JPS58135906A - 磁気デイスク装置 - Google Patents
磁気デイスク装置Info
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- JPS58135906A JPS58135906A JP1836182A JP1836182A JPS58135906A JP S58135906 A JPS58135906 A JP S58135906A JP 1836182 A JP1836182 A JP 1836182A JP 1836182 A JP1836182 A JP 1836182A JP S58135906 A JPS58135906 A JP S58135906A
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- Japan
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- prism
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/488—Disposition of heads
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は回転揺動（ロータリ）形アームに塩９付けられ
た磁気ヘッドの位置を＾精度に測定することのできる磁
気７”４スク装置に関する。
た磁気ヘッドの位置を＾精度に測定することのできる磁
気７”４スク装置に関する。
最近、磁気ディスク装置の高トラ、り密度化に伴い、そ
のチーゲ面だけではなくデータ面にもチー？信号を書込
むエンベデ、ト・チーが（Ｅｎｂ＠ｄ＠ｄ Ｓ＠ｒｖｏ
）方式が提案され、既に実用化されている。この方式で
は、データ面にセクタ単位です−ゲ信号が書込まれてい
るため、温度の過渡的な変化によってサーボ面とデータ
面の間に多少の位置ズレが生じても、データトラックを
正確にトラクΦノグすることができると云う特徴を有す
る。父、一部の装置にあってはエンペデッド・チーＮ
（Ｅｎｂ＠ｂ＠ｄ ５ｅｒｖｅ）信号だけを使用し、チ
ーが面を使用しないものもある。
のチーゲ面だけではなくデータ面にもチー？信号を書込
むエンベデ、ト・チーが（Ｅｎｂ＠ｄ＠ｄ Ｓ＠ｒｖｏ
）方式が提案され、既に実用化されている。この方式で
は、データ面にセクタ単位です−ゲ信号が書込まれてい
るため、温度の過渡的な変化によってサーボ面とデータ
面の間に多少の位置ズレが生じても、データトラックを
正確にトラクΦノグすることができると云う特徴を有す
る。父、一部の装置にあってはエンペデッド・チーＮ
（Ｅｎｂ＠ｂ＠ｄ ５ｅｒｖｅ）信号だけを使用し、チ
ーが面を使用しないものもある。
これ等の装置では、予めデータ面にチー？信号を書込む
必要がある。このカー？信号を書込む装置ＩＬ１に一般
にチー−２イタと読んでいる。磁気ｒイスクにチーゲ信
号を書込む場合、チーーライタ側のしＷへ、ドを使用す
る場合と、ＨＤＡ（ｈ＠ａ＋ｉ ｄｌｓｋ ｍｓｓ＠ｍ
ｂｌｙ ）側のｎ７Ｗへ、ドを使用する場合とがある。
必要がある。このカー？信号を書込む装置ＩＬ１に一般
にチー−２イタと読んでいる。磁気ｒイスクにチーゲ信
号を書込む場合、チーーライタ側のしＷへ、ドを使用す
る場合と、ＨＤＡ（ｈ＠ａ＋ｉ ｄｌｓｋ ｍｓｓ＠ｍ
ｂｌｙ ）側のｎ７Ｗへ、ドを使用する場合とがある。
一般のチーゲ面す−？方式の場合はチーは面を基準とし
て、ｒ−夕面にデータを書込むため、どちらの〜臂ヘッ
＃Ｐｔ利用してもよいが、工ンペデ、ド・チーが方式の
場合には、データ面に予めチーゲ信号を書込むため、Ｈ
ＤＡ＠のしＷへ、ドを使用した方がそのマツチングがと
り易い。このためにはＨＤム側のＲ／Ｗへ、ｌ／の位置
を精密に測定する測定器が必要となり、一般にレーデ測
長器が使用されている。この副長器は大概ね直線的に移
動する物体の移動距離を測長することを主眼に設計され
ている。よって、磁気ディスク装置の場合でもシ臂ヘッ
ドをディスクの半径方向Ｋｌ！ｉ的に移動させるリニア
アクチェエータ形の場合は大変都合良い。
て、ｒ−夕面にデータを書込むため、どちらの〜臂ヘッ
＃Ｐｔ利用してもよいが、工ンペデ、ド・チーが方式の
場合には、データ面に予めチーゲ信号を書込むため、Ｈ
ＤＡ＠のしＷへ、ドを使用した方がそのマツチングがと
り易い。このためにはＨＤム側のＲ／Ｗへ、ｌ／の位置
を精密に測定する測定器が必要となり、一般にレーデ測
長器が使用されている。この副長器は大概ね直線的に移
動する物体の移動距離を測長することを主眼に設計され
ている。よって、磁気ディスク装置の場合でもシ臂ヘッ
ドをディスクの半径方向Ｋｌ！ｉ的に移動させるリニア
アクチェエータ形の場合は大変都合良い。
