JPS58187884A - シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正方法 - Google Patents
シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正方法Info
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- JPS58187884A JPS58187884A JP7062882A JP7062882A JPS58187884A JP S58187884 A JPS58187884 A JP S58187884A JP 7062882 A JP7062882 A JP 7062882A JP 7062882 A JP7062882 A JP 7062882A JP S58187884 A JPS58187884 A JP S58187884A
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- vector
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
このｌはシンチレーションカメラの空間歪み補正力法に
関する。
関する。
アンガーカメラと呼ばれるものを含めて一般にシンチレ
ーションカメラは固有の空間歪み（空間的非直線性）を
持ち、従来よりこの空間φみを補正するための方法が神
々提案されている。ところが従来の補正方法では、個々
のシンナレーションカメラ毎に泊交平行線ノ４ターンや
多数の小孔の配列パターンを用いて各位置の空間歪みを
迎１定する会費があり、極めて煩雑なものであった。
ーションカメラは固有の空間歪み（空間的非直線性）を
持ち、従来よりこの空間φみを補正するための方法が神
々提案されている。ところが従来の補正方法では、個々
のシンナレーションカメラ毎に泊交平行線ノ４ターンや
多数の小孔の配列パターンを用いて各位置の空間歪みを
迎１定する会費があり、極めて煩雑なものであった。
本発明は、シンチレーションカメラの空間φみが各光電
変換器の中心軸上でホントハターンとなるような（中心
軸上で像が縮小し、他の部分で拡大するような）、ある
いはライトガイド中にマスクを持つ場合にはコールド・
母ターンとなるような（逆に中心軸上で像が拡大し、他
の部分で縮小するような）、光Ｔｏ変撓器配タリ間隔を
空間的基本周波数とする企みが）Ｅ体であることに層目
して、より簡単に空間歪みを補正することができるよう
にするシンチレーションカメラの空間歪み補正力法を提
供することを目的とする。
変換器の中心軸上でホントハターンとなるような（中心
軸上で像が縮小し、他の部分で拡大するような）、ある
いはライトガイド中にマスクを持つ場合にはコールド・
母ターンとなるような（逆に中心軸上で像が拡大し、他
の部分で縮小するような）、光Ｔｏ変撓器配タリ間隔を
空間的基本周波数とする企みが）Ｅ体であることに層目
して、より簡単に空間歪みを補正することができるよう
にするシンチレーションカメラの空間歪み補正力法を提
供することを目的とする。
以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。第１図においてシンチレータｌの背向にライト
ガイド２を介して多数のＰＭＴ（光電子増倍管）３が配
列され、放射−入射によりシンチレータ１内に生じた発
光がライトガイド２を通して各ＰＭＴ３に到達し、各Ｐ
ＭＴ３０出力電、流が各ノリアン！４によって電圧に変
換されたのち演算処理部５に入力され、抵抗マ） ＩＪ
クス等による通常の位置演算や規格イヒ演算とエネルギ
信号の波高分析等が行なわれ、位置信号Ｘ、Ｙ及びエネ
ルギ信号Ｚならびに波高分析出力である輝度信号ＵＮＢ
ＬＡＮＫが出力される。
明する。第１図においてシンチレータｌの背向にライト
ガイド２を介して多数のＰＭＴ（光電子増倍管）３が配
列され、放射−入射によりシンチレータ１内に生じた発
光がライトガイド２を通して各ＰＭＴ３に到達し、各Ｐ
ＭＴ３０出力電、流が各ノリアン！４によって電圧に変
換されたのち演算処理部５に入力され、抵抗マ） ＩＪ
クス等による通常の位置演算や規格イヒ演算とエネルギ
信号の波高分析等が行なわれ、位置信号Ｘ、Ｙ及びエネ
ルギ信号Ｚならびに波高分析出力である輝度信号ＵＮＢ
ＬＡＮＫが出力される。
このような通常のアンが−カメラの検出部の構成におい
てまず第１段階として、例えげ多数のＰＭＴ３の配列中
心に位置するＰＭＴ３のゾリアング４の出力を積分回路
