JPS58150856A - 金属材料中の介在物量測定法 - Google Patents
金属材料中の介在物量測定法Info
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- JPS58150856A JPS58150856A JP57032364A JP3236482A JPS58150856A JP S58150856 A JPS58150856 A JP S58150856A JP 57032364 A JP57032364 A JP 57032364A JP 3236482 A JP3236482 A JP 3236482A JP S58150856 A JPS58150856 A JP S58150856A
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- JP
- Japan
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- metal material
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- wave
- amount
- sensor
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は金属中に存在する介在物量及びラミネーシコン
量の測定方法に＋ＩＩＬ、特に、板厚方向に介在物がほ
ぼ均質に分布している場合に好適な介在物の測定方法に
関する。
量の測定方法に＋ＩＩＬ、特に、板厚方向に介在物がほ
ぼ均質に分布している場合に好適な介在物の測定方法に
関する。
従来の金属材料の介在物及び介在物による材料の劣化に
ついての測定方法としては超音波による底面エコの回数
を利用することが多い。すなわち、感度基準片の人工傷
で感度を規定して、欠陥による減衰に関係がある底面波
反射回ｉｊ！ｉｎと板厚方向の剥離に対する強さを求め
た研究がある。この結果を嬉１図に示す。介在物があり
、ｄｄｉからの反射回数の少なくなるもの強度が低下す
ることが判る。しかし、この方法は超音波の進行方向く
対し、垂直方向の介在物しか測定出来ず、しかも、第１
図に示す如くばらつき範囲が大きくなるという欠点を有
する。
ついての測定方法としては超音波による底面エコの回数
を利用することが多い。すなわち、感度基準片の人工傷
で感度を規定して、欠陥による減衰に関係がある底面波
反射回ｉｊ！ｉｎと板厚方向の剥離に対する強さを求め
た研究がある。この結果を嬉１図に示す。介在物があり
、ｄｄｉからの反射回数の少なくなるもの強度が低下す
ることが判る。しかし、この方法は超音波の進行方向く
対し、垂直方向の介在物しか測定出来ず、しかも、第１
図に示す如くばらつき範囲が大きくなるという欠点を有
する。
父、４２図に示すごとく擬似ＡＥ波の伝搬適度の変化か
ら介在物の量及び配向性を評価する方法がある。この方
法はよく介在物の歇及び配向性をよく評価出来るが、′
８３図に示す如く、受信波形が４１雑となり、音速をｄ
ｉＪ定する場合に種々な工夫が必要である。つまり、ど
の波形で音速を測定するか、測定波形のレベルをどの程
度にするかという問題があり、測定結果の判定に際し熟
練を要するという欠点がある。
ら介在物の量及び配向性を評価する方法がある。この方
法はよく介在物の歇及び配向性をよく評価出来るが、′
８３図に示す如く、受信波形が４１雑となり、音速をｄ
ｉＪ定する場合に種々な工夫が必要である。つまり、ど
の波形で音速を測定するか、測定波形のレベルをどの程
度にするかという問題があり、測定結果の判定に際し熟
練を要するという欠点がある。
更、縦波及び横波の音速変化を利用して材料の劣化を測
定する方法がめるが、この方法は材料の劣化が材料の弾
性定数が変化することに基づ＾ているうしかし、第４図
に示すように金属中の介在物の置及び配向が変化しても
、弾性定数が変化するとは限らず、＊Ｉ２Ｉ及び横波の
音速変化を利用する方法でも介在物の量及び配向性’ｋ
ｔＦ価出来ないと云う欠点を有する。
定する方法がめるが、この方法は材料の劣化が材料の弾
性定数が変化することに基づ＾ているうしかし、第４図
に示すように金属中の介在物の置及び配向が変化しても
、弾性定数が変化するとは限らず、＊Ｉ２Ｉ及び横波の
音速変化を利用する方法でも介在物の量及び配向性’ｋ
ｔＦ価出来ないと云う欠点を有する。
本発明の目的は上記の欠点に鑑み、金属材料中の介在物
の瀘及び配向性を精度よく短時間に測定出来る金属材料
中の介在吻測足方法を提供することにある。
の瀘及び配向性を精度よく短時間に測定出来る金属材料
中の介在吻測足方法を提供することにある。
不発明により上記の目的は、金属材料の強度は介在物の
瀘及び配向性に依存し、介在物量及び介在物の配向量の
増大により、材料中を伝播する表面波及び板波の伝播の
変化としてとらえられるので、伝播速度を測定すること
