JPS5940184A - シンチレ−シヨンカメラ - Google Patents
シンチレ−シヨンカメラInfo
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- JPS5940184A JPS5940184A JP14997882A JP14997882A JPS5940184A JP S5940184 A JPS5940184 A JP S5940184A JP 14997882 A JP14997882 A JP 14997882A JP 14997882 A JP14997882 A JP 14997882A JP S5940184 A JPS5940184 A JP S5940184A
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- Japan
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- pmt
- circuit
- nonlinear
- nonlinear correction
- waveform shaping
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、被検体にラジオアイソトープ（以下Ｒ１と略
記する）全注入し臓器等に集中するＲ１からの放射線（
通常γ線）會コリメータによシ導き指向性を持たせた後
、シンチレータで光に変換し、これを光電子増倍管（以
下ＰＭＴと略記する）によって電気信号に変え、この電
気信号全位置計算回路に通すことによｐ、ＣＲＴ （陰
極線管）画面上にＲＩの分布状態に対応する表示を行な
うシンチレーションカメラに関するものである０
□〔発明の背景技術〕 一般に抵抗マトリクス方式全採用するシンチレーション
カメラでは、イメージの均一性補正の手段として波形整
形回路内で位置計算用の放射線検出パルスに非線形補正
を施すことが不可欠であるとされている。イメージの均
一性補正としてμσ出力に非線形補正特性すことは、従
来よシ、経験上の知識に基づいた手操作に頼るところが
多く、極めて煩雑であったが、この負担を軽減し、調整
の自動化を図ることができる装置及びその調整方法につ
いては本出願人が先に提案したものがある（％願昭５５
−１３４０８４）。
記する）全注入し臓器等に集中するＲ１からの放射線（
通常γ線）會コリメータによシ導き指向性を持たせた後
、シンチレータで光に変換し、これを光電子増倍管（以
下ＰＭＴと略記する）によって電気信号に変え、この電
気信号全位置計算回路に通すことによｐ、ＣＲＴ （陰
極線管）画面上にＲＩの分布状態に対応する表示を行な
うシンチレーションカメラに関するものである０
□〔発明の背景技術〕 一般に抵抗マトリクス方式全採用するシンチレーション
カメラでは、イメージの均一性補正の手段として波形整
形回路内で位置計算用の放射線検出パルスに非線形補正
を施すことが不可欠であるとされている。イメージの均
一性補正としてμσ出力に非線形補正特性すことは、従
来よシ、経験上の知識に基づいた手操作に頼るところが
多く、極めて煩雑であったが、この負担を軽減し、調整
の自動化を図ることができる装置及びその調整方法につ
いては本出願人が先に提案したものがある（％願昭５５
−１３４０８４）。
上記提案は、ｐＭＴの入力面の形状が同一であるものに
対して同一の非線形補正を行ない、容易に均一性を調整
することができるものであった〇一方、シンチレータ全
効率よく利用するために、入力面の大きさの異なる奴梅
のｐＭＴよシンチレーションカメラを構成することが要
求されている０例えば、第１図に示すように、矩形状の
シンチレーションカメラ全構成する場合には、 ｐＭＴ
−ＡとＰＭＴ−Ａよりも入力面の直径の小さなｐＭＴ−
Ｂとによシ構成することが望寸しい。即ち、シンチレー
タの有効領域Ｃ−ｆ効率よく包含するためには縁部にｌ
）Ｍ１’−Ｂ ｆ配置することにより、装置の小型化及
びシンチレータの有効利用を図ることができる０これに
対し、入力面の直径の小さなＰＥＴ −Ｂだけでシンチ
レータ全効率成することは、単価の高価なＰＭＴの構成
数が徒らに増加し、かつ、個々のｈσにそれぞれ処理回
路を必要とするため装置の大型化ト共にコストも高価と
なる。このため、シンチレータの有効利用度が同等で、
かつ、装置の小型化と共にコストの低減全図るためにも
、入力面の大きさの異なるＰＭＴでシンチレーションカ
メラ全構成することが強く要望されている。
対して同一の非線形補正を行ない、容易に均一性を調整
することができるものであった〇一方、シンチレータ全
効率よく利用するために、入力面の大きさの異なる奴梅
のｐＭＴよシンチレーションカメラを構成することが要
求されている０例えば、第１図に示すように、矩形状の
シンチレーションカメラ全構成する場合には、 ｐＭＴ
−ＡとＰＭＴ−Ａよりも入力面の直径の小さなｐＭＴ−
Ｂとによシ構成することが望寸しい。即ち、シンチレー
タの有効領域Ｃ−ｆ効率よく包含するためには縁部にｌ
）Ｍ１’−Ｂ ｆ配置することにより、装置の小型化及
びシンチレータの有効利用を図ることができる０これに
対し、入力面の直径の小さなＰＥＴ −Ｂだけでシンチ
レータ全効率成することは、単価の高価なＰＭＴの構成
数が徒らに増加し、かつ、個々のｈσにそれぞれ処理回
路を必要とするため装置の大型化ト共にコストも高価と
なる。このため、シンチレータの有効利用度が同等で、