ところが最近では上述したリニア形のものに代えて磁気
ヘッドを回転揺動形（ロータリ形）アームに取付けた構
造のロータリ形（スインギングアームタイグとも称ぶ）
小形安価な磁気ディスク装置が多く使用されるようにな
ってき丸。
ヘッドを回転揺動形（ロータリ形）アームに取付けた構
造のロータリ形（スインギングアームタイグとも称ぶ）
小形安価な磁気ディスク装置が多く使用されるようにな
ってき丸。
この理由はアームのアクチェエータ構造が簡単で小形化
でき、しかも安価に製作できるためである。しかしこの
ロータリ形の装置にあっては、Ｒ７Ｗへ、ドは直線的に
移動せず、磁気ディスクに対して円弧を描いて移動する
。このため、前述のレーデ測長器をそのまま適用するこ
とが離しかった。
でき、しかも安価に製作できるためである。しかしこの
ロータリ形の装置にあっては、Ｒ７Ｗへ、ドは直線的に
移動せず、磁気ディスクに対して円弧を描いて移動する
。このため、前述のレーデ測長器をそのまま適用するこ
とが離しかった。
ま九従来、この種の測定では前述のレーザ測長器を用い
円弧の中心角が大きくならぬように設定し、かつアーム
の回転中心から測定点までの距離を短くして、ビームの
移動距ｍを小さくするなどの制限をしてその測定法を工
夫している。このため■アームの回転角を大きくできな
い、■大形で高価なコーナΦ−−プが必要でめる、■コ
ーナ＃エーグの設置位置ｎ度がそのまま測定ｎ１度とな
る、■コーナキエーｆ１にチーゲフイタより一度とり外
すと位置の再現ができない等の欠点がおった。
円弧の中心角が大きくならぬように設定し、かつアーム
の回転中心から測定点までの距離を短くして、ビームの
移動距ｍを小さくするなどの制限をしてその測定法を工
夫している。このため■アームの回転角を大きくできな
い、■大形で高価なコーナΦ−−プが必要でめる、■コ
ーナ＃エーグの設置位置ｎ度がそのまま測定ｎ１度とな
る、■コーナキエーｆ１にチーゲフイタより一度とり外
すと位置の再現ができない等の欠点がおった。
その上、従来の測定法はロータリー形アームにコーナキ
為−ゾを設置し、そのコーナキエープ位置を＃ｊ定する
ものでありて磁気ヘッド位置を測定するものではない。
為−ゾを設置し、そのコーナキエープ位置を＃ｊ定する
ものでありて磁気ヘッド位置を測定するものではない。
この磁気ヘッドのコアは通常シン・々ル構造を持つフレ
キジャーに取り付けられ、ディスク面を滑空、浮上して
用いられる。この為ロータリ形アームに取り付けられた
磁気へ、ドは、前述したリニア形と異ってヨーアングル
を生じる。この目−アングルは最外属トク、り位置と最
内周トラック位置とでは逆方向に生じる。このため磁気
ヘッドに力為かる風圧浮上量振動は最外周トラック位置
と最内周トラック位置とで大きく異ってくる。とれ故、
従来のようにアームの位置を測定しても真に磁気へ、ド
の位置を測定したこ、とにはならなかつ九。
キジャーに取り付けられ、ディスク面を滑空、浮上して
用いられる。この為ロータリ形アームに取り付けられた
磁気へ、ドは、前述したリニア形と異ってヨーアングル
を生じる。この目−アングルは最外属トク、り位置と最
内周トラック位置とでは逆方向に生じる。このため磁気
ヘッドに力為かる風圧浮上量振動は最外周トラック位置
と最内周トラック位置とで大きく異ってくる。とれ故、
従来のようにアームの位置を測定しても真に磁気へ、ド
の位置を測定したこ、とにはならなかつ九。
本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、そ
の目的とするところは、磁気へ、ドコアそのものの動き
から磁気ヘッドのダイナミックな位置測定を行い得る実
用性の高い磁気ディスク装置を提供することにある。
の目的とするところは、磁気へ、ドコアそのものの動き
から磁気ヘッドのダイナミックな位置測定を行い得る実
用性の高い磁気ディスク装置を提供することにある。
本発明は回転揺動型アームに取付けられた磁気へ、ドの
一側面を測長レーデ光に対する高反射面とすると共に１
この高反射面に対向させて上記アームに！リズム体を設
け、且つ上記アームの回動範囲内で上記！リズム体に対
向する位置に光学スキャナを設けた構造を有し、この光
学スキャナおよび！リズム体を介して測長レーデ光を照
射し、その反射光を同一光路を介して得ることによりて
上記測長レーザ光の光路差からヘッド位置検出を行うよ
うにしたものである。
一側面を測長レーデ光に対する高反射面とすると共に１
この高反射面に対向させて上記アームに！リズム体を設
け、且つ上記アームの回動範囲内で上記！リズム体に対
向する位置に光学スキャナを設けた構造を有し、この光
学スキャナおよび！リズム体を介して測長レーデ光を照
射し、その反射光を同一光路を介して得ることによりて
