JPS5817427A - エレクトロクロミツク素子絞り - Google Patents
エレクトロクロミツク素子絞りInfo
- Publication number
- JPS5817427A JPS5817427A JP56115140A JP11514081A JPS5817427A JP S5817427 A JPS5817427 A JP S5817427A JP 56115140 A JP56115140 A JP 56115140A JP 11514081 A JP11514081 A JP 11514081A JP S5817427 A JPS5817427 A JP S5817427A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrochromic element
- transmittance
- voltage generation
- electrochromic
- point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 42
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 4
- 241000772415 Neovison vison Species 0.000 claims 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract description 5
- 101100220616 Caenorhabditis elegans chk-2 gene Proteins 0.000 abstract 1
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 8
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 6
- 101150043916 Cd52 gene Proteins 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000007086 side reaction Methods 0.000 description 2
- KKEBXNMGHUCPEZ-UHFFFAOYSA-N 4-phenyl-1-(2-sulfanylethyl)imidazolidin-2-one Chemical compound N1C(=O)N(CCS)CC1C1=CC=CC=C1 KKEBXNMGHUCPEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101150076564 MAN2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100269674 Mus musculus Alyref2 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000004042 decolorization Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003446 memory effect Effects 0.000 description 1
- 230000006386 memory function Effects 0.000 description 1
- 230000033116 oxidation-reduction process Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/081—Analogue circuits
- G03B7/085—Analogue circuits for control of aperture
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は透過率制御型エレクトロクロミンク素子絞シに
関する。
関する。
スチルカメラ、シネカメラ又はTVカメラの撮影には動
きのある被写体を撮影することが多く、適正露出設定の
為の自動露出制御機構が不可欠である。
きのある被写体を撮影することが多く、適正露出設定の
為の自動露出制御機構が不可欠である。
従来この用途に使われる絞りとしては殆ど機械的な絞り
が使われて居たが、機械的数シは絞り羽根、駆動モータ
ー等多くの機械部品を要し、構造が複雑となり、占有ス
ペースも大となシ製造、組立が厄介で、コスト高となシ
、設計の自由度も制限され、信頼性も低下する欠点を免
れなかった。
が使われて居たが、機械的数シは絞り羽根、駆動モータ
ー等多くの機械部品を要し、構造が複雑となり、占有ス
ペースも大となシ製造、組立が厄介で、コスト高となシ
、設計の自由度も制限され、信頼性も低下する欠点を免
れなかった。
近来エレクトロクロミック現象即ち1方向に通電するこ
とにニジ酸化還元作用を生じて発色し、通電を断てばそ
の状態を維持してメモリー作用を有すると共に逆方向に
通電することにx9消色して透明に戻シ、シかもその発
色程度が通電量に関係して自由に調節可能となされる現
象を利用したエレクトロクロミック素子が実用化されつ
\あり、これを利用したエレクトロクロミック素子(E
