JPS58144286A - ペン・プロツタの平面構造 - Google Patents

ペン・プロツタの平面構造

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JPS58144286A
JPS58144286A JP57026702A JP2670282A JPS58144286A JP S58144286 A JPS58144286 A JP S58144286A JP 57026702 A JP57026702 A JP 57026702A JP 2670282 A JP2670282 A JP 2670282A JP S58144286 A JPS58144286 A JP S58144286A
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JP
Japan
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mask
light
pattern
film material
wafer
Prior art date
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Pending
Application number
JP57026702A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsunehisa Sukai
須貝 恒久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
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Publication of JPS58144286A publication Critical patent/JPS58144286A/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ペンあるいはプロッタの平面構造に1イ(す
、特に、レジスト剤によってエツチングする1々prj
をネに数の屓に嫡用することによって平面上に直光変換
、導光路、および、メモリデバイスを配列し、もって、
前記平面上に図形を画き、さr−、に、導光路および光
電変換デバイスとこのデ・;イスが導通状態になった場
所を検出する水平およびjl+直方内方向線によってペ
ン先の座標を肋取ることを可能とし、もって、製図する
ことを可能としたものである。なお、本出願人は、先に
、放射線あるいは粒子線を照射したレジスト剤によって
エツチングするととkよって溶解した第1の膜材料を形
成し、この第1の膜材料の部分に第2の膜H科を前記第
1の材料を照射するのに用いたマスクあるいはその逆の
パターンのマスクを用いて多層化する方法及びその応用
について種々提案したが、本発明は、上記の方法をペン
あるいはプロッタ114の平面に応用したものである。
計算機などからなるシステムにおいて計9機の入出力デ
バイスとしてペン先の座標をyMvることによってシス
テムに情報を入力するタブレット装置が用いられている
が、これは水平および蚤山方向の導線を平面板にうめ込
むことにより@ホ1^傳的な手段によって必要機能を構
成している。−十k、計算機からの出力情報をディスプ
レイする面上に接触されるぺ/座標を読取る方法が用い
られているO しかし、従来方式において用いられる平面においては、
これをペン先の座標読取りおよびディスプレイ而として
機能させるために大きな構造部分と多くの周辺機能およ
び周辺構造を必要とし、融通性ある使用を可能とするこ
とが不可能であった。
本発明は、上述のごとき従来技術の欠点を解決するため
になされたもので、特に、レジスト剤によってエツチン
グする技術を複靜の層に適用することによって平面上に
電光変換、導光路、および、メモリデバイスを配列する
ことによってこの平面に図形を画き、さらに、導光路、
および、光電変換デバイスとこのデバイスが導通状態に
なった場所を検出する水平、および垂直方向の導線によ
ってペン先の座標をMeること全可能とすることによっ
て製図することを可能としたものである。
計算機によって各種の外部記憶装置を制御することが可
能であるが、この外部記憶装置に製図した画像を記憶さ
せることができる。ある入出力装置を操−作することに
よってこの―!像を読出してこの入出力装置に表示させ
ることができるものとする。今、表示面において表示さ
れている画像に付加すべき部分を書き加えたり、訂正し
たりすることによって更新された製図内容を再び上記の
外部記憶装置に格納することが可能であれば、製図の工
程が省力化され、融通性ある試行錯誤が可能となる。ま
た、表示された画像に訂正を加えたり吉き加えたりする
場合においては、そのだめの図面処理を詳細にわたって
ペンによって行うのでは存く、訂正おるいは薔き加えに
おけるキーポイントをペンによって示し、そのキーポイ
ントを満足する基本図形を計算機側からこの入出力装置
に出力することによって自動化された訂正または書き加
えが可能となる。
本発明は、上記のような表示面を作ることを可能とする
ものであって、このためには次にVドベるようなレジス
ト剤によるエツチング法を用いる必要がある。