上記測長レーザ光の光路差からヘッド位置検出を行うよ
うにしたものである。
従って本発明によれば、アームの回動に伴う磁気ヘッド
の位置そのものを測定することが町能となる。しかも、
へ、ドの＠面を反射面とし、これに対向して！リス１体
をアームに設けるだけでよいので、アームのダイナミッ
ク特性を損うことなしに上記位置検出を行うことが可能
となり、上述し九従米の問題点を効果的に解消すること
ができる。故に、安価で実用性の高い磁気ヘッド装置を
実視することができる。
の位置そのものを測定することが町能となる。しかも、
へ、ドの＠面を反射面とし、これに対向して！リス１体
をアームに設けるだけでよいので、アームのダイナミッ
ク特性を損うことなしに上記位置検出を行うことが可能
となり、上述し九従米の問題点を効果的に解消すること
ができる。故に、安価で実用性の高い磁気ヘッド装置を
実視することができる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例につきｆＳ、明
する。第１図は実施例装置における位置＃ｊ定先光学系
概略構成図である。この光学系は、一般的なレーデトラ
ンスソ為−サシステムｔ−用いて磁気へ、ドの位置測定
を行うものである。
する。第１図は実施例装置における位置＃ｊ定先光学系
概略構成図である。この光学系は、一般的なレーデトラ
ンスソ為−サシステムｔ−用いて磁気へ、ドの位置測定
を行うものである。
レーデ光源１から出力されるレーデ光は直交スる２つの
偏波面を持つ光！＞ 、ｆｓから成る。
偏波面を持つ光！＞ 、ｆｓから成る。
この光束は光束変換光学系２．３によυ適当なビームサ
イズに変換される。図中４はシングル：１：１川 ビームインタフェロメータで、ｆｓの周波数を持つレー
デ光はその内部で反射し、光検出ａ５に入射する。一方
、ｆｌの周波数を持つレーデ光はシングルビームインタ
フェロメータ４を通過した後、結偉し／ズ６、ミラー７
、光学スキャナー８を通り、ロータリ形アームの先端に
取り付けたアームプリズム９を通過して磁気ヘッドのへ
、ドコア１０の一側面に設けられた高反射面に照射され
る。このヘッドコア１０で反射した光は再びアームプリ
ズム９、スキャナー８、ミラー７、結偉レンズ６を通り
シングルビームインタフェロメータ４で反射して光検出
器５に入射する。一方レーデ光源１からは測定の基準と
なるレファレンス信号／Ｓ−／Ｘが測定回路１１に入力
される。また、光検出器５からは測定信号！、−ｆ、±
Δｆなる信号が上記測定回路１ノに入力される。尚、必
要に応じて測長レーデ光の光束位置ずれを位置センサ１
２により検出するよ５Ｋしてもよい。
イズに変換される。図中４はシングル：１：１川 ビームインタフェロメータで、ｆｓの周波数を持つレー
デ光はその内部で反射し、光検出ａ５に入射する。一方
、ｆｌの周波数を持つレーデ光はシングルビームインタ
フェロメータ４を通過した後、結偉し／ズ６、ミラー７
、光学スキャナー８を通り、ロータリ形アームの先端に
取り付けたアームプリズム９を通過して磁気ヘッドのへ
、ドコア１０の一側面に設けられた高反射面に照射され
る。このヘッドコア１０で反射した光は再びアームプリ
ズム９、スキャナー８、ミラー７、結偉レンズ６を通り
シングルビームインタフェロメータ４で反射して光検出
器５に入射する。一方レーデ光源１からは測定の基準と
なるレファレンス信号／Ｓ−／Ｘが測定回路１１に入力
される。また、光検出器５からは測定信号！、−ｆ、±
Δｆなる信号が上記測定回路１ノに入力される。尚、必
要に応じて測長レーデ光の光束位置ずれを位置センサ１
２により検出するよ５Ｋしてもよい。
今、ロータリ形アームの先端に取り付けられた磁気へ、
ド１０のギヤ、グＧが磁気ディスクの最外周トラ、り上
ｒ４にあるときのアームプリズム９の中心をＰとする。
ド１０のギヤ、グＧが磁気ディスクの最外周トラ、り上
ｒ４にあるときのアームプリズム９の中心をＰとする。
この状態のとき、測定回路１ノの測定値が０となるよう
測定回路１１を初期化する。次にロータリ形アームを回
転させ、へ、ドギャップＧが最内周トラ、り位置ｒｌに
くるようＫする。このとき、回転角をαとすれば、スキ
ャナー８の回転角はα力となる。しかしてへ、ドコア１
０で反射した光は、アーム先端の移動速度をマとすれば
、 ｆｌ ＋マ／ｃ −／１ ＋Δｆなる周波数とな
る。よってロータリ形アームが回転したときのへ、ドギ
ャッｆＧの移動距離は上記Δｆを取り出してこれを積分
することにより求めることができる。
測定回路１１を初期化する。次にロータリ形アームを回
転させ、へ、ドギャップＧが最内周トラ、り位置ｒｌに
くるようＫする。このとき、回転角をαとすれば、スキ
ャナー８の回転角はα力となる。しかしてへ、ドコア１
０で反射した光は、アーム先端の移動速度をマとすれば