CD)絞シが種々提案されている。
とにニジ酸化還元作用を生じて発色し、通電を断てばそ
の状態を維持してメモリー作用を有すると共に逆方向に
通電することにx9消色して透明に戻シ、シかもその発
色程度が通電量に関係して自由に調節可能となされる現
象を利用したエレクトロクロミック素子が実用化されつ
\あり、これを利用したエレクトロクロミック素子(E
CD)絞シが種々提案されている。
エレクトロクロミック素子絞シには同心円環状の多数の
エレクトロクロミック素子を総て発色させて全閉状態と
なし、内方、cシ順次消色させることにより所望の絞シ
ロ径を設定する面積制御型絞りと、絞シ開口は不変とし
て通電量を制御して透過率を調節して所望の光量絞シ値
を設定する透過率制御型数シの2種類がある。
エレクトロクロミック素子を総て発色させて全閉状態と
なし、内方、cシ順次消色させることにより所望の絞シ
ロ径を設定する面積制御型絞りと、絞シ開口は不変とし
て通電量を制御して透過率を調節して所望の光量絞シ値
を設定する透過率制御型数シの2種類がある。
本発明は後者の透過率制御型エレクトロクロミック素子
絞シに指向されるものである。この種の絞りは機械的数
シに比して構造が簡単で占有スペースも小さく設計の自
由度も大きく、信頼性も大で、EEクロッ機能も単に通
電を遮断するのみで行い得て、極めて便利であシ、軽量
、小型になし得る利点を有するがその反面法の工うな困
難もある。即ち (1) 消色する為に逆方向の通電を要する。
絞シに指向されるものである。この種の絞りは機械的数
シに比して構造が簡単で占有スペースも小さく設計の自
由度も大きく、信頼性も大で、EEクロッ機能も単に通
電を遮断するのみで行い得て、極めて便利であシ、軽量
、小型になし得る利点を有するがその反面法の工うな困
難もある。即ち (1) 消色する為に逆方向の通電を要する。
(2) 透過率を調節する為に通電量を制御しなけれ
ばならない。
ばならない。
(3)過度の通電を行うと副反応を生じて性能の劣化、
寿命の短縮を来たすから、過度の通電を避けなければな
らない。
寿命の短縮を来たすから、過度の通電を避けなければな
らない。
(4)透過率制御型絞りでは単に通電量のみを制御する
だけでは個々のエレクトロクロミック素子の性状にニジ
精密な透過率制御には問題がある。
だけでは個々のエレクトロクロミック素子の性状にニジ
精密な透過率制御には問題がある。
本発明は上述の種々の困難を考慮して正確確実に所望の
絞シ制御を可能となす自動露出制御及び手動絞シ調節を
行う為の透過率制御型エレクトロクロミック素子絞りを
提供することを目的とする。
絞シ制御を可能となす自動露出制御及び手動絞シ調節を
行う為の透過率制御型エレクトロクロミック素子絞りを
提供することを目的とする。
以下に添付図面を参照して本発明の望ましい実施例を説
明する。
明する。
第1図は本発明による絞シをシネカメラに組込んだ1例
を概略的に示す。アフォーカルレンズALを通過した被
写跡光はビームスプリッタ−BSlに、Cり1部上方に
反射されてファインダーFへ、残りの大部分の光は直進
して本発明による透過率制御型エレクトロクロミック素
子絞りECDを通シマスターレン′ズMLを経てビーム
スグリツタ−BS2にニジ1部反射されて被写体光側光
用光電素子Cd51に入射し、残シの大部分の光は直進
してシャッターSを経てフィルム等の受光面F′に入射
される。
を概略的に示す。アフォーカルレンズALを通過した被
写跡光はビームスプリッタ−BSlに、Cり1部上方に
反射されてファインダーFへ、残りの大部分の光は直進
して本発明による透過率制御型エレクトロクロミック素
子絞りECDを通シマスターレン′ズMLを経てビーム
スグリツタ−BS2にニジ1部反射されて被写体光側光
用光電素子Cd51に入射し、残シの大部分の光は直進
してシャッターSを経てフィルム等の受光面F′に入射
される。
受光したcas lの出力信号は本発明による制御回路
CCに与えられ、エレクトロクロミック素子絞りECD
の所望の透過率を設定するのに必要な通電量をECDに
与えて自動霧出制御を行い得ると共に制御回路CCを手
動絞シ設定に切換えることにニジ後述する如<ECDの
対向両面に夫々設けた基準光発光素子LED及びECD
を通してLEDからの基準光を受光してECDの透過率
を検知する透過率検知用光電素子Cd52の出力信号を
利用して、手動にxb設定された所望の絞シ値に合致す
るようにECDの透過率を制御することが出来るように
なっている。更に又この透過率検知用光電素子Ca5z
の出力信号は後述の如く自動露出制御及び手動絞り設定
の何れの場合にもECD保護の為の過度の通電を制限す
る保護回路にも利用されることが出来るのである。
CCに与えられ、エレクトロクロミック素子絞りECD
の所望の透過率を設定するのに必要な通電量をECDに
与えて自動霧出制御を行い得ると共に制御回路CCを手
動絞シ設定に切換えることにニジ後述する如<ECDの
対向両面に夫々設けた基準光発光素子LED及びECD
を通してLEDからの基準光を受光してECDの透過率
を検知する透過率検知用光電素子Cd52の出力信号を
利用して、手動にxb設定された所望の絞シ値に合致す
るようにECDの透過率を制御することが出来るように
なっている。更に又この透過率検知用光電素子Ca5z
