JPS58143500A - Storage device available for interleaving - Google Patents

Storage device available for interleaving

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Publication number
JPS58143500A
JPS58143500A JP57025417A JP2541782A JPS58143500A JP S58143500 A JPS58143500 A JP S58143500A JP 57025417 A JP57025417 A JP 57025417A JP 2541782 A JP2541782 A JP 2541782A JP S58143500 A JPS58143500 A JP S58143500A
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JP
Japan
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data
circuit
memory
data control
write
Prior art date
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Application number
JP57025417A
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Japanese (ja)
Other versions
JPS6349809B2 (en
Inventor
Hidehiko Kobayashi
秀彦 小林
Kunio Ono
大野 邦夫
Susumu Yoshino
進 吉野
Yoshimi Tachibana
立花 祥臣
Hiroaki Shoda
正田 裕明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS58143500A publication Critical patent/JPS58143500A/en
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Abstract

PURPOSE:To improve the use effect of a data control circuit and to facilitate large-scale integration by controlling a connection between the common data input/output terminal of a data control circuit and a memory bank, etc., through a selecting circuit. CONSTITUTION:When an address and a write/read command are applied from a CPU through a control part 4, data control circuits 1-1 and 1-2 equipped with memory banks 2-1, 2-2..., an error correcting and error check bit generating circuit, etc., are specified selectively. Through the selecting circuit 3, connections between the common input/output terminal for the banks 2-1... of the specified circuits 1-1 and 1-2 and for data transfer to the CPU, and a data line 3000 from the banks 2-1... or CPU is controlled. This system wherein the memory banks are not handles for individual memory banks improves the use effect of the data control circuits of the storage device available for interleaving and the number of pins is decreased because of the use of the common output/input terminal to facilitate the large-scale integration of the data control circuits.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

本発明はインタルリーグ可能な記憶装置に関する。 情報処matに用いる記憶装置には、メモリ回なように
部分書込みの動作勤行なわせるためのデータ制御回路が
含まれている場合が多い。 またメモリ回路のアクセス効率會向上するため。 これを複数のメモリパンクに分割しインターリーブ動作
を行わせることも広く行なわれている。 この場合、一般に、データ制御回路も複数個設け、各デ
ータ制御回路は自己の分担するメモリパンクに対する前
記誤り訂正1部分書込み動作
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an interleagueable storage device. Storage devices used in information processing mats often include a data control circuit for performing a partial write operation like a memory circuit. It also improves the access efficiency of memory circuits. It is also widely practiced to divide this into a plurality of memory punctures and perform interleaving operations. In this case, generally, a plurality of data control circuits are provided, and each data control circuit performs the error correction one partial write operation for its own memory puncture.

【行なうが、従来装置にお
いては各データ制御回路ごとに自己の分担するメモリバ
ンクが予め固定的に定められている。このためデータ制
御回路の使用効率tフルに発揮できないという欠点1有
している。 また従来装置においては、データ制御回路のメモリバン
ク側に対するデータ入出力端子と、このメモリバンクを
使用している中央処理f装置側に対するデータ入出力端
子とを別に設けておのおのに対する入出力データが互い
に競合するのを避けている。しかしながらこのためにデ
ータ入出力端子の数が多くなり、データ制御回路を大規
模集積化しようとすると、データ入出力端子用ビンの増
加のためにその実現會困難にするという欠点1有してい
る。 本発明の目的は従来の上述Q、欠点を除去したインター
リーブ可能な記憶aft−提供するにある。 本発明の他の目的は、インターリーブを行なう誤り訂正
機能を有する記憶1lctにおいて、同一のアドレスの
記憶データ幅のうちの一部に書込み會うちの1〜3バイ
トに対して書込みを行う動作】を含む、続出し、書込み
動作を効率よく行う記憶装置を提供することにある。 本発明の装置は、複数個のメモリバンクからなり誤り訂
[However, in the conventional device, the memory bank to which each data control circuit is assigned is fixedly determined in advance. Therefore, there is a drawback that the data control circuit cannot be used to its fullest efficiency. Furthermore, in conventional devices, a data input/output terminal for the memory bank side of the data control circuit and a data input/output terminal for the central processing unit using this memory bank are provided separately, so that the input/output data for each is mutually provided. Avoiding competition. However, this increases the number of data input/output terminals, and when attempting to integrate data control circuits on a large scale, the increase in the number of bins for data input/output terminals makes it difficult to implement. . SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an interleaveable storage which eliminates the above-mentioned drawbacks of the prior art. Another object of the present invention is to perform an operation of writing 1 to 3 bytes of a part of the storage data width at the same address in a memory 1LCT having an error correction function that performs interleaving. An object of the present invention is to provide a storage device that efficiently performs writing, writing, and writing operations. The device of the present invention consists of a plurality of memory banks and has an error correction system.

