JPS5818111A - 超音波による板厚測定方法及び同装置 - Google Patents
超音波による板厚測定方法及び同装置Info
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- JPS5818111A JPS5818111A JP11634681A JP11634681A JPS5818111A JP S5818111 A JPS5818111 A JP S5818111A JP 11634681 A JP11634681 A JP 11634681A JP 11634681 A JP11634681 A JP 11634681A JP S5818111 A JPS5818111 A JP S5818111A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、凹凸の大難−板状の被検体の厚さ寸法【高精
度で測定し得る方法および同装置に関するものである。
度で測定し得る方法および同装置に関するものである。
板状の被検体に超音波探触子ｔｍてて超音波ビーム管見
射し、エコーを受信することによって被検体の厚さ寸法
を測定する方法および装置は一般に広く用いられている
。しかし、従来ＯＩｌ定装置においては超音波探触子か
も発射される超音波ビームには一定の指向角範囲内での
拡が〕が有るため、被検体の裏面に大暑−凹凸が有る場
合、測定誤差が混入し易いと−う技留的問題がある。
射し、エコーを受信することによって被検体の厚さ寸法
を測定する方法および装置は一般に広く用いられている
。しかし、従来ＯＩｌ定装置においては超音波探触子か
も発射される超音波ビームには一定の指向角範囲内での
拡が〕が有るため、被検体の裏面に大暑−凹凸が有る場
合、測定誤差が混入し易いと−う技留的問題がある。
第１図は上記測定誤差の説明図で、ｌは板状Ｏ被検体、
２は超音波探触子、３は超音波送受信装置である。
２は超音波探触子、３は超音波送受信装置である。
超音波探触子２は被検体１０表面の点Ｐから板面に垂直
ＫＰＢ方向に指向角δで超音波ビームを発射し、その反
射波を上記の点Ｐの探触子２で受信する。これにより、
第２図に示すような送受信波形が得られる０時間軸上Ｏ
の位置の波形Ｔ′は送信波、時間軸上１．０位置の波形
Ｒ１は受信波である。普検体１の内部における音速に上
記の時間ｔ■の１／２ｔ−乗じるとＰＢ間の距離が算出
される。
ＫＰＢ方向に指向角δで超音波ビームを発射し、その反
射波を上記の点Ｐの探触子２で受信する。これにより、
第２図に示すような送受信波形が得られる０時間軸上Ｏ
の位置の波形Ｔ′は送信波、時間軸上１．０位置の波形
Ｒ１は受信波である。普検体１の内部における音速に上
記の時間ｔ■の１／２ｔ−乗じるとＰＢ間の距離が算出
される。
ところが第１図に示すように被検体１の裏面に大きい凹
凸があり、その凹部の点Ａが超音波ビームの指向角δの
範囲内にありて超音波ビームするエコー源となる場合に
、ＰＢ＞ＦＡであると第２ＷｉＫ示すごとく時間軸上の
ｔムの位置く反射波形Ｒムが現われるので、従来の超音
波厚さ針は上記２つの反射波形ＲｓとＲ轟とを識別でき
ず、その結果、時間１．に基づいて板厚を算出しこれを
ＰＢの寸法であると誤認する不具合があった。探触子２
を被検体１の表面の１点Ｐに静止させて測定する場合だ
けでなく、被検体１の表面に沿って探触子を走査しつつ
測定する場合も同様の不具合がある。
凸があり、その凹部の点Ａが超音波ビームの指向角δの
範囲内にありて超音波ビームするエコー源となる場合に
、ＰＢ＞ＦＡであると第２ＷｉＫ示すごとく時間軸上の
ｔムの位置く反射波形Ｒムが現われるので、従来の超音
波厚さ針は上記２つの反射波形ＲｓとＲ轟とを識別でき
ず、その結果、時間１．に基づいて板厚を算出しこれを
ＰＢの寸法であると誤認する不具合があった。探触子２
を被検体１の表面の１点Ｐに静止させて測定する場合だ
けでなく、被検体１の表面に沿って探触子を走査しつつ
測定する場合も同様の不具合がある。
上記のような誤認は、点状のエコー源が単独に存在して
いる場合には被検体表面の２個所においてエコー源の検