の出力信号は後述の如く自動露出制御及び手動絞り設定
の何れの場合にもECD保護の為の過度の通電を制限す
る保護回路にも利用されることが出来るのである。
示す。図示0ECD絞シは1対の透明基板TBI。
TB2と、これらTBI、TB2の内面に夫々設けられ
た対向透明電極TEI、TE2と、TElの内面に′設
けられたエレクトロクロミック物質ECと、TE2とE
Cとの間に介在する電解液ELとを含み、周囲は遮蔽体
SHにより封止されていて、第3図に示すように中央範
囲に必要な絞シロ径EAを規定し、その外側の適所に遮
光膜SFで遮光された基準光発光素子LEDがTBI内
に埋設され、同様にSFで遮光されたECD透過率検知
用光電素子Cd5tがTB2内にLEDに対置されて埋
設されている、必要に応じて点線SBで示すように必要
な口径EAからの光がL E D 1!:Ca52との
対設部分範囲に迷光として侵入しないように遮光体を設
けることが出上述したECDを利用した本発明による透
過率制御型エレクトロクロミック素子絞シの制御回路の
第1の実施例を第4図を参照して説明する。
た対向透明電極TEI、TE2と、TElの内面に′設
けられたエレクトロクロミック物質ECと、TE2とE
Cとの間に介在する電解液ELとを含み、周囲は遮蔽体
SHにより封止されていて、第3図に示すように中央範
囲に必要な絞シロ径EAを規定し、その外側の適所に遮
光膜SFで遮光された基準光発光素子LEDがTBI内
に埋設され、同様にSFで遮光されたECD透過率検知
用光電素子Cd5tがTB2内にLEDに対置されて埋
設されている、必要に応じて点線SBで示すように必要
な口径EAからの光がL E D 1!:Ca52との
対設部分範囲に迷光として侵入しないように遮光体を設
けることが出上述したECDを利用した本発明による透
過率制御型エレクトロクロミック素子絞シの制御回路の
第1の実施例を第4図を参照して説明する。
第4図に示された回路は電源BTと、電源投入スイッチ
SWlと、基準電圧を発生させる分圧抵抗R1+ R2
より成る基準電圧発生回路と、抵抗R8及び可調ボリュ
ームVR1ニジ成り■lを手動調節して手動絞シ設定電
圧を発生させる手動絞シ設定電圧発生回路と、ダイオー
ドDlを介してBTKニジ附勢され、BT遮断後もコン
デンサーC1に蓄積されたエネルギーが消滅する迄附勢
されるようになされたECD透過被写体光を受光する光
電素−7cdSl及び抵抗R6エシ成る光情報電圧発生
回路と、前述の光電素子Cd52及び抵抗R7エシ成シ
、同じ(BT遮断後もC1の蓄積エネルギーが消滅する
迄附勢されるECD透過率検知回路と、AUTO及び手
動MAN切換スイッチSW2を介してMANの時KDt
を介してBTによシ附勢される前述のLEDと、ECD
の1方の電極TElに出力が接続される反転増巾器に形
成された演算増巾器OP2と、ECDの他方の電極TE
2に出力が接続された反転増巾器に形成された演算増巾
器OPIと、OPl及びOF2の増巾率を調節する可調
ボリューム■2とを有し、OF2の負入力端子は抵抗R
4を介して基準電圧発生回路の基準分圧電圧又は手動絞
り設定電圧発生回路の分圧電圧を選択的に与えられるよ
うに紫2にニジ切換えられる如く接続されると共にOP
lの負入力端子も抵抗R6を介して光情報電圧発生回路
の分圧電圧又はECD透過率検知回路の分圧電圧を選択
的に与えられる工うにy2にニジ切換えられる如く接続
されている。OF2の正入力端子は点dに、又OPsの
正入力端子は点Cに接続されている。
SWlと、基準電圧を発生させる分圧抵抗R1+ R2
より成る基準電圧発生回路と、抵抗R8及び可調ボリュ
ームVR1ニジ成り■lを手動調節して手動絞シ設定電
圧を発生させる手動絞シ設定電圧発生回路と、ダイオー
ドDlを介してBTKニジ附勢され、BT遮断後もコン
デンサーC1に蓄積されたエネルギーが消滅する迄附勢
されるようになされたECD透過被写体光を受光する光
電素−7cdSl及び抵抗R6エシ成る光情報電圧発生
回路と、前述の光電素子Cd52及び抵抗R7エシ成シ
、同じ(BT遮断後もC1の蓄積エネルギーが消滅する
迄附勢されるECD透過率検知回路と、AUTO及び手
動MAN切換スイッチSW2を介してMANの時KDt
を介してBTによシ附勢される前述のLEDと、ECD
の1方の電極TElに出力が接続される反転増巾器に形
成された演算増巾器OP2と、ECDの他方の電極TE
2に出力が接続された反転増巾器に形成された演算増巾
器OPIと、OPl及びOF2の増巾率を調節する可調
ボリューム■2とを有し、OF2の負入力端子は抵抗R
4を介して基準電圧発生回路の基準分圧電圧又は手動絞
り設定電圧発生回路の分圧電圧を選択的に与えられるよ
うに紫2にニジ切換えられる如く接続されると共にOP
lの負入力端子も抵抗R6を介して光情報電圧発生回路
の分圧電圧又はECD透過率検知回路の分圧電圧を選択
的に与えられる工うにy2にニジ切換えられる如く接続
されている。OF2の正入力端子は点dに、又OPsの
正入力端子は点Cに接続されている。
ECDの配置はOF2の出力がHレベルで、OPlの出
力レベルがLレベルで点すから点aへ通電される時にE
CDが発色し、逆に点aから点すへ通電される時に消色
するように選ばれている。
