JPS58148651U - 摺動摩擦試験装置 - Google Patents

摺動摩擦試験装置

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Publication number
JPS58148651U
JPS58148651U JP4573382U JP4573382U JPS58148651U JP S58148651 U JPS58148651 U JP S58148651U JP 4573382 U JP4573382 U JP 4573382U JP 4573382 U JP4573382 U JP 4573382U JP S58148651 U JPS58148651 U JP S58148651U
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JP
Japan
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friction
sample
sliding
contact
test device
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Pending
Application number
JP4573382U
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English (en)
Inventor
薫 橋本
武彦 佐藤
祐司 松井
Original Assignee
富士通株式会社
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Publication date
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例である摺動摩擦試験装置を示
す斜視図、第２図は本考案の試験装置による接触抵抗の
測定原理を示す図、第３図は本考案の試験装置を雰囲気
容器内に設置して測定を行う場合の例を示すブロック図
、第４図ａおよびｂと第５図ａおよびｂのそれぞれは本
考案の試験装置により繰返し摺動を行っているときの摩
擦力および接触抵抗の連続測定値を示す図である。 １：定置試料台、２：試験機基台、３：案内装置、８：
半導体ストレーンゲージ、９：応力検出アーム、１０：
フック、１１：第１の摩擦試料、１２：摺動試料台、１
３：電磁駆動源、１４：第２の摩擦試料、１７：雰囲気
容器、１９：パルス電源、２０：ミ’Ｊオームメータ、
２２：Ｌ／コーダ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試験基台２に一方向に変位可能に設けられ第１の摩擦試
    料を取付ける定置試料台１と、上記第１の摩擦試料と接
    触する第２の摩擦試料を取付け、かつ第１および第２の
    摩擦試料の接触部位にそれ自身の弾性なって所定の接触
    荷重を加重る摺動試料台１２と、上記摺動試料台に往復
    運動を付与する電磁駆動源１３と、上記定置試料台と連
    結され摩擦力を検出する半導体ストレーンゲージ８と、
    上記第１および第２の摩擦試料ならびにこれらの接触部
    位を含む電気的接触抵抗測定回路とを有してなる摺動摩
    擦試験装置。
JP4573382U 1982-03-31 1982-03-31 摺動摩擦試験装置 Pending JPS58148651U (ja)

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JP4573382U JPS58148651U (ja) 1982-03-31 1982-03-31 摺動摩擦試験装置

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JPS58148651U true JPS58148651U (ja) 1983-10-05

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