出を行うことによって防止することができる。その方法
を次に述べる。
いる場合には被検体表面の２個所においてエコー源の検
出を行うことによって防止することができる。その方法
を次に述べる。
第３図のように被検体１の中にエコー１１１Ａカあり、
探触子（図示せず）を走査して点Ｐ、 、 ｐＨの２
個所から超音波ビームを発射し、受信し九場合、点Ｐ１
からの発射ビームは指向角ａで三角形Ｐ＊ Ｑｓ
Ｓｔ （以下ΔＰＩＱＩ８ｍ と記す）の範囲内（伝
播し、エコー原人で反射して点Ｐ、で受信される。これ
だけではＡ点を標定することはできないが、点Ｐｓ ｔ
−中心とする円弧Ｃ０上にエコー源が存在することが判
る。ただし、上記の円弧Ｃ３は点Ｐ、 管中心とし、エ
コー源ムまでの距離を半径とする円弧である。そして、
その次のステップでは点Ｐ、からの投射ビームによって
前記と同様にして円弧Ｃ１上にエコー源があると判断す
る。これにより、エコー原人の位置は円弧Ｃ１５Ｃ１の
交点として標定される。
探触子（図示せず）を走査して点Ｐ、 、 ｐＨの２
個所から超音波ビームを発射し、受信し九場合、点Ｐ１
からの発射ビームは指向角ａで三角形Ｐ＊ Ｑｓ
Ｓｔ （以下ΔＰＩＱＩ８ｍ と記す）の範囲内（伝
播し、エコー原人で反射して点Ｐ、で受信される。これ
だけではＡ点を標定することはできないが、点Ｐｓ ｔ
−中心とする円弧Ｃ０上にエコー源が存在することが判
る。ただし、上記の円弧Ｃ３は点Ｐ、 管中心とし、エ
コー源ムまでの距離を半径とする円弧である。そして、
その次のステップでは点Ｐ、からの投射ビームによって
前記と同様にして円弧Ｃ１上にエコー源があると判断す
る。これにより、エコー原人の位置は円弧Ｃ１５Ｃ１の
交点として標定される。
ところが、１ｓ４図のように、第１回の検出区域ΔＰｓ
Ｑｔ Ｓ’ｔの範囲外にあるエコー源Ｂが第２回
の検出区域ΔＰｇ Ｑｓ Ｓｍの範囲内に入ると、次
記の理由でエコー源位置の標定が狂わされる。
Ｑｔ Ｓ’ｔの範囲外にあるエコー源Ｂが第２回
の検出区域ΔＰｇ Ｑｓ Ｓｍの範囲内に入ると、次
記の理由でエコー源位置の標定が狂わされる。
点Ｐ、 において超音波の発射・受信をしたときエコー
原人か円弧Ｃ１ｌ上忙ある４のと判断される。
原人か円弧Ｃ１ｌ上忙ある４のと判断される。
次いで点Ｐ、で発射・受信をすると、点ｈｔ−通る円弧
Ｃ１ｌと点ＢＹｔ通る円弧Ｃ□との両方が算出され、前
回の円弧Ｃ□′との交点として点Ａが標定される他に交
点Ｂ′も疑似的なエコー源として検出されてしまう。
Ｃ１ｌと点ＢＹｔ通る円弧Ｃ□との両方が算出され、前
回の円弧Ｃ□′との交点として点Ａが標定される他に交
点Ｂ′も疑似的なエコー源として検出されてしまう。
本発明は上述の事情に鍾みて為され、被検体に大きい凹
凸があって複数個の個所からエコーが受信される場合、
そのエコー源の位置を正確和標定して正しい板厚を高精
度で測定し得る超音波測定方法および同装置を提供する
ことを目的とする。
凸があって複数個の個所からエコーが受信される場合、
そのエコー源の位置を正確和標定して正しい板厚を高精
度で測定し得る超音波測定方法および同装置を提供する
ことを目的とする。
上記の目的を達成するため、本発明は、被検物の表面に
沿って超音波探触子を走査しつつ、走査線上の１個所に
おりる受信エコーと、当皺個所の１乃至数ステップ前の
個所で受信した各エコーとを用い、各ステップにおける
超音波ビームの発射・受信点管中心とし各超音波エコー
伝播距Ｓｔ半径とし九２乃至数個の円弧の交点を求め、
前記超音波探触子の超音波ビームが重畳する範囲内にお
ける円弧の交点をエコー源の位置と判定することを特徴
とする。
沿って超音波探触子を走査しつつ、走査線上の１個所に
おりる受信エコーと、当皺個所の１乃至数ステップ前の
個所で受信した各エコーとを用い、各ステップにおける
超音波ビームの発射・受信点管中心とし各超音波エコー
伝播距Ｓｔ半径とし九２乃至数個の円弧の交点を求め、
前記超音波探触子の超音波ビームが重畳する範囲内にお
ける円弧の交点をエコー源の位置と判定することを特徴
とする。
次に、本発明に係る測定方法の一実施例について説明す
る。前述のごとく、第４図のようにエコー源が２個ある