かつ、装置の小型化と共にコストの低減全図るためにも
、入力面の大きさの異なるＰＭＴでシンチレーションカ
メラ全構成することが強く要望されている。
ところが、入力面の大きさの異なるｐＭＴでシンチレー
ションカメラを構成することにより、ｐＭＴの出力に対
して非線形補正を施すことはより煩雑となり、従来より
上記欠点を解決するシンチレーションカメラが提供され
ていなかった。
ションカメラを構成することにより、ｐＭＴの出力に対
して非線形補正を施すことはより煩雑となり、従来より
上記欠点を解決するシンチレーションカメラが提供され
ていなかった。
本発明は前記事情に鑑みてなされたものであυ、入力面
の大きさの異なる数種のＰＭＴでシンチレーションカメ
ラ全構成しながらも、容易にイメージの均一性補正全設
定することができるシンチＶ −ションカメシ全提供す
ることを目的とするものである。
の大きさの異なる数種のＰＭＴでシンチレーションカメ
ラ全構成しながらも、容易にイメージの均一性補正全設
定することができるシンチＶ −ションカメシ全提供す
ることを目的とするものである。
前記目的全達成するための本発明の概要は、複数の光電
子増倍管によシ被検体内の放射性同位元素からの放射線
をシンチレータ及びライトガイドを介して検出し、この
複数の検出信号を各波形整形回路によ多波形整形した後
、抵抗マトリクス方式位置計算回路によ勺位置計算して
放射線の前記シンチレータへの入射位置を求め、放射性
同位元素の分布情報欠得るシンチレーションカメラにお
いて、前記複数の光電子増倍管全入力面の大きさの異な
る数種のもので構成すると共に、前記各波形整形回路内
に設定レベル以下の信号成分上除去するスＶシホールド
回路と、非線形補正のための非線形回路と、前記スレシ
ホールド回路と非線形回路との間に設けられるインピー
ダンス変換回路と全具備し、前記非線形回路に光電子増
倍管の入力面の大きさの相違に基づいて異なる非線形補
正特性音設定してなることを特徴とするものである。
子増倍管によシ被検体内の放射性同位元素からの放射線
をシンチレータ及びライトガイドを介して検出し、この
複数の検出信号を各波形整形回路によ多波形整形した後
、抵抗マトリクス方式位置計算回路によ勺位置計算して
放射線の前記シンチレータへの入射位置を求め、放射性
同位元素の分布情報欠得るシンチレーションカメラにお
いて、前記複数の光電子増倍管全入力面の大きさの異な
る数種のもので構成すると共に、前記各波形整形回路内
に設定レベル以下の信号成分上除去するスＶシホールド
回路と、非線形補正のための非線形回路と、前記スレシ
ホールド回路と非線形回路との間に設けられるインピー
ダンス変換回路と全具備し、前記非線形回路に光電子増
倍管の入力面の大きさの相違に基づいて異なる非線形補
正特性音設定してなることを特徴とするものである。
以下、本発明の一実施例を図面全参照して説明する。第
２図はシンチレーションカメラにおけるシ／チＶ−夕に
入力面の形状の異なる３種類のｐＭＴ ｆ配置した一例
を示す概略説明図、第６図は前記各ＰＭＴに接続される
波形整形回路及び該波形整形回路における非線形補正特
性のためのパラメータの設定全行うＶＳＣ（ＬＥＶＥＬ
ＶＯＬＴＡＧＥ ５ＥＴＴＩＮＧＣＩＲＣＵＩＴ ）
の接続を示すブロックダイヤグラム、第４図は前記波形
整形回路における非線形補正部の一例を示す回路図であ
る。
２図はシンチレーションカメラにおけるシ／チＶ−夕に
入力面の形状の異なる３種類のｐＭＴ ｆ配置した一例
を示す概略説明図、第６図は前記各ＰＭＴに接続される
波形整形回路及び該波形整形回路における非線形補正特
性のためのパラメータの設定全行うＶＳＣ（ＬＥＶＥＬ
ＶＯＬＴＡＧＥ ５ＥＴＴＩＮＧＣＩＲＣＵＩＴ ）
の接続を示すブロックダイヤグラム、第４図は前記波形
整形回路における非線形補正部の一例を示す回路図であ
る。
第２図において、シンチレータは入力面の直径がそれぞ
れ異なる６種類のｐＭＴ−Ａ、ム・・・、ＰＭＴ−Ｅ。
れ異なる６種類のｐＭＴ−Ａ、ム・・・、ＰＭＴ−Ｅ。
Ｅ、・・・、ＰＭＴ−Ｃ，Ｆ・・・よシ成っている。又
、この各ＰＭＴ−Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅ、Ｆ・・・の出力
は、第３図に示すようＫそれぞれの波形整形回路Ａ、Ｂ
、Ｃ，Ｄ。
、この各ＰＭＴ−Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅ、Ｆ・・・の出力
は、第３図に示すようＫそれぞれの波形整形回路Ａ、Ｂ
、Ｃ，Ｄ。
Ｅ、Ｆ・・・に入力するようになっている。波形整形回
路Ａ、Ｂ・・・の非線形補正特性の調整設定を行う前記
ＶＳＣａ、ｈ、ｃは、同一直径を有するｐＭＴ毎にレベ
ル電圧（詳細上後述する）を供給するようになっている
。次に、第４図會参照して前記波形整形回路の詳細全説
明する。前記波形整形回路における非線形補正部ＮＬＲ
の構成は例えば抵抗Ｒ，，Ｒ６およびダイオードＤ３か
らなるスレシホールド回路１”Ｈと、抵抗Ｒ７〜Ｒ８お
よびダイオードＤ４． Ｄ５からなり２個の折点を有す
る折れ線非線形回路ＮＬと、これらスレシホールド回路
ＴＨ−非線形回路ＭＬ間に設けられたトランジスタＴｒ
１および抵抗Ｒ１゜からなる・「ンビーダンス変換回路
たる第１のエミッタフォロワＥＦ！と、非線形回路ＭＬ
の出力側に設けられたトランジスタ７’ｒ２および抵抗
