JPS5814987B2 - 蒸着フイルムコンデンサのセルフヒ−リング作用測定装置 - Google Patents

蒸着フイルムコンデンサのセルフヒ−リング作用測定装置

Info

Publication number
JPS5814987B2
JPS5814987B2 JP52123007A JP12300777A JPS5814987B2 JP S5814987 B2 JPS5814987 B2 JP S5814987B2 JP 52123007 A JP52123007 A JP 52123007A JP 12300777 A JP12300777 A JP 12300777A JP S5814987 B2 JPS5814987 B2 JP S5814987B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
self
deposited film
measuring device
vapor
corona discharge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP52123007A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5457158A (en
Inventor
宮下博
今関義弘
増田暢道
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP52123007A priority Critical patent/JPS5814987B2/ja
Publication of JPS5457158A publication Critical patent/JPS5457158A/ja
Publication of JPS5814987B2 publication Critical patent/JPS5814987B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は蒸着フィルムコンデンサに固有のセルフヒーリ
ング作用を測定するための装置に関する。
コンデンサの誘電体を構成するものとして多種類のもの
が実用に供されている。
その1つとして誘電特性の優れたプラスチックフィルム
を誘電体とするものがあり、通常蒸着フィルムコンデン
サと呼ばれている。
この蒸着フィルムは極めて薄い膜からなるため、該膜内
にピンホール等が存在すると当該部分で絶縁破壊を生じ
所期の特性が十分得られない。
然し、蒸着フィルムにおいて、前記のピンホール等の存
在が不可避である反面、この蒸着フィルムに固有のセル
フヒーリング作用があるため、結果的に前記ピンホール
等の存在による特性の低下が十分に回避される。
このセルフヒーリング作用は、ピンホール等を自からつ
ぶして自己回復可能な作用であり、製品化前の蒸着フィ
ルムコンデンサに所定の電圧をある期間印加することに
より、該セルフヒーリング作用を発揮させることができ
る。
このセルフヒーリング作用が発揮されたか否かを検査す
るのが、セルフヒーリング作用の測定装置である。
この測定装置による測定結果は、蒸着フィルムコンデン
サの安定化条件を設定するための目安となり、また品質
評価(絶縁特性)の尺度となる。
従来、前記の測定装置は、メモリスコープあるいはヒー
リングカウンタを用いたものしがなかった。
然しなから、これら従来の測定装置では検出感度が低い
上、セルフヒーリング作用の分析に必要な印加電圧−印
加時間特性を正確に記録することが困難であった。
従って本発明は、上記の困難を排除し検出感度が高く且
つ印加電圧−印加時間特性を正確に記録することのでき
る新規なセルフヒーリング作用測定装置を提供すること
を目的とするものである。
上記目的を達成するため本発明は、コロナ放電量を検出
する手段およびこれに接続するX−Yレコーダによりセ
ルフヒーリング作用測定装置を構成することを特徴とす
るものである。
以下図面に従って本発明を説明する。
第1図は従来のセルフヒーリング作用測定装置を示す回
路図である。
本図において、11が被測定蒸着フィルムコンデンサで
あり、可変直流電源12より抵抗13を介して直流電圧
が印加される1この直流電圧は可変の一定レベル電圧で
あるが、蒸着フィルムコンデンサ11に内在するピンホ
ール等により絶縁破壊を生ずると、その一定レベル電圧
がパルス状に下降する。
このパルス状に下降する電圧変化は、結合コンデンサ1
4を介して外部に取り出され、これを測定器15にて監
視するこの場合、パルス状に下降する電圧が前記絶縁破
壊により生ずるわけであるが、同時にセルフヒーリング
作用によってその絶縁破壊が回復する。
従って、測定器15の出力を観測し、時間と共にパルス
状に下降する電圧変化が余り高頻度に現われなくなった
とき、セルフヒーリング作用が完了したものとみなされ
、最終的に製品化される。
上述のとおり、従来の測定原理は、絶縁破壊時における
電圧変化を捕え、且つこれを、測定器15であるメモリ
スコープあるいはヒーリングカウンタによって目視観測
していたので極めて検出感度が低く、しかも印加電圧−
印加時間特性として記録することが困難であった。
そこで本発明は、セルフヒーリング作用の測定原理が、
従来、絶縁破壊による電圧降下を観測するという手法に
基づくものであったのに代えて、これをコロナ放電量の
観測という手法で行うこととする。
従って、従来は電圧波形の観測という不確定要素の多い
測定であったものが、本発明によるコロナ放電量の観測
によって定量的な測定が可能となる。
すなわち、定量的な測定がクーロンの単位で行われる。
従って、この定量的な測定がPC(ピコ・クーロン)の
オーダでなされれば、検出感度は飛躍的に向上する。
しかも、コロナ放電量の測定は、従来より例えば高電圧
機器の性能試験を行う上で不可欠であり、既に高感度の
コロナ放電量測定装置が各種市販されており、前述した
ピコ・クーロンのオーダのコロナ放電量測定はこれら市
販の装置を用いて容易に行える。
中でも同調型コロナ検出器は検出感度が高く、本発明の
迎淀装置を構成する上で最適である。
加えて、この同調型コロナ検出器は、・検出結果を記録
するための記録計と容易に接続可能である。
また、本発明の測定装置では、該記録計を2現象用X−
Yレコーダとする。
2現象が必要なのは、被測定蒸着フィルムコンデンサに
印加する所定の電圧を記録するためと、もう1つはその
所定の印加電圧において検出されるPCオーダのコロナ
放電を記録するためである。
X−Yレコーダが必要なのは、Y軸を前述の測流結果と
し、Y軸を経過時間として、セルフヒーリング作用の経
時変化が一目で判断できるようにするためである。
第2図は本発明に基づくセルフヒーリング作用測定装置
を示す回路図である。
本図において参照番号1L12,13および14を付し
たものは第1図に説明したのと同一である。
20が検出器であり、前述した同調型コロナ検出器から
なる。
21が、検出器20に接続する記録計であり、前述した
2現象用X−Yレコーダからなる。
第3図は、記録計21における測定結果の→りを示すグ
ラフであり、Y軸には被測淀蒸着コンデンサ11への印
加電圧Vおよび発生するコロナ放電量Qをとり、Y軸に
は経過時間すなわち電圧印加時tをとる。
本グラフにおいて、コロナ放電量Qの発生頻度が所定値
以下の一定値となったときセルフヒーリング作用が完結
したものとみなされる。
以上説明したように本発明によれば、検出感度が従来に
比して大幅に向上し、しかも2現象用記録計の併設によ
り、製品(蒸着フィルムコンデンサ)の適切な安定化条
件設定の目安となる測定を行うことができ、また当該製
品の品質評価の尺度となる測定を行うことができるセル
フヒーリング作用の測定装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のセルフヒーリング用測定装置を示す回路
図、第2図は本発明に基づくセルフヒーリング用測定装
置を示す回路図、第3図は第2図の記録計21における
測定結果の一ψを示すグラフである。 図において、11は被測定蒸着フィルムコンデンサ、1
2は可変直流電源、14は結合コンデンサ20はコロナ
放電量検出器、21は記録計である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被測定蒸着フィルムコンデンサに所定の電圧を印加
    したとき該被測定蒸着フィルムコンデンサより発生する
    コロナ放電量を検出するコロナ放電量検出手段と、該コ
    ロナ放電量検出手段の出力に接続され、該放電量を表示
    或は記録する表示記録手段とからなることを特徴とする
    蒸着フィルムコンデンサのセルフヒーリング作用測定装
    置。 2 コロナ放電量検出手段が同調型コロナ放電検出器で
    ある特許請求の範囲第1項記載の測定装置63 表示記
    録手段が、コロナ放電量検出器の出力ならびに被測定蒸
    着フィルムコンデンサへ印加すべき所定の電圧を第1人
    力とし、該所定の電圧の印加時間を第2人力とする2現
    象用X−Yレコーダである特許請求の範囲第1項記載の
    測定装置。
JP52123007A 1977-10-15 1977-10-15 蒸着フイルムコンデンサのセルフヒ−リング作用測定装置 Expired JPS5814987B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP52123007A JPS5814987B2 (ja) 1977-10-15 1977-10-15 蒸着フイルムコンデンサのセルフヒ−リング作用測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP52123007A JPS5814987B2 (ja) 1977-10-15 1977-10-15 蒸着フイルムコンデンサのセルフヒ−リング作用測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5457158A JPS5457158A (en) 1979-05-08
JPS5814987B2 true JPS5814987B2 (ja) 1983-03-23

