの調整によ
って変えられることがで自る。差動増幅器Ａ８からのＣ
デオ信号出力は抵抗容量回路網８丁Ｃ９によシ弁別され
そして差動増幅器Ａ１８の反転入力へ印加される。セン
ターパネル不良がキャラ７”ｌに存在すれ社、差動増幅
器Ａ１１ｊＯ出力はＪｌｌ’ｌｌによ〕設定され禽ＤＣ
ｖペルよ〕もよシ負（％ａｇ＠ｇ４＊ａ）であｈ＃Ｉ＆
抗体７１？及び＝ンデンナＣｓによ）形成され大黴分回
路網（ｄ４ｆｆａｒａｓｔｉａｌ　ｍｍｇｗ＊ｖｈ　）
からＯ負Ｏ方肉Ｏ（悌＊１＠ｌ（ｖ＊　ｇ・（ｓｇ　）
＾Δイタによ）高く脈動する。差動増幅器Ａｌｊからの
出力紘第１１１１ｔ−参照して前に引用され穴出力端子
デ１１へ供ａＳれる。センターパネル不良の検出が第１
６図に図式に例示されている。

ピークはｔた差動変圧器からＯ出力ではある時拡七ンタ
二ｄネル対シールタイムウィンドの外側に生ずるが、端
子Ｔγ上のセンタ一対シールΔルｘ（ＣＥＰ）はｒ　−
）　Ｇ　＠　ｔ−経て、ｉたあるとき差動増幅器Ａ１３
からの出力を零にせしめるように供給される。センター
ノネル欠陥検出回路の感度は可羨電位差計Ｒ’ｌ／１１
０調整によ〕変光られることができるばか）でなく、微
分回路Ｃ＊Ｉｌｒの部分を形成している増幅器Ａ１４の
ｒインも可変電位差計ＲＶ１意の調１１によ）麦えられ
る仁とができる。

シール不良は３つＯＪ１％なる方法０１つで検出される
。第１１Ｃ，増−器Ａ９によるピークビデオ信号出力は
抵抗体Ｉｔｍ及びＲ１＠によ）決定されたＤＣ基準電圧
と比較され、セしで差動増幅器ＡＩＳ内で互に比較され
る。シーにウィンドタイζンｒＡルス社端子Ｔ８ｆ経て
デュアルフリップフロップＩＣ１９ｇ及びＩＣｌｍｂに
よ）形成され九シール不＾ラッチへ供給される。差動増
幅器１１Ｂの出力が低レベル（ｌ・曽）であれば、これ
がシール不ｊＬ會表わすため低レベルをシール不良ラッ
チＩＣ１會−のＤ入力内へ押し込む、欠けているシール
が検出される他の方法Ｆｉ、増＠＠Ａｆｌかもの出力に
よ〕、−にンタ一対シールウィンドパルスの終拳まで抵
抗体ＲｘｘコンデンサＣＩＯ及び増幅器Ａｌ　＠ｆ含ん
でいる非斥転（％Ｏ％−４ｓＩａｒ１４ｍｇ）積分器シ
ステムへ供給されることである。増幅器Ａ１６からＯ出
力Ｆｉ、差動増幅１１Ａ１丁の反転入力へ供給され、一
方ピークビデオ信号が差動増幅ａｔ、ＡＩ？の非反転入
力へ供給される。従って、シ□　゛。