場合に於いては、点Ｐ、と点Ｐ。
る。前述のごとく、第４図のようにエコー源が２個ある
場合に於いては、点Ｐ、と点Ｐ。
とて超音波を発射・受信して円弧ｃｌｔ Ｉ ｃｕｔ
ｅＣ□を求めただけではエコー−〇位置を確定できない
ので、第５図に示すように更に点Ｐ、で超音波を発射・
受信してエコー源Ａ、Ｂからの反射波を受信し、超音波
の伝播距離を半径とする円弧を求める０本例にお−ては
点Ｐ、からエコー源Ａｔでと同Ｂｔでとがほぼ等距離で
ある丸め、点Ｐ。
ｅＣ□を求めただけではエコー−〇位置を確定できない
ので、第５図に示すように更に点Ｐ、で超音波を発射・
受信してエコー源Ａ、Ｂからの反射波を受信し、超音波
の伝播距離を半径とする円弧を求める０本例にお−ては
点Ｐ、からエコー源Ａｔでと同Ｂｔでとがほぼ等距離で
ある丸め、点Ｐ。
を中、ＣＦとする１個の円弧Ｃ□が得られる。
本実施例では、点Ｐ、で超音波の発射・受信を行った時
点において、その前のステップである点Ｐ１におけるデ
ータと、更にその前のステップである点Ｐ、 Ｋシける
デニタと管用いて次のように判定する。
点において、その前のステップである点Ｐ１におけるデ
ータと、更にその前のステップである点Ｐ、 Ｋシける
デニタと管用いて次のように判定する。
イ）点ＡＫついては、点Ｐｌで投射・受信したときの円
弧Ｃ１１と、点Ｐ、 Ｋおける円弧ＣＷｔと、点ｐ、
Ｋシける円弧Ｃ，１とが一点Ａで交わっている。こめ場
合これｔ真正のエコー源と判定する。
弧Ｃ１１と、点Ｐ、 Ｋおける円弧ＣＷｔと、点ｐ、
Ｋシける円弧Ｃ，１とが一点Ａで交わっている。こめ場
合これｔ真正のエコー源と判定する。
口）点Ｂ′については、点Ｐ、で発射・受信したときの
円弧Ｃ１ｌがこの点を通っていないので、この点Ｂ′は
疑似のエコー源であるシ判定し、この点Ｂ′は採らない
。
円弧Ｃ１ｌがこの点を通っていないので、この点Ｂ′は
疑似のエコー源であるシ判定し、この点Ｂ′は採らない
。
ハ）点ＢＫついては、点ＰＳにおいて発射・受信した際
、点Ｂが点ｐ、 Ｋおける指向角δの範囲外にある為そ
の反射波が受信されていない。これ虻より、点Ｐ、で発
射・受信した時点においては、Ｂ、ｌａＫついて未だ評
価の途中であるとして次のステップまで判定を保留する
。どのステップの段階においてエコー源が真正のものか
否かの判定をするかについては次に述べる。
、点Ｂが点ｐ、 Ｋおける指向角δの範囲外にある為そ
の反射波が受信されていない。これ虻より、点Ｐ、で発
射・受信した時点においては、Ｂ、ｌａＫついて未だ評
価の途中であるとして次のステップまで判定を保留する
。どのステップの段階においてエコー源が真正のものか
否かの判定をするかについては次に述べる。
被検体の表面を走査しつつ順次に超音波の発射とエコー
の受信を行い、１番目のステップで１つのエコーが受信
されて１つの円弧が求められ、次のステップ即ち１千１
番目で受信したエコーによって描いた円弧との交点が、
超音波ビームの拡がシの重複範囲内でＬ個得られ九とし
た場合、最初の１つのエコー源の真Ｉｒ！を確認する丸
めにＦｉｉ＋Ｌ番目のステップまで順次に交点を求めな
ければ述らない。そして１番目からｉ＋Ｌ番目までＬ＋
１回のステップで求めた各円弧が１点で交わったとき、
これを真正のエコー源として判定する。
の受信を行い、１番目のステップで１つのエコーが受信
されて１つの円弧が求められ、次のステップ即ち１千１
番目で受信したエコーによって描いた円弧との交点が、
超音波ビームの拡がシの重複範囲内でＬ個得られ九とし
た場合、最初の１つのエコー源の真Ｉｒ！を確認する丸
めにＦｉｉ＋Ｌ番目のステップまで順次に交点を求めな
ければ述らない。そして１番目からｉ＋Ｌ番目までＬ＋
１回のステップで求めた各円弧が１点で交わったとき、
これを真正のエコー源として判定する。
本実施例は以上のようにして走査線上の１個所における
エコーと、尚該個所の１乃至数ステップ前の個所で受信
した各エコーと會用い、各ステップＩ／ｃシける超音波
ビームの発射・受信点を中心とし各超誉波エコー伝播組
離を半径とした２乃至数個の円弧の交点を求め、前記超
音波探触子が発射した超音波ビームの重畳範囲内にシけ
