JPS5818155A - 水分計 - Google Patents
水分計Info
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- JPS5818155A JPS5818155A JP11671481A JP11671481A JPS5818155A JP S5818155 A JPS5818155 A JP S5818155A JP 11671481 A JP11671481 A JP 11671481A JP 11671481 A JP11671481 A JP 11671481A JP S5818155 A JPS5818155 A JP S5818155A
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- JP
- Japan
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- temperature
- sample
- heat
- temp
- heat source
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N5/00—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid
- G01N5/04—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid by removing a component, e.g. by evaporation, and weighing the remainder
- G01N5/045—Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid by removing a component, e.g. by evaporation, and weighing the remainder for determining moisture content
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は試料の水分率測定に用いる水分計に関する。
はかり皿に載せられた試料を加熱乾燥して試料重量の減
少から試料に含まれる水分量を測定する水分計において
、従来、設定すべき試料温度の制御は、試料に熱を照射
する熱源と試料の中間の大気中の温度を基準として行わ
れていた。しかし、その大気中の温度と試料の温度に差
があって正確な温度制御を行うことができず、試料が過
熱されるなどの欠点があった。また、試料表面を専は試
。
少から試料に含まれる水分量を測定する水分計において
、従来、設定すべき試料温度の制御は、試料に熱を照射
する熱源と試料の中間の大気中の温度を基準として行わ
れていた。しかし、その大気中の温度と試料の温度に差
があって正確な温度制御を行うことができず、試料が過
熱されるなどの欠点があった。また、試料表面を専は試
。
料中に温度センサの測温接点を接触あるいは挿入する場
合、温度センサの重量の一部が試料重量とともに秤量さ
れるから正確な水分量を得る仁とが困難であった。
合、温度センサの重量の一部が試料重量とともに秤量さ
れるから正確な水分量を得る仁とが困難であった。
この発明は上述の点に鑑み、試料温度を設定すべき値に
制御して高精度に水分量を測定する水分計を提供するこ
とを目的としている。
制御して高精度に水分量を測定する水分計を提供するこ
とを目的としている。
この発明は上記目的を達成するために、はかり皿上に載
せられた試料の温度を測定する第１の温度センサと、上
記第１の温度センサの測温接点を移動する移動装置と、
熱源からの照射熱の温度を測定する第２の温度センサと
、上記第２の温度センサによって測定された温度を記憶
する記憶装置と、１肥記憶装置に記憶された温度を保持
するよう上記熱源の照射熱量を制御する制御装置とを有
し、上記第１の温度センサの測温接点が上記はかυ皿上
に載せられた試料９忙投入されその試料の温度が所定の
値に達したとき、そのときの上記熱源による照射熱の温
度を上記記憶装置に記憶し、以降上記第１の温度センサ
の測温接点を試料外に出し上記照射熱の温度を上記記憶
装置に記憶した温度に保持するよう構成されていること
を特徴としている。
せられた試料の温度を測定する第１の温度センサと、上
記第１の温度センサの測温接点を移動する移動装置と、
熱源からの照射熱の温度を測定する第２の温度センサと
、上記第２の温度センサによって測定された温度を記憶
する記憶装置と、１肥記憶装置に記憶された温度を保持
するよう上記熱源の照射熱量を制御する制御装置とを有
し、上記第１の温度センサの測温接点が上記はかυ皿上
に載せられた試料９忙投入されその試料の温度が所定の
値に達したとき、そのときの上記熱源による照射熱の温
度を上記記憶装置に記憶し、以降上記第１の温度センサ
の測温接点を試料外に出し上記照射熱の温度を上記記憶
装置に記憶した温度に保持するよう構成されていること
を特徴としている。
以下、この発明の実施例を図面に従い説明する。
荷重−電気変換装置１ははかり皿２に載せられた試料に
よる荷重を電気信号に変換するものである。この荷重−