一ルが専在しなければ差動増幅１ｉｉｊＬ１丁の出力は
シーｈｆｐインｒ中低レベルにとどま）、そして仁れは
ｉ良フリブデフ騨ツブＩＣｓ・ｋＯＤ入力上に低レベル
ｔお−、シール不良がラッチする。シール唸存在するが
望まない介在物のようないくつかのマークを含んでいる
と、弁別された（　ｄｉｆｆａ−デ＃％Ｎａｔｇｄ　）
　　ぜ−クビデオ信号値拡非弁別値（＊ｏｓ−ｄｉｆｆ
ａｒａｓｔｔａｇａｄ　＊ａｌｓｇ　）を超える。これ
をモニタする大めインバータＡ！ｌからの出力が可変電
位差計ＲＶｌｓを経て差動増幅器ＡＩｇの非反転入力へ
供給され、一方コンデンサＣ９抵抗体Ｃマ及び増幅器Ａ
１４を含む微分器からの出力が差動増幅器１８の反転入
力へ供給される。シール上に！−りが存在すると１１唸
、増幅器１８からの出力は高く擾夛、そしてζＯ出力社
アンドｒ−）５丁を経て端子Ｔ８に印加され九シールウ
ィンドパルスでｒ−）される、アンＷ？”−）Ｇ？の□
□′、１ 出力ｆ−ＪＤフリツｆリブツｆｌｃｘ＊ｈによす形成さ
れたシール不実ラッチへ供給され、そしてアンＷｌ”−
）５丁からの出力はシール不良を表わす喪めシール不良
ラッチＩＣ１１ｉ１Ｖ４ツトする。

溝不＆を検出するため、増幅器１０からのビークＶデオ
信号出力が可変分圧１１Ｒｉ’１４ｔ−経て増＠Ｉ）Ａ
ｌｌの非反転入力へ供給される。増＠器ＡｌｌからＯｍ
力杜差動増幅器Ａ！Ｏの反転入力へ供給され、そして増
幅器Ａ９からのＶデオ儒号が差動増幅器Ａ！Ｏの非反転
入力へ供給される。

従って、差動増幅１）、１１！＠においてビデオ信号嬬
。

そＯライン〇九めＯビークビデオｌ１号の分圧器ｊ！Ｆ
１４によｐセットとしてニア＃ａｔ−シ璽ン（ｐｒ・ｐ
・デＣ４・悌）を比較される。溝が存在すれば。

Ｖデオ信号Ｆｉ−一戸値よ〕もよシ大きく、従って差動
増領器Ａ意・からの出力拡高レベルである。

差―増幅器Ａ意ｏｏ出力は、インバータＩＮＶ４及び端
子１丁からセンターシールΔルスを供給される論電和ｒ
−）Ｇｌによ〕規定された如くシールウィンド前方（５
ｅａｌ　ｗｉｓｄｏｍ　ｔｓｗｒｄａ　）　０中央を除
いて−Ｖ口にされる。差動増幅器Ａ！Ｏからの出力は端
子１９及び第１１開管参照して既述し丸溝カウント装置
へ供給される。

不良信号の発生をカウントシ、且つ排除ド１ライツ１３
の操作を制御する信号分析回路の部分が第１３図に例示
されている。−にンターパネル不良が生じたとき、高位
信号が端子１１ｔ−経てアンドグー）Ｇ・Ｏ入力へ印加
される。アンＹ？−）Ｇｌへの他Ｏ入力は端子Ｔｒかも
のものであシ、且つセｙターノネル対シールタイムクイ
ンド（ｅａｓｔデーｐｍｓａｌ處・ｓｅ＠ｌ　ｔ４□菅
（襲ｄ帽）である、従って、セフターパネル不曳がセン
ターパネルタイムウィンＰに、よ〕決定された時間中に
存在すれば。

出力がアンｒｒ−トＧ９からＥ−８アリツプフロツｆｌ
ｃ＊０（）セット端子へ与えられ、これが更にＲ８ｙリ
ツデツ關ツｆｌｃ雪０１ＤＱ出力を高位にとる。ＩＣ＊
ｏのＱ出力はデ具アシ４ビット二進カ會ｙり〇一方ａｍ
分ＺＣ１１ａｔリーｂｙトし。