る円弧の交点ｔエコー源の位置と判定する。
エコーと、尚該個所の１乃至数ステップ前の個所で受信
した各エコーと會用い、各ステップＩ／ｃシける超音波
ビームの発射・受信点を中心とし各超誉波エコー伝播組
離を半径とした２乃至数個の円弧の交点を求め、前記超
音波探触子が発射した超音波ビームの重畳範囲内にシけ
る円弧の交点ｔエコー源の位置と判定する。
上述の測定方法を迅速・容易に行うため、本発明に係る
装置は超音波探触子と、上記の超音波探触子を走査する
手段とｔ備えた超音波厚さ測定装置に於て、上記の超音
波厚さ測定装置に自動演算装置管付設し、この自−動演
算装置は連続した数個所における測定結果を入力されて
上記数個所のそれぞれについて超音波ビームの発射・受
信点を中心としエコー源壕での距離を半径とする数個の
円を解析幾何学的に算定するとともに上記数個の円が一
点で交わる点を算出する機能、並びに上記の算出した交
点が予め与えられた数式の範囲内であるか否かを判定す
る機能を有するものとし、前記の算出し九交点が予め与
えられた数式の範囲内であるときその交点をエコー源と
判定するように構成したこと管特徴とする。
装置は超音波探触子と、上記の超音波探触子を走査する
手段とｔ備えた超音波厚さ測定装置に於て、上記の超音
波厚さ測定装置に自動演算装置管付設し、この自−動演
算装置は連続した数個所における測定結果を入力されて
上記数個所のそれぞれについて超音波ビームの発射・受
信点を中心としエコー源壕での距離を半径とする数個の
円を解析幾何学的に算定するとともに上記数個の円が一
点で交わる点を算出する機能、並びに上記の算出した交
点が予め与えられた数式の範囲内であるか否かを判定す
る機能を有するものとし、前記の算出し九交点が予め与
えられた数式の範囲内であるときその交点をエコー源と
判定するように構成したこと管特徴とする。
次に１本発明に係る装置の一実施例を第６図について説
明する・。
明する・。
超音波−触子２で受信したエコーの波形を表わす電気信
号Ｒは閾値ゲー）４’Ｊ−経て伝播時間検出回路５４ｍ
５１ ・・・５−１に入力される。これらの伝播時間検
出回路により複数個の超音波エコーの伝播時間をそれぞ
れ検出して、その出力信号を次段の位置標定回路６に入
力させる。
号Ｒは閾値ゲー）４’Ｊ−経て伝播時間検出回路５４ｍ
５１ ・・・５−１に入力される。これらの伝播時間検
出回路により複数個の超音波エコーの伝播時間をそれぞ
れ検出して、その出力信号を次段の位置標定回路６に入
力させる。
上記の位置標定回路６は走査位置検出器９から探触子の
走査線上の位置ｘ’ｆ与えられて次式の演算を行う機能
を有するものとする。
走査線上の位置ｘ’ｆ与えられて次式の演算を行う機能
を有するものとする。
ｚ＝（ｔ＋鵞−Ｘ”）”
えにし、Ｘ；−探触子２の走査方向の座標軸（第５図参
照） ２；−被検体１の板厚方向の座標軸（第５図参照） Ｘｌニー １番目のステップ時の探触子２の位置 ム；−１番目のステップ時のエコーの伝播距離 Ｘ；−エコー源位置のＸ座標値 ２；−エコー源位置の２座標値 本実施例は以上のようにして、連続しぇ数哀テップ（ｔ
、ｌ＋１．ｌ＋２・−・−ｉ＋ｎ）Ｋ：おける超音波測
定結果を入力されて上記数ステップにおける超音波発射
・受信点を中心とし工；−源ｔでの距離を半径とする数
個の円を解析幾何学的に算定する七ともに、数個の円を
表わす数個の数式を連立方１式として解くことにより、
上記数個の円の交点を求める機能を有する演算装置を設
ける。
照） ２；−被検体１の板厚方向の座標軸（第５図参照） Ｘｌニー １番目のステップ時の探触子２の位置 ム；−１番目のステップ時のエコーの伝播距離 Ｘ；−エコー源位置のＸ座標値 ２；−エコー源位置の２座標値 本実施例は以上のようにして、連続しぇ数哀テップ（ｔ
、ｌ＋１．ｌ＋２・−・−ｉ＋ｎ）Ｋ：おける超音波測
定結果を入力されて上記数ステップにおける超音波発射
・受信点を中心とし工；−源ｔでの距離を半径とする数
個の円を解析幾何学的に算定する七ともに、数個の円を
表わす数個の数式を連立方１式として解くことにより、
上記数個の円の交点を求める機能を有する演算装置を設
ける。