Ｒ１１からなる第２のエミッタフォロワＥＦ２とで構成
されている。この非線形補正部ＮＬＲの入力端ＩＴ２に
はレベル（ゲイン）およびベースラインの調整の飾され
た前記各ＰＪｆＴからの検出信号が入力され、出力端Ｏ
Ｔ２からは非線形補正が施された信号が（位置計算のた
めの）抵抗７トリクス回路に与えるべく出力てれる。ぞ
して、このスＶシホールド回路Ｔ ＩＩのスｌ／シホー
ルドＶベルは抵抗Ｒ６に与えられる基準レベルＬ１０に
よって決定され、非線形回路ＮＬの折点レベルはダイオ
ードＤ４と抵抗Ｒ，の直列回路に供給さｉｌ−る基準レ
ベルＬ１１およびダイオードＤ５と抵抗Ｒ９の直列回路
に供給される基準レベルＬ１２によって決定される。ま
た、折れ線特性の傾斜はいる。尚、前記基準レベルＬ１
０ ｐ Ｌｌｌ ｅ Ｌｌｌは、前記第６図に示すよう
に、それぞれの波形整形回路に接続されているＶＳＣ−
α、ｈ、ｃよシ供給される。
路Ａ、Ｂ・・・の非線形補正特性の調整設定を行う前記
ＶＳＣａ、ｈ、ｃは、同一直径を有するｐＭＴ毎にレベ
ル電圧（詳細上後述する）を供給するようになっている
。次に、第４図會参照して前記波形整形回路の詳細全説
明する。前記波形整形回路における非線形補正部ＮＬＲ
の構成は例えば抵抗Ｒ，，Ｒ６およびダイオードＤ３か
らなるスレシホールド回路１”Ｈと、抵抗Ｒ７〜Ｒ８お
よびダイオードＤ４． Ｄ５からなり２個の折点を有す
る折れ線非線形回路ＮＬと、これらスレシホールド回路
ＴＨ−非線形回路ＭＬ間に設けられたトランジスタＴｒ
１および抵抗Ｒ１゜からなる・「ンビーダンス変換回路
たる第１のエミッタフォロワＥＦ！と、非線形回路ＭＬ
の出力側に設けられたトランジスタ７’ｒ２および抵抗
Ｒ１１からなる第２のエミッタフォロワＥＦ２とで構成
されている。この非線形補正部ＮＬＲの入力端ＩＴ２に
はレベル（ゲイン）およびベースラインの調整の飾され
た前記各ＰＪｆＴからの検出信号が入力され、出力端Ｏ
Ｔ２からは非線形補正が施された信号が（位置計算のた
めの）抵抗７トリクス回路に与えるべく出力てれる。ぞ
して、このスＶシホールド回路Ｔ ＩＩのスｌ／シホー
ルドＶベルは抵抗Ｒ６に与えられる基準レベルＬ１０に
よって決定され、非線形回路ＮＬの折点レベルはダイオ
ードＤ４と抵抗Ｒ，の直列回路に供給さｉｌ−る基準レ
ベルＬ１１およびダイオードＤ５と抵抗Ｒ９の直列回路
に供給される基準レベルＬ１２によって決定される。ま
た、折れ線特性の傾斜はいる。尚、前記基準レベルＬ１
０ ｐ Ｌｌｌ ｅ Ｌｌｌは、前記第６図に示すよう
に、それぞれの波形整形回路に接続されているＶＳＣ−
α、ｈ、ｃよシ供給される。
ここで、第５図（α）〜（Ｃ） Ｗ参照して第４図にお
ける非線形補正の概略全説明する。
ける非線形補正の概略全説明する。
まず、第５図（α）はオリジナルのＰＭＴレスポンスｆ
σ）を、縦軸にレスポンス、横軸にｐＭＴの感度中心か
らの距離Ｘ＝２とって示したもので、これは第４図にお
ける入力端ＪＴ、におけるＰＭＴレスポンスである。こ
れを第５図のスレシホールド回路ＴＨに通した後のＰＭ
Ｔ レスポンスが第５図（Ａ）のｆＴＨ（Ｘ）であシ、
このスレシホールド処理を規定する関数がＴＪＩ（２）
である。これ金さらに第４図の非線形回路ＮＬに与えこ
れ會通過させることにより第５図（Ｃ）に示すようなｆ
”（Ｘ）なるＰＭＴンスポンスを得ることができる（第
５図（α）〜（Ｃ）における各レスポンスはすべて正規
化１７て示している。）０その時の非線形処理を規定す
る関数が荊である。そして、前記非線形補正部の出力た
るｐＭＴレスポンス”（Ｘ）を、過去に得られ九均−性
イメージのうち均一性の最も美しいＰＩＴレスポンスに
近似したものに設定することによりイメージの均一性補
正を達成することができる。
σ）を、縦軸にレスポンス、横軸にｐＭＴの感度中心か
らの距離Ｘ＝２とって示したもので、これは第４図にお
ける入力端ＪＴ、におけるＰＭＴレスポンスである。こ
れを第５図のスレシホールド回路ＴＨに通した後のＰＭ
Ｔ レスポンスが第５図（Ａ）のｆＴＨ（Ｘ）であシ、
このスレシホールド処理を規定する関数がＴＪＩ（２）
である。これ金さらに第４図の非線形回路ＮＬに与えこ
れ會通過させることにより第５図（Ｃ）に示すようなｆ
”（Ｘ）なるＰＭＴンスポンスを得ることができる（第
５図（α）〜（Ｃ）における各レスポンスはすべて正規
化１７て示している。）０その時の非線形処理を規定す
る関数が荊である。そして、前記非線形補正部の出力た
るｐＭＴレスポンス”（Ｘ）を、過去に得られ九均−性
イメージのうち均一性の最も美しいＰＩＴレスポンスに
近似したものに設定することによりイメージの均一性補
正を達成することができる。
ところで、 ＰＭＴの入力面の形状例えばその直径が異
なれば、オリジナルのＰＩＴレスポンスｆ（Ｘ）も異な
っている。ＰＪｆＴの入力面の直径が異なれば、感度中
心からの距離Ｘに対するレスポンスは当然相違している
。
なれば、オリジナルのＰＩＴレスポンスｆ（Ｘ）も異な
っている。ＰＪｆＴの入力面の直径が異なれば、感度中
心からの距離Ｘに対するレスポンスは当然相違している
。
従って、本実施例における各非線形補正部ＮＬＲＫ対し
て、同一直径を有するｐＭＴ毎に、ｆＨ＜勾〜ｊ″（勾
＝ Ａ’ Ｃ）’ｌｆ Ｕ（ｘ）） ） ・・・・・
・（１）なるＮ＜ｚ）、ＴＨ（（イ）を見つけること、
つまシ第４図のパラメータ（基準レベル） Ｌｌｏ ＊
Ｚｌｌ ｐ Ｌｔｚ、抵抗Ｒ１゜Ｒ９ｋ ａ Ｎ／ｉ