電気変換装置１の出力はＡ／Ｄ変換器によるＡ／Ｄ変換
後、入出力（Ｉｌｏ）ボート１２およびパスライン１８
を経て中央処理装置（ＣＰＵ）１５．ＲＯＭ１６、ＲＡ
Ｍ１７に導入される。熱源６ははかり皿２上に照射する
熱を発生するものであり、その照射熱量は温度調節装置
９によって調節される。温度センサ（第１の温度センサ
４）は試料の温度を測定するためのものであり、はかり
皿２に載せられた試料に挿入する測温接点を移動するた
めに上下移動用機構（例えばベルト）１９に取り付けら
れている。温度センサ４の出力はＡ／Ｄ変換器８に接続
されている。上下移動用ベル）１９は駆動装置７によっ
て駆動される。温度センサ（第２の温度センサ）５は熱
源６の照射熱の温度を測定するためのものであり、熱源
６の照射熱の温度を測定するためのものであり、熱源６
の近傍１にその測定接点が設けられている。温度センサ
５の出力は温度調節装置９に接続されている。温度調節
装置９は調節すべき熱源６の照射熱の温度を配憶する記
憶装置を有し、この記憶装置に記憶した温度を保持する
よう熱源６への電源供給をデ節するものである。中央処
理装置（ＣＰＵ）１５は、ＲＯＭ１６に書き込まれたシ
ーケンスプログラムに従い温度調節装置９の動作を制御
し、タイマ１１によって設定された測定時間が経過した
か、または荷重−電気変換装置１によって測定された試
料重量の単位時間あたりの変化量が予め設定した一定範
囲内に入ったとき、試料に含まれている水分量がなくな
ったことを表す絶乾点に達したと判断して水分率を算出
しその値をドライバ１３を介して表示装置１４に表示す
る処理を行うよう構成されている。この水分率は、加熱
前の試料重量Ｗ１と絶乾点忙達したときの試料重量Ｗ、
から求まる（Ｗ、−Ｗ、）／Ｗ、の値である。
よる荷重を電気信号に変換するものである。この荷重−
電気変換装置１の出力はＡ／Ｄ変換器によるＡ／Ｄ変換
後、入出力（Ｉｌｏ）ボート１２およびパスライン１８
を経て中央処理装置（ＣＰＵ）１５．ＲＯＭ１６、ＲＡ
Ｍ１７に導入される。熱源６ははかり皿２上に照射する
熱を発生するものであり、その照射熱量は温度調節装置
９によって調節される。温度センサ（第１の温度センサ
４）は試料の温度を測定するためのものであり、はかり
皿２に載せられた試料に挿入する測温接点を移動するた
めに上下移動用機構（例えばベルト）１９に取り付けら
れている。温度センサ４の出力はＡ／Ｄ変換器８に接続
されている。上下移動用ベル）１９は駆動装置７によっ
て駆動される。温度センサ（第２の温度センサ）５は熱
源６の照射熱の温度を測定するためのものであり、熱源
６の照射熱の温度を測定するためのものであり、熱源６
の近傍１にその測定接点が設けられている。温度センサ
５の出力は温度調節装置９に接続されている。温度調節
装置９は調節すべき熱源６の照射熱の温度を配憶する記
憶装置を有し、この記憶装置に記憶した温度を保持する
よう熱源６への電源供給をデ節するものである。中央処
理装置（ＣＰＵ）１５は、ＲＯＭ１６に書き込まれたシ
ーケンスプログラムに従い温度調節装置９の動作を制御
し、タイマ１１によって設定された測定時間が経過した
か、または荷重−電気変換装置１によって測定された試
料重量の単位時間あたりの変化量が予め設定した一定範
囲内に入ったとき、試料に含まれている水分量がなくな
ったことを表す絶乾点に達したと判断して水分率を算出
しその値をドライバ１３を介して表示装置１４に表示す
る処理を行うよう構成されている。この水分率は、加熱
前の試料重量Ｗ１と絶乾点忙達したときの試料重量Ｗ、
から求まる（Ｗ、−Ｗ、）／Ｗ、の値である。
ＲＡＭ１７は加熱前の試料重量の値、水分率測定のため
に予め設定する試料温度の値、たとえば１００°ａの値
、および試料温度が予め設定された値に達したときの熱
源６の照射熱の温度の値などを記憶する記憶領域を有す
る。荷重−電気変換装置ＩＫよって測定された加熱前の
試料重量のデータは一定時間経過して安定したときＲＡ
Ｍ１７に記憶される。設定される試料温度の値は予めＲ
ＡＭ１７に書き込まれるか、キーボード１０のキー操作
によってＲＡＭ１７に入力される。
に予め設定する試料温度の値、たとえば１００°ａの値
、および試料温度が予め設定された値に達したときの熱
源６の照射熱の温度の値などを記憶する記憶領域を有す
る。荷重−電気変換装置ＩＫよって測定された加熱前の
試料重量のデータは一定時間経過して安定したときＲＡ
Ｍ１７に記憶される。設定される試料温度の値は予めＲ
ＡＭ１７に書き込まれるか、キーボード１０のキー操作
によってＲＡＭ１７に入力される。
とのような構成において、まず試料６がはか給血２に載
せられ、温度センサ４の測温接点は試料３と接触しない
位置におかれ、加熱前の試料重量Ｗ、が荷重−電気変換
装置１によって測定されてＲＡＭ１７に記憶され、その
値は表示装置１４に表示される。操作者はこの表示を確
認してキーボード１００入力指示キーを押しｃｐｕ１５
に確認信号を送る。ｃｐｔｙｌ ５はこの確認信号を受
けて、駆動装置７に駆動信号を発して移動用ベルト１９
を駆動させる。移動用ベルト１９の移動により温度セン
サ４の測温接点が試料内忙挿入される。さらに、熱源６
への電源供給が温度調節装置１９によって開始される。
せられ、温度センサ４の測温接点は試料３と接触しない