以上のようにして位置標定回路６で算定し九円の交点管
表わす信号出力を領域限定回路７に入力させるとともに
、指向角δの値と板厚最大調定範囲Ｔとを予め与えであ
る記憶装置１０から上記ａ。
表わす信号出力を領域限定回路７に入力させるとともに
、指向角δの値と板厚最大調定範囲Ｔとを予め与えであ
る記憶装置１０から上記ａ。
Ｔの値を領域限定回路７に入力させ、前記のエコー源位
置（Ｘ、Ｚ）が探触子２の各ステップ（１〜ｉ＋ｎ）Ｋ
シける超音波ビームの拡がりの重畳範囲に入っているか
否かを次のようにして判定する。
置（Ｘ、Ｚ）が探触子２の各ステップ（１〜ｉ＋ｎ）Ｋ
シける超音波ビームの拡がりの重畳範囲に入っているか
否かを次のようにして判定する。
第７図は連続した３ステツプに於てそれぞれ点Ｐ％９点
Ｐ３１点Ｐ、０３点で超音波ビームを発射・受信してエ
コー源Ａｔ標定する方法を示す。
Ｐ３１点Ｐ、０３点で超音波ビームを発射・受信してエ
コー源Ａｔ標定する方法を示す。
この場合はエコー源が１個であるから点Ｐ、 ＫＴｈけ
る超音波ビームの拡が〕の範囲ΔＰ＊ Ｑｔ ８ｔと、
点Ｐ、における拡４、がシの範囲ΔＰｔ Ｑｔ ａｔと
の重畳する範囲、ΔＵｓｔ’Ｑｔ Ｌ内に円の交点Ａが
有るか否かによってエコー源が真正であるか否かを判定
する。
る超音波ビームの拡が〕の範囲ΔＰ＊ Ｑｔ ８ｔと、
点Ｐ、における拡４、がシの範囲ΔＰｔ Ｑｔ ａｔと
の重畳する範囲、ΔＵｓｔ’Ｑｔ Ｌ内に円の交点Ａが
有るか否かによってエコー源が真正であるか否かを判定
する。
一般的に１番目のステップとその次のステップとの超音
波ビームの拡が力の重畳範Ｓｔ−ノＵＱ８で表わす、上
記Ｕ、Ｑ、８各点の座標は、となる、領域限定回路７は
位置標定回路６かも入力された円弧の交点がΔＵＱ８の
範囲内にあればこれを真正のエコー源５劣判定する。
波ビームの拡が力の重畳範Ｓｔ−ノＵＱ８で表わす、上
記Ｕ、Ｑ、８各点の座標は、となる、領域限定回路７は
位置標定回路６かも入力された円弧の交点がΔＵＱ８の
範囲内にあればこれを真正のエコー源５劣判定する。
既述のとと＜、１＊目のステップで受信！た１つのエコ
ーの円弧と、１＋１番目のステップで求められた円弧と
の交点がビーム重畳範囲内に１個有った場合ｔｉｉ ＋
Ｌ番目のステップまで順次に交点１求める。これに従っ
て上記の点Ｕ、Ｑ、８の座標を求める演算を順次に行い
、−テップｌ＋１・・・ステップ１＋Ｌ★で順次にシフ
トしつつ繰返すことにより、円弧の交点が超音波ビーム
の拡がすの重畳範囲ΔＬＩＱＩ９の内にあるか否かを判
定する。
ーの円弧と、１＋１番目のステップで求められた円弧と
の交点がビーム重畳範囲内に１個有った場合ｔｉｉ ＋
Ｌ番目のステップまで順次に交点１求める。これに従っ
て上記の点Ｕ、Ｑ、８の座標を求める演算を順次に行い
、−テップｌ＋１・・・ステップ１＋Ｌ★で順次にシフ
トしつつ繰返すことにより、円弧の交点が超音波ビーム
の拡がすの重畳範囲ΔＬＩＱＩ９の内にあるか否かを判
定する。
本実施例は以上説明したようにして、算出され九円弧の
交点が予め与えられ九数弐によって表わされる区域ΔＵ
Ｑ８ （超音波ビーム重畳間Ｍ）内であ本か否かを判定
する機能を有する自動演算装置を設けである。
交点が予め与えられ九数弐によって表わされる区域ΔＵ
Ｑ８ （超音波ビーム重畳間Ｍ）内であ本か否かを判定
する機能を有する自動演算装置を設けである。
本尭明和係る装置は以上のように構成されていて、超音
波探触子２が受信゛したエコーに基づいて各伝播時間検
出回路ｓ−ｔ ｓ ５−ｔ・・・５０．がエコー源まで
の伝播時間を算出してこれを位置標定回路６に入力する
ので、位置標定回路６は各走査位置を中心とし伝播距離
を半径とする円弧としてエコー源を認識し、かつ複数−
の円弧の交点１求める演算によってエコー源の位置管標
定する。そして領域限定回路７により、記憶装置１０か
ら与えられた数１ＩｉＫ基づいて演算を行−１前記の交
点が真正のエコー源であるか否かｔ判定して、真正のエ
コー源を表示器８によって表示させる。
波探触子２が受信゛したエコーに基づいて各伝播時間検
出回路ｓ−ｔ ｓ ５−ｔ・・・５０．がエコー源まで
の伝播時間を算出してこれを位置標定回路６に入力する
