JPS58184534A - 吸光法によるガス分析法 - Google Patents

吸光法によるガス分析法

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JPS58184534A
JPS58184534A JP57066230A JP6623082A JPS58184534A JP S58184534 A JPS58184534 A JP S58184534A JP 57066230 A JP57066230 A JP 57066230A JP 6623082 A JP6623082 A JP 6623082A JP S58184534 A JPS58184534 A JP S58184534A
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JP
Japan
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gas
activated carbon
sample gas
sample
packing tower
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JP57066230A
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Masahiro Kuroda
黒田 正弘
Iwao Akiyama
秋山 巌
Yoshinori Tanaka
義則 田中
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Mitsubishi Power Ltd
Original Assignee
Babcock Hitachi KK
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/33Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using ultraviolet light

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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
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  • Carbon And Carbon Compounds (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は吸収法によるガス分析法に係り、##に試料ガ
ス中に共存する炭化水素等圧よって妨害されることのな
い、ガス中の窒素酸化物等の特定成分の分析法に関する
燃料等の燃焼工種などから排出されるガス中の窒素酸化
物、その他ガス中の特定成分の連続的な分析方法として
は、従来、赤外線吸収法、紫外線吸収法のような吸光法
、化学発光法、定電位電解法等が知られている。これら
の分析法においては、ガス中に炭酸ガス(Cot ) 
、水蒸気、亜硫酸ガス(SO雪)等が共存するとその測
定値に誤差を生じることが知られている。これらの妨害
成分の影響を除くため、例えば赤外線吸収法ではガスま
たは固体のフィルターを用いたり、紫外線吸収法では鑞
気的補償法(相関分光法等)を用いてこれらの影響を取
り除いている。
しかしながら、上記吸光分析においては、前記妨害ガス
成分の影響を取り除いてもなお正確な分析値が得られな
いことがあり、その解決が望まれていた。
本発明の目的は、上記従来技術の欠点を解消し、排ガス
中に共存するガス成分(よって妨害されることのないガ
ス分析法を提供することくある。
上記目的を達成するため、本発明者らはガス分析値に誤
差を与える排ガス中の共存成分について鋭意研究したと
ころ、排ガス中に含まれる炭化水素が妨害成分として作
用することを見出した。本発明者らは排ガス中に共存す
る炭化水素を除去するために檀々の除去方法を検討した
ところ、活性炭吸着により、前記炭化水素が容易に除去
されることを見出し、本発明に到達したものである。
本発明は、紫外線吸収法、赤外線吸収法などのような表
光法によりガス中の特定成分を分析するに当り、予め試
料ガスを加熱下に活性炭と接触させ、該ガス中の炭化水
素を吸着除去することを特鎗とする。
本発明において、測定対象とするガス中の特定成分は、
窒素酸化物、硫黄酸化物、−酸化炭素、炭酸ガスなど、
ガス中の炭化水素によってその測定が妨害されるもので
ある。(1 本発明において、試料ガスを活性炭と!I@させるには
粒状または顆粒状の活性炭を充填した充填塔に試料ガス
を通過させればよい、上記充填塔には伝熱ヒーターのよ
うな加熱手段を設け、試料ガスと活性炭との接触温度を
100〜200℃に保持することが好ましい、接触温度
があまり低すぎると試料ガス中の炭化水素が活性炭に充
分吸着せず、また温度が高すぎると吸着した炭化水素が
脱膚するので望ましくない。
本発明の吸光分析に用いる分析機器は特に限定されず、
通常用いられるものでよい。
本発明による試料ガス中の炭化水素の除去効果は、吸光
法のうち紫外線吸収法および赤外線吸収法、特に前者に
おいて顕著であるが、これら以外のガス分析法例えば化
学発光法、定電位電解法ではその効果はほとんどみられ
なかった。
以下、本発明の実施例を排ガス中の窒素酸化物(NO,
)の測定に適用した場合について説明するが、本発明は
これに限定されず、他のガス成分の分析にも同様に適用
することは勿論である。
実施例 第1図は、本発明の実施例に用いた活性炭吸着装置の概
略図である。この装置は、紫外線吸収分析装置のような
NOx#If計1への試料ガス流路2に設けられた活性
炭充填塔3と、咳活性炭充填塔の周囲に設けられた電気
ヒーター4と、充填塔3内の活性炭層内に設けられた温
度計5と、該充填塔に入る試料ガスを希釈するための窒
素ガス流路6および窒素ガス供給ポンプ7、流量計8お
よび液体シール9から主として構成される。
上記装置において、試料ガス流路2は窒素ガス流路6か
ら流入する窒素ガスによって所定の比率で希釈されたの
ち、活性炭吸着装置3の充填層5を通り、ここで試料ガ
ス中の炭化水素が吸着除去されたのち、NO!濃度計l
K入り、ここで炭化水素等の妨害成分のないガスとして
正確なNO,値が測定される。
窒素酸化物を含むガスとして、NO40pp、5on3
5 何重、  C(h   1 2  IIb 、  
Ox   5 チ、  Hto  1 2  チ、N鵞
 残のガスAおよびN095酵、SSO235pp、C
O諺12%、015 %、 Hzo 12 % 、Nt
残のガスHの2種のガスに、それぞれ炭化水素としてク
ロト/アルデヒドとエタノールの等量混合物を室温の蒸
気圧下で添加し、共存成分として炭化水素を含む試料ガ
スを作成した。この試料ガスを、第1図に示す活性炭吸
着装置に供給し、、 130℃で試料ガス中の炭化水素
を除去した後、赤外線吸収法によるNOx11度酎Kか
け耐ところ、その測定値はそれぞれNO40−および9
5−を示し、測定値の誤差は見られなかった。
これに対して、試料ガスを予め活性炭吸着装置に通さな
い場合、または室温で活性炭吸着装置を通した場合は、
測定値に+10−以上の誤差を生じた。なお、上記クロ
トアルデヒドとエタノールの混谷物を添加しない場合に
ついて、紫外線吸収法噴により試料ガスA%B中のNO
,濃度を測定したが妨害成分による誤差は生じなかった
次に上記活性炭の炭化水素吸着効果を確認するため、活
性炭反応器出口でガスクロマトグラフィーによる炭化水
素の分析を行なった結果、例えば活性炭反応器入口のガ
ス中のNO,成分がメタン換算値で15,000−であ
ったものが、活性炭反応器出口では425ppIと極端
に減少していることが分った。
また炭化水素として、トルエン1000〜3000岬、
ヘキサジオン200〜400P、アクロレイン200〜
1000ppおよびクロトンアルデヒド200〜1oo
oppaをそれぞれ含有する試料ガスについても、前記
と同様な比較試験を行なった結果、前記と同様な活性炭
吸着の効果が認められ、これらの妨害作用のない測定値
が得られることが分った。
以上、本発明によれば、吸光法によるガス分析装置に供
給される試料ガスを予め加熱下に活性炭で処理して炭化
水素を吸着除去することにより、ガス中の主に炭化水素
による測定値の誤差をなくすことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明のガス分析法の一実施例を示す装置系
統図である。 1・・・NOx濃度計、2・・・試料ガス:1流路、3
・・・活性炭吸着装置、4・・・加熱装置、5・・・温
度針。 代理人 弁理士  川 北 武 長 第 1 鶴