【行なう記憶装置において、暁出しデータ入出力端子
および書込みデータ入出力端子を共用し誤り訂正兼誤り
訂正用チェックピット発生を行なう複数個のデータ制御
回路と、複数個のメモリバンクと、前記複数個のデータ
制御回路前記用バスに接続され九選択回路と、#記複数
個のデータ制御回路前記複数個のメモリバンクおよび前
記選択回路上制御する制御部を有し、前記制御部は前記
複数個Oデータ制御回路と前記複数個のメモリバンクと
の対応【前記各メモリバンクへのインターリーブ動作の
要求に応答して変化するよう制御する。 次に図面を参照して本・発明の詳細な説明する。 第1図は本発明の一実施例1示すプ四ツク図である0本
実施例は2個のデータ制御回路1−1および1−2.4
個のメモリバンク2−1.2−2゜2−3.および2−
41選択回路3および制御部4【含んでいる。 さらにこの各データ制御回路1は@2図に示すように読
出しレジスタ11%書込みレジスタ12、続出し/書込
みレジスタ13.シンドローム発生回路14.デコード
回路152選択回路16%WAp訂正用チェックビット
発生回路17、誤り訂正回路18.切替回路19および
ドライバ20t−含んでいる。 このデータ制御回路1は外部(メモリバンクおよび中央
処111all )との間で続出しデータ、書込みデー
タ部分書込みデータの授受を行なうがこれらのデータの
人出力はすべて共通の入出力端子200を介して行なわ
れる。これによりてこのデータ制御回路を大規模集積(
LSI)化した場合のビン数の節約をはかりその実現を
容易にしている。 さて本実施例の記憶装置のデータ書込みデータ読出しお
よびデータ部分書込みに対する動作は下記の通りである
。 まず、中央処a装置(図示せず、以下CPU)が、ある
メモリバンクにデータを書込む場合には、CPUは制御
部4に書龜込むべきメモリアドレスとこれがメモリに対
する書込み動作であることt指定し、かつデータバス3
00(l介して書込みデータを選択回路3に転送する。 制御部4は前述の指定を受けると必要な制御情報を発生
して回路1−1〜1−22回路3およびメモリバンク2
−1〜2−4【制御して以下に述るような書込み動作【
行なわせる。 まず、現在直に使用可能な方のデータ制御回路1−1(
tたは1−2)’に:選び、前記データバス3000が
データ制御回路1−1の前記入出力端子200に接続さ
れるように選択回路31制御する。 一方、データ制御回路1−1(または1−2゜以後回路
1)は書込みデ・−タ暇込み状態に制御され、その結果
、ドライバ20はディセーブルされてハイ出力インピー
ダンスとなり%前述のようにしてデータ入出力端子20
0に転送される書込みデータは書込みレジスタ12に取
り込み格納される。 ついで1選択回路16は、その入力としてレジスタ12
の出力を選択するように制御され、この選択した書込み
データ【誤り訂正用チェックピット発生回路17および
誤り訂正回路18に供給する。 この結果回路17はこの書込みデータに対するWA9訂
正訂正用チェックピッ発奮発生これも回路18に供給さ
れるが、データ書込み動作においては1回路18は、こ
れら供給された書込みデータおよびチェックピットに何
等変更を加えることなくそのまま並列に切替回路19會
介しくこの時点では回w119は回路18の出力を選ぶ
ように制御される】レジスタ13に格納する。 かくして、レジスタ13に格納された書込みデータおよ
びこのデータに対応する誤り訂正用チェックピットは1
次にドライバ20がイネーブルされ入出力端子200【
介して選択回路3に転送される。 この時点において1選択回路3は、制御部4からの制御
信号により%前記制御回路1−1(tたは1−2)から