となるｐＭＴレスポンスｆ”（ｘ）に似るように非線形
補正特性を固定して、イメージの均一性補正を図る必要
がある。
て、同一直径を有するｐＭＴ毎に、ｆＨ＜勾〜ｊ″（勾
＝ Ａ’ Ｃ）’ｌｆ Ｕ（ｘ）） ） ・・・・・
・（１）なるＮ＜ｚ）、ＴＨ（（イ）を見つけること、
つまシ第４図のパラメータ（基準レベル） Ｌｌｏ ＊
Ｚｌｌ ｐ Ｌｔｚ、抵抗Ｒ１゜Ｒ９ｋ ａ Ｎ／ｉ
となるｐＭＴレスポンスｆ”（ｘ）に似るように非線形
補正特性を固定して、イメージの均一性補正を図る必要
がある。
以下、前記非線形補正部Ｎ１．Ｒにおける基準レベルＬ
Ｉｏｒ Ｌｌｌ ｒ ＬＨ、抵抗値Ｒｓ −７？＝ｌ
ｋ決定する手Ｆを示しながら、非線形補正部ＮＬＲの作
用について説明する。先ず、前記第５図（α）に示すよ
うなｐＭＴレスポンスｆ（Ｘ） ｆｆｉ測定する。本実
施では入力面の形状の異なる６種類のｐＭＴ例えばＰＭ
Ｔ−Ａ、Ｂ、ＣそれぞれについてのｐＭＴレスポンスｆ
（Ｘ）’を得る必要力するＯｐＭＴレスポンスｆ（Ｘ）
の測定は、例えば第６図に示す自動測定システムによっ
て行なわれる。
Ｉｏｒ Ｌｌｌ ｒ ＬＨ、抵抗値Ｒｓ −７？＝ｌ
ｋ決定する手Ｆを示しながら、非線形補正部ＮＬＲの作
用について説明する。先ず、前記第５図（α）に示すよ
うなｐＭＴレスポンスｆ（Ｘ） ｆｆｉ測定する。本実
施では入力面の形状の異なる６種類のｐＭＴ例えばＰＭ
Ｔ−Ａ、Ｂ、ＣそれぞれについてのｐＭＴレスポンスｆ
（Ｘ）’を得る必要力するＯｐＭＴレスポンスｆ（Ｘ）
の測定は、例えば第６図に示す自動測定システムによっ
て行なわれる。
第６図において、１はシンチレータ、２はライトガイド
である。ライトガイド２に当接するｐＭＴの出力全敗υ
出すケーブル６は、入力面の形状が異なるｐＭＴ例えば
ｐＭＴ−Ａ 、 Ｂ 、 Ｃのいずれかに接続されてい
る。４はシンチレーションカメラの装置本体の波形整形
回路と同様の回路構成を有し且つ非線形補正部ＮＬＲの
各パラメータの選択設定全行ない得るように構成したパ
ラメータ同定用治具、５は治具４の出力が入力される多
チヤンネルアナライザ（以下ＭＣＡと称する）、６はＭ
ＣＡ ５に制御ノ（スＣＢ□で接続された例えばいわゆ
る）（−ソナル（マイクロ）コンピュータのごとき中央
演算装置（以下「ＣｐＵＪと称する）、７はＣＰＵ６に
制御ノくスＣＢ２ｙ２介して接続された線源移動装置で
ある。線源移動装置７は例えば通常のＸ−Ｙプロッタの
可動子にポイントソースｐ５ （％７ＣＯ４！の線源バ
ック）を取着したものとし、ＣＰＵ６の制御によってシ
ンチレータ１の面上でポイントソースＰＳを縦横に移動
させることができる。
である。ライトガイド２に当接するｐＭＴの出力全敗υ
出すケーブル６は、入力面の形状が異なるｐＭＴ例えば
ｐＭＴ−Ａ 、 Ｂ 、 Ｃのいずれかに接続されてい
る。４はシンチレーションカメラの装置本体の波形整形
回路と同様の回路構成を有し且つ非線形補正部ＮＬＲの
各パラメータの選択設定全行ない得るように構成したパ
ラメータ同定用治具、５は治具４の出力が入力される多
チヤンネルアナライザ（以下ＭＣＡと称する）、６はＭ
ＣＡ ５に制御ノ（スＣＢ□で接続された例えばいわゆ
る）（−ソナル（マイクロ）コンピュータのごとき中央
演算装置（以下「ＣｐＵＪと称する）、７はＣＰＵ６に
制御ノくスＣＢ２ｙ２介して接続された線源移動装置で
ある。線源移動装置７は例えば通常のＸ−Ｙプロッタの
可動子にポイントソースｐ５ （％７ＣＯ４！の線源バ
ック）を取着したものとし、ＣＰＵ６の制御によってシ
ンチレータ１の面上でポイントソースＰＳを縦横に移動
させることができる。
このような構成において、まず、ｐＭＴ−Ａの感度中心
に求める処理手頼を説明する。
に求める処理手頼を説明する。
ＣｐＵ ＜Ｓにて線源移動装置７の初期位置全決定しポ
イントソースＰＳの初期位置を決める。その時のＰＭＴ
−Ａの出力はケーブル３ヶ通って治具４に入力される
。この治具４の出力はＭＣＡ ５に入力される。
イントソースＰＳの初期位置を決める。その時のＰＭＴ
−Ａの出力はケーブル３ヶ通って治具４に入力される
。この治具４の出力はＭＣＡ ５に入力される。
ＭＣＡ ５け予じめ設定されたカウント値にてデータ収
集紮ストップし、収集データ全制御バスＣＢｌ ’ｔ：
介してＣｐＵ （５に転送し、もつとも発生頻度の高い
出力波形のピーク値（以下「チャンネルビーク値」と称
する）を検出し、その値に応じ制御バスＣＢｚ全介して
線源移？ｌＪ装置７ ｆ、ｆｂ作させポイントソースＰ
Ｓ全移動させる。同様の操作を繰り返し逐次感度中心、
つまりチャンネルビーク値の最も大きくなる位置を探索
していく。以下、同様にしてＰＭＴ−Ｂ、Ｃについての
感度中心を検出する。
集紮ストップし、収集データ全制御バスＣＢｌ ’ｔ：
介してＣｐＵ （５に転送し、もつとも発生頻度の高い
出力波形のピーク値（以下「チャンネルビーク値」と称
する）を検出し、その値に応じ制御バスＣＢｚ全介して
線源移？ｌＪ装置７ ｆ、ｆｂ作させポイントソースＰ
Ｓ全移動させる。同様の操作を繰り返し逐次感度中心、
つまりチャンネルビーク値の最も大きくなる位置を探索
していく。以下、同様にしてＰＭＴ−Ｂ、Ｃについての
感度中心を検出する。
感度中心検出後はＰＩＩｆＴレスポンスの測定を実行す
る。情報の流れは先に述べた感度中心探索の場合と同じ
であるが、線源移動装置７によるポイントソースｐｓの
移動は例えば感度中心からＶ“方向に５關間隔ごとに設
定して感度中心から７０簡の位置棟で移動し、逐時その
