JPS58131503A - ビレツト形状測定方法及び装置 - Google Patents
ビレツト形状測定方法及び装置Info
- Publication number
- JPS58131503A JPS58131503A JP1445682A JP1445682A JPS58131503A JP S58131503 A JPS58131503 A JP S58131503A JP 1445682 A JP1445682 A JP 1445682A JP 1445682 A JP1445682 A JP 1445682A JP S58131503 A JPS58131503 A JP S58131503A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- outer race
- calibration
- distance
- reflecting plate
- billet
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/0011—Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight
- G01B5/0014—Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight due to temperature
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/54—Revolving an optical measuring instrument around a body
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は条鋼（角ビレット又は丸ビレット）の断面形
状測定手段の提供に係わる。
状測定手段の提供に係わる。
条鋼、特に角ビレットの形状測定においては、接触式を
用いる以外、角ビレットの対辺測定方法は具体的にない
とされている。
用いる以外、角ビレットの対辺測定方法は具体的にない
とされている。
しかし、接触式では連続的測定は不可能である。
この点、連続的測定の可能な手段としては、非接触式が
、−心理論的には考えること蝶出来る。
、−心理論的には考えること蝶出来る。
これをｇｉ図〜第４図で説明する。
すなわち、第１図は測定装置の全体構成国、第２図は装
置の主要部分となる光学式距離計におけるアンソラの「
光マイクロメーター」の原理図、第３図は信号処理演算
出力後のアナログ出力グラフ、第４図は測定原理図を夫
々示し、図に示す如く、測定装置の構成は、回転外輪１
は回転伝動ギヤー９を介してモーターｌＯで回転してい
る。
置の主要部分となる光学式距離計におけるアンソラの「
光マイクロメーター」の原理図、第３図は信号処理演算
出力後のアナログ出力グラフ、第４図は測定原理図を夫
々示し、図に示す如く、測定装置の構成は、回転外輪１
は回転伝動ギヤー９を介してモーターｌＯで回転してい
る。
回転外輪Ｉ ＫＦｉセンサー２が一対、精度よく対向し
て取シ付けられ回転外輪ＩＩ／ｃと９つけられ回転して
いる。
て取シ付けられ回転外輪ＩＩ／ｃと９つけられ回転して
いる。
回転外輪ＩＫは更に回転位置センサー８が取９付けられ
スリップリング６を介してセンサー２の信号が信号処理
器７に入力されている。
スリップリング６を介してセンサー２の信号が信号処理
器７に入力されている。
センサー２の光学式距離計嬬ビレット３の表面との距Ｓ
を回転しながら常時測定し、センｔ−２の固定位置から
の絶対位置を測定している。
を回転しながら常時測定し、センｔ−２の固定位置から
の絶対位置を測定している。
この時、第４図の測定原理で示すように、材料巾Ｗ＃′
ｉ、固定点間の距＠Ｌが一定（全円周にわたって）であ
れば２つの測定値ａ 、ｂ（センサー２とビレット３表
面との間の距離）Ｋよって決るから回転しながら測定し
た時、第１図の状ｎをＯ１′の位置とすれば、第４図の
演算処理をする信号処理器７のアナログ出力は、第３図
の様に一般にはθ°。
ｉ、固定点間の距＠Ｌが一定（全円周にわたって）であ
れば２つの測定値ａ 、ｂ（センサー２とビレット３表
面との間の距離）Ｋよって決るから回転しながら測定し
た時、第１図の状ｎをＯ１′の位置とすれば、第４図の
演算処理をする信号処理器７のアナログ出力は、第３図
の様に一般にはθ°。
９０°、１８０°、・・・の付近で最小値を示すような
出力となり、信号処理器７の信号処理値は最小値を出力
する。
出力となり、信号処理器７の信号処理値は最小値を出力
する。
これＫよシ対辺測定が可能となる。
ここで用いられる光学的（必じしも光学でなくとも音や
電磁気的距離計でもよい）距離針の例として、アンソラ
の「光マイクロ」を第２図に示す。
電磁気的距離計でもよい）距離針の例として、アンソラ
の「光マイクロ」を第２図に示す。
これは、対象物１１に対してレーザー発生装置１５は光
チヨツパ−１３と照明レンズ１４’ｅ介して投射される
。
チヨツパ−１３と照明レンズ１４’ｅ介して投射される
。
これは、対象物１１で反射され、結儂レンズ１２′ｆ：
介して光検出素子１６で検出され、光束が受光面上のど
の位置に入射しているかを電気出力して演算回路１７に
伝え、距離を測定するものである。
介して光検出素子１６で検出され、光束が受光面上のど
の位置に入射しているかを電気出力して演算回路１７に
伝え、距離を測定するものである。
同、図中４はロール、５はロールチ曹ツクを夫々示す。
しかるに、この手段にあっては、実際の測定の場合では
、原理そのものが測定センサーと材料表面の絶対位置を