の出力情報を指定されたメモリアドレスを含むメモリバ
ンク(これに2−にとする)に接続するように制御され
、かくして前記書込みデータとそれに対する誤リ訂正用
チェックビットは、メモリ回路の指定されたメモリアド
レスに書込まれる。 次にデータamしに対する動作は次のようになる。 CPUがあるメモリアドレスからデータを読出す場合に
は、CPUは制御部4に続出すべきメモリアドレスとこ
れがメモリからO続出し動、作であることt指定する。 ′ 制御部4は、その時点において直ちに使用可能な側のデ
ータ制御回路1−1(また祉1−2)t−選び、選択回
路3を制−′して指定されたメモリアドレス1含むメモ
リバンク(これt−2−にとする)からのデータ出力ラ
インが選択回路3を介してこの選ばれたデータ制御回路
1−1(tたは1−2)のデータ入出力端子200に接
続されるようにする。この結果、指定されたメモリアド
レスからの貌出しデータとそれに対するWAシ訂正用チ
ェックビットとはデータ制御回路1−1(または1−2
゜以後回路1)のデータ入出力端子200に転送される
。 一万1回路1は続出しデータ取込み状部に制御され、そ
の結果、ドライバ20はディセーブルされてハイ出力イ
ンピーダンスとなり、入出力端子200に転送された情
報は読出しレジスタ11に格納される。 データ続出し動作においては、選択回路16は入力とし
てレジスタ11の出力を選ぶように選択されその結果、
レジスタ11に格納され九読出しデータ(誤り訂正用チ
ェックビットは除く)は回路16’を介して回路18に
供給される。 一方、レジスタ11の出力はシンドローム発生回路14
に導かれ、こξで貌出しデータおよび誤り訂正用チェッ
クビットを用いてシンドロームが発生される。仁のVノ
ドローム出力はデコード回路15においてこのシンドロ
ームによって定まる誤シ訂正指定信号に変換され、誤り
訂正回路18に導かれ、ここで回l11gに供給された
前記続出しデータとの間でピット対応の排他的論1和が
取られ誤り訂正が実行される。mみ出された情報に誤り
が全くな−場合に社、シンドローム発生回路14の出力
はすべて′O′になり、またこの結果デコード回路45
の出力もすべて10′になシ。 読出しデータに対する訂正は行なわれない。 さて、こうして誤り訂正が行なわれた続出しデータは切
替回路19t−介しくこの時点では回路19は回路18
の出力を選択するように制御@れている)、レジスタ1
3に格納される。ついでドライバ20がイネーブルされ
レジスタ13の絖出しデータはデータ入出力端子200
に出力される。 一方、この時点において制御部4は前記端子200の出
力【データパ・ス3000に接続するように制御され、
かくして誤シ訂正を受けた読出しデータはCPUに転送
される。 最後に1部分書込みの場合の動作は次のようになる。 CPUは、制御部4に、部分書込み1行うべきメモリア
ドレスと部分書込み會行うべきバイト位置とこれが部分
書込み動作であることを指定し、かつ部分書込み1行う
べきデータ音データバス3000に一介して選択回路3
に転送する。制御部4は前述の指定を受けると、まず現
在直に使用可能な方のデータ制御回路1−1(tたは1
−2)を選び、前記データバス3000が、データ制御
回路1−1のl!I記入出力端子200に接続されるよ
うに選択回路3を制御する。 一方データ制御回路1−1(または1−2.以後回路1
)は部分書込みデータ覗込み状態に制御され、その結果
ドライバ20はディセーブルされテハイ出力インピーダ
ンスとカリ、1!tl述のようにしてデータ入力端子2
00に転送された部分書込みデータは切替回路19t?