、 ｆｌ ＋マ／ｃ −／１ ＋Δｆなる周波数とな
る。よってロータリ形アームが回転したときのへ、ドギ
ャッｆＧの移動距離は上記Δｆを取り出してこれを積分
することにより求めることができる。
今、ｗＩ、１図においてロータリアームか下と磁気へ、
ドの取り付は角を （ＯＰＨ＝（ＯＰ’Ｈ＝ｒ（一定） またスキャナー８からの入射光とアームの交角を （ＴＰＯ＝（Ｔ’Ｐ’Ｏ＝β（一定） とする。アームプリズム９の中心Ｐがアームの回転（α
）によってＰ′に移動したとき、それぞれの位置に対応
する入射光束の交点をＳとすれば、ＳがスΦヤナ−８の
中心として定められる。
ドの取り付は角を （ＯＰＨ＝（ＯＰ’Ｈ＝ｒ（一定） またスキャナー８からの入射光とアームの交角を （ＴＰＯ＝（Ｔ’Ｐ’Ｏ＝β（一定） とする。アームプリズム９の中心Ｐがアームの回転（α
）によってＰ′に移動したとき、それぞれの位置に対応
する入射光束の交点をＳとすれば、ＳがスΦヤナ−８の
中心として定められる。
スキャナーＳからＰ点を通って磁気へ、ドコアまでの距
離は ＳＰ＋ＰＨ で示され、同様にＳからＰ′点を通って磁気へラドコア
までの距離は ＳＰ’＋Ｐ’Ｈ で示される。磁気へ、ド取付は点Ｐから磁気へ、トコ７
１０までの距離が一定であるとすればアームが角度αだ
け回転したとき、へ、ドコア１０からの反射光の光路差
Ｕαは Ｕα＝２（ＳＰ’−８Ｐ） （り
として示される。
離は ＳＰ＋ＰＨ で示され、同様にＳからＰ′点を通って磁気へラドコア
までの距離は ＳＰ’＋Ｐ’Ｈ で示される。磁気へ、ド取付は点Ｐから磁気へ、トコ７
１０までの距離が一定であるとすればアームが角度αだ
け回転したとき、へ、ドコア１０からの反射光の光路差
Ｕαは Ｕα＝２（ＳＰ’−８Ｐ） （り
として示される。
ＳＰ’＝８Ｐｘα＋ＰＰ’ｍ（β＋−） （３）
２ なる関係が成立する。よって光路差Ｕαはα Ｕｃｒ−４ｒ ２ｄｓｌＴ（−（β−１Ｔ）１「（β＋
−２＞ ）α ＝４ ｒ ２ｔ１１１２ ｍ Ｉ
（’）として示される。
２ なる関係が成立する。よって光路差Ｕαはα Ｕｃｒ−４ｒ ２ｄｓｌＴ（−（β−１Ｔ）１「（β＋
−２＞ ）α ＝４ ｒ ２ｔ１１１２ ｍ Ｉ
（’）として示される。
すなわち、磁気へ、ドのシ臂ギヤ、ｆＧが最外周トラ、
り位置から最内周トラ、り位置まで動いたとき、磁気へ
ラドコアからの反射光の光路差Ｕαは第（４）式で与え
られる。
り位置から最内周トラ、り位置まで動いたとき、磁気へ
ラドコアからの反射光の光路差Ｕαは第（４）式で与え
られる。
ところで、アーム先端Ｐに設置するアーム！リズム９は
小形で設置しやすいものでなければならない。を九光学
ス中ヤナー８はアームの幅（８１図にはＩ￥ＩＫ図示し
ていない）外に設置しなければならない。ここではこれ
等を考慮し、例えばｒ＋β＝１２０°となる様に選定さ
れる。
小形で設置しやすいものでなければならない。を九光学
ス中ヤナー８はアームの幅（８１図にはＩ￥ＩＫ図示し
ていない）外に設置しなければならない。ここではこれ
等を考慮し、例えばｒ＋β＝１２０°となる様に選定さ
れる。
第２図はアーム！リズム９の一例を示すものであり、例
えばヘキすグリズムが最適である。即ち、このヘキサグ
リズム９は入射光束と出射光束との交角を１２０°とし
、入射面９ａ及び出射面９ｂは、それぞれ入射光束、出
射光束と直交する。但し交角が１２０°以外の場合でも
入射面９ａ、出射面９ｂは光束に対し直交するようにす
る。しかして入射面９ａに入射した光は面９ｃで反射し
、再び［１？ｄで反射して出射面９ｂより出射する。上
記反射面９ｃ 、９ｄ間の交角は３０＠である。このグ
リズム９はアームの先端に取り付けられるものであり、
その厚さはディスク板間隔以下で、できるだけ薄く定め
られる。例えば、厚さ０．８箇面９・とｒｋＪ９ｆの間
隔７．５−に設定され、その重さは約０．１ ）である
。とれ故アームの先端に取シ付けてもアームが有すゐダ
イナミック特性を損うことはない。
えばヘキすグリズムが最適である。即ち、このヘキサグ
リズム９は入射光束と出射光束との交角を１２０°とし
、入射面９ａ及び出射面９ｂは、それぞれ入射光束、出
射光束と直交する。但し交角が１２０°以外の場合でも
入射面９ａ、出射面９ｂは光束に対し直交するようにす
る。しかして入射面９ａに入射した光は面９ｃで反射し
、再び［１？ｄで反射して出射面９ｂより出射する。上
記反射面９ｃ 、９ｄ間の交角は３０＠である。このグ
リズム９はアームの先端に取り付けられるものであり、
その厚さはディスク板間隔以下で、できるだけ薄く定め
られる。例えば、厚さ０．８箇面９・とｒｋＪ９ｆの間
隔７．５−に設定され、その重さは約０．１ ）である
。とれ故アームの先端に取シ付けてもアームが有すゐダ