６及び（ロ）幅回路７を通して取り出し、マルチチャン
ネルアナライプ等を利用してこの出力波−■の発光位置
依存性の応答を測定する。すなわち、例えばシンチレー
タ１０表面側に点状にコリメートされた鞄源８を前６ピ
中心のＰＭＴ３の中心軸Ｏ上からの距離ｒを変化させて
出力波高■を求めると、例えば第２図に示すよりな↓ｒ
７、答データが得られる。
てまず第１段階として、例えげ多数のＰＭＴ３の配列中
心に位置するＰＭＴ３のゾリアング４の出力を積分回路
６及び（ロ）幅回路７を通して取り出し、マルチチャン
ネルアナライプ等を利用してこの出力波−■の発光位置
依存性の応答を測定する。すなわち、例えばシンチレー
タ１０表面側に点状にコリメートされた鞄源８を前６ピ
中心のＰＭＴ３の中心軸Ｏ上からの距離ｒを変化させて
出力波高■を求めると、例えば第２図に示すよりな↓ｒ
７、答データが得られる。
こうして１個のＰＭＴ３についての応答データが倚られ
るが、他のＰＭＴ３の応答データもこれに類似したもの
であると見なせるので、上記１個の）’ＭＴ３の応答デ
ータと多数のＰＭＴ ３の配列に関するデータを用いて
シンチレーション計算することにより各入射位置に関す
る演算後の位置Ｘ、Ｙが近似的に求まり、この位置と入
射位置との差、すなわち壬みベクトルが求められる。使
ってその逆ベクトルである歪み補正４クトルが初期値と
して各演算後の位置Ｘ、Ｙについて得られる。
るが、他のＰＭＴ３の応答データもこれに類似したもの
であると見なせるので、上記１個の）’ＭＴ３の応答デ
ータと多数のＰＭＴ ３の配列に関するデータを用いて
シンチレーション計算することにより各入射位置に関す
る演算後の位置Ｘ、Ｙが近似的に求まり、この位置と入
射位置との差、すなわち壬みベクトルが求められる。使
ってその逆ベクトルである歪み補正４クトルが初期値と
して各演算後の位置Ｘ、Ｙについて得られる。
次に第２股階として上記の構成によりフラッドイメージ
（一様照射像）を採取し、そのデータを図示しないデー
タ記憶装置に記憶する。その際、エネルギ信号Ｚの位置
によるばらつきに起因する感度不均一性の影響を少なく
するように波高分析のだめのウィンド幅を広くして採取
するか、あるいは計算機により第２の波高分析処理を行
なう場合には各位置に応じてエネルギ信号と第２の波高
分析のウィンドレベルの相対関係を補正する等の工夫を
することが好ましい。
（一様照射像）を採取し、そのデータを図示しないデー
タ記憶装置に記憶する。その際、エネルギ信号Ｚの位置
によるばらつきに起因する感度不均一性の影響を少なく
するように波高分析のだめのウィンド幅を広くして採取
するか、あるいは計算機により第２の波高分析処理を行
なう場合には各位置に応じてエネルギ信号と第２の波高
分析のウィンドレベルの相対関係を補正する等の工夫を
することが好ましい。
記憶されたフラッドイメージのデータを前記各位置の補
正ベクトルの初期値に応じて補正（または座標変換）を
行なうと、補正ベクトルの初期値が全て正確であれば補
正後の各事象密度は統計誤差程度の１囲で一様になるは
ずである。
正ベクトルの初期値に応じて補正（または座標変換）を
行なうと、補正ベクトルの初期値が全て正確であれば補
正後の各事象密度は統計誤差程度の１囲で一様になるは
ずである。
従って上記のように最初に求めた補正ベクトルの初期値
を用いて補正したフラッドイメージを求め、その各位置
に関する密度勾配を求め、その密度勾配に応じて対応す
る補正４クトルの修正量を得てこれによって前記の補正
ベクトルの初期値を修正する。次にこうして修正された
補正ベクトルを用いて再びフラッドイメージを補正し、
上記と同様の手続により再び補正ベクトルの修正量を得
て修正を行なう。このような反復修正を適当な面積単位
に関して適度な収束程度まで繰り返す。
を用いて補正したフラッドイメージを求め、その各位置
に関する密度勾配を求め、その密度勾配に応じて対応す
る補正４クトルの修正量を得てこれによって前記の補正
ベクトルの初期値を修正する。次にこうして修正された
補正ベクトルを用いて再びフラッドイメージを補正し、
上記と同様の手続により再び補正ベクトルの修正量を得
て修正を行なう。このような反復修正を適当な面積単位
に関して適度な収束程度まで繰り返す。
なお、実際には、上記のように補正ベクトルで補正した
フラッドイメージを求めたのち密度を求める代９に、各
マトリクス戦素面積内の補正前のフラッドイメージの計
数値をそのマトリクスを囲む四辺形の各ｍ点の補正ベク
トルによって構成される面積、すなわち補正後のマ）
ＩＪクス費素の面積で除算することにより補正後の各位
置の密度を求めることができる。