介して読出し/書込みレジスタ13に格納される。 ついで、制御部4からO制御情報により、指定され九メ
モリアドレス【含むメモリパンクから部分書込みが行な
われるべきデータ(被部分書込みデータ)が対応する誤
9訂正チエツタビツトとともに読み出され、ξれは選択
回路3を介して前記回路1のデータ入出力端子200に
転送される。 この誤9訂正チエツタビツト【含む被部分書込みデータ
は、入出力端子200から貌出しレジスタ11にwXり
込み格納される。 ついで、制御部4かもの制御情報により選択回路16が
制御され、レジスタ13に格納された部分書込みデータ
の中の部分書込みを指定されたバイト位置のバイトデー
タと、レジスタ11に格納された被部分書込みデータの
中のそれ以外のバイト位置のバイトデータとが選択結合
される。かくして回路16の出力に轢こうして部分置換
えされたデータが現われ、゛この部分置換えデータは誤
り訂正チェックピット発生回路17においてこの部分置
換えデータに対する・誤9訂正チエツタビツトが発生さ
れ1部分置換えデータとともに回路18に供給される。 一方、レジスタ11に格納された前記被部分書込みデー
タはシンドローム発生回路14に供給され、もし誤りが
ある場合にはシンドロームを発生する。このシンドロー
ムはデコード回路15において誤り訂正指定信号に変換
される(すなわち被部分書込みデータの誤pH:訂正す
べきビット位置だけが%1′で他のビット位置はhol
t−もつ信号に変換される)、このデコード回路15に
は制御部4から部分書込み1行うべきI(イト位置の情
報が供給されており、この)(イト位置情報によシIa
)訂正指定信号が部分書込み1行なうべきノ(イト位置
以外のバイト部分に存在するか否かがチェックされる。 もし存在しない場合(つt9誤りが全くないか、tたは
誤りがあっても部分書込み七行うべきバイト位置にある
ため最終的に部分書込みデータで置き換えられる場合)
には回路15の出力はディセーブルされる。この場合に
は前述の回路18に供給された部分置換えデータとそれ
に対する誤9訂正用チエVタピツトとは回路18におい
て何等変][を受けることなくその11並列に切替回路
19を介してレジスタ13に格納される。 このデータは、以後、前述の通常のデータ書込みの場合
と同11Kして、選択a183を介し、被部分書込みデ
ータが観み出され九メモリバンクのもとのメモリアドレ
スKI!納される。 もし1回路15において部分書込み1行なうべきバイト
位置以外のバイトデータ部分に1@9訂正ビツトが立つ
ている場合には回路15はイネーブルされ、この誤9訂
正ピツトは、対応するビット位置の回1118に供給さ
れ九前記部分置換えデータを訂正しくビット対応O排他
的論1和がとられ)また、シンドロー五発生01161
4で発生したシンドロームがそのtttm略18略儀8
され、ここで前記部分置換えデータに対する誤り訂正チ
ェックビットに対しビット対応の排他的論理和がとられ
。 か< L、て回l118の出力には誤りの訂正された部
分置換えデータとそれに対する正し一誤〕訂正チェック
ピットとが並列に、得られる。これらは、切替回路19
11−介していったんレジスタ13に格納され、以下前
述と同様にして部分書込みt指定したメモリアドレスに
格納され部分書込み動作が完了する。 以上のように動作するこの実施例の回路においては、制
御部4からの制御情報によりデータ制御部till −
1〜1−zトメモリバンク2−1〜2−4との結合r必
要に応じて自由に変えて運用することができる。 11!3図にこのような組合せのいくつかのntタイム
チャートとして示す。 第3図囚はメモリバンク2−1およびメモリバンク2−
2に対する部分書込み要求が相つづくクロックに同期し
て、1クロツクごとに連続して発生する場合を示す、こ
の場合には同図に示すように、メモリバンク2−1に対
する部分書込み要求夕制御回路1−2で処理する(部分
書込み動作においては、読出しレジスタ11に格納され
たデータt−1りpツク周期よりも長い期間保持してい
る必要があるため、lり四ツクおくれで相続いて起る2
つの部分書込み要求を同一のデータ制御回路を用いて処
■することはできない)。 これ(対して第3図(ロ)は相つづ°くクロックの最初
にメモリバンク2−1に対する部分書込み要求が1次に
メモリバンク2−2に対する全書込み要求(通常の書込
み要求]が、さらに、メモリバンク2−3に対して再び
部分書込み要求がある場合のタイムチャートを示す、こ
の場合には、最初の相つづ〈二つの要求は11!3図(
ハ)に示すように同じデータ制御部111−1(または
1−2)k用いて並列に処理する仁とがで龜る。但し、
この場合にはデータ制御回路1−1は最初にCPUかも
データバス3000に介して送られるメモリバンク2−
1対する部分書込みデータはレジスタ12に格納し、つ
づいてCPUから送られるメモリバンク2−2に対する
全書込みデータはレジスタ13に格納するように制御さ
れる。 この状態で、指定されたメモリバンク2−1から被部分
書込みデータが恍み出されレジスタ11に格納され前述
の部分1llIl′換えの動作が行なわれる前に、レジ
スタ13に格納された全書込みデータは、選択回路16
%誤り訂正用チェックビット発生回W&17.誤り訂正
回路18に用いて誤り訂正用チェックビット倉吉む全書
込み用データを発生し、これt再びレジスタ13に格納
することによp第3図の(ハ)で示す動作を行わせるこ
とができる。 こうして部分書込み要求と、それより1クロツクおくれ
て起る他のメモリバンクに対する全書込み要求とt同一
のデータ制御回路を用いて処理することが可能となる。 さらにつづいて起る三つ目の部分書込み要求はこれt別
のデータ制御回路1−2(または1−1)に壕わすよう
にすればよい。 @3図(qは、相続くクロックに、それぞれ異なるメモ
リバンクに対し、部分書込み、全書込み、全書込みおよ
び部分書込みの順序で書込み要求が起る場合を示す、今
までの説明で明らかなように。 はじめの二つの安求會同−のデータ制御回路1−1(ま
たは1−2)’に用い、あとの二つt別のデータ制御回
路1−2(iたは1−1)t−用いて第3図0に示すよ
うに処lすることができる。 以上に述ぺ九実M1列においては、2個のデータ制御回