収集されたチャンネルビーク値’ｘｃＰＵ６に従属する
磁気テープ等の記憶装置に保存する。７０ｎの位置まで
移動して収集データがＣＰＵ ６ ’ｅ介して記憶装置
に転送されると、ポイントソースＰＳは感度中心に戻ｐ
次はＸ一方向に同様の動作上する。同じこと２Ｙ”、Ｙ
一方向についても実行し、すべてのデータ収集完了後ｘ
＋ 、 ｘ−。
る。情報の流れは先に述べた感度中心探索の場合と同じ
であるが、線源移動装置７によるポイントソースｐｓの
移動は例えば感度中心からＶ“方向に５關間隔ごとに設
定して感度中心から７０簡の位置棟で移動し、逐時その
収集されたチャンネルビーク値’ｘｃＰＵ６に従属する
磁気テープ等の記憶装置に保存する。７０ｎの位置まで
移動して収集データがＣＰＵ ６ ’ｅ介して記憶装置
に転送されると、ポイントソースＰＳは感度中心に戻ｐ
次はＸ一方向に同様の動作上する。同じこと２Ｙ”、Ｙ
一方向についても実行し、すべてのデータ収集完了後ｘ
＋ 、 ｘ−。
Ｙ＋、Ｙ一方向の平均のＰｋｆＴレスポンス全計算し、
これを正規化した後ＣＰＵ６に従属するプリンタに打出
してプログラム全終了する０ 以上の処理においては治具４のゲイン設定、ＭＣＡ ５
の較正など若干の手作業は含まれるが、はぼＣｐＵ６に
よる周辺機器制御によっておおむねオンラインで実行で
き、測定が精度良く能率的に行なえる。またｐＭＴレス
ポンスの測定にシンチレーションカメラのコンソール内
蔵のアナライザ部分音用いずＫ、それと同様の回路構成
を有する波形整形回路全治具化したものを用いることに
よって内蔵アナライザ部分と等価なｐＭＴレスポンスを
得ることができる。上記のｐＭＴレスポンスｆ（Ｘ））
の測定は入力面の形状の異なるｐＭＴ−Ａ、Ｂ、Ｃそれ
ぞれについて行なわれる。尚、ポイントソースＰＳの移
動距離は、ｐＭＴの入力面の直径に応じて適宜に決定す
ればよい。
これを正規化した後ＣＰＵ６に従属するプリンタに打出
してプログラム全終了する０ 以上の処理においては治具４のゲイン設定、ＭＣＡ ５
の較正など若干の手作業は含まれるが、はぼＣｐＵ６に
よる周辺機器制御によっておおむねオンラインで実行で
き、測定が精度良く能率的に行なえる。またｐＭＴレス
ポンスの測定にシンチレーションカメラのコンソール内
蔵のアナライザ部分音用いずＫ、それと同様の回路構成
を有する波形整形回路全治具化したものを用いることに
よって内蔵アナライザ部分と等価なｐＭＴレスポンスを
得ることができる。上記のｐＭＴレスポンスｆ（Ｘ））
の測定は入力面の形状の異なるｐＭＴ−Ａ、Ｂ、Ｃそれ
ぞれについて行なわれる。尚、ポイントソースＰＳの移
動距離は、ｐＭＴの入力面の直径に応じて適宜に決定す
ればよい。
次に、上記で得られた各ｐＭＴ ｖスボンスｆ（Ｘ）と
、予じめ実験的に求めた基準応答特性（前記ｐＭＴレス
ポンスｔ／ Ｎ（Ｘ） ｗ近似させる基準となるもの）
と比較し、これに近似するように前記非線形補正部ＮＬ
Ｒのパラメータ全入力面の形状の異なるｐＭＴ −Ａ、
Ｂ、Ｃ毎に決定する。前記基準応答特性は、第４図に示
す非線形回路の基準レベ／Ｉ／ Ｌｌｌ ｅ Ｌｕを変
化させたときの均一性のテスト写真群（以下マツプと称
する）として予じめ作成しておく。本発明では、第４図
の非線形補正部ＮＬＲにおいて、スレシホールド回路Ｔ
Ｅと非線形回路ＭＬの間にＥＦｌなるエミッタフォロワ
を挿入し、両回路全分離することにより以下に述べるよ
うにマツプの構造を基準となるマツプの構造にイυせる
操作が容易となっている０ まず、第７図（α）に示すようなマツプについてマツプ
と非線形補正との関係を詳説“Ｔる。
、予じめ実験的に求めた基準応答特性（前記ｐＭＴレス
ポンスｔ／ Ｎ（Ｘ） ｗ近似させる基準となるもの）
と比較し、これに近似するように前記非線形補正部ＮＬ
Ｒのパラメータ全入力面の形状の異なるｐＭＴ −Ａ、
Ｂ、Ｃ毎に決定する。前記基準応答特性は、第４図に示
す非線形回路の基準レベ／Ｉ／ Ｌｌｌ ｅ Ｌｕを変
化させたときの均一性のテスト写真群（以下マツプと称
する）として予じめ作成しておく。本発明では、第４図
の非線形補正部ＮＬＲにおいて、スレシホールド回路Ｔ
Ｅと非線形回路ＭＬの間にＥＦｌなるエミッタフォロワ
を挿入し、両回路全分離することにより以下に述べるよ
うにマツプの構造を基準となるマツプの構造にイυせる
操作が容易となっている０ まず、第７図（α）に示すようなマツプについてマツプ
と非線形補正との関係を詳説“Ｔる。
マツプが△ＱＡＢｈる三角形になっているのはＬｎ≦Ｌ
１□としている（ Ｌｎ ＞ Ｌｌｚの領域を考えない
こととしている）ためである。同一マツプについては非
線形回路ＭＬの抵抗Ｒ７，／？８．ｊ？９の値は固定し
ておく。マツプは実際には第７図（α）の名産標点毎に
撮像された均一性のテスト写真が配置されたものであシ
、例えばＬｔｉ方同ＶＣ６個、Ｌ＋ｚ方向に６個の座標
点金とった場合２１枚のテスト写真で構成されることに
なる。
１□としている（ Ｌｎ ＞ Ｌｌｚの領域を考えない
こととしている）ためである。同一マツプについては非
線形回路ＭＬの抵抗Ｒ７，／？８．ｊ？９の値は固定し
ておく。マツプは実際には第７図（α）の名産標点毎に
撮像された均一性のテスト写真が配置されたものであシ
、例えばＬｔｉ方同ＶＣ６個、Ｌ＋ｚ方向に６個の座標
点金とった場合２１枚のテスト写真で構成されることに
なる。
そして、第７図（α）に示したマツプの辺ＯＡ上の非線