イナミック特性を損うことはない。
次に、アームのＰ点がＰＦ５の任意の位＠ｐｌにき九と
きを考える。点ｓ、ｐ、ｐ’、ｏは（８ＰＯ−（ＳＰ’
Ｏ＝β（一定）であるから、ｉ を弦とする円周上にあ
る。ところが、ＰＰ’の任意の点Ｐｌ拡アームの回転中
心０点を中心とする円周上に参るため、Ｏ８を弦とし、
点Ｐ、Ｐ’を通る円周上にはない。このことはＳ点を発
した光は点Ｐ 、 Ｐ’を除いてＰＰ’の任意の点ｙを
通ってへ、トコ７１０に到達し、ここで反射して再び２
１点を通ってＳ点に到達することがないことを示してい
る。
きを考える。点ｓ、ｐ、ｐ’、ｏは（８ＰＯ−（ＳＰ’
Ｏ＝β（一定）であるから、ｉ を弦とする円周上にあ
る。ところが、ＰＰ’の任意の点Ｐｌ拡アームの回転中
心０点を中心とする円周上に参るため、Ｏ８を弦とし、
点Ｐ、Ｐ’を通る円周上にはない。このことはＳ点を発
した光は点Ｐ 、 Ｐ’を除いてＰＰ’の任意の点ｙを
通ってへ、トコ７１０に到達し、ここで反射して再び２
１点を通ってＳ点に到達することがないことを示してい
る。
しかし、アームの回転角δに対し、スキャナーを１／２
だけ回転させたときの光束は「７の点Ｐ 、 Ｐ’を除
く任意の点ｐｌより外れるがアーム！リズム９のＢ点（
第２図参照）Ｋ垂直に入射する。このことは、アームの
回転角がδのとき、直＠ＰＴと ｐｌを通ってアーム！
リズム９０入射１ｉｉｌｉｊＪａＫｆｌ直な直線とはＳ
ｌで交れること全意味する。このとき、＜ＰＳＩＰＩ＝
Ｊであるから、Ｂｌｐｌを平行移動し８１点をＳ点と一
致させればｆ３１ｐｌとアーム！リズムの入射面との交
点ＡはＢ点に移動することになる。
だけ回転させたときの光束は「７の点Ｐ 、 Ｐ’を除
く任意の点ｐｌより外れるがアーム！リズム９のＢ点（
第２図参照）Ｋ垂直に入射する。このことは、アームの
回転角がδのとき、直＠ＰＴと ｐｌを通ってアーム！
リズム９０入射１ｉｉｌｉｊＪａＫｆｌ直な直線とはＳ
ｌで交れること全意味する。このとき、＜ＰＳＩＰＩ＝
Ｊであるから、Ｂｌｐｌを平行移動し８１点をＳ点と一
致させればｆ３１ｐｌとアーム！リズムの入射面との交
点ＡはＢ点に移動することになる。
δ→０としたときの交点をＳＯとおけばもう＝ｒ２ツβ
となり、β＝００場合、Ｓ点は０点に一致する。またロ
ータリアームの回転角δ、スキャナーの回転角−のとき
、Ｓ点を発してＰ点を通りヘッドコア１０で反射し再び
Ｓ点に戻ってくる光束と、同時にＳ点を発し、Ｂ点を通
りヘット。
ータリアームの回転角δ、スキャナーの回転角−のとき
、Ｓ点を発してＰ点を通りヘッドコア１０で反射し再び
Ｓ点に戻ってくる光束と、同時にＳ点を発し、Ｂ点を通
りヘット。
コア１０で反射し、再びＳ点に戻ってくる光束の光路差
Ｕδは、直線５ｌｐｌにＳ点より垂線を下し、その交点
を２１直線ＳＨの延長線上にｐｌより垂線を下し、その
交点をＣとすれば Ｕδ＝２ （ＥＰ’−８Ｐ ） （６）
で示される。この第（７）式でδ→αとおけば前述した
第（４）式とよく一致する。
Ｕδは、直線５ｌｐｌにＳ点より垂線を下し、その交点
を２１直線ＳＨの延長線上にｐｌより垂線を下し、その
交点をＣとすれば Ｕδ＝２ （ＥＰ’−８Ｐ ） （６）
で示される。この第（７）式でδ→αとおけば前述した
第（４）式とよく一致する。
一方、アーム！リズム９０入射面９ａでの入射光束の移
動量は ムＢ−８Ｆ で示されるから、 なる関係が成立する。
動量は ムＢ−８Ｆ で示されるから、 なる関係が成立する。
となる。
よって、設置するアームプリズム９の開口は２ Ａｌｌ
！、。を十分に力・ぐ−するものであればよい。
！、。を十分に力・ぐ−するものであればよい。
第（９）式において、例えばｒ２ ＝８６、β＝４５°
、α−１５°トオはハＡｉ；、！＝０．５２（閣）テソ
ノ偏移は非常に小さくなる。
、α−１５°トオはハＡｉ；、！＝０．５２（閣）テソ
ノ偏移は非常に小さくなる。
ところで上述し九説明ではアームプリズム９の中心Ｐか
らヘッドコアｉｏｔでの距離は一定であるとしてき友。
らヘッドコアｉｏｔでの距離は一定であるとしてき友。
しかしへ、ドコア１ｏを取り付けであるフレキジャーは
、完全な剛体でな用い ため、風圧、浮上量、アームの共振などの原因によって
わずかに変化する。この変化はアームの回転角αを一定
に保ったｔまでも構われる。
、完全な剛体でな用い ため、風圧、浮上量、アームの共振などの原因によって
わずかに変化する。この変化はアームの回転角αを一定
に保ったｔまでも構われる。
しかし、上述した位置検出は非接触測定の対象がへ、ド
コアＪＯそのものなので、この変化を十分に捕えること
が可能である。また、アーム先端に取り付けるアームプ
リズム９は小形、軽量のため、ロータリ形アームのダイ
ナミック特性を損うことはない。