により材料の介在物の臆及び配向量測定することにより
達成される。
瀘及び配向性に依存し、介在物量及び介在物の配向量の
増大により、材料中を伝播する表面波及び板波の伝播の
変化としてとらえられるので、伝播速度を測定すること
により材料の介在物の臆及び配向量測定することにより
達成される。
実施−を説明する前に不発明の基本原理について説明す
る。材料を伝播するＡＥ波は材料の板が薄いと板波にな
り、材料が厚い４槍にはｔ１面波となる。
る。材料を伝播するＡＥ波は材料の板が薄いと板波にな
り、材料が厚い４槍にはｔ１面波となる。
又、材料中に介在署が存在すると介在物間距離の減少し
見掛上の板厚が減少する。さらには介在物と材料表面、
介在１と介在１間での音波の多産反射により群速度によ
る音波の伝搬、音波の共−周波数が変化し、伝播速度が
変化することになる。
見掛上の板厚が減少する。さらには介在物と材料表面、
介在１と介在１間での音波の多産反射により群速度によ
る音波の伝搬、音波の共−周波数が変化し、伝播速度が
変化することになる。
従って金属材料中の介在物の量及び配向性を評価するに
は、擬似ＡＥＩでなく、表面波あるいは板波の材料中の
伝播速度を把握すればよいことＫする。
は、擬似ＡＥＩでなく、表面波あるいは板波の材料中の
伝播速度を把握すればよいことＫする。
そこで本発明は、予め小試験片にて介在物量及び配向性
を変えた場合の表面波及び板波の伝播適度を測定し、こ
の伝播速度と介在物の配向量の関係を−ぺておく１次に
、実物材料の伝播速度を測定し小試験片の結果と対比す
ることにより、介在物の量及び配向量を評価できる。
を変えた場合の表面波及び板波の伝播適度を測定し、こ
の伝播速度と介在物の配向量の関係を−ぺておく１次に
、実物材料の伝播速度を測定し小試験片の結果と対比す
ることにより、介在物の量及び配向量を評価できる。
以Ｆ１本発明の一実施例を７１５図により親−する。金
属材料１に送信センｔ２が項付けである。
属材料１に送信センｔ２が項付けである。
この送信用センサ２はパルス発生器からの信号を受けて
ＩＭ〜１０ＭＨｇで揚−し、材料ＩＫｆ波つまり表面波
あるいは板波を発生する１発生し九音波は金属材料１中
に存在する介在−３の影響を受けて伝播し、受信用セン
サ４に到着する。送信センサ１及び舜信−ンナ４はブラ
ウン管オツａ墨に接続されており、伝播時間ｔが測定さ
れる。従って、送信センサｌと受信センサ４の距離Ｌ１
から音速をＣとするとＣ＝Ｌ１／ｌ となることによ
って求められるう ｆｓ６図は本発明による測定結果の例であり、ジルコニ
ウム合金中に介在する水素化物量及び配向量と音速Ｃの
関係を示したもので、音速は水素化物量及び配向量の増
加につれて増加している。従って、音速の変化から精度
よく介在物量が求められることになる。又、第６図中に
示すように介在物量と強度の関係を小試験片によって把
握しておけば、音速の変化から強度を評価することがで
きるつ 第７図は本発明の一実施例を説明するもので第５図に示
し先方法に測定するが、材料及びセンサを水浸し、セン
ナを材料に必ずしも接触する必要のないようＫしたもの
で、測定する材料の表面性状の悪いものに道する方法で
あろう 本発明によれば介在物を含む金属材料中を伝播する表面
波あるいは板厚の薄い材料では板波の伝播速度を測定す
ることにより、金属材料中の介在物量を精度よく短時間
に測定出来、しかも、音速を測定するので模擬試験体−
を用いて信号のゲイン調整等を行なう手間が省けるとい
う効果がある、又、超音波装置は数多く重版されており
、価格もＡＥ！１置に比べ１／１０と安く、測定経費ｄ
節減が図れるとともに、音速測定精度を数段あげる効果
がある。
ＩＭ〜１０ＭＨｇで揚−し、材料ＩＫｆ波つまり表面波
あるいは板波を発生する１発生し九音波は金属材料１中
に存在する介在−３の影響を受けて伝播し、受信用セン
サ４に到着する。送信センサ１及び舜信−ンナ４はブラ
ウン管オツａ墨に接続されており、伝播時間ｔが測定さ
れる。従って、送信センサｌと受信センサ４の距離Ｌ１
から音速をＣとするとＣ＝Ｌ１／ｌ となることによ
って求められるう ｆｓ６図は本発明による測定結果の例であり、ジルコニ
ウム合金中に介在する水素化物量及び配向量と音速Ｃの
関係を示したもので、音速は水素化物量及び配向量の増
加につれて増加している。従って、音速の変化から精度
よく介在物量が求められることになる。又、第６図中に
示すように介在物量と強度の関係を小試験片によって把
握しておけば、音速の変化から強度を評価することがで
きるつ 第７図は本発明の一実施例を説明するもので第５図に示
し先方法に測定するが、材料及びセンサを水浸し、セン
ナを材料に必ずしも接触する必要のないようＫしたもの
で、測定する材料の表面性状の悪いものに道する方法で
あろう 本発明によれば介在物を含む金属材料中を伝播する表面
波あるいは板厚の薄い材料では板波の伝播速度を測定す