そして倫の部分ＩＣ＊ｌｋを増分する。ＩＣＡＯからＯ
Ｑ出力杜、これが端子１ｇへ印加されたシールライ）／
ＰΔルスの端でｒ−）されているアンＷ？”−）Ｇｌｌ
）ｌ経てカフ７１１Ｃ２１へ供給される。端子デ１ｓへ
印加されたシールウィントノぐル其の端線第１１＆図に
示されたコンデンサＣｔｔ晟びイ３／Ａ−夕ｚｙｖｓに
よ）端子Ｔ８に現われるシールクインｙ／＃ルス會弁別
すること（４４７７ｇ−ｒ＊ｓｄ＠＠（ｓｙ）によ）得
られる。カクｙｊｌｌＣ霊ｌｈＯ出力は竜しクタスイッ
チＳＷｌへ供給され、そしてカ？ｙりｒｃｓｌｈで増分
されたカウントが竜しタタースイッチＳＷｘによ〕設定
され九カクνトを超えると、ｌ１号が１ｇフリリブ７Ｗ
ツデｒＣ鴬！Ｏ設定入力へ送られ、これ社更に３・ステ
ートラッチＩＣＩ！ｌ経て−ｋｙターノネル不ｊＬＯ存
在ｔ−表示する九め発光〆イオードを経て端子１＠上に
不要王冠表示を提供する。

ＩＣｚｌｂでのカウントがセレクタス４ツチ′ＳＷｌに
よって設定された値に達する前に２つの連続ｆｉ良い走
査（ｇｏｏｄ　ｓａｍｓ　）がカウンタＩＣ！ｌａによ
）受信されると、カウンタＩＣ２１１１１紘カクンタＩ
Ｃ＊１ｋをリセットし、従ってセンターフネル不良表示
及び端子ｒｌｓ上に与えられる対応する不良キャップ表
示を妨げる。

各々の半径方向走査中、七ン・ターパネル部分の丁度中
間に対応する走査部分はＤ７リツプフロツプｒｃ冨３を
用いてｙＰフランクウト（ｂｌａ％に＠襲ｔ）される、
仁のツリッグフ四ッグは端子Ｔ３からのラブイアスリセ
ラトノ譬ルスによ〕クロックされそしてそ０遍虱期間は
可変分圧＠ＲＶＩＳ？ｃより設定される。ＥＳｙリッリ
ブーツーｒｉｃｅｓかもの出力ｆｌＥｓツリツデフロツ
デＩＣＮ０．Ｏリセット入力へ供給される。典型的に性
、各々のキャップ゛ｌ上に令ンターパネル３及びシール
４′を形成する令−＃ドのモールＰｉ１号がセンターフ
９ネルの丁度中心にモールドされ、そしてこのモー“ル
Ｐ喬号の存在唸、不良として光学検査システムに現わす
ことができ、セして仁れはツリツデフＵツｆｌｃ！３に
よって導入された遅延期間を制御するため可変分圧＠ｎ
ｖ＊ｓｏ設定を変化する仁とにより克服される仁とがで
きる。

シール不良が生じたとき、入力信号が端子Ｔ１１ｔａて
Ｄ７リツｆ７０ツデＩＣ＊４のＤ入力へ与えられる。端
子デ１ｓからのシールウィンドΔルスＯ１Ｉ紘シール不
良信号がツリツプフ田ツｆＩＣ！４を介してり四ツタさ
れるようにＤフリツデフーツデＩＣ！４０１ｎツタ入力
へ印加され、そしてＤ７ダツデフ賞ツブＩＣ２４のＱ出
力上に結果とじて生じた低レベルはデュアル４ｖツトニ
進力ウンタＯ第１部分ＺＣ２墓Ｇによ〕形成された良い
シール（ｇ・ａｄ　５ｅａｌ　）カウンタのリセット入
力へｌ−され、且つ悪いシール（ｈａｄ　ａ−αｌ）カ
ウンタを形成するデＡアル４ビット二進カウンタＩＣ２
，Ｓの他の部分ＩＣ意ｓｋを増分するのに印加される。

ＤフリツゾフロツプＩＣ！！４かうＯＱ出力紘、インバ
ーターＩＮＶｅ及びＤフリップ７田ツブＩＣｚａからの
Ｑ出力が端子ＴＩＳかものシールウィンドー譬ルスＯ端
とクロックされているアンド？’−）Ｇｌｌｌ介してリ
セット入力カウンタＩＣ意Ｓ＠へ供給される。端子Ｔ１
２にシール不良が存在しなければＱ出力は高位であり、
そしてこのＱ出力は高位であル、ｃれが端子１５からの
シールウィンドパルスＯ端によ〕りｐツクされるアンＷ
？”−）Ｇｉｌｔ経て良いシールカウンタＩＣ！ｇｇの
り四ツク入力へ印加される。より多くの不良シニル信号
が同一〇キャップの走査中に検出されれば、良いシール
カウンタがリセットし。