力レベルがLレベルで点すから点aへ通電される時にE
CDが発色し、逆に点aから点すへ通電される時に消色
するように選ばれている。
同ECDの通電を遮断してその時のECDの透過率を維
持させるメモリー機能を与える為のEEロック用スイッ
チy8が点aとTE2との間に介装されている。
持させるメモリー機能を与える為のEEロック用スイッ
チy8が点aとTE2との間に介装されている。
上述の工うに構成された第4図の制御回路の作動は次の
通りである。
通りである。
y2をAUTOIIIIに接続した状態テSwlを閉じ
BTK工!0附勢すると、 Rt及びR2の分圧電圧に
より与えられる基準電圧が抵抗R4を介してOF2の負
入力端子へ、叉点CからOPlの正入力端子に与えられ
る。
BTK工!0附勢すると、 Rt及びR2の分圧電圧に
より与えられる基準電圧が抵抗R4を介してOF2の負
入力端子へ、叉点CからOPlの正入力端子に与えられ
る。
同時にDlを介してCIが充電され、この電圧・が光情
報電圧発生回路及びECD透過率検知回路に与えられる
。Cd51とJ6による分圧電圧にLつて与えられる被
写体光情報電圧がR6を介してOPlの負入力端子へ、
叉点dからOF2の正入力端子に与えられる。この時若
し、点dと点Cが同電位であれば点a、b間には電位差
がなく、ECDには通電されないからECDの透過率は
不変に保たれる。。
報電圧発生回路及びECD透過率検知回路に与えられる
。Cd51とJ6による分圧電圧にLつて与えられる被
写体光情報電圧がR6を介してOPlの負入力端子へ、
叉点dからOF2の正入力端子に与えられる。この時若
し、点dと点Cが同電位であれば点a、b間には電位差
がなく、ECDには通電されないからECDの透過率は
不変に保たれる。。
若し、被写体光が明るくなりECDを透過した被写体光
を受光するCd51の受光光量が大となると、Cd51
の抵抗が小さくなるから点dの電位が上昇し、OPIの
出力即ち点aの電位が低下してOF2の出力即ち点すの
電位が上昇するから点すから点aへ向つてECDを通し
て発色通電が行われる。従ってECDの透過率が小さく
な、りCa5tの受光光量が低下するからCaS+の抵
抗が増し、点dの電位は低下し、点Cと同電位になった
時点で通電を停止し、その時のECDの透過率を維持す
る。これが適正露“出〜を規定する。
を受光するCd51の受光光量が大となると、Cd51
の抵抗が小さくなるから点dの電位が上昇し、OPIの
出力即ち点aの電位が低下してOF2の出力即ち点すの
電位が上昇するから点すから点aへ向つてECDを通し
て発色通電が行われる。従ってECDの透過率が小さく
な、りCa5tの受光光量が低下するからCaS+の抵
抗が増し、点dの電位は低下し、点Cと同電位になった
時点で通電を停止し、その時のECDの透過率を維持す
る。これが適正露“出〜を規定する。
VH2を調節すればOPI 、 OF2の増巾率が変化
し点a、b間の電位差を増巾するからECDの発色消色
の速度を調節することが出来る。
し点a、b間の電位差を増巾するからECDの発色消色
の速度を調節することが出来る。
逆に被写体光の明るさが弱くなった場合も同様にして前
述とは反対方向に点aから点すに通電されてECDを消
色させ、点a、bが同電位になった時点で通電を停止し
、自動露出制御を行うのである。
述とは反対方向に点aから点すに通電されてECDを消
色させ、点a、bが同電位になった時点で通電を停止し
、自動露出制御を行うのである。
腑2を手動MANに切換えるとOF2の負入力端子及び
OPlの正入力端子に手動絞シ設定電圧が与えられ、L
EDが附勢されると共にECD透過率検知用Cd52に
よる透過率検知電圧がOPIの負、入力端子及びOF2
の正入力端子に与えられ、■lにニジ手動設定された絞
シ設定電圧と平衡する迄ECDに発色又は消色通電が行
われて絞シを所望値に設定出来る。
OPlの正入力端子に手動絞シ設定電圧が与えられ、L
EDが附勢されると共にECD透過率検知用Cd52に
よる透過率検知電圧がOPIの負、入力端子及びOF2
の正入力端子に与えられ、■lにニジ手動設定された絞
シ設定電圧と平衡する迄ECDに発色又は消色通電が行
われて絞シを所望値に設定出来る。
SNtを開放してBTO附勢を断つと、先ず点f及びg
が接地電位に低下するが、Cd51及びCd52はBT
遮断後もC1の蓄積エネルギーが消滅する迄尚附勢され
ているから、点Cの電位ニジも点dの電位が高く、従っ
て点すから点aへ向ってECDを通して発色通電が行わ
れ、絞り切勺即ちクローズ状態となる。
が接地電位に低下するが、Cd51及びCd52はBT
遮断後もC1の蓄積エネルギーが消滅する迄尚附勢され
ているから、点Cの電位ニジも点dの電位が高く、従っ
て点すから点aへ向ってECDを通して発色通電が行わ
れ、絞り切勺即ちクローズ状態となる。
SA/aを開放すれば透過率が変化しないメモリー状態
にロックされる。
にロックされる。
第5図はECDの過度の通電を阻止してECDの副反応
を防止し寿命を長く保たせる為の保護回路を組込んだ本
発明の第2の実施例を示す。
を防止し寿命を長く保たせる為の保護回路を組込んだ本
発明の第2の実施例を示す。
全体的には第4図のものと実質的に同様であるが、LE
Dはy2にょシ接断されずに常時33 Tis”ONの
間附勢される工うになっていて、その代シに自Sl及び