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)吸光法によりガス中の特定成分を分析するに当り
    、予め試料ガスを加熱下に活性炭と接触させ、該ガス中
    の炭化水素を吸着除去することを特徴とする吸光法によ
    るガス分析法。 (2、特許請求の範囲第1項において、前記活性炭によ
    る吸着除去を100〜200℃の温度で行なうことを特
    徴とする吸光法によるガス分析法。 (3)特許請求の範囲第1項または第2項において、前
    記吸光法が紫外線吸収法または赤外線吸収法であり、ガ
    ス中の特定成分が窒素酸化物、硫黄酸化物、−d化炭素
    または炭酸ガスであることを特徴とする吸収法によるガ
    ス分析法。
JP57066230A 1982-04-22 1982-04-22 吸光法によるガス分析法 Granted JPS58184534A (ja)

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JPS58184534A true JPS58184534A (ja) 1983-10-28
JPH0332729B2 JPH0332729B2 (ja) 1991-05-14

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02159559A (ja) * 1988-12-12 1990-06-19 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd 二酸化硫黄自動分析の試料調整方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5427487A (en) * 1977-08-02 1979-03-01 Kawasaki Steel Co Method of analyzing sulfer dioxide with infrared ray
JPS56135150U (ja) * 1980-03-13 1981-10-13

Patent Citations (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02159559A (ja) * 1988-12-12 1990-06-19 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd 二酸化硫黄自動分析の試料調整方法

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