コアＪＯそのものなので、この変化を十分に捕えること
が可能である。また、アーム先端に取り付けるアームプ
リズム９は小形、軽量のため、ロータリ形アームのダイ
ナミック特性を損うことはない。
次に、へ、ドコアｌＯのギヤ、グＧが７”４スクの最外
周トラック位置にあるときの＜Ｇｏ Ｏ’を＃４、最内
周トラック位置にあるときのそれを＃３とする。但し、
０′はディスクの回転中心である。最外周トラックをｎ
−０とし、トラック数ｎのときのアームの回転角をδ、
このときなる関係が存在する。
周トラック位置にあるときの＜Ｇｏ Ｏ’を＃４、最内
周トラック位置にあるときのそれを＃３とする。但し、
０′はディスクの回転中心である。最外周トラックをｎ
−０とし、トラック数ｎのときのアームの回転角をδ、
このときなる関係が存在する。
ここで、ａはＯＯ′の距離、又はトラ、クビ。
チである。従って、・この第（転）式より任意のトラッ
ク数に対応するａの値を求めることができる。
ク数に対応するａの値を求めることができる。
また任意の回転角δに対するトラックの移動は！１ｚで
あり、ヘッドコア１０ｔでの光路差Ｕｌ）は第（７）式
で与えられるから、その比例定数をにδとすれば として示される。
あり、ヘッドコア１０ｔでの光路差Ｕｌ）は第（７）式
で与えられるから、その比例定数をにδとすれば として示される。
ここで、最内周トラ、り位置と各トラ、り間の中心Ｏ′
に対するにδの値を求めてみる。例として、ｒ２＝８６
、β＝４５０１ ギヤ、ｆＧのヨーイング角がＯとなる
位置を最外周トラックと最内周トラ、りとの中間に選ぶ
。ｒ４＝９６、ｒ５＝７６トラ、クビ、チｚ＝２５μｍ
ｓｔ’う、り数８０１゜ａ ＝ １１８とすると、＃５
＝５３．８９５２２°、ｆ’５＝３９．６７５５７°、
回転角α＝１４．２１９６５゜ｒ ＝８０．７９６
、 ａＢ＝４００さ７．１０８２゜となり、その測定誤
差は 」１１り副４ｘ、ｏｏｏ２ａ ｋユニ８００ 、 αａとなる。
に対するにδの値を求めてみる。例として、ｒ２＝８６
、β＝４５０１ ギヤ、ｆＧのヨーイング角がＯとなる
位置を最外周トラックと最内周トラ、りとの中間に選ぶ
。ｒ４＝９６、ｒ５＝７６トラ、クビ、チｚ＝２５μｍ
ｓｔ’う、り数８０１゜ａ ＝ １１８とすると、＃５
＝５３．８９５２２°、ｆ’５＝３９．６７５５７°、
回転角α＝１４．２１９６５゜ｒ ＝８０．７９６
、 ａＢ＝４００さ７．１０８２゜となり、その測定誤
差は 」１１り副４ｘ、ｏｏｏ２ａ ｋユニ８００ 、 αａとなる。
すなわち、ｋの変化量は１万分の２．３にしかすぎない
、このとき測定値の誤差は全トラックに対し２．３μｓ
ｍａｘであり、ピッチの測定誤差は無視できる。この
ことはｋＯ値としてにαを用いても測定値にほとんど誤
差を生じないことを示している。しかし、一般的には、
ヨーアングル１０」の位置がトラック間の中間にない場
合には、ｋの値は大きく変化する。この場合はｋの値は
数十〜数百トラ、り毎に変更する必要がある。
、このとき測定値の誤差は全トラックに対し２．３μｓ
ｍａｘであり、ピッチの測定誤差は無視できる。この
ことはｋＯ値としてにαを用いても測定値にほとんど誤
差を生じないことを示している。しかし、一般的には、
ヨーアングル１０」の位置がトラック間の中間にない場
合には、ｋの値は大きく変化する。この場合はｋの値は
数十〜数百トラ、り毎に変更する必要がある。
次にアームグリズム９の位置ズレについて考えてみる。
従来のへ、ド位置測定で用いられたようにコーナキエー
！をアーム上に取り付けて測定する場合はアームの取付
は位置がアームの回転中心０に対しΔｒ２だけ動くと、
その測定点がｒ２＋Δｒ２となる。つまり測定値はその
まま上記コーナキ為−プの設置誤差を含む。しかし、本
装置では、このような入射光と反射光の間に位置ズレの
生ずる測定系は使用されない。つまり第２図において、
アームプリズム９の中心Ｐが、アームの回転中心Ｏに対
し、Δｒ２の位置ズしを起し良ものと考えると、アーム
プリズム９そのものは光束の方向を変更するだけで測定
点を含むことがない。よって、プリズム９の中心Ｐが負
にズしてもズレ量がプリズム９の開口以下であれば、位
置ズレは測定値に影響を与えない、つまり本装置ではプ
リズム９の設置誤差は従来のように位置に起因すること
がなく単にその角度だけである。よって、設置の際は入
射光束と反射光束が重なるよう上記角度だけを調整すれ
ばよい。この調整は光束の相対関係調整であるから、ア
ームの回転中心０よシ測定する設置位置調整に比べて簡
単である。
！をアーム上に取り付けて測定する場合はアームの取付
は位置がアームの回転中心０に対しΔｒ２だけ動くと、
その測定点がｒ２＋Δｒ２となる。つまり測定値はその
まま上記コーナキ為−プの設置誤差を含む。しかし、本
装置では、このような入射光と反射光の間に位置ズレの