尤によって電気を発生あるいは逆に雷、気によって光を
発生する面を作るには光学材料をエツチング技術によっ
て加工する。エツチングを行うにはレジスト画像を作る
ためにマスクと呼ばれる原板が必要である。マスクは写
真乾板のような働きをするもので加工目的物の10倍〜
100倍の描き易い大きさに拡大して描いた原図から写
真を得る方法で縮小製作する。先づ、加工を行うウェハ
の表面に均一な厚さにレジスト剤を塗布し、硬化させる
処理を行ったあとマスクを通して光、電子線、あるいは
一般に粒子線の照射を行う。レジスト剤LL粒子線の照
射によって特定の化学溶剤に対する浴晴度が変化する材
料である。先づ、公知の電子ビーム描画法などによって
特定の加工デバイスのパターンに対応した窓のあるマス
クを作る。次に、粒子線ビーム転写法においてこのマス
クの窓を通り抜けた粒子線によって照射されたレジスト
剤の部分を変質する。ポジ形の現像を行う場合は変質し
た部分だけが俗は去りウェハ上にレジスト剤の脇パター
ンを作る。次に、ウェハを溶解する化学溶剤を用いレジ
スト剤の膜の付着し7てないウェハの部分を取り去り目
的とするデバイスの・ド面的像細構造の一部を形成する
。即ち、エツチングを行う。レジスト剤はその後取り去
られる。
多層化を行うために必要な条件は上述の第1のウェハの
エツチングによって取り去られた部分をうめる形で第2
の材料を形成する処理が可能であることである。
今、エツチングの完了した第1のウェハの−(二に別の
材料を成、長させて上記の第2のウェハを形成したとす
ると、この第2ウエハの面には、第1のウェハが取り去
られた部分にく#fみが生ずる。E2かし、このくぼみ
以外の第2ウエハの部分がllVり去られることとなる
から支障がない。敗り去られるまでの処理は次のように
行う。第2ウエハ上に再びレジスト%Iを塗布する。こ
のとき第1ウエハの取り去られた第2ウエハの部分に塗
布されたレジスト剤がたまることとなる。ここで、第1
のウェハに加工するときに用いたマスクを通して紀2の
ウェハ上のレジスト剤を照射する現像工程を行う。この
ときくぼみにたまったレジスト剤を照射することとなる
ので照射時間を多少長くする必要がある。ことでネガ形
の現像を行う。即ち、照射されず変質していない部分を
エツチングし、レジスト剤を除去する。このとき第1の
ウエハニ用いたマスクの逆のパターンを用い、ポジ形の
現像工程を用いる方がくほみにたまったレジスト剤を照
射する必要がなくなるので有利である。第3のウェハを
第2、第1のウェハの上に成長させることから第1、第
2のウェハに適用した工程をくり返すことによって第1
の材料に第2の材料をうめ込んだ構造を微細な寸法で作
ることができる。第2の材料を導通路とすることもでき
る。しかし、導通路は金属であるから、特に、この部分
については上述のマスクと同じパターンをもつ電子ビー
ム用マスクによって電子ビームを照射しこれによって全
組の蒸着を行うことによっ□て構成できる。
本発明においてtt1光によって■気を発生あるいは逆
に電気によって光を発生する面を作る必要があり、この
ためには加工デバイスのくり返し構造をウェハ上に作る
必要があり、また、而が多少の厚さをもつ必要があるこ
とから面を乗せる工作台の高さを微細調整する必要があ
る。
第1図は、ウェハ上にマスクに画かれたパターンを転写
する方法の一例を説明するための図で、1は電子銃であ
り、これから出た電子をコンデンサレンズ系2で平行ビ
ームにしたJ・と3なるマスクを照射する。この電子の
照射は電子針の下の静電的なブランキング板4によって
ON −0)’ Fされる。マスク3は自己保持形の金
礪フォイルマスクであり、構成されるべき電子デバイス
に従って作られた窓がおいており、これらを通過した電
子は投影レンズ5.6によってウェハ7の面上に像を結
ぶ。この場合、コイル8により位置合せ、絞り、および
調整が行われる。1回に露光できるフィールドは3 m
 X 3 m程度であり、ウェハをのせた9で示される
XYステージをステップ状に移動しくり返してウェハ全
面に露光する。このくり返し操作によって処理できる面
積は100mmX1001II+程度であると云われて
いる。通常、集積回路にお・いては、上記のくり返し操
作によって構成されfc構造ごとに分割して使用するも
のであるが、本発明では、このような分割を行わず上記
のくり返し構成が光によって電気を発生しあるいは電気
によって光を発生する面を構成するものであって、上記
のマスクのパターンはこのくり返し操作によってできる
デバイスが相互に所定の連結が可能でなければならない
。このような構成法においては、通常の集積[9]路を
量産する場合の多重り率では作られる面が不良である場
合が多くなるため、加工デバイスの精細度を下げること
の可能な場合に用いられる。
本発明においては、第1図において以前の加工1尚稈に
よって作られたウェハ7の上に新しいウェハを軍ね、こ
れに対して上記の方法によって加工することを可能とす
るものである。このため、第1図において10なる資料
台の高さを11に示す油圧帰鴬によって微細調整するこ
とを可能とし複数の刊からなる構造を作る。先づ、第1
図の3なるマスクを作る電子ビーム描画装置においては
電子顕微鏡から発展した電子ビームを小さい点にしける