路と4個のメモリバンクの構成例を示したが、これらの
個数は勿論これに限るものではかい。 以上のように、本発明を用いるとデータ入出力端子を共
用化した複数のデータ制御回路を用い。 複数のメモリバンクとの間の対応tメモリバンクへのデ
ータ書込−)要求データ部分書込み要求またはメモリバ
ンクからのデータ続出し要求の状況に応じて最も効率よ
く選択できる柔軟性に富むメモリインターリーブ可能な
記憶装置を提供することができる。また、データ制御回
路として入出力データ用のビン数の少ない、大規模集積
化に適した。 読出し書込み兼用でデータおよびチェックピットの入出
力ビンを共用できる誤り訂正兼誤り訂正用チェックピッ
ト発生t−行危うデータ制御回路を用いてインターリー
ブ動作を行なう回路構成を提供することができる。 これにより記憶装置の性能向上を達成できる。
[In a storage device that performs data processing, a plurality of data control circuits that share a dawn data input/output terminal and a write data input/output terminal and perform error correction and error correction check pit generation, a plurality of memory banks, and a plurality of memory banks; a data control circuit connected to the bus, and a control section for controlling the plurality of data control circuits and the selection circuit; Correspondence between the data control circuit and the plurality of memory banks [Control is performed to change in response to a request for interleave operation to each of the memory banks. Next, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention. This embodiment includes two data control circuits 1-1 and 1-2.4.
Memory banks 2-1.2-2゜2-3. and 2-
41 selection circuit 3 and control section 4 [includes]. Further, each data control circuit 1 includes a read register 11%, a write register 12, a continuous output/write register 13, and so on, as shown in Figure @2. Syndrome generation circuit 14. Decoding circuit 152 selection circuit 16% WAp correction check bit generation circuit 17, error correction circuit 18. A switching circuit 19 and a driver 20t-include. This data control circuit 1 sends and receives successive data, write data, and partial write data to and from the outside (memory bank and central processing unit 111all), but the human output of these data is all carried out via a common input/output terminal 200. It is done. This leverages the large-scale integration of this data control circuit (
This reduces the number of bins when converting into an LSI (LSI), making it easier to implement. Now, the operations of the storage device of this embodiment for data writing, data reading, and data partial writing are as follows. First, when a central processing unit (not shown, hereinafter referred to as CPU) writes data to a certain memory bank, the CPU informs the control unit 4 of the memory address to be written and that this is a write operation to the memory. specified and data bus 3
00(l) to transfer the write data to the selection circuit 3. Upon receiving the above-mentioned designation, the control section 4 generates necessary control information and outputs the necessary control information to the circuits 1-1 to 1-22, the circuit 3, and the memory bank 2.