形特性は、同図（ｈ）に示すように、傾きＫ＞ ＝ １
’−ｇ ／ （７？ｙ ＋ Ｒｓ ）ｘ、＝ ＣＲｓ／
Ｒｅ）／ （Ｂ−７＋ ＣＲｓ／ Ｒｅ））（Ｒｓ
／ Ｒ９はＲ８とＲ９の並列合成抵抗を示す）および基
準レベルＬ１２によシ決定され、基準レベルＬｓｚの変
化によシ図示矢印のように傾きに１の直線と傾きに２の
直線の交点（つまり折点）の位置が変化づ−る０寸た辺
０１３の非線形特性は同図（Ｃ）に示づ−ように頑きに
２と基準レベルＬｌｌによシ決定され、基準レベルＬ】
ｌの変化によシ折点位阪が変化する０きらに、マツプの
△ＯＡＢ内の非線形特性は同図（ｄ）に示すように傾き
Ｋｌ、に２と基準レベルＬ１１ ＃ Ｌｌｚによシ決定
され、基準レベルＬ１１ ＃ Ｌ１２の変化により２個
の折点位置がそれぞれ変化する。
形特性は、同図（ｈ）に示すように、傾きＫ＞ ＝ １
’−ｇ ／ （７？ｙ ＋ Ｒｓ ）ｘ、＝ ＣＲｓ／
Ｒｅ）／ （Ｂ−７＋ ＣＲｓ／ Ｒｅ））（Ｒｓ
／ Ｒ９はＲ８とＲ９の並列合成抵抗を示す）および基
準レベルＬ１２によシ決定され、基準レベルＬｓｚの変
化によシ図示矢印のように傾きに１の直線と傾きに２の
直線の交点（つまり折点）の位置が変化づ−る０寸た辺
０１３の非線形特性は同図（Ｃ）に示づ−ように頑きに
２と基準レベルＬｌｌによシ決定され、基準レベルＬ】
ｌの変化によシ折点位阪が変化する０きらに、マツプの
△ＯＡＢ内の非線形特性は同図（ｄ）に示すように傾き
Ｋｌ、に２と基準レベルＬ１１ ＃ Ｌｌｚによシ決定
され、基準レベルＬ１１ ＃ Ｌ１２の変化により２個
の折点位置がそれぞれ変化する。
このようなマツプの特性全オリ用して、均一性１スト写
真の非常に美しくなるときのマツプ構造（基準マツプ）
に似せるように非線形回路ＮＬのパラメータ全決定ブー
る０ ここで、もしも第４図に示した非線形補正部ＮＬＲの回
路でエミッタフォロワＥｌ？１がなければスレシホール
ド回路ＴＨとの非線形回路ＭＬが分離されないために基
準レベルＬ１０ ｓ Ｌｔｔ ｔ Ｌｌｚの与えられる
各端子の間に別のループができ、先に述べた如く簡単な
マツプの写像の考えが適用できない。
真の非常に美しくなるときのマツプ構造（基準マツプ）
に似せるように非線形回路ＮＬのパラメータ全決定ブー
る０ ここで、もしも第４図に示した非線形補正部ＮＬＲの回
路でエミッタフォロワＥｌ？１がなければスレシホール
ド回路ＴＨとの非線形回路ＭＬが分離されないために基
準レベルＬ１０ ｓ Ｌｔｔ ｔ Ｌｌｚの与えられる
各端子の間に別のループができ、先に述べた如く簡単な
マツプの写像の考えが適用できない。
そればかシでなく均一性イメージに非線形回路ＮＬに次
いで大きく影響するスレシホールド回路ＴＨ（これは本
来分解能イメージの補正に用いられる）のスレシホール
ドレベルの決定が非直線回路ＮＬの定数に関連して変化
することになシパラメータの設定が非常に煩雑になる。
いで大きく影響するスレシホールド回路ＴＨ（これは本
来分解能イメージの補正に用いられる）のスレシホール
ドレベルの決定が非直線回路ＮＬの定数に関連して変化
することになシパラメータの設定が非常に煩雑になる。
そこで本実施例においては、ＥＦｌなるエミッタフォロ
ワ全挿入して上述の問題音解決している。
ワ全挿入して上述の問題音解決している。
具体的なパラメータの決定手順について第８図（α）
、 （ｂ） ｋ参照して説明する。
、 （ｂ） ｋ参照して説明する。
第８図（α）において、ｐＲｌはこれからパラメータを
決定しようとする非線形補正部ＮＬＲの回路系拠おいて
、スレシホールドレベルを決定する基準レベルＬ１６
＝： Ｑ ｍＦとし、接点全決定する基準レベルＬｒｓ
＃ Ｌｎ ？−７”ルアツブしたときのｐＭＴ ｖス
ボンスであり、ＰＲ２は基準マツプの辺ＯＥ上の適宜箇
所でとったＰ１１ｆＴレスポンスであって、このｐＲ，
−ＰＲ，特性を基準マツプの辺ＯＢ上の特性に似せるよ
うにパラメータに、 ＝Ｇ、／Ｇ□（Ｇｌｔ Ｇｚは図
示Ｇ１・０２部の傾き）を決定する。次に同図Ｃｂ）に
おいて、 ｐＲ３は基準マツプの辺ＯＡ上の適宜箇所で
とったＰＭＴレスポンスであシ、このｐＲＩ ＰＲｓ
特性を基準マツプの辺ＯＡ上の特性に似せるようにに２
／に１’Ｆｒ決定し、このＫｚ／Ｋｓと先に求めたパラ
メータに２よりパラメータｘ、 ＝ ｘ２ＧＶＧ４（Ｒ
３，Ｒ４は図示Ｇ３． Ｇ４部の傾き）′ｆ：決定する
。こうして求めたに１． Ｒ２よシ Ｒ８＝ （１−Ｋｌ ） ／ＲｔＫｌ ”・”” １／（（１−４）７？・ｚｃｌ−ｉ ／Ｒｓ
）として抵抗Ｒｓ ｐ Ｒｅ 全逆算する （Ｒ７は
予じめ設定されている。）ｒ、スレシホールドレベルの
変化は第８図（α） 、 （ｈ）の曲線（折れ線）の縦
軸方向への平行移動と等価であシ、第８図（α）に示す
曲線と横軸ＰＲＩの交点Ｔの値を電圧値に換算したもの
がかけるヘキスレジホールトノベルに相当するので、こ
れに応じて基準レベルＬＩｏｋ決定する０以上の操作全
入力面の形状の異なるＰＭＴ−Ａ、Ｂ、Ｃ毎に行い、波
形整形回路Ａ、Ｂ、Ｃにおける非線形補正部ＮＬＲの各
パラメータ値Ｌｌｏｅ Ｌｘｔ ｔＬｌｚ ｅ Ｒｓ
ｅ Ｒ＊’に決定する。
決定しようとする非線形補正部ＮＬＲの回路系拠おいて
、スレシホールドレベルを決定する基準レベルＬ１６
＝： Ｑ ｍＦとし、接点全決定する基準レベルＬｒｓ
＃ Ｌｎ ？−７”ルアツブしたときのｐＭＴ ｖス
ボンスであり、ＰＲ２は基準マツプの辺ＯＥ上の適宜箇
所でとったＰ１１ｆＴレスポンスであって、このｐＲ，