ので、位置標定回路６は各走査位置を中心とし伝播距離
を半径とする円弧としてエコー源を認識し、かつ複数−
の円弧の交点１求める演算によってエコー源の位置管標
定する。そして領域限定回路７により、記憶装置１０か
ら与えられた数１ＩｉＫ基づいて演算を行−１前記の交
点が真正のエコー源であるか否かｔ判定して、真正のエ
コー源を表示器８によって表示させる。
以上説明したように、本発明の超音波測定方法は、走査
線上の１個所における受信エコーと、当該個所の１乃至
数ステップ前の個所で受信、した各エコーとを用い、各
ステップにおける超音波ビームの投射・受信点を中心と
し各超音波エコー伝播距離管半径とした２乃至数個の円
弧の交点を求め、前記超音波探触子の超音波ビームの拡
がｐが重畳する範囲内における円弧の交点ｔエコー源の
位置と判定する仁とにより、被検体に大きい凹凸があっ
て複数個の個所からエコーが受信される場合【、エコー
源の位置を正確に標定して正しい板厚寸法を高精度で測
定する仁とができる。
線上の１個所における受信エコーと、当該個所の１乃至
数ステップ前の個所で受信、した各エコーとを用い、各
ステップにおける超音波ビームの投射・受信点を中心と
し各超音波エコー伝播距離管半径とした２乃至数個の円
弧の交点を求め、前記超音波探触子の超音波ビームの拡
がｐが重畳する範囲内における円弧の交点ｔエコー源の
位置と判定する仁とにより、被検体に大きい凹凸があっ
て複数個の個所からエコーが受信される場合【、エコー
源の位置を正確に標定して正しい板厚寸法を高精度で測
定する仁とができる。
まえ、本発明に係る超音波による板厚測定装置は、超音
波探触子と、上記の超音波探触子を走査する手段とを備
えた超音波厚さ測定装置に於て、上記の超音波厚さ測定
装置に自動演算装置を付設し、この自動演算装置は連続
した数個所における測定結果含入力されて上記数個所の
それぞれについて超音波ビームの発射・受信点を中心と
しエコー源までの距離を半径とする数個の円を解析幾何
学的に算出するとともに上記数個の円が一点で交わる点
を算出する機能、並びに上記の算出し一＃卒点が予め与
えられた数式によって表わされる区域内であるか否かを
判定する機能を有するものとすることにより、前述した
本発明に係る測定方法を迅速、容易に％施してその効果
を発揮することができる。
波探触子と、上記の超音波探触子を走査する手段とを備
えた超音波厚さ測定装置に於て、上記の超音波厚さ測定
装置に自動演算装置を付設し、この自動演算装置は連続
した数個所における測定結果含入力されて上記数個所の
それぞれについて超音波ビームの発射・受信点を中心と
しエコー源までの距離を半径とする数個の円を解析幾何
学的に算出するとともに上記数個の円が一点で交わる点
を算出する機能、並びに上記の算出し一＃卒点が予め与
えられた数式によって表わされる区域内であるか否かを
判定する機能を有するものとすることにより、前述した
本発明に係る測定方法を迅速、容易に％施してその効果
を発揮することができる。
第１図は従来一般に用いられている超音波厚さ測定装置
における作用説明図、第２図は上記厚さ測定装置におけ
る受信波形の図表、第３図および第４図は上記の厚さ測
定装置によるエコー源の検出方法の説明図、第Ｓ図は本
発明方法の一実施例におけるエコー源の検出方法の説明
図、第６図は本発明装置の一実施例におけるブロック図
、第７図は上記実施例の作用説明図である。 １・・・被検体、２ｔ・探触子、３・・・超音波送受信
機、４・・・閾値ゲート、５−１＊５−１〜５−１・・
・伝播時間検出回路、６・・・位置標定回路、７・・・
領域限定回路、δ・・・超音波ビームの指向角、Ｒ，Ｒ
ム、Ｒｍ・・・超音波エコー、Ａ、Ｂ・・・エコー源。 代理人 弁理士 秋本正実 第 １ 図 第 ２０ 寮 ３ 図 シ ↑
における作用説明図、第２図は上記厚さ測定装置におけ
る受信波形の図表、第３図および第４図は上記の厚さ測
定装置によるエコー源の検出方法の説明図、第Ｓ図は本
発明方法の一実施例におけるエコー源の検出方法の説明
図、第６図は本発明装置の一実施例におけるブロック図
、第７図は上記実施例の作用説明図である。 １・・・被検体、２ｔ・探触子、３・・・超音波送受信