R6の分圧電圧による光情報電圧又はCdS aびR7
の分圧電圧によるECD透過率検知電圧がSW2にニジ
選択的に切換えられて点eに与えられるようになってい
る。
Dはy2にょシ接断されずに常時33 Tis”ONの
間附勢される工うになっていて、その代シに自Sl及び
R6の分圧電圧による光情報電圧又はCdS aびR7
の分圧電圧によるECD透過率検知電圧がSW2にニジ
選択的に切換えられて点eに与えられるようになってい
る。
点eFiEcD透過率下限値設定基準電圧VReflが
負入力端子に接続されているコンパレーターCOMP1
の、正入力端子存びECD透過率上限値設定基準電圧V
Ref2が負入力端子に接続されているコンパレーター
COMP2の正入力端子に接続され、00MP+の出力
はアナログスイッチSW4の制御端子に入力され、00
MP+の出力がHレベルの時にy4がONL、Lレベル
の時にOFFする工うになっている、 又COMP2の出力はアナログスイッチSW5の制御端
子に入力され、出力がHレベルの時SW5がOFFされ
、Lレベルの時にSW5がONするようになっている。
負入力端子に接続されているコンパレーターCOMP1
の、正入力端子存びECD透過率上限値設定基準電圧V
Ref2が負入力端子に接続されているコンパレーター
COMP2の正入力端子に接続され、00MP+の出力
はアナログスイッチSW4の制御端子に入力され、00
MP+の出力がHレベルの時にy4がONL、Lレベル
の時にOFFする工うになっている、 又COMP2の出力はアナログスイッチSW5の制御端
子に入力され、出力がHレベルの時SW5がOFFされ
、Lレベルの時にSW5がONするようになっている。
EWaの1方の端子はDtを介してBTの正側に接続さ
れ、他方の端子はNPN型トランジスターTR1のコレ
クターに接続され、TR1のエミッターはPNP型トラ
ンジスターTR2のエミッターに接続され、TR2のコ
レクターはBTの負側に接続され、TRI 、 TR2
のベースがOF2の出力に接続されると共にエミッター
が共にECDの1方の電極TE+に接続されている。
れ、他方の端子はNPN型トランジスターTR1のコレ
クターに接続され、TR1のエミッターはPNP型トラ
ンジスターTR2のエミッターに接続され、TR2のコ
レクターはBTの負側に接続され、TRI 、 TR2
のベースがOF2の出力に接続されると共にエミッター
が共にECDの1方の電極TE+に接続されている。
同様にしてSWsの1方の端子はDlを介してBTの正
側に接続され、他方の端子はNPN型トランジスターT
Rsのコレクターに接続され、TRaのエミッターはP
NP型トランジスターTR4のエミッターに接続され、
TR4のコレクターがBTの負側に接続されている。T
Rs及びTR4のベースは共にOPIの出力に接続され
、エミッターは共に5lili/sを介してECDの他
方の電極TE2に接続されている。
側に接続され、他方の端子はNPN型トランジスターT
Rsのコレクターに接続され、TRaのエミッターはP
NP型トランジスターTR4のエミッターに接続され、
TR4のコレクターがBTの負側に接続されている。T
Rs及びTR4のベースは共にOPIの出力に接続され
、エミッターは共に5lili/sを介してECDの他
方の電極TE2に接続されている。
点dに於ける電位がVReft及びVRe f 2の間
にあれば第4図の制御回路と全く同様にCOMP、及び
COMP2の出カニニジ!g1v4,5wl5カ共に0
NCD状態に保たれて発色、消色通電が可能で自動露出
制御及び手動絞り設定を行い得るが、若し発色通電が著
しく進んで点dの電位がVReftよりも低くなるとC
OMPIの出力がLレベルとなってSw4がOFFされ
てTRI b−圧D a TR4を経て行われる
発色通電が禁止され、過度の発色を防止し、y6はCO
MP2Q出力カL v ヘA、 テSWs カONに保
たれているからTRs a E)::D b
TR4を通る消色通電は可能の状態に保たれる。
にあれば第4図の制御回路と全く同様にCOMP、及び
COMP2の出カニニジ!g1v4,5wl5カ共に0
NCD状態に保たれて発色、消色通電が可能で自動露出
制御及び手動絞り設定を行い得るが、若し発色通電が著
しく進んで点dの電位がVReftよりも低くなるとC
OMPIの出力がLレベルとなってSw4がOFFされ
てTRI b−圧D a TR4を経て行われる
発色通電が禁止され、過度の発色を防止し、y6はCO
MP2Q出力カL v ヘA、 テSWs カONに保
たれているからTRs a E)::D b
TR4を通る消色通電は可能の状態に保たれる。
逆に過度に消色が行われようとする時に点dの電位がV
Re f 2ニジも高く々ると今度はCOMP2の出力
がHレベルとなってEWsがOFFされ、消色通電が禁
止され、発色通電のみ可能の状態となされてECDの保
護が行われる。
Re f 2ニジも高く々ると今度はCOMP2の出力
がHレベルとなってEWsがOFFされ、消色通電が禁
止され、発色通電のみ可能の状態となされてECDの保
護が行われる。
第1図は本発明によるECD絞シをシネカメラに適用し
た場合の説明図。 第2図は本発明にょるECD絞シの断面図。 第3図は第2図0ECD絞シの正面図。 第4図は本発明のE′CD絞シの制御回路の第1の実施