−ＰＲ，特性を基準マツプの辺ＯＢ上の特性に似せるよ
うにパラメータに、 ＝Ｇ、／Ｇ□（Ｇｌｔ Ｇｚは図
示Ｇ１・０２部の傾き）を決定する。次に同図Ｃｂ）に
おいて、 ｐＲ３は基準マツプの辺ＯＡ上の適宜箇所で
とったＰＭＴレスポンスであシ、このｐＲＩ ＰＲｓ
特性を基準マツプの辺ＯＡ上の特性に似せるようにに２
／に１’Ｆｒ決定し、このＫｚ／Ｋｓと先に求めたパラ
メータに２よりパラメータｘ、 ＝ ｘ２ＧＶＧ４（Ｒ
３，Ｒ４は図示Ｇ３． Ｇ４部の傾き）′ｆ：決定する
。こうして求めたに１． Ｒ２よシ Ｒ８＝ （１−Ｋｌ ） ／ＲｔＫｌ ”・”” １／（（１−４）７？・ｚｃｌ−ｉ ／Ｒｓ
）として抵抗Ｒｓ ｐ Ｒｅ 全逆算する （Ｒ７は
予じめ設定されている。）ｒ、スレシホールドレベルの
変化は第８図（α） 、 （ｈ）の曲線（折れ線）の縦
軸方向への平行移動と等価であシ、第８図（α）に示す
曲線と横軸ＰＲＩの交点Ｔの値を電圧値に換算したもの
がかけるヘキスレジホールトノベルに相当するので、こ
れに応じて基準レベルＬＩｏｋ決定する０以上の操作全
入力面の形状の異なるＰＭＴ−Ａ、Ｂ、Ｃ毎に行い、波
形整形回路Ａ、Ｂ、Ｃにおける非線形補正部ＮＬＲの各
パラメータ値Ｌｌｏｅ Ｌｘｔ ｔＬｌｚ ｅ Ｒｓ
ｅ Ｒ＊’に決定する。
以上の作用により、入力面の形状の相違するＰＵＴにそ
れぞれ対応する非線形補正特性を決定することができる
。そして、前記第２図に示すシンチレーションカメラ全
構成する個々のＰＭＴ−Ａ 、 Ｂ 。
れぞれ対応する非線形補正特性を決定することができる
。そして、前記第２図に示すシンチレーションカメラ全
構成する個々のＰＭＴ−Ａ 、 Ｂ 。
Ｃ，Ｄ、Ｅ、Ｆ・・・それぞれ圀対して、同一形状の入
力面ヶ有するＰＭＴは同一の非線形補正特性會有するよ
うに抵抗値Ｒ，，Ｒ９、基準レベ／’ Ｌｌｏ ＃ Ｌ
ｌｌａ Ｌｌｘ ’ｆ−決定すれば、シンチレーション
カメラの出力としてのイメージの均一性を向上すること
ができる。
力面ヶ有するＰＭＴは同一の非線形補正特性會有するよ
うに抵抗値Ｒ，，Ｒ９、基準レベ／’ Ｌｌｏ ＃ Ｌ
ｌｌａ Ｌｌｘ ’ｆ−決定すれば、シンチレーション
カメラの出力としてのイメージの均一性を向上すること
ができる。
このため、前記第６図に示す１うに、ＶＳＣ−αは最も
入力面の直径の大きなＰＭＴ−Ａ 、 Ｄに対応する波
形整形回路Ａ、Ｄの基準レベルＬ１゜ａ Ｌｌ、ｐ Ｌ
、２’Ｃ決定するように接続されている。以下同様に、
ＰＭＴ−Ｂ、Ｈに対応する波形整形回路Ｂ、Ｅにｖｓｃ
−ｈが接続され、ＰＭＴ−Ｃ，Ｆに対応する波形整形回
路Ｃ，ＦにＶＳＣ−ｔｙが接続され、それぞれ入力面の
形状に応じた非線形補正特性を有するように設定されて
いる。従って、ｐＭＴの入力面の形状が相違していても
、シンチし／−ジョンカメラの出力としてのイメージの
均一性全向上することができる。
入力面の直径の大きなＰＭＴ−Ａ 、 Ｄに対応する波
形整形回路Ａ、Ｄの基準レベルＬ１゜ａ Ｌｌ、ｐ Ｌ
、２’Ｃ決定するように接続されている。以下同様に、
ＰＭＴ−Ｂ、Ｈに対応する波形整形回路Ｂ、Ｅにｖｓｃ
−ｈが接続され、ＰＭＴ−Ｃ，Ｆに対応する波形整形回
路Ｃ，ＦにＶＳＣ−ｔｙが接続され、それぞれ入力面の
形状に応じた非線形補正特性を有するように設定されて
いる。従って、ｐＭＴの入力面の形状が相違していても
、シンチし／−ジョンカメラの出力としてのイメージの
均一性全向上することができる。
本発明は前記実施例に限定されるものではなく、本発明
の要旨の範囲内で種々の変形側音包含することは言うま
でもない。例えば、シンチレータ？異種の入力面形状で
構成するＰＭＴとしては、直径の大小に限らず、入力面
の形状全六角形、方形等にし１ｃＰＭＴにすることもで
きる。
の要旨の範囲内で種々の変形側音包含することは言うま
でもない。例えば、シンチレータ？異種の入力面形状で
構成するＰＭＴとしては、直径の大小に限らず、入力面
の形状全六角形、方形等にし１ｃＰＭＴにすることもで
きる。
以上説明したように、この発明によると、シンチレータ
？］ｌ−構成するＰＭＴの入力面の形状か異るものであ
っても、均一性の調整ケ簡単に且つ精度良く行なうこと
のできるシンチレーションカメラ全提供することができ
る。
？］ｌ−構成するＰＭＴの入力面の形状か異るものであ
っても、均一性の調整ケ簡単に且つ精度良く行なうこと
のできるシンチレーションカメラ全提供することができ
る。
第１図は矩形状のシンチレータに入力面の形状の異なる
ｐＭＴ ｆ配置した一例を示す概略説明図、に入力面の
直径の異なる３種類のｐＭＴ ｆ配置した一例を示す概
略説明図、第６図は本発明の一実施例としてのシンチレ
ーションカメラにおける各ＰＭＴと波形整形回路及びＶ
ＳＣの接続を示すブロックダイヤグラム、第４図は波形
整形回路における非線形補正部の回路図、第５図（α）
〜（Ｃ）は非線形補正の概要を説明するための特性図、
第６図はＰＭＴレスポンス測定の自動化システムを示す
システムブロック図、第７図（α）〜（めはマツプと非
線形補正の関係全説明するための特性図、第８図（ａ）
。 （Ａ）は非線形補正部のパラメータ決定の方法を説明す
るための特性図である０ １・・・シンチレータ、 ２・・・ライトガイド、Ｐ
ＭＴ・・・光電子増倍管、 ＮＬＲ・・・非線形補正部
、ＴＨ・・・スレシホールド回路、 ＮＬ・・・非線