機、４・・・閾値ゲート、５−１＊５−１〜５−１・・
・伝播時間検出回路、６・・・位置標定回路、７・・・
領域限定回路、δ・・・超音波ビームの指向角、Ｒ，Ｒ
ム、Ｒｍ・・・超音波エコー、Ａ、Ｂ・・・エコー源。 代理人 弁理士 秋本正実 第 １ 図 第 ２０ 寮 ３ 図 シ ↑
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｔ 被検物の表面に沿って超音波探触子を走査しつつ被
検物Ｏｊｌさ寸法會測定する方法において、走査線上の
１個所における受信エコーと―！！＆諌個所の１乃至数
ステップ前の個所で隻信した各エコーとｔ用い、各ステ
ップにおける超音波ビームの発射・受信点を中心として
超音波エコー伝播距離管半径とした１乃至数個の円弧の
交点を求め、前ｉ超音波探触子が発射する超音波ビーム
の拡が）が重畳する範囲内−おけ′る円弧の交点管エコ
ー源の位置と判定する仁とｔ特徴とする超音波による板
厚側一方法。 ２ 超音波探触子と、上記の超音波探触子を走査する手
段とを備えた超音波厚さ測定装置に於て、上記の超音波
厚さ測定装置に自動演算装置を付設し、この自動演算装
置は連続した数個所におけろ測定結果を入力されて上記
数個所のそれぞれについて超音波ビームの発射φ受信点
管中心としエコー源までの距離を半径とする数個０円を
解析幾何学的に算定する機能、上記数−の円が一点で交
わる点を算出する機能、及び、上記の算出し九交点が予
め与えられた数式によって表わされる区域内であるか否
かを判定する機能を有するものとしたことｔ特徴とする
超音波による板厚測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11634681A JPS5818111A (ja) | 1981-07-27 | 1981-07-27 | 超音波による板厚測定方法及び同装置 |
| GB08220437A GB2104219B (en) | 1981-07-27 | 1982-07-14 | Measuring sizes by means of ultrasonic waves |
| DE19823227640 DE3227640A1 (de) | 1981-07-27 | 1982-07-23 | Verfahren und anordnung zur groessenbestimmung mit ultraschallwellen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11634681A JPS5818111A (ja) | 1981-07-27 | 1981-07-27 | 超音波による板厚測定方法及び同装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5818111A true JPS5818111A (ja) | 1983-02-02 |
Family
ID=14684670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11634681A Pending JPS5818111A (ja) | 1981-07-27 | 1981-07-27 | 超音波による板厚測定方法及び同装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5818111A (ja) |
| DE (1) | DE3227640A1 (ja) |
| GB (1) | GB2104219B (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4951649A (en) * | 1987-02-06 | 1990-08-28 | Katsuyoshi Inouchi | Method and apparatus for heating and generating infrared rays |