技術をもとに発展させた方法を用いており、第1図の7
に示す資料上に粒子ビームをしほろ方法も同様の方法に
よって行われる。多1f4化によって資料台の上の膜材
料が厚くなった場合は、上述の方法によってビームを小
さい点にしぼるためにn本1台の各点の高さを平等に変
える必要があり、次のような方法を用いる。すなわち、
第1図の資料台10は12に示す油の上にある。また、
1oなる資料台は9で示されるXYステージに設けられ
だ円Th4Nの穴に入った形になっており、それぞれ密
に接触していて相互に滑って上下の運動が可能となって
いる。資料台10とXYステージ9によって作られた空
間に油12が満たされると油I2は資料台1()とXY
ステージ9の接触面に浸とりするが、油12はその粘性
によって外にあふれることがなく、11なる油圧装置か
ら加えられる油圧の増減にともなって資料台10を上下
動させることができる。
第2図は、上述のようにして構成された光起電力を発生
あるいは光を発生するデバイスのW、 J4&す図を示
すもので、図中の■とθなる面で区切られたpなる領域
はp形半導体、■と@なる面で区切られたnなる領域1
d、n形半導体である。■なる面はpn接合面でOなる
方向から照射される光の光子によって励起された電流キ
ャリアがpn接合で低下したポテンシャル障壁を越え拡
散することによって電流を得る。■なる面がある程度の
大きさをもつためにはすでに述べた多階゛処理をくり返
す8砦がある。即ち、第2図のデバイスの周辺はこのデ
バイスとは異なる材料によってうめられており、第2図
のデバイスは平面上にくり返し配置される。これらの異
なる材料の立体的な配置のくり返し構造は上述のエツチ
ング法とステップ・アンド・リピート法によって構成さ
れる。この場合、第2図のp形、n形半導体からなる部
分については1各くり返しにおいて半導体材料を気相成
長させ、先づ、その上に酸化膜の気相成長を行い、n影
領域とする部分にレジスト膜を塗布し粒子線照射を行い
、照射されない酸化膜をエツチングしn杉の不純物拡散
を行う。残った酸化膜を溶解して、再び、全面に酸化膜
の気相成長を行いp影領域とする部分に対し同様の処理
を行ってp形拡散を行う。なお、第2図において○は光
が照射される方向で、この光によって発生する起電力1
/j: p n接合面■に垂直に交る直線θ■のθの方
向をとる。一方@の方向からの光の照射を行う代りに(
ト)の方向に電流を通すことによって■なる接合面にお
いて■なる方向へと光を発光し放射する。このような起
電力を堆出すためのおよび発光のための電流を加えるた
めの電極となる金属は@および0なる而に接するように
成長させる。
本発明社、上述の方法によって頭初において述べたよう
な表示面(平面板)を構成し、この平面板の内部に画像
を表示する画素に対応してメモリデバイスを形成する。
そして、各メモリデバイスごとに電光変換お4よび導光
路デバイスそれぞれ1個からなる組を一単位とするくり
返し拾遺をステップ・アンド・レピート法で形成する。
平面内のメモリデバイスは平面板に形成されるべ′1!
!画障の1つの副走査線上にあるものを接続することに
ょグて−1つのジ−ブトレジスタが構成されるようにエ
ツチングを行う。頭初において述べた計算機の周辺にあ
る外部配憶装置からの出力信号である副走査線の符柘が
対応の平面板の副走査線用シフトレジスタに入力される
ことによりシフトレジスタ上のメモリデバイスはONか
OFFかに従って上記電光変換デバイスを発光させ、上
記導光路デバイスを通して平面板−Fに画像を形成させ
る。この画像を更新するために先端に発光部のあるペン
先の光を検出するための導光路と光電変換デバイスは上
記のステップ・アンド・リピート法と同時に構成するも
のとする。さらに、これらのそれぞれの画素対応構造の
上部に交点をもつような水平および垂直の導線を構成す
るに必要な単位構成を各光!変換デバイスごとに形成し
、光電変換デバイスの一対の電極今それぞれ水平および
垂直導線を構成する単位構成に接続する。次に、以上の
構成に必要なデバイスについて鰭明する。
第3図は、上記のくり返し構造の単位部分を示すもので
、(a)図は正面図、(b)図は側面1に71、(c)
図は背面図で、図中、Aなる面は製図板の表面であり、
BlC,、Dはそれぞれ表示用メモリデバイス、電光変
換、および、導光路でDなる部分1d透明な(イ料で満
たされている。また、E、F、G、%1およびIはペン
先の光を検出するデバイスであり、ト〕は導光路で透明
な材料で満たされている。Fは光電変換デバイス、Aな
る面に当てられているペン先の光に反応した光電変換デ
バイスをアドレスするだめの水平および垂直導線の一部
を+1 rjV、 l、ているOGはFなる光電変換デ
バイスの一方のfTfillこ接続され、Fの他方の極
はIなる導体を通して)lに接続される。
第4図は、竿3図において、Gおよび11に示される水
平および垂直導線の接続法を示すもので、Mなる点線で
囲まれた部分は製図板に含まれる。
Miる部分における水平線の一部が第3図のHに相描し
、垂直線の一部が第3図のGに相当する。
第4図はペン先の光に反応して導通状態になっている受
光デバイス、即ち、第3図のFを検出する回路で第4図
のMなる部分の水平、垂直線を横Ill(する単位部分
が第3図のGおよびHで示される。