位置におかれ、加熱前の試料重量Ｗ、が荷重−電気変換
装置１によって測定されてＲＡＭ１７に記憶され、その
値は表示装置１４に表示される。操作者はこの表示を確
認してキーボード１００入力指示キーを押しｃｐｕ１５
に確認信号を送る。ｃｐｔｙｌ ５はこの確認信号を受
けて、駆動装置７に駆動信号を発して移動用ベルト１９
を駆動させる。移動用ベルト１９の移動により温度セン
サ４の測温接点が試料内忙挿入される。さらに、熱源６
への電源供給が温度調節装置１９によって開始される。
熱源６からの照射熱の温度は温度センサ５によって検出
されそのデータは温度調節装置９に導入され、また、熱
源６によって加熱された試料の温度は温度センサ４によ
って検出されＣＰＵ１５に導入される。ＲＡＭ１７に設
定すべき試料温度として１００°Ｏの値が記憶されてい
るとすると、ＣＰＵ１５は温度センサ５によって検出さ
れた温度が１００’Ｏになったかどうかを判断する。試
料温度が１００６０に達したと判断したとき、ＣＰＵ１
５は温度センサ５によって検出されるその時の照射熱の
温度を温度調節装置９に記憶させる。以降、温度調節装
＃９は記憶した温度を保持するよう熱源６への電源供給
の調節を開始する。ＣＰＵ１５は、温度調節装置９が作
動すると、駆動装置１７に駆動信号を発し、移動用ベル
ト１９を移動させて温度センサ４の測温接点を試料 ・
外に取シ出させる。これＫより荷重−電気変換装置１は
加熱によって含有水分量が減少してい〈試料重量だけを
検出し続ける。操作者が予めタイマ１１によって設定し
た測定時間が経過したか、または試料重量の単位時間あ
たシの変化量が一定範囲内に入ったとき、ＣＰＵ１５は
絶乾点に達したと判断し、温度調節装置９に加熱終了信
号を発して加熱を停電するとともに、その時の試料重量
Ｗ諺と加熱前の試料重量Ｗ１から水分率（ｗ、 −ｗ、
）／Ｗ。
されそのデータは温度調節装置９に導入され、また、熱
源６によって加熱された試料の温度は温度センサ４によ
って検出されＣＰＵ１５に導入される。ＲＡＭ１７に設
定すべき試料温度として１００°Ｏの値が記憶されてい
るとすると、ＣＰＵ１５は温度センサ５によって検出さ
れた温度が１００’Ｏになったかどうかを判断する。試
料温度が１００６０に達したと判断したとき、ＣＰＵ１
５は温度センサ５によって検出されるその時の照射熱の
温度を温度調節装置９に記憶させる。以降、温度調節装
＃９は記憶した温度を保持するよう熱源６への電源供給
の調節を開始する。ＣＰＵ１５は、温度調節装置９が作
動すると、駆動装置１７に駆動信号を発し、移動用ベル
ト１９を移動させて温度センサ４の測温接点を試料 ・
外に取シ出させる。これＫより荷重−電気変換装置１は
加熱によって含有水分量が減少してい〈試料重量だけを
検出し続ける。操作者が予めタイマ１１によって設定し
た測定時間が経過したか、または試料重量の単位時間あ
たシの変化量が一定範囲内に入ったとき、ＣＰＵ１５は
絶乾点に達したと判断し、温度調節装置９に加熱終了信
号を発して加熱を停電するとともに、その時の試料重量
Ｗ諺と加熱前の試料重量Ｗ１から水分率（ｗ、 −ｗ、
）／Ｗ。
を算出し表示装置１４にその値を表示する。
この発明において、温度調節装置９に配憶させる温度を
、試料温度が設定した値に達したときの熱源からの照射
熱の温度より少し低い値にすれば、より正確に熱源の温
度調節を行うことができる。
、試料温度が設定した値に達したときの熱源からの照射
熱の温度より少し低い値にすれば、より正確に熱源の温
度調節を行うことができる。
また、試料温度を表示装置に表示して、設定した値に達
したとき操作者自ら温度センサを試料外に取り外しても
よい。
したとき操作者自ら温度センサを試料外に取り外しても
よい。
以上のように、この発明によれば試料の温度を検出し、
そのデータから熱源の照射熱量を制御するから、試料を
過熱することがなく、正確な水分量を測定することがで
きる水分計が得られる。
そのデータから熱源の照射熱量を制御するから、試料を
過熱することがなく、正確な水分量を測定することがで
きる水分計が得られる。
図面はこの発明の実施例の構成を示す図である、１・・
・・・・荷重−電気変換装置 ２・・・・・・はかり皿 ３・・・・・・試料４．
５・・・・・・温度センサ ６・・・・・・熱源 ７・・・・・・駆動装置
９・・・・・・温度調節装置 １５・・・・・・中央処理装置（ＣＰＵ）１６・・・・
・・ＲＯＭ １７・・・・・・’ＲＡＭ特許出
願人 株式会社島津製作所
・・・・荷重−電気変換装置 ２・・・・・・はかり皿 ３・・・・・・試料４．
５・・・・・・温度センサ ６・・・・・・熱源 ７・・・・・・駆動装置
９・・・・・・温度調節装置 １５・・・・・・中央処理装置（ＣＰＵ）１６・・・・
・・ＲＯＭ １７・・・・・・’ＲＡＭ特許出
願人 株式会社島津製作所
Claims (1)
- はかり皿上に与えられた荷重を電気信号に変換する荷重
−電気変換装置と、上記はｉ為り皿に載せられた試料に
熱を照射する熱源とを備え、上記はかｐ皿上で試料を加
熱し、試料重量の減少よシ、この試料に含まれている水
分量を測定する装置において、上記はかり皿上に載せら
れた４試料の温度を測定する第１の温度センナと、上記
第１の温度センナの測温接点を移動する移動装置と、上
記熱源の照射熱の温度を測定する第２の温度センナと、