そして悪いシールカウンタが更に増分される。セレクタ
スイッチＳＷ意が悪いシールカウンタＩＣｚＳ＆Ｏ出力
へ接続されてお）、そして悪いシール信号の数がセレク
タスイッチＳＷ意によ〕選択され大数よ〕も大きければ
出力信号がＢＳアリリブ７−ツｆｌｃ雪−〇設定入力へ
与えられる。７リツデツ■ツデＩｃｅ＠のＱ出力からの
出力が３ＩステーＦラツチＩＣ３意を経て発光メイオー
ドＬＩＩＤ露を点灯し、そして更に論理和ｐ−）Ｇｌｌ
を介して端子ＴｌＧ上へ不良キャップ出力信号を与える
。

悪％Ａｓ／−ルカウｙりＩＣ雪Ｓ＆がセレタタスイッチ
ＩＩＷ意によ魚１選択された設定値に増分される前ｒ−
３りＯ連続する良いシール信号が良いシールカラｙりＩ
Ｃｍ５＠によ）受信されれば、論理和ｒ−トＧ１４を経
て供給され九嵐いシールカウンタからの出力が、それ會
す竜ットする丸め悪ｈシールカウンタＩＣ＊Ｋｈ０９セ
ット端子へ印加される。イ′ンパーターＩＮＦマにょ）
反転後、端子ＴｓからＯ走査継続Δ＋ｘ　（ｓｅａｍ　
ｄｓｒａｔｔ＊ｓｐ耐０）はｔ大輪環和＃’−）Ｇ１４
へ印加されるので、各々の走査継続パルスの終夛に悪い
シールカウンタＩＣ意ｓｋがり竜ットしそしてまたＳ、
％／−にシールカラｙりもインバーターＩＮＶ’ｒから
の入力がＱ出力を低レベルとするようＫＤ７リツリブ四
ツデＩＣｍ４の設定入力へ印加されるのでリセットされ
る。

第１８４図はまたデ凰アル４ｖットニ進カウンタＩＣ９
丁によ）形成された不良印ヤツデヵウンタを示してい５
る。端子１６からの不良キャッグ信号拡否定和？”−）
、ＧＩ　Ｓ’１ｔＵ４ｙ−ｅ−１１ＮＶｓを介して供給
さ、れる、不良信号はそれから、これがデ凰アル４ｖッ
トキャップ不嵐カウンタＩＣ寓テａの第１部分内へ端子
Ｔ５への走査継続パルスによってり四ツタされているア
ン）Ｐ＃’−）Ｇｌ・へ供給される。カクンダｚｃｉｙ
ａｏ第１部分セＶタタスイッチ８Ｗ４はキャップ不嵐カ
クンタＩＣ震Ｔ−からの出力へ接続されそして、セレク
タスイッチＯ設定によって、検出されるキャップ不良Ｏ
数１６１＆令レクタスイッチＪ９１Ｆ４に選択された数
よ１１％大き−とき出力がセレクタスイッチから与えら
れる。

デ為アル４ビット二進カウンタＩＣ意丁すの他ＯＩＩ分
が端子Ｔｓからの走査継続パルスｔカウントシ、そして
走査継続パルス１６毎にキャップ不実カクンタＩＣｇマ
ａｔ−リセットすゐ、゛従って。

検出１れた不良今ヤツデの数がセレクタスイッチ１１１
１７ａｒｃよ）設定され大数を超えれば、セレクタスイ
ッチ８Ｗ４から警報出力が与えられる。ξれは警報−光
〆イオー？ＬＩＩＤ＠の点灯及びホーンｇｔｔ−経て可
聴警報の）Ｉｊｆすｙ　ｒ　（ｔｒｔｇｇａｒ４ｍｇ）
會トリ！する。この警報社すセットＡルスｔカクンタＩ
Ｃ意丁へ印加するインヒビット（４％＆（６（感）リセ
ットスイッチＳＷｓの手動操作によってのみ除かれるこ
とができる。