フラッドイメージを求めたのち密度を求める代９に、各
マトリクス戦素面積内の補正前のフラッドイメージの計
数値をそのマトリクスを囲む四辺形の各ｍ点の補正ベク
トルによって構成される面積、すなわち補正後のマ）
ＩＪクス費素の面積で除算することにより補正後の各位
置の密度を求めることができる。
前記の第１及び第２段階によって得られた袖１トベクト
ルは各座標位置に関して記憶され、例えば第３図に下す
ようにして空間歪みの袖ｉＦが行なわれる。第３図にお
いて各シンチレーション事象毎に得られるｘ、ｙ（第１
し１参照）がサンダルホールド回路９１．９２を辿して
Ａ Ｉ）変換器１０１．１０２にそれぞれ入力され、得
られだ各ディジタル位置信号を用いて補正係数メモリ１
１のアドレスを指定する。この補正係数メモリ１１には
前記の補正ベクトルが各座標位置に関するアドレスにつ
いてそれぞれ記憶されており、上記のようにアドレス指
定されることにより対応する補正ベクトルが読み出され
る。
ルは各座標位置に関して記憶され、例えば第３図に下す
ようにして空間歪みの袖ｉＦが行なわれる。第３図にお
いて各シンチレーション事象毎に得られるｘ、ｙ（第１
し１参照）がサンダルホールド回路９１．９２を辿して
Ａ Ｉ）変換器１０１．１０２にそれぞれ入力され、得
られだ各ディジタル位置信号を用いて補正係数メモリ１
１のアドレスを指定する。この補正係数メモリ１１には
前記の補正ベクトルが各座標位置に関するアドレスにつ
いてそれぞれ記憶されており、上記のようにアドレス指
定されることにより対応する補正ベクトルが読み出され
る。
読み出された各補正ベクトルはＤＡ変換器１２１゜１２
２に入力され、アナログ補正蓋ΔＸ、ΔＹが得られる。
２に入力され、アナログ補正蓋ΔＸ、ΔＹが得られる。
この補正蓋ΔＸ、ΔＹは加算回路１３１．１３２におい
てサンダルホールド回路９１．９２の出力Ｘａ 、 Ｙ
ａとそれぞれ加算され、補正された位埴伯月Ｘｃ 、
Ｙｃが得られる。＃４度信号ＵＮＢＬＡＮＫは一方でサ
ンノルホールド回路９１．９２の信号増り込み及び保持
のタイミング信号として与えられ、他方ではアンプラン
クコントロール回路１４に入力され、ＡＤ変換器１０１
，１０２のｔ換開始信号及び補正後の位置信号Ｘｃ 、
Ｙｃに対応してタイミングを合ゎすだ輝度信号ＵＮＢ
ＬＡＮＫＣを発生させる。
てサンダルホールド回路９１．９２の出力Ｘａ 、 Ｙ
ａとそれぞれ加算され、補正された位埴伯月Ｘｃ 、
Ｙｃが得られる。＃４度信号ＵＮＢＬＡＮＫは一方でサ
ンノルホールド回路９１．９２の信号増り込み及び保持
のタイミング信号として与えられ、他方ではアンプラン
クコントロール回路１４に入力され、ＡＤ変換器１０１
，１０２のｔ換開始信号及び補正後の位置信号Ｘｃ 、
Ｙｃに対応してタイミングを合ゎすだ輝度信号ＵＮＢ
ＬＡＮＫＣを発生させる。
なお、上記の実施例では中心に配列された１’ＭＴの応
答データを用いたが、他の位置に配列されたＰＭＴの応
答データや、あるいは例えば中心部のＰＭＴ及び筒辺部
のＰ Ｍ Ｔ等の複１のＰＭＴの応答データを組み合わ
すことも可能である。また、シンチレーンヨンカメラ以
外の同一の光学系を持つ装ｅを用いて応答データを測定
してもよい。史に上記第３図で示した構成で補正するだ
けでなく、例えば補間により史に補正ベクトルの梢度を
高めたり、乱数データを加えることにより局所的な不均
一性が発生することを防いだりして補正することも可能
である。
答データを用いたが、他の位置に配列されたＰＭＴの応
答データや、あるいは例えば中心部のＰＭＴ及び筒辺部
のＰ Ｍ Ｔ等の複１のＰＭＴの応答データを組み合わ
すことも可能である。また、シンチレーンヨンカメラ以
外の同一の光学系を持つ装ｅを用いて応答データを測定
してもよい。史に上記第３図で示した構成で補正するだ
けでなく、例えば補間により史に補正ベクトルの梢度を
高めたり、乱数データを加えることにより局所的な不均
一性が発生することを防いだりして補正することも可能
である。
また補止鼠を位置信号にアナログ加算する代りにデジタ
ルカｎシ、することも’Ｔｉ４ｔ・である。
ルカｎシ、することも’Ｔｉ４ｔ・である。
以上、実施例について鮫、明したように、本発明によれ
ば空間歪みを補止することができ、従ってこれに伴って
生じる感度不均一性を改善することができる。特に同一
光学系のンンチレーションカメラを多数製造する場合に
１白目についてのみ第１段階により補正ベクトルの初期
値を求め、２白目以降は補止ベクトルの初ル１値を１白
目と共通として第２段階の反復修正の作業についてのみ
行なえばよいので、補正のだめの作業をより簡単化する