-1 to 2-4 [Control and write operation as described below]
Let them do it. First, data control circuit 1-1 (
t or 1-2)': and controls the selection circuit 31 so that the data bus 3000 is connected to the input/output terminal 200 of the data control circuit 1-1. On the other hand, the data control circuit 1-1 (or circuit 1 after 1-2 degrees) is controlled to write data idle state, and as a result, the driver 20 is disabled and becomes a high output impedance, as described above. data input/output terminal 20
The write data transferred to 0 is captured and stored in the write register 12. 1 selection circuit 16 then receives register 12 as its input.
The selected write data is supplied to the error correction check pit generation circuit 17 and the error correction circuit 18. As a result, the circuit 17 generates a WA9 correction check pit for this write data. This is also supplied to the circuit 18, but in the data write operation, the circuit 18 does not make any changes to the supplied write data and check pit. At this point, the switching circuit 19 is controlled to select the output of the circuit 18 without adding the switching circuit 19 to the register 13. Thus, the write data stored in the register 13 and the error correction check pit corresponding to this data are 1
Next, the driver 20 is enabled and the input/output terminal 200 [
The data is transferred to the selection circuit 3 via the filter. At this point, the 1 selection circuit 3 selects the output information from the control circuit 1-1 (t or 1-2) by the control signal from the control unit 4 to the memory bank (this 2 -, and the write data and the error correction check bit therefor are written to the designated memory address of the memory circuit. Next, the operation for data am is as follows. When the CPU reads data from a certain memory address, the CPU specifies to the control unit 4 the memory address to be successively read and that this is an operation to read data continuously from the memory. ' The control unit 4 selects the data control circuit 1-1 (or the data control circuit 1-2) that can be used immediately at that time, and controls the selection circuit 3 to select the memory bank containing the designated memory address 1. The data output line from (this is assumed to be t-2-) is connected to the data input/output terminal 200 of this selected data control circuit 1-1 (t or 1-2) via the selection circuit 3. Do it like this. As a result, the data control circuit 1-1 (or 1-2
Thereafter, the data is transferred to the data input/output terminal 200 of circuit 1). The circuit 1 is controlled in a continuous data acquisition mode, so that the driver 20 is disabled and has a high output impedance, and the information transferred to the input/output terminal 200 is stored in the read register 11. In the data succession operation, the selection circuit 16 is selected to select the output of the register 11 as an input, and as a result,
Nine read data (excluding error correction check bits) stored in the register 11 are supplied to the circuit 18 via the circuit 16'. On the other hand, the output of the register 11 is output from the syndrome generation circuit 14.
A syndrome is generated using the highlighting data and the error correction check bit. The output of the V nodrome of Jin is converted into an error correction designation signal determined by this syndrome in the decoding circuit 15, and is led to the error correction circuit 18, where it is compared with the successive data supplied to circuit l11g to determine the pit correspondence. An exclusive disjunction is taken and error correction is performed. If there is no error in the extracted information, all the outputs of the syndrome generating circuit 14 become 'O', and as a result, the decoding circuit 45
All outputs are also set to 10'. No corrections are made to the read data. Now, the successive data error-corrected in this way is transferred to the switching circuit 19t-, and at this point, the circuit 19 is transferred to the circuit 18.
control to select the output of register 1
3. Then, the driver 20 is enabled and the starting data in the register 13 is transferred to the data input/output terminal 200.
is output to. On the other hand, at this point, the control unit 4 is controlled to connect the output of the terminal 200 to the data path 3000;
The read data corrected in this way is transferred to the CPU. Finally, the operation in the case of one partial write is as follows. The CPU specifies, to the control unit 4, the memory address at which partial write 1 is to be performed, the byte position at which the partial write session is to be performed, and that this is a partial write operation, and the data to which partial write 1 is to be performed is sent via the sound data bus 3000. Selection circuit 3
Transfer to. When the control unit 4 receives the above-mentioned designation, it first selects the data control circuit 1-1 (t or 1) which is currently available for immediate use.
-2), and the data bus 3000 is connected to l! of the data control circuit 1-1. The selection circuit 3 is controlled so as to be connected to the I input/output terminal 200. On the other hand, data control circuit 1-1 (or 1-2. Hereafter circuit 1
) is controlled to the partial write data viewing state, so that the driver 20 is disabled and the high output impedance and voltage, 1! Data input terminal 2 as described in tl
The partial write data transferred to 00 is transferred to the switching circuit 19t?