生ずる測定系は使用されない。つまり第２図において、
アームプリズム９の中心Ｐが、アームの回転中心Ｏに対
し、Δｒ２の位置ズしを起し良ものと考えると、アーム
プリズム９そのものは光束の方向を変更するだけで測定
点を含むことがない。よって、プリズム９の中心Ｐが負
にズしてもズレ量がプリズム９の開口以下であれば、位
置ズレは測定値に影響を与えない、つまり本装置ではプ
リズム９の設置誤差は従来のように位置に起因すること
がなく単にその角度だけである。よって、設置の際は入
射光束と反射光束が重なるよう上記角度だけを調整すれ
ばよい。この調整は光束の相対関係調整であるから、ア
ームの回転中心０よシ測定する設置位置調整に比べて簡
単である。
以上示したように、本発明によれば、従来方式に比ベア
ームの回転角αを大きく設定することができ、またアー
ムプリズム９の設置誤差をほとんど招くことがない。し
かも従来のような高価で大形のコーナｄＰ−−プを全く
必要としない。ま九へ、ドコアＪ０からの反射光を利用
して測定するためへラドコアそのもののｍ＊が測定でき
る。罠にアームプリズム９が小形、軽量の九め、ロータ
リ形アームのダイナミ、り特性を損れずにへ、トコ７１
０の位置測定ができると云う絶大なる利点がある。ま九
前述したアームプリズムは多数の製作によって千円程度
で実境でき、また接着による取り付けを行えば取り付は
機構にほとんど費用を要しない。従って装置を安価に提
供することが可能となシ、その要用的利点は絶大である
。
ームの回転角αを大きく設定することができ、またアー
ムプリズム９の設置誤差をほとんど招くことがない。し
かも従来のような高価で大形のコーナｄＰ−−プを全く
必要としない。ま九へ、ドコアＪ０からの反射光を利用
して測定するためへラドコアそのもののｍ＊が測定でき
る。罠にアームプリズム９が小形、軽量の九め、ロータ
リ形アームのダイナミ、り特性を損れずにへ、トコ７１
０の位置測定ができると云う絶大なる利点がある。ま九
前述したアームプリズムは多数の製作によって千円程度
で実境でき、また接着による取り付けを行えば取り付は
機構にほとんど費用を要しない。従って装置を安価に提
供することが可能となシ、その要用的利点は絶大である
。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではない０例
えばアームプリズム９は接着剤等でアームに接着固定し
たままでもよく、又取り外し可能な構造としてもよい。
えばアームプリズム９は接着剤等でアームに接着固定し
たままでもよく、又取り外し可能な構造としてもよい。
この場合、一度取り外して、再度取り付けても従来のよ
うな設置誤差が生じないので、前と同様の測定が可能で
ある。
うな設置誤差が生じないので、前と同様の測定が可能で
ある。
またアームプリズム９としては第２図に示したよりなヘ
キサプリズムが好適であるが、スキャナー８の設置する
位置によっては他の形状のプリズム（ペンタプリズム、
直角プリズム、あるいは単に平面鏡）なども使用できる
。またへ、ドコアはレーザのノ譬ワー又は光検出器の感
ｔＫよってはその一１Ｉ１面を単に研磨して使用するこ
とも可能であるが、一般にはミラー面すなわちマイクロ
ミラーを取〕付けるが、金属又は誘電体等を蒸着、メッ
キしたものが好ましい。要するに本発明はその要旨を逸
脱しない範囲で種種変形して実施することができる。
キサプリズムが好適であるが、スキャナー８の設置する
位置によっては他の形状のプリズム（ペンタプリズム、
直角プリズム、あるいは単に平面鏡）なども使用できる
。またへ、ドコアはレーザのノ譬ワー又は光検出器の感
ｔＫよってはその一１Ｉ１面を単に研磨して使用するこ
とも可能であるが、一般にはミラー面すなわちマイクロ
ミラーを取〕付けるが、金属又は誘電体等を蒸着、メッ
キしたものが好ましい。要するに本発明はその要旨を逸
脱しない範囲で種種変形して実施することができる。
Ｉｓ１図は本発Ｔｉ！Ａの一実施例を示す装置の位置検
出光学系の概略図、第２図は同夾施例におけるアームプ
リズムの一例を示す図である。 １・・・レーデ光源、４・・・インターフェロメータ、
５・・・光検出器、８・・・光学スキャナ、９・・・ア
ームプリズム、１０・・・ヘッドコア。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２ｖＡ 八
出光学系の概略図、第２図は同夾施例におけるアームプ
リズムの一例を示す図である。 １・・・レーデ光源、４・・・インターフェロメータ、
５・・・光検出器、８・・・光学スキャナ、９・・・ア
ームプリズム、１０・・・ヘッドコア。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２ｖＡ 八