形回路、ＥＦ、・・・インピーダンス変換回路。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 （ｔ′！か１名）−
４７ζ □□□」“ 第７図 −人カ
ｐＭＴ ｆ配置した一例を示す概略説明図、に入力面の
直径の異なる３種類のｐＭＴ ｆ配置した一例を示す概
略説明図、第６図は本発明の一実施例としてのシンチレ
ーションカメラにおける各ＰＭＴと波形整形回路及びＶ
ＳＣの接続を示すブロックダイヤグラム、第４図は波形
整形回路における非線形補正部の回路図、第５図（α）
〜（Ｃ）は非線形補正の概要を説明するための特性図、
第６図はＰＭＴレスポンス測定の自動化システムを示す
システムブロック図、第７図（α）〜（めはマツプと非
線形補正の関係全説明するための特性図、第８図（ａ）
。 （Ａ）は非線形補正部のパラメータ決定の方法を説明す
るための特性図である０ １・・・シンチレータ、 ２・・・ライトガイド、Ｐ
ＭＴ・・・光電子増倍管、 ＮＬＲ・・・非線形補正部
、ＴＨ・・・スレシホールド回路、 ＮＬ・・・非線
形回路、ＥＦ、・・・インピーダンス変換回路。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 （ｔ′！か１名）−
４７ζ □□□」“ 第７図 −人カ
Claims (1)
- 複数の光電子増倍管によシ被検体内の放射性同位元素か
らの放射線をシンチレータ及びライトガイドを介して検
出し、この複数の検出信号業容波形整形回路によ夕波形
整形した後、抵抗マトリクス方式位置計算回路により位
置計算して放射線の前記シンチレータへの入射位置金求
め、放射性同位元素の分布情報金得るシンチレーション
カメラにおいて、前記複数の光電子増倍管全入力面の大
きさの異なる数種のもので構成すると共に、前記各波形
整形回路内に設定レベル以下の信号成分を除去するスレ
シホールド回路と、非線形補正のための非線形回路と、
前記スレシホールド回路と非線形回路との間に設けられ
るインピーダンス変換回路とを具備し、前記非線形回路
に光電子増倍管の入力面の大きさの相違に基づいて異な
る非線形補正特性を設定してなること全特徴とするシン
チレーションカメ２゜
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14997882A JPS5940184A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | シンチレ−シヨンカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14997882A JPS5940184A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | シンチレ−シヨンカメラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5940184A true JPS5940184A (ja) | 1984-03-05 |
Family
ID=15486784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14997882A Pending JPS5940184A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | シンチレ−シヨンカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5940184A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011107122A (ja) * | 2009-11-19 | 2011-06-02 | Toshiba Corp | 可変なライトガイド厚を有するガンマ線検出モジュール |
| JP2012088306A (ja) * | 2010-10-19 | 2012-05-10 | Toshiba Corp | Ｐｅｔ検出器モジュール、放射線検出器、ｐｅｔスキャナシステム、信号処理方法、及び放射線検出器モジュールの製造方法 |
-
1982
- 1982-08-31 JP JP14997882A patent/JPS5940184A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011107122A (ja) * | 2009-11-19 | 2011-06-02 | Toshiba Corp | 可変なライトガイド厚を有するガンマ線検出モジュール |
| JP2014081381A (ja) * | 2009-11-19 | 2014-05-08 | Toshiba Corp | ガンマ線検出モジュール及びｐｅｔスキャナ |
| JP2012088306A (ja) * | 2010-10-19 | 2012-05-10 | Toshiba Corp | Ｐｅｔ検出器モジュール、放射線検出器、ｐｅｔスキャナシステム、信号処理方法、及び放射線検出器モジュールの製造方法 |
| JP2017062257A (ja) * | 2010-10-19 | 2017-03-30 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | Ｐｅｔ検出器モジュール |
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