ることにより、金属材料中の介在物量を精度よく短時間
に測定出来、しかも、音速を測定するので模擬試験体−
を用いて信号のゲイン調整等を行なう手間が省けるとい
う効果がある、又、超音波装置は数多く重版されており
、価格もＡＥ！１置に比べ１／１０と安く、測定経費ｄ
節減が図れるとともに、音速測定精度を数段あげる効果
がある。
第１図は底面エコーによる介在物測定例を示す図、第２
図は擬似ＡＥ波による介在物量の欄定例を示す図、第３
図はＡＥ波形図、第４図は介在物量と弾性定数の関係を
示す図、第５図は本発明の一実施例１ｉｇ明図、第６図
は本発明による介在物量と音速の関係を示す図、第７図
は本発明の詳細な説明図である。 ｌ・・・送信センサ、２・・・介在−，４・・・受信セ
ンサ、竿１図 扉面エコ反１１１：ｒ回散 竿２図 乍嵯１Ｃ＼り 竿４図 Ｖｆ、−拶ｌ （″Ｌ当賦り 算５目 蓼Ｇ図
図は擬似ＡＥ波による介在物量の欄定例を示す図、第３
図はＡＥ波形図、第４図は介在物量と弾性定数の関係を
示す図、第５図は本発明の一実施例１ｉｇ明図、第６図
は本発明による介在物量と音速の関係を示す図、第７図
は本発明の詳細な説明図である。 ｌ・・・送信センサ、２・・・介在−，４・・・受信セ
ンサ、竿１図 扉面エコ反１１１：ｒ回散 竿２図 乍嵯１Ｃ＼り 竿４図 Ｖｆ、−拶ｌ （″Ｌ当賦り 算５目 蓼Ｇ図
Claims (1)
- １、一般忙用いられてｈる金属材料中の介在物置の測定
において、材料に表面波および板波を与え、表面波及び
板波が金属材料中を伝播する速度を検出し、金属材料の
伝播速度の変化から金属材料中の介在物量を定量的に評
価することを特徴とする金属材料中の介在物量測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57032364A JPS58150856A (ja) | 1982-03-03 | 1982-03-03 | 金属材料中の介在物量測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57032364A JPS58150856A (ja) | 1982-03-03 | 1982-03-03 | 金属材料中の介在物量測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58150856A true JPS58150856A (ja) | 1983-09-07 |
Family
ID=12356891
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57032364A Pending JPS58150856A (ja) | 1982-03-03 | 1982-03-03 | 金属材料中の介在物量測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58150856A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62277554A (ja) * | 1986-05-27 | 1987-12-02 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波による表面硬化層深さの測定方法 |
| EP0273395A2 (en) * | 1986-12-26 | 1988-07-06 | Fujitsu Limited | Method for measuring lattice defects in a semiconductor |
| JP2014025716A (ja) * | 2012-07-24 | 2014-02-06 | Nuclear Fuel Ind Ltd | ミクロ組織の識別および定量評価方法 |
-
1982
- 1982-03-03 JP JP57032364A patent/JPS58150856A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62277554A (ja) * | 1986-05-27 | 1987-12-02 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波による表面硬化層深さの測定方法 |
| EP0273395A2 (en) * | 1986-12-26 | 1988-07-06 | Fujitsu Limited | Method for measuring lattice defects in a semiconductor |
| JP2014025716A (ja) * | 2012-07-24 | 2014-02-06 | Nuclear Fuel Ind Ltd | ミクロ組織の識別および定量評価方法 |
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