例の回路図。 第5図は制御回路の第2の実施例の回路図。 ECD・・・・・・・・・・・・エレクトロクロミック
素袴シLED・・・・・・・・・・・・基準光発光素子
CC・・・・・・・・・・・・・・・制御回路C(IS
1*Cd5g・・・・・・光電素子TEI @TE2・
・・・・・・・・電極BT・・・・・・・・・・・・・
・・電源SWt・・・・・・・・・・・・・・・電源ス
ィッチy2・・・・・・・・・・・・・・・自動露出制
御及び手動絞シ設定切換スイッチ SWs・・・・・・・・・・・・・・・EEロック用ス
イッチCI・・・……………コンデンサー D1・・・・・・・・・・・・・・・・・・ダイオード
VRII■2・・・・・・・・・可調ボリュームOP1
.OP2・・・・・・・・・反転増巾器に形成された演
算増巾器 EJN4 # sw5・・・・・・・・・アナログスイ
ッチCOMP1.COMP2 ・・・・・・コンパレ
ーターTR1=TR4・・・・・・・・・トランジスタ
ー特許出願人 株式会社 コバル
た場合の説明図。 第2図は本発明にょるECD絞シの断面図。 第3図は第2図0ECD絞シの正面図。 第4図は本発明のE′CD絞シの制御回路の第1の実施
例の回路図。 第5図は制御回路の第2の実施例の回路図。 ECD・・・・・・・・・・・・エレクトロクロミック
素袴シLED・・・・・・・・・・・・基準光発光素子
CC・・・・・・・・・・・・・・・制御回路C(IS
1*Cd5g・・・・・・光電素子TEI @TE2・
・・・・・・・・電極BT・・・・・・・・・・・・・
・・電源SWt・・・・・・・・・・・・・・・電源ス
ィッチy2・・・・・・・・・・・・・・・自動露出制
御及び手動絞シ設定切換スイッチ SWs・・・・・・・・・・・・・・・EEロック用ス
イッチCI・・・……………コンデンサー D1・・・・・・・・・・・・・・・・・・ダイオード
VRII■2・・・・・・・・・可調ボリュームOP1
.OP2・・・・・・・・・反転増巾器に形成された演
算増巾器 EJN4 # sw5・・・・・・・・・アナログスイ
ッチCOMP1.COMP2 ・・・・・・コンパレ
ーターTR1=TR4・・・・・・・・・トランジスタ
ー特許出願人 株式会社 コバル
Claims (2)
- (1)電源投入にニジ附勢される基準電圧発生回路及び
手動設定電圧発生回路と、電源投入にニジダイオードを
介して附勢されると共に電源遮断後もコンデンサー蓄積
エネルギーの消滅する間附勢されるLうになしたエレク
トロクロミック素子を通過した被写体光を受光する光電
素子を含む光情報電圧発生回路及びエレクトロクロミッ
ク素子の対向両面に夫々配置される基準光発生素子及び
これにニジ発生されてエレクトロクロミンク素子を通過
した光を受光するエレクトロクロミック素子透過率測定
用光電素子を含むエレクトロクロミック素子透過率検知
回路と、エレクトロクロミック素子の対向電極の1方に
与えられる基準電圧発生回路又は手動設定電圧発生回路
の電位を前記対向電極の他方に与えられる光情報電圧発
生回路又はエレクトロクロミ・ツク素子透過率検知回路
の電位と比較して前者が後者ニジ高い時にはエレクトロ
クロミック素子を消色させ、前者が後者Lシ低い時には
エレクトロクロミック素子を発色させる方向に通電を行
わせて両者の差が零になる迄エレクトロクロミック素子
の透過率を変化させる平衡化回路とを含むことを特徴と
する透過率制御型エレクトロクロミック素子絞シ。 - (2) 電源投入にニジ附勢される基準電圧発生回路
及び手動設定電圧発生回路と、電源投入によシダイオー
ドを介して附勢されると共に電源遮断後もコンデンサー
蓄積エネルギーの消滅する間附勢される工うになしたエ
レクトロクロミック素子を通過した被写体光を受光する
光電素子を含む光情報電圧発生回路及びエレクトロクロ
ミック素子の対向両面に夫々配置される基準光発生素子
及びこれにニジ発生されてエレクトロクロミック素子を
通過した光を受光するエレクトロクロミック素子透過率
測定用光電素子を含むエレクトロクロミック素子透過率
検知回路と、エレクトロクロミック素子の対向電極の1
方に与えられる基準電圧発生回路又は手動設定電圧発生
回路の電位を前記対向電極の他方に与えられる光情報電
圧発生回路又はエレクトロクロミック素子透過率検知回
路の電位と比較して前者が後者ニジ高い時にはエレクト
ロクロミック素子を消色させ、前者が後者、cシ低い時
にはエレクトロクロミック素子を発色させる方向に通電
を行わせて両者の差が零になる迄エレクトロクロミック
素子の透過率を変化させる平衡化回路とを含むと共に更
に前記エレクトロクロミック素子透過率検知回路の電位
をエレクトロクロミック素子透過率の上限及び下限値設
定基準電位と比較してエレクトロクロミック素子通電量
を制限する通電量制限比較回路を設けたことを特徴とす