Claims (2)
- （１） 回転揺動式アームに取付けられ、その−側面
を測長レーデ光に対する高反射面とした磁気ヘッドと、
この磁気ヘッドの上記高反射面に対向させて前記回転振
動式アームに取付けられ九！リズム体と、前記磁気ヘッ
ドが磁気ディスクの最外周トラ、り位置あるいは最内周
トラ。 り位置にあるときの前記！リズム体の各位置における前
記測長レーデ光の光路が交差する位置に設けられた光学
スキャナと、この光学スキャナおよび前記！リズム体を
介して前記磁気ディスクの高反射面に測長レーザ光を照
射し、その反射光を受光するレーデ測長器とを具備した
ことを特徴とする磁気ｒイスク装置。 - （２） 光学スキャナ拡、回転揺動アームの回動角に
応じて回動制御されるものである特許請求の範囲第１項
記載の磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1836182A JPS58135906A (ja) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | 磁気デイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1836182A JPS58135906A (ja) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | 磁気デイスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58135906A true JPS58135906A (ja) | 1983-08-12 |
Family
ID=11969549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1836182A Pending JPS58135906A (ja) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | 磁気デイスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58135906A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5812266A (en) * | 1995-12-15 | 1998-09-22 | Hewlett-Packard Company | Non-contact position sensor |
| US5886787A (en) * | 1995-12-15 | 1999-03-23 | Hewlett-Packard Company | Displacement sensor and method for producing target feature thereof |
| US6459492B1 (en) | 1997-03-14 | 2002-10-01 | Agilent Technologies, Inc. | Non-contact position sensor |
-
1982
- 1982-02-08 JP JP1836182A patent/JPS58135906A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5812266A (en) * | 1995-12-15 | 1998-09-22 | Hewlett-Packard Company | Non-contact position sensor |
| US5835224A (en) * | 1995-12-15 | 1998-11-10 | Hewlett-Packard Company | Non-contact position sensor |
| US5886787A (en) * | 1995-12-15 | 1999-03-23 | Hewlett-Packard Company | Displacement sensor and method for producing target feature thereof |
| US5982494A (en) * | 1995-12-15 | 1999-11-09 | Hewlett-Packard Company | Non-contact position sensor |
| US6459492B1 (en) | 1997-03-14 | 2002-10-01 | Agilent Technologies, Inc. | Non-contact position sensor |
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