インバータＩＮＶマで反転後、端子Ｔ５からの走査継続
パルス紘また仁れ等ＯＡパルス否定和ｒ−）Ｇｌｌｉの
出力とｒ−ドされているアンドｒ−）Ｇｌ・へ印加され
るので、不良キャップ信号の不在のとき、出力がアンＷ
ｒ−）Ｇｌｌｉから生ずる。ＣＯ出力信号は端子１丁を
介してキャップカウンタへ供給される。

溝ターカウンタ拡第１１　ｈ＠ｆ参照して既に記述した
。溝ターが検出されれば信号が端子１Ｇに現われる。ζ
Ｏ信号は３−ステートラッチＩＣ３！を経て溝不良を表
示する発光〆イオードＬＩＩＤ４へ印加され、且つ論理
和ｒ−）Ｇｌｌｔ−経て出力端子ｒ１６上へ不良キャッ
プ信号を与える０発光メイオーＷＬＥＤｍはキャップが
排除される度毎Ｋｌｌ＠される。キャップはセンターパ
ネル不ｊＬ。

シール不＾、あるいは溝不嵐が存在するときに標準的に
排除されるが、これ等の不良の重又はそれ以上が検出さ
れたときのみ排除信号ｔトリガするえ゛めラッチＩＣＢ
Ｍとｒ−）Ｇｌｌとの間にＩＩ続されたセレクタスイッ
チ５Ｗｓｔ−使用することが可能である。

排除ドライバ 排除ドライバ回路は、不良キャラｆｌを排除シェード１
８へ吹き落す光めノズル冨・【通る空気Ｖエツトを導（
ルノイｒ作動空気弁ｌ−のｙｖノイＦｔ繰作するえめに
配置されている。空気Ｖエツト紘、カメラ位置とノズル
露Ｏに隣接するプｙ４ヤベルト上Ｏ位置との間管移動す
るのに充分な時間ｔキャップに与えるように、不良キャ
ップが検出され危険所定の時間を与えられなければなら
ない、これを行なうため、排除ドライバ回路はシフトレ
ジスタＩＣ震８と、シフトレジスタＩＣ！８の長さを選
択するセレクタスイッチＳＷｓとを含んでおＬ従ってシ
フトレＶスタＩＣｔｔｓ＠通過することによル与えられ
る遅孤は変えられることができる。シフトレジスタＩＣ
意８を通る端子ｒｌ−からのキャップ不良信号の通路は
第９ｈ図に示されたＩＣ’ｒａの出力からの端子１１Ｔ
上で受信された変調された走査Δルス（Ｂｕｓ）のスタ
ートによって戸田ツタされる＝走査ＡルスＳＭＢＦｉま
たデエアル単安定！ルチパイッレータＩＣ！−の双方の
段階へ供給され、これ鉱デ瓢アルＤツリブプフ胃ッグｒ
−ｃ＠・の第１段階ＩＣ５ｏａＫ：より第１Ｄ７リツｆ
７四ツグＩＣ８０にのクロック入力へ供給される負の方
向（ｓｇｙａ！（ψ−ｆ・４％ｇ）ｒＱａ４ｓｐスを生
ずる。シフトレジスタＩＣ冨畠の出力を出るキャップ不
良信号紘フリブデフーツプＩＣ８０にのＤ入力へ供給さ
れ、そしてξれ勢社フツツｌフロッｆｌｃ８ｅｊａから
の夕霞ツタ一ルスによって７リツプフ四ツグ内ヘクロツ
クされる。Ｄフリッデフ田ッグｚｃｓｏ６ｔｔ不曳がシ
フトレジスタＩＣ＊８の出力Ｑに存在するとき七〇〇出
力に！ｌＩい１００＃／ａｙ（Ｊｌｓ）ＯＡルスを弛生
し、そしてこれ等のＩ＃ルスは光アイソレータＩＣ８１
０発光ダイオードへ電流信号を供給する良めトランジス
タＴＲｓを経て；ンデンナＣｌ０ｔ−放電する。；ンデ
ンサＣＩＯは、光アイソレータＩＣ＠１０発光メイオー
ｒ内の電流の流れ期間を設定する分圧器ＲＶ１＠ｔ−経
て再充電畜れる。光アイソレータＩＣ８１はソレノイド
ドライブトランジスタＴＥ４ｔ−ドライツし、これ拡］
！に出力端子ｒｘｓｔ−過ルソレノイｒ弁１９ｔ−作動
する。