る透過率制御型エレクトロクロミック素子絞シ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56115140A JPS5817427A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | エレクトロクロミツク素子絞り |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56115140A JPS5817427A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | エレクトロクロミツク素子絞り |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5817427A true JPS5817427A (ja) | 1983-02-01 |
Family
ID=14655273
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56115140A Pending JPS5817427A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | エレクトロクロミツク素子絞り |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5817427A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6093886A (ja) * | 1983-10-27 | 1985-05-25 | Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency | 撮像装置 |
US5332479A (en) * | 1991-05-17 | 1994-07-26 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Biosensor and method of quantitative analysis using the same |
WO2012128179A1 (ja) * | 2011-03-22 | 2012-09-27 | 富士フイルム株式会社 | レンズ装置及びその制御方法 |
KR20130111890A (ko) * | 2012-04-02 | 2013-10-11 | 삼성전자주식회사 | 셔터 조립체 및 이를 구비한 촬영 장치 |
KR20140009761A (ko) * | 2012-07-13 | 2014-01-23 | 삼성전자주식회사 | 셔터 구동 시스템과 이를 포함하는 카메라 장치 및 카메라 구동 방법 |
KR20140089852A (ko) * | 2013-01-07 | 2014-07-16 | 삼성전자주식회사 | 개구 조절 방법 및 개구 조절 장치 |
JP2017219781A (ja) * | 2016-06-10 | 2017-12-14 | 株式会社リコー | 調光システム、調光方法、プログラム及び表示装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4938237B1 (ja) * | 1969-06-11 | 1974-10-16 | ||
JPS5557829A (en) * | 1978-10-25 | 1980-04-30 | Fuji Photo Optical Co Ltd | Manual servo control unit of iris |
-
1981
- 1981-07-24 JP JP56115140A patent/JPS5817427A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4938237B1 (ja) * | 1969-06-11 | 1974-10-16 | ||
JPS5557829A (en) * | 1978-10-25 | 1980-04-30 | Fuji Photo Optical Co Ltd | Manual servo control unit of iris |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6093886A (ja) * | 1983-10-27 | 1985-05-25 | Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency | 撮像装置 |
US5332479A (en) * | 1991-05-17 | 1994-07-26 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Biosensor and method of quantitative analysis using the same |
US5382346A (en) * | 1991-05-17 | 1995-01-17 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Biosensor and method of quantitative analysis using the same |
US5496453A (en) * | 1991-05-17 | 1996-03-05 | Kyoto Daiichi Kagaku Co., Ltd. | Biosensor and method of quantitative analysis using the same |