The data is stored in the read/write register 13 via the read/write register 13. Then, according to the O control information from the control unit 4, the data to be partially written from the specified memory address [including the memory puncture (partially written data)] is read out along with the corresponding error 9 correction check bit, and ξ is selected. The data is transferred to the data input/output terminal 200 of the circuit 1 via the circuit 3. The partially written data including this error 9 correction check bit is stored in the output register 11 from the input/output terminal 200. Next, the selection circuit 16 is controlled by the control information of the control unit 4, and the byte data at the byte position designated for partial writing in the partial writing data stored in the register 13 and the part to be written stored in the register 11 are selected. Byte data at other byte positions in the write data are selectively combined. In this way, the partially replaced data appears on the output of the circuit 16, and the error correction check pit generating circuit 17 generates an error 9 correction check bit for this partially replaced data, and outputs it to the circuit 18 together with the 1 partially replaced data. supplied to On the other hand, the partially written data stored in the register 11 is supplied to a syndrome generation circuit 14, which generates a syndrome if there is an error. This syndrome is converted into an error correction designation signal in the decoding circuit 15 (that is, the error pH of the partially written data: only the bit position to be corrected is %1', and the other bit positions are hol).
This decoding circuit 15 is supplied with information on the I(ite position) to perform partial writing 1 from the control unit 4,
) It is checked whether the correction designation signal exists in a byte part other than the (item) position where one partial write should be performed. If it does not exist (t9), there is no error at all, or even if there is an error. (If it is finally replaced by partial write data because it is at the byte position where partial write should be performed)
, the output of circuit 15 is disabled. In this case, the partial replacement data supplied to the circuit 18 described above and the corresponding error 9 correction chain V tap are transferred to the register 13 in parallel via the switching circuit 19 without any change in the circuit 18. is stored in Thereafter, this data is processed 11K as in the case of normal data writing described above, and the partially written data is found through selection a183 and is stored at the original memory address KI! of the 9th memory bank. will be paid. If the 1@9 correction bit is set in a byte data part other than the byte position where one partial write is to be performed in one circuit 15, the circuit 15 is enabled, and this erroneous 9 correction pit is set in the circuit 1118 of the corresponding bit position. In order to correct the partial replacement data supplied to
The syndrome that occurred in 4 is the tttm approx. 18 approx. 8
Then, a bitwise exclusive OR is performed on the error correction check bits for the partial replacement data. The partial replacement data whose errors have been corrected and the correction check pits corresponding thereto are obtained in parallel at the output of the circuit 118. These are the switching circuit 19
11-, the data is once stored in the register 13, and thereafter stored in the memory address specified by the partial write t in the same manner as described above, and the partial write operation is completed. In the circuit of this embodiment that operates as described above, the data control section till -
Connections with memory banks 2-1 to 2-4 can be freely changed and operated as necessary. Figure 11!3 shows several nt time charts of such combinations. Figure 3: Prisoners are memory bank 2-1 and memory bank 2-
In this case, as shown in the figure, the partial write request control circuit for memory bank 2-1 generates a partial write request for memory bank 2-1 consecutively every clock in synchronization with successive clocks. 1-2 (In a partial write operation, the data stored in the read register 11 must be held for a period longer than the t-1 write cycle, so the Ru2
(It is not possible to process two partial write requests using the same data control circuit.) In contrast, in FIG. 3(b), a partial write request to memory bank 2-1 is made at the beginning of the clock, then a full write request (normal write request) to memory bank 2-2 is made, and then , shows a time chart when there is a partial write request to memory bank 2-3 again.
As shown in c), parallel processing using the same data control unit 111-1 (or 1-2) becomes difficult. however,
In this case, the data control circuit 1-1 may first be sent to the CPU or memory bank 2-1 via the data bus 3000.