ことができる。従って、従来のように各シンチレー７１
ンカメラ毎に直交平行線パターンや多数の小孔の配列・
母ターンを用いて各位置の空間歪みを測定する会費がな
い。
ば空間歪みを補止することができ、従ってこれに伴って
生じる感度不均一性を改善することができる。特に同一
光学系のンンチレーションカメラを多数製造する場合に
１白目についてのみ第１段階により補正ベクトルの初期
値を求め、２白目以降は補止ベクトルの初ル１値を１白
目と共通として第２段階の反復修正の作業についてのみ
行なえばよいので、補正のだめの作業をより簡単化する
ことができる。従って、従来のように各シンチレー７１
ンカメラ毎に直交平行線パターンや多数の小孔の配列・
母ターンを用いて各位置の空間歪みを測定する会費がな
い。
第１図及び第３図は本発明の一実施例の補正力法を説明
するだめのブロック図、第２図はＰＵＴ出力の発光位置
依存性の応答データを表わすグラフである。
するだめのブロック図、第２図はＰＵＴ出力の発光位置
依存性の応答データを表わすグラフである。
Claims (1)
- （１） シンチレーションカメラにおける特定の光電
変換器の出力の発光位置依存性の応老データを測定し、
前記応答データと光電変換器の配列に関するデータを用
いてシミュレーション計譜によって各座標位置における
空間歪みを求め、この歪みを補正するように各位置の補
正ベクトルの初期値を決定する第１段階と、フラッドイ
メージを採取し前記補正イクトルの初期値による空間歪
み補正後の各位置における密度勾配のデータから前記補
正ベクトルを反復修正する第２段階とにより得た補正ベ
クトルを各座標位置に関して記憶し、各シンチレーショ
ンカメラに得られる位置信号を前記対応する挫標位置の
補正ベクトルで補正するようにしたシンチレーションカ
メラの空間歪み補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7062882A JPS58187884A (ja) | 1982-04-27 | 1982-04-27 | シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7062882A JPS58187884A (ja) | 1982-04-27 | 1982-04-27 | シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58187884A true JPS58187884A (ja) | 1983-11-02 |
| JPH0424673B2 JPH0424673B2 (ja) | 1992-04-27 |
Family
ID=13437079
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7062882A Granted JPS58187884A (ja) | 1982-04-27 | 1982-04-27 | シンチレ−シヨンカメラの空間歪み補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58187884A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012077218A1 (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-14 | 株式会社リガク | 放射線検出器 |
-
1982
- 1982-04-27 JP JP7062882A patent/JPS58187884A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012077218A1 (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-14 | 株式会社リガク | 放射線検出器 |
| JP5576502B2 (ja) * | 2010-12-09 | 2014-08-20 | 株式会社リガク | 放射線検出器 |
| US8866094B2 (en) | 2010-12-09 | 2014-10-21 | Rigaku Corporation | Radiation detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0424673B2 (ja) | 1992-04-27 |
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