Family

ID=14849934

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP52123007A Expired JPS5814987B2 (ja) 1977-10-15 1977-10-15 蒸着フイルムコンデンサのセルフヒ−リング作用測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5814987B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60140809A (ja) * 1983-12-28 1985-07-25 日立コンデンサ株式会社 金属化コンデンサの製造方法
JP6178165B2 (ja) * 2013-08-23 2017-08-09 帝人株式会社 高絶縁性フィルム

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5457158A (en) 1979-05-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6502046B1 (en) Laplace transform impedance spectrometer and its measurement method
JPS62242849A (ja) 電極測定システムにおける電極の性能を試験する装置
US3793584A (en) Ignition system test instrument and method
US3453535A (en) Capacitance test instrument using partial discharge time internal measurement
CN107991536B (zh) 一种频域介电响应测试的温度校正方法及设备
JPS5814987B2 (ja) 蒸着フイルムコンデンサのセルフヒ−リング作用測定装置
Dietz et al. How to analyse relaxation and leakage currents of dielectric thin films: Simulation of voltage-step and voltage-ramp techniques
EP1411350B1 (de) Verfahren zur Erfassung der Luftfeuchtigkeit mit kapazitivem Feuchte-Messelement
CN210401507U (zh) 一种时域中介电材料极化瞬态的测量装置
US4213087A (en) Method and device for testing electrical conductor elements
DE102011115124B4 (de) Messgerät und Verfahren zur Funktionsüberprüfung eines Schwingquarzes
JPS6153577A (ja) 部分放電測定装置
JP3246679B2 (ja) 絶縁体の絶縁特性測定装置
US3456493A (en) Method and apparatus for determining the octane rating of fuel used in internal combustion engines
DE2037157C3 (de) Einrichtung zur Messung der Dielektrizitätskonstante von Stoffen
JP2011185884A (ja) Dcバイアス−容量特性の計測方法および計測装置
JPH11211772A (ja) 電力機器のインパルス試験方法
SU102495A1 (ru) Способ измерени посто нной времени конденсаторов методом саморазр да
DE2346248C3 (de) Verfahren zum Ermitteln von Kondensatoren mit Fehlern, die nach langer Zeit zu Ausfällen führen können
JPH023443B2 (ja)
Tavernor Acquisition and Analysis of Polarisation-Field Data for Ferroelectrics
US5057780A (en) Method and apparatus for measuring trigger and latchback voltage of a semiconductor device
JPS59102151A (ja) 油の変質検知装置
SU655996A1 (ru) Устройство дл измерени гистерезисных характеристик мдп-структур
RU2076331C1 (ru) Устройство для контроля электрической прочности изоляции