波形ダイアダラム 第１ｓ図の頂部にビデイコンチスープ怠ｌのターグツト
３３の単一５Ｎフル走査（ａｉｖｈｇｌｅｒａｄ４ｇｌ
　ａｍｌ）の結果として得られた典麗的なビデオ波形が
例示されている。キャラｆ１のセンターノ臂ネルｓｔ横
切るビデオレベル紘隣接する走査のオー−ラップの範囲
が徐々に減少する結果として徐々に増加し、しかる後シ
ールの位置で上昇する。この部分のビデオレベルＯこの
増加はよ〕強い信号が与えるりｆ４の位置におけるシー
ル材料のよ）大きな厚さの結果による。ビデオレベルは
シール端で下降しそれから、一般に高い反射性。

つま夛シールのピークビデオ信号よりも高−♂−クビデ
オ信号管示す側壁ＳＯ溝の検出の際再び上昇する。第１
ｓＩｌＩの下方に同期電子装置によ〕発生されたタイ電
ンダパルスの波形〆イアダラムが示されている。ｔた１
次のトレース（ｔｒａｍｓ　）は端子Ｔ３上に現われる
ラディアスリセットΔルスを示してＴｈ、９．次は単安
定マルチバイブレータＩｃｅｓ−で発生されそして端子
？？上に現われる一ｋ）／ター走査パルスを示しており
１次は単安定ｉルチΔイツレータＩＣｘｚｋで発生され
そして端子Ｔ＄に現われるシールウィンド／＃ルスであ
シ。

そ０下はマルチ−イブレータＩＣ１１ｋによ）発生され
、そして端子Ｔ６上に現われる溝表示窓であ〕、そして
最後にコンデンサＣ１ｌ及びインバータｚＮｙｓｔｃよ
）発生され端子ｉｓ上に現われるシールウィンドの端を
示している。

第１６図はキャップ１０センターΔネル５の中央におけ
る不良の結果′ｔガ示している。最上部のトレース轄不
良を含んでいる走査中のビデイコンチ為−ツからのＶデ
オ出力を示しており１次のト、レース性；ンデンサＣ１
１，抵抗Ｒ’ｌ及び増幅器Ａ１４會會ｔｔセ一クビデオ
黴分器（ｐｅａｋ　ｖ４ｄａ。

ｄ４ｆｆａｒｍｓ１４ｍｇｏｒ　）からＯ出力管示して
お）、これ社差動増鍋−Ａｌｓｏ反転入力へ供給される
。

次のトレース拡増幅器ｊＬＺ＠を含んで−るビーク検出
器によるぜ−クビデオ出力Ｏｆ　ａ　５ｌｆ−ジョンで
あ夛、且つ差動増幅＠ｊＬ１１Ｏ非反転人カへ供給され
る増幅器Ａ１１！からＯ出力を示してお夛。