第4図のMの任意の交点にある受光デバイスが光を受け
て導通状態になっていると第4図の右下の+電源からr
′ 〜r−なる抵抗な通して上記デバ】 イスに電流が滝、れ、この電流がr”’−r4 なる折
重 抗を通って図の右上の一電源に入る。r′1〜rSおよ
びr、〜r4  なる抵抗の電圧降下はそれぞれd′ 
〜d′、およびd  −d  なふ回路によって+  
      4              1   
    4検出され、ROMおよびROM’  なる読
取専用メモリの出力側に導通している受光デバイスの水
子〇垂直線のアドレスを出力する。これらの水平轡垂直
純のアドレスを直接符号化するのは第4図に示すXおよ
びX′ なる結線であるが、これらは相隣る線のアドレ
スが距離1の重み差で符号化されるようになっている。
ROMおよびROM’  はこれらの符号をアドレス値
の自然数表示に変換するためのものである。このような
変iを行う目的は、ペン先の光によって導通する受光デ
バイスがペン先の光が相隣る2つの水平Iwまたは垂直
線にまたがることによってアドレス値の誤りが1以上に
ならないようにするためである。
第3図のB、C%Dなるデバイスは、上記のように画像
を表示するために用いられるものでDなるデバイスは画
像の一つの副走査線を記録するソフトレジスタを構成す
る。これらのデバイスが画素ごとに一組を設ける場合に
おいては平面板に画かれた画像を更新する場合に更新前
の画像にiJ Lで更新画像の位置関係をオーバラップ
させて人間の目で確かめるのが困難になる。この点を改
ためるには第3図のB、C,Dの部分を第5図のように
する必要がある。すなわち、第5図のBXC。
Dは第3図のB、C,Dと同じ機能を実行し、B′、C
’、 D’はそれぞれB、C,Dと同じ機能を実行し、
DとD′ はそれぞれ別のシフトレジスタの一段となる
。そして、Dなるメモリは画像を更新する以前の画素信
号を蓄積し、D′  なるメモリは’I vr部分のみ
を前者にオーバーラツプして画くための画素信号を記録
する。なお、LSIにおけるステップ・アンド・リピー
ト法の適用範囲は10 cMX Inα程度であるが、
本発明における微細化の程度は、LSIの場合より一桁
下げたものと々るがら1mX1r++程度の適用範囲が
得られ、製図板程度のスケールとなる。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、各棹
股計作業における製図の作業をi勧化し用紙の使用を極
小にする計算機システムの構成が6丁能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、ウェハ上にマスクに画かれたパターンを転写
する方法の一例を説明するための概略構成図、第2図は
、本発明に使用する発光受光デバイスの一例を説明する
ための図、第3図は、本発明の一実施例を説明するだめ
の構成図で、(a)図は正面図、(b)図は側面図、(
C)図は背面図、第4図は、第3図において(、Hで示
した水平および垂直導線の接続例を示す図、第5図は、
本発明の他の実施例を示す構成図である。 1・・・’に子N、2  ・コンデンサレンズ系、3・
・・マスク、4・・ブランキング板、5.6・・・投影
レンズ、7、・ウェハ、8・コイル、9・・・XYステ
ージ、1゜・・・資料台、11・・・油圧機構、12・
・油、A・・製図板表面、BS B/  ・・・メモリ
デバイス、c、c’  ・電光変換デバイス、D、 D
/  ・・・導光路、E・・・導光路、F・・・光電変
換デバイス、G、H,I・・導線。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 図形パターンを画いたマスクを通した粒子線を照射した
    レジスト剤によってエツチングすることによって溶解し
    た嶋1の膜材料の平面部分を形成し、該平面部分に第2
    の膜材料を前記パターンと同じパターン甘たけその逆の
    パターンをもったマスクを用いて’t f 協’換、導
    光路およびメモリデバイスを配1列して平面上にし1形
    を画き、さらに、導光路および光電変換デバイスとこの
    デバイスが導通状態になった場所を検出する水平方向の
    導線および垂直方向の導線を有することを特徴とするペ
    ン・プロッタの平面構造。
JP57026702A 1982-02-20 1982-02-20 ペン・プロツタの平面構造 Pending JPS58144286A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6052533U (ja) * 1983-09-16 1985-04-13 株式会社 測機舎 Xyプロツタ−におけるペンの現在位置指示器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6052533U (ja) * 1983-09-16 1985-04-13 株式会社 測機舎 Xyプロツタ−におけるペンの現在位置指示器
JPH0229454Y2 (ja) * 1983-09-16 1990-08-08

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