| US5044353A (en) * | 1989-06-28 | 1991-09-03 | Shizuoka Seiki Co., Ltd. | Liquid fuel combustion type infrared ray irradiating apparatus |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104019777A (zh) * | 2014-06-13 | 2014-09-03 | 西安热工研究院有限公司 | 汽轮机叶片表面开口裂纹深度的超声测量方法 |
| CN107084654A (zh) * | 2017-03-23 | 2017-08-22 | 西安飞机工业（集团）有限责任公司 | 一种雷达罩静力试验加载点确定方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5242752A (en) * | 1975-10-01 | 1977-04-02 | Furuno Electric Co Ltd | System for measuring relative positions |
| JPS5352188A (en) * | 1976-10-22 | 1978-05-12 | Hitachi Ltd | Ultrasonic inspector |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1575301A (en) * | 1977-02-21 | 1980-09-17 | Emi Ltd | Acoustic imaging techniques |
| US4265121A (en) | 1978-11-13 | 1981-05-05 | Litton Industrial Products, Inc. | High resolution ultrasound diagnostic apparatus |
-
1981
- 1981-07-27 JP JP11634681A patent/JPS5818111A/ja active Pending
-
1982
- 1982-07-14 GB GB08220437A patent/GB2104219B/en not_active Expired
- 1982-07-23 DE DE19823227640 patent/DE3227640A1/de active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5242752A (en) * | 1975-10-01 | 1977-04-02 | Furuno Electric Co Ltd | System for measuring relative positions |
| JPS5352188A (en) * | 1976-10-22 | 1978-05-12 | Hitachi Ltd | Ultrasonic inspector |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4951649A (en) * | 1987-02-06 | 1990-08-28 | Katsuyoshi Inouchi | Method and apparatus for heating and generating infrared rays |
| US5044353A (en) * | 1989-06-28 | 1991-09-03 | Shizuoka Seiki Co., Ltd. | Liquid fuel combustion type infrared ray irradiating apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3227640C2 (ja) | 1987-06-11 |
| GB2104219B (en) | 1985-03-27 |
| GB2104219A (en) | 1983-03-02 |
| DE3227640A1 (de) | 1983-03-10 |
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