そして最下方のトレースは不良の存在を表示す本明らか
な出力パルスを示して％／％為差動増幅器Ａｌｌからの
出力を示している。

【図面の簡単な説明】

第１図性王冠キャップの平面である； 第３図は王冒キャップＯｔ＠方向ＯｖＲ面である冨第３
図嬬王冠キャップの儂が本システムによってどのように
走査されるかｔ両示している概略的な絵である。 第４図は本発明のツロツタダイアダラムである。 第ｓｇは本システムの機械的部分の部分的断面斜ｓｅａ
である。 第・閣轄光ＩＩＯ部分的に破断し九分解斜視図である。 第τｌｌ紘光源ＯＢ路ダイアダラムである。 第・開拡Ｖデイコンチ具−ツの半径方向Ｏ走査！−生す
る良め０回路の回路ダイアｒラムである。 第―Ａ＠及び第９Ｂ図は第８図に：例示された回路によ
）発生され九冨つの波形ｔ−洞示している２″／）ｏｒ
ラフである。 第１・Ａ１１１及び第１０ｊｉｌ！ｌＦｉ、−緒に同期
電子装置０＄１１部分ＯＩ回路Ｉイアダラムを形成して
いる； 第１１１１１及び第１１Ｂ図は一緒に同期電子俟置ＯＩ
ｇ露部分ＯＩ回路〆イアｒうＡｔ形成している一第１１
Ａｌｌ及び第１雪Ｊｇ拡−緒に信号分析電子偏置Ｏ第１
部分の回路Ｉイアグラムを形成して−る蓼 第１８Ａ図及び第１ｍＥｒ１ＪＦｉ−緒に信号分析電子
装置の第愈部分の回路ダイアダラム管形成している。 館１４図拡排除ｒライｄ回路Ｏ回路〆イアダラムである
。 第ｔＳ図は典型的″＆Ｃデオ出力信号と１種々のタイｔ
７／ダウインドを発生する波形とを示している一連の波
形ダイアｒラムであゐ。 ｇｔｅ図はキャップの七ｙター／臂ネル内の不良の存在
ｔどのようにして信号分析電子装置が分析しているかを
例示している一連Ｏ波形ダイアダラムである。 ｌ−・・・・・・キャップ 冨１１１１１１　ｅ＊・・・・側　壁 畠・・・・・・・・・端部壁 ４９ｈ＠　ｋｍ・・・・褒状リブ 器−ｗ＊　ｓｅａ　＊　ｙターｄネル ６・−・・・・・・ビデオカメラ ８１１８６６＠・・・パルス発生光源 −・・・・・・・・・制御回路 １１）−一・・・・・・位置検出器 １６・−・・・−・スターホイール １ｓ−’−−−−−・ソレノイド艷気作動弁！Ｏ−綱−
ノズル ！１−−−−・・・光学システム 石ρＪ 、４５０／ｐ 手続補正− 昭和５７年１０月１５日 特許庁長官　　若杉和夫殿 １、事件の表示 昭和５７年特許願第１２３０３８号 ２、発明の名称 光学的検査システム ニューヨーク・アベニューオブザアメリカズ１１４ 名称　ダブリュー・アール・ブレイス・アンド・カンパ
ニー ５、補正命令の日付　　　　な　　し 」、 第１０Ａ図、第１１Ａ図、第１１８図、第１３Ａ図）（
１）明細書第３５負第１行ｒｌｃ１５ｂＪとあるのを、
Ｉｃ１５ｊ に訂正する。 （２）図面第８図、第１０Ａ図、第１１Ａ図、第１１８
図、第１３Ａ図を別紙に朱書きして示す通りに補正する
。 以上