WO2012128179A1 (ja) * | 2011-03-22 | 2012-09-27 | 富士フイルム株式会社 | レンズ装置及びその制御方法 |
JPWO2012128179A1 (ja) * | 2011-03-22 | 2014-07-24 | 富士フイルム株式会社 | レンズ装置及びその制御方法 |
JP5816679B2 (ja) * | 2011-03-22 | 2015-11-18 | 富士フイルム株式会社 | レンズ装置及びその制御方法 |
KR20130111890A (ko) * | 2012-04-02 | 2013-10-11 | 삼성전자주식회사 | 셔터 조립체 및 이를 구비한 촬영 장치 |
KR20140009761A (ko) * | 2012-07-13 | 2014-01-23 | 삼성전자주식회사 | 셔터 구동 시스템과 이를 포함하는 카메라 장치 및 카메라 구동 방법 |
KR20140089852A (ko) * | 2013-01-07 | 2014-07-16 | 삼성전자주식회사 | 개구 조절 방법 및 개구 조절 장치 |
JP2017219781A (ja) * | 2016-06-10 | 2017-12-14 | 株式会社リコー | 調光システム、調光方法、プログラム及び表示装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS5817427A (ja) | エレクトロクロミツク素子絞り | |
US4015149A (en) | Temperature compensating device for devices having semiconductors | |
US3611894A (en) | Automatic exposure control system | |
US4526454A (en) | Camera having solid state diaphragm device | |
US4193677A (en) | Warning circuit in an auto-controlled flashlight photographing device | |
US4275953A (en) | Exposure parameter information generating circuit in a single lens reflex camera | |
US4232955A (en) | Memory locking means of an exposure control circuit for a camera | |
US4037234A (en) | Exposure control system stabilized against temperature variation | |
US4717936A (en) | Display device for camera | |
US4269490A (en) | Programmed shutter gamma switching circuit | |
US3545870A (en) | Photometric apparatus incorporating light responsive transistorized switching circuit | |
JPS58120225A (ja) | カメラ | |
US4092653A (en) | Mirror movement disable circuit for led display in light finder of slr camera | |
US4630917A (en) | Exposure control device of a camera | |
US3964076A (en) | Shutter speed display devices for electric shutter operating circuits | |
US4475803A (en) | Light measuring device for camera | |
US3768386A (en) | Exposure determining device | |
US3076397A (en) | Automatic camera | |
US4143954A (en) | Light emitting indicator for a camera | |
US4331401A (en) | Exposure control system for a photographic camera | |
US4367022A (en) | Exposure control circuit for camera of TTL reflective photometry type | |
US3827066A (en) | Memory type exposure control system | |
JPS62123434A (ja) | カメラのフアインダ− | |
US3741087A (en) | Electric shutter exposure time control circuit having counter light compensation | |
JPS5922496Y2 (ja) | カメラの測光回路 |