Partial write data for one memory bank 2-2 is stored in the register 12, and then all write data sent from the CPU to the memory bank 2-2 is stored in the register 13. In this state, the partial write data is retrieved from the designated memory bank 2-1 and stored in the register 11, and before the above-mentioned portion 1llIl' replacement operation is performed, all the write data stored in the register 13 is extracted. is the selection circuit 16
% error correction check bit generation times W&17. The error correction check bit Kurayoshi is used in the error correction circuit 18 to generate all write data, and by storing this again in the register 13, the operation shown in (c) in Figure 3 can be performed. . In this way, it is possible to process partial write requests and full write requests to other memory banks that occur one clock later using the same data control circuit. The third partial write request that occurs subsequently may be sent to another data control circuit 1-2 (or 1-1). @Figure 3 (q shows the case where write requests occur in successive clocks to different memory banks in the order of partial write, full write, full write, and partial write.As is clear from the previous explanation, It is used for the first two data control circuits 1-1 (or 1-2)', and for the other two data control circuits 1-2 (i or 1-1). In the above-mentioned M1 column, an example of the configuration of two data control circuits and four memory banks was shown. Of course, the number is not limited to this. As described above, the present invention uses a plurality of data control circuits that share data input/output terminals. Data writing--request It is possible to provide a flexible memory interleaving storage device that can be selected most efficiently depending on the situation of a data partial write request or a data continuation request from a memory bank. In addition, it is suitable for large-scale integration as a data control circuit with a small number of bins for input/output data. It is possible to provide a circuit configuration that performs an interleave operation by using an error correction and error correction check pit generation t-row data control circuit that can share data and check pit input/output bins for reading and writing. This makes it possible to improve the performance of the storage device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

@1図は本発明の一実施例ケ示すブロック図。 第2図は本実施列で用いるデータ制御回路の詳細を示す
ブロック図および@3図(5)、(B)および(qは本
実施例の動作を説明するためのタイムチャートである。 図において、1.1−1.1−2・・・・・・データ制
御回路、2−1〜2−4・・・・・・メモリバンク、3
・・・・・・選択回路、4・・・・・・制御部、11・
・・・・・読出しレジスタ、12・・・・・・書込みレ
ジスタ、13・・・・・・読出し書込ミレジスタ、14
・・・・・・シンドローム発生回路、15・・・・・・
デコード回路、16・・・・・・選択回路、17・・・
・・・誤り訂正用チェックビット発生回路、18・・・
・・・誤り訂正回路、19・・・・・・切替回路% 2
0・・・・・・ドライバ。 第1 図
@1 Figure is a block diagram showing one embodiment of the present invention. Figure 2 is a block diagram showing details of the data control circuit used in this embodiment, and Figures (5), (B) and (q) are time charts for explaining the operation of this embodiment. , 1.1-1.1-2... Data control circuit, 2-1 to 2-4... Memory bank, 3
. . . Selection circuit, 4 . . . Control unit, 11.
...Read register, 12...Write register, 13...Read/write register, 14
...Syndrome generation circuit, 15...
Decode circuit, 16... Selection circuit, 17...
...Error correction check bit generation circuit, 18...
...Error correction circuit, 19...Switching circuit% 2
0... Driver. Figure 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】 複数個のメモリパンクから々シ誤シ訂正會行なう記憶装
置において。 続出しデータ入出力端子および書込みデータ入出力端子
を共用し誤り訂正兼誤り訂正用チェックビット発生上行
なう複数個のデータ制御回路と、複数個のメモリパンク
と、 前記複数個のデータ制御回路%前記複数個のメ続された
選択回路と。 前記複数個のデータ制御回路、前記複数個のメモリパン
クおよび前記選択回路を制御する制御部を有し。 前記制御部はノ前記複数個Oデータ制御回路と前記複数
個のメモリパンクとの対応Vm記各メモリバンクへのイ
ンターリーブ動作の安水に応答して変化するよう制御す
ること。 t−特徴とする記憶装置。
[Scope of Claim] In a storage device that performs error correction from a plurality of memory punctures. a plurality of data control circuits that share a continuous data input/output terminal and a write data input/output terminal and perform error correction and error correction check bit generation; a plurality of memory punctures; and the plurality of data control circuits. With multiple interconnected selection circuits. It has a control section that controls the plurality of data control circuits, the plurality of memory punctures, and the selection circuit. The control unit is configured to control the plurality of O data control circuits and the plurality of memory punctures to be controlled in response to an interleaving operation for each memory bank. t-Characteristic storage device.
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