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、Ｌ　　円形製作品（１）の検査のためＯ光学的検査
   システムにして、該システムの電子的に活性なＳＯ受像
   表＠（ｍｓ）上に鋏円形製作品（１）の−〇焦点を合わ
   せ、ｂための光学的システム（鵞１）と、該円ｊＩ＃製
   作品（１）ｔ−カメラ（６）の光学的システム（！ｌ）
   の視野内ｏｙｌ定位置内へ移動する九めの手段（１６）
   と、出力信号を生づるため該像受像＊ｗｉ＜ｍｓ＞ｗ実
   質的に半径方向に横切って延びて−る方向Ｋ１１ＩＩＥ
   像受像表面（１８）Ｉ走査すｈ＊め０’ＰＲ（？）　と
   、　鋏１１作Ａ（１）内０いかｔｉ＾當Ｏ存在ｔも検出
   する九め各々Ｏ＃Ｐ径方向Ｏ＊鷹に対応する出力信号１
   ４４りするように配置された信号分析器（１りと１−具
   備することｔ−特徴とする光学的検査システム。 ＊＠償号分析１）（１１）がｈ鋏製作品の各々の要ｌ！
   Ｏ各々Ｏ走査に沿って必要な位置で存在を決定し、且り
   咎々の走査に沿っていかなろ予期しない要素の不存在を
   決定する丸め各々の走査に対応する骸信号をモニタする
   よう配置されている特許請求の範囲第１項記載Ｏ光学的
   検査システム。 １　皺儒号分析器（１黛）が、各々のタイｆノダウイン
   ド内の事象の存在又轄不存在を検出する喪め異なるタイ
   電ンｒウィンドに関して各々の走査に対応する鋏出力信
   号ｔ−４ＪＬりする特許請求の範囲第露項記載の光学的
   検査システム。 也　短い時間期間だけ鋏製作品（１）ｔ−照明できる＠
   −システム（８）を具備している特許請求の範囲第１−
   １項のいづれか１つの項に記載の光学的検査システム。 ＪＬ　骸照明システム（＄）がｔス放電管（意マ）Ａ＃
   ス発生光源を含んでいる特許請求の範囲第４項記載の光
   学的検査システム。 亀　鋏製作品を移動するための手段（ＩＩ）の存°在あ
   る一社鋏カメラ（６）の誼光学的システム（！１）に対
   して所定の位置に該製作品の存在することによ〕トリガ
   される位置感知手段（１Ｇ）會含んでいて、咳位置感知
   手段（１０）が該カメラ（−）Ｏ鋏電子的に活性な像受
   像表面（！３）Ｏ走査１）リガする特許請求の範囲第１
   −４項のいづれか１つの項に記載の光学的検査システム
   。 Ｌ　咳電子カメラ（６）の骸電子的に活性な像受像真面
   が標準Ｃディコンチェーツ（ト１のターグット（意３）
   であ〕、そして骸カメラ（・）がまた標準Ｘ及びＹ軸偏
   向コイル（３４）を含んで−る特許請求ｏｗｔｖｓ第１
   −６＠のいづれか１つ０項に記載Ｏ光学的検査システム
   。 ＩＩＬ　　腋受像表面を走査するため０手段（））が正
   弦波形であるが、互に９０度位相が離れている雪つの信
   号を発生するための苧＠（Ｉｃ’ｇ、Ａｓ。 ３！、Ｃｓ）と、正弦波形を有する２つの信号で供給さ
   れる２つのフンｆジェネレータ（Ａ！。 Ｒ１，Ｃ４、ＩＣ１ａ　；Ａ４　、Ｒｓ　、Ｃｓ　、Ｉ
   Ｃ１１１６）とを含んでいて、咳ランｆｔ／エネレータ
   の出力が２つの鋸歯状の波形であり、その振幅は正弦及
   び余弦波形によ〕変調され、咳ランプジェネレータから
   の出力信号は咳ビデイコンチューブ（！！１）の該Ｘ及
   びＹ軸偏向フィル（！１４）へ供給之れ、且つ鋏ビデイ
   コンチ＆−１のターグット（１Ｂ）にｌそＯ中心−ｅａ
   ｔ　Ｊ）そシテ全７−ｒット（！＋８）の周〕にすり仁
   ぎ違動會して実質的艮半径方向外方に掃引して走査せし
   める特許請求の範囲第７項記載の光学的検査システム。 ！　　該カメラ（６）の下流にあ〕、排除ドライバ回路
   （１３）によル制御され、そして該信号分析器（ｉｓ）
   ｏ出力に応答して作動する排除ステージ璽ン（１１１，
   ！６）を含む特許請求の範囲第１−１１１０いづれか１
   つの項に記載の光学的検出システム。 １甑　鋏信号分析１１（１雪）が不良カウンタ＜ＩＣｓ
   　ｓ　、ＩＣｓ　ｔ　、Ｉｃｅｓ　）１含んでいて。 そして骸排除ｒライＡ回路（１３）は少くと％雪つＯ連
   続する半径方向走置における不良からの。 カラｙり（ＩＣ１Ｎ、ＩＣｓ１．ＩＣ＊＠）で力？ｙ）
   される少くとも２つの不良信号に応答してＯみ）９ｔさ
   れ、従って誼製作品は少くとも８つｏｙＩ！ｅｒｓ方向
   走査で同じ不良が検出されると１のみ排ｌＩ！される特
   許請求の範囲第４項記載の光学的検査システム。