上記第２の温度センナによって測定された温度を記憶す
る記憶装置と、上記≧、憶装置に記憶された温度を保持
するよう上記熱源の照射熱量を制御する制御装置とを有
し、上記第１の温度セ／すの測温接点が上記はか砂皿上
に載せられた試料中に投入されその試料の温度が所定の
値に達したとき、そのときの上記熱源による照射熱の温
度を上記記憶装置に配憶し、以降上記第１の温度センサ
の測温接点を試料外に出し上記照射熱の温度を上記記憶
装＃に記憶した温度に保持するよう構成された水分計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11671481A JPS5818155A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 水分計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11671481A JPS5818155A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 水分計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5818155A true JPS5818155A (ja) | 1983-02-02 |
| JPH0257660B2 JPH0257660B2 (ja) | 1990-12-05 |
Family
ID=14693988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11671481A Granted JPS5818155A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 水分計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5818155A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59176657A (ja) * | 1983-03-25 | 1984-10-06 | Agency Of Ind Science & Technol | 岩石中の微量加熱分解鉱物の定量方法 |
| JPS61147955U (ja) * | 1985-03-05 | 1986-09-12 | ||
| WO2006048080A1 (de) * | 2004-11-06 | 2006-05-11 | Sartorius Ag | Trocknungswaage |
| US8727608B2 (en) * | 2003-09-04 | 2014-05-20 | Flir Systems, Inc. | Moisture meter with non-contact infrared thermometer |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5280096A (en) * | 1975-12-26 | 1977-07-05 | Shimadzu Corp | Moisture measuring device |
-
1981
- 1981-07-24 JP JP11671481A patent/JPS5818155A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5280096A (en) * | 1975-12-26 | 1977-07-05 | Shimadzu Corp | Moisture measuring device |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59176657A (ja) * | 1983-03-25 | 1984-10-06 | Agency Of Ind Science & Technol | 岩石中の微量加熱分解鉱物の定量方法 |
| JPH0326784B2 (ja) * | 1983-03-25 | 1991-04-11 | Kogyo Gijutsuin | |
| JPS61147955U (ja) * | 1985-03-05 | 1986-09-12 | ||
| US8727608B2 (en) * | 2003-09-04 | 2014-05-20 | Flir Systems, Inc. | Moisture meter with non-contact infrared thermometer |
| WO2006048080A1 (de) * | 2004-11-06 | 2006-05-11 | Sartorius Ag | Trocknungswaage |
| US7441443B2 (en) | 2004-11-06 | 2008-10-28 | Sartorius Ag | Drying balance |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0257660B2 (ja) | 1990-12-05 |
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