測定する事にあるから回転外輪の形状歪、熱的変形が発
生した時、それは、直接的に誤差となるから高精度の測
定は期待できなく実用に供することは不可である。
、原理そのものが測定センサーと材料表面の絶対位置を
測定する事にあるから回転外輪の形状歪、熱的変形が発
生した時、それは、直接的に誤差となるから高精度の測
定は期待できなく実用に供することは不可である。
不発明は、値上の事情に鑑みなされたもので、上述の手
段に誤差補正手段を付加することＫよって、角ビレット
の材料形状を材料を止めることなく連続的に測定できる
ようにしたものである。
段に誤差補正手段を付加することＫよって、角ビレット
の材料形状を材料を止めることなく連続的に測定できる
ようにしたものである。
以下、これの詳細を第５図〜第９図にて説明する。すな
わち、第５図は本発明の補正装置付角ビレツト形状測定
装置の全体構成図、第６図は該補正装置ｌＯ使用説明図
、第７図ａ、ｂは補正装置であるキャリブレーションシ
リンダーの正、平面図、第８図は信号処理演算出力後の
アナログ出力グラフ、第９図は補正原理説明図を夫々示
し、図に示す如く、一対の非接触距離計２２＆ 、 ２
２１）とキャリブレーションシリンダー２５を取り付け
た回転外輪２１が回転伝達ギヤー２８ｆ：介してモータ
ー四で角ビレツト材料２４のまわりを回転する。
わち、第５図は本発明の補正装置付角ビレツト形状測定
装置の全体構成図、第６図は該補正装置ｌＯ使用説明図
、第７図ａ、ｂは補正装置であるキャリブレーションシ
リンダーの正、平面図、第８図は信号処理演算出力後の
アナログ出力グラフ、第９図は補正原理説明図を夫々示
し、図に示す如く、一対の非接触距離計２２＆ 、 ２
２１）とキャリブレーションシリンダー２５を取り付け
た回転外輪２１が回転伝達ギヤー２８ｆ：介してモータ
ー四で角ビレツト材料２４のまわりを回転する。
ここで用いる距離針としては、アンソラの「光ｉイクロ
」が適当でＴｏ９、キャリブレーションシリンダー２５
はパワー供給の容易な電動ノくワーシリンダーが適当で
ある。光マイクロの電源及び信号、パワーシリンダーの
電源はスリップリング３１ ｔ−介して伝達される。キ
ャリブレーションシリンダー６の詳細図は第７図に示す
が、キヤリプレーシ目ン反射板届を設けている。
」が適当でＴｏ９、キャリブレーションシリンダー２５
はパワー供給の容易な電動ノくワーシリンダーが適当で
ある。光マイクロの電源及び信号、パワーシリンダーの
電源はスリップリング３１ ｔ−介して伝達される。キ
ャリブレーションシリンダー６の詳細図は第７図に示す
が、キヤリプレーシ目ン反射板届を設けている。
ビレットム測定中は、／クワーシリンダーロッドは収縮
し、材料との干渉をさけている。
し、材料との干渉をさけている。
校正する時には第６図に示す様にキャリプレ−７ヨン反
射板２６を伸はして、これと該非接触距離計２２ａ 、
２２ｂと間の距離ムとＬｂとを測定して校正全行なう
０ すなわち、通常２つの光学距離計２２ａ ａ ２２ｂは
外輪精度が出ている時はひとＬｂは一定しているが、外
輪２１が熱膨張し几夛、歪んだ時は後述の第８図のＬａ
、 Ｌｂの様に回転位置に応じて変動している。
射板２６を伸はして、これと該非接触距離計２２ａ 、
２２ｂと間の距離ムとＬｂとを測定して校正全行なう
０ すなわち、通常２つの光学距離計２２ａ ａ ２２ｂは
外輪精度が出ている時はひとＬｂは一定しているが、外
輪２１が熱膨張し几夛、歪んだ時は後述の第８図のＬａ
、 Ｌｂの様に回転位置に応じて変動している。
これを、材料別の通過していない時に測定し、信号処理
器部で記憶しておく。
器部で記憶しておく。
材料９が侵入して来た時の測定出力を第８図に示すが、
０＠位置（第５図の位置）、９０°位置近傍で最小値を
出力する様な１線出力となる。
０＠位置（第５図の位置）、９０°位置近傍で最小値を
出力する様な１線出力となる。
これは、単純には、第４図に於けると同じく、第９図に
示す様に２つの測定値ａ 、ｂ（距離計２２ａ 、２２
ｂと材料スの表面との間の距離）がわかれば算出出来る
ことになるが、これｔｉ第８図に示される誤差ΔＬａ、
ｂＬｂを含んでいるので、補正する必要がある。この補
正祉、第９図に付記し次式によることで成立する。
示す様に２つの測定値ａ 、ｂ（距離計２２ａ 、２２
ｂと材料スの表面との間の距離）がわかれば算出出来る
ことになるが、これｔｉ第８図に示される誤差ΔＬａ、
ｂＬｂを含んでいるので、補正する必要がある。この補
正祉、第９図に付記し次式によることで成立する。
岡、第５図に於いて、図中２３ｔｌロール、ｎは距離計
７−ド、園は回転位置針を夫々示す。
７−ド、園は回転位置針を夫々示す。
以上の如く、本発明によるならば、距離計据付基盤であ
る外輪が熱膨張し几９歪んだりしても、それＫよって生
じる誤差の補正は適１１になされて実用に供することが
可能となシ、非接触方式による連続測定が実現され得る
ものである。
る外輪が熱膨張し几９歪んだりしても、それＫよって生
じる誤差の補正は適１１になされて実用に供することが
可能となシ、非接触方式による連続測定が実現され得る
ものである。
尚、本発明は、丸ビレツト測定にも応用出来、角ビレツ
ト以外、小径の丸棒や線材にも材料振動に影響されない
測定手段として応用され得る。
ト以外、小径の丸棒や線材にも材料振動に影響されない
測定手段として応用され得る。
第１図〜第４図は一応理論的に可能な非接触式の連続測
定手段の説明図で、第１図は測定装置の全体構成図、第
２図は距離計の原理図、第３図はアナログ出力グラフ、
第４図は測定原理図、第５図〜第９図は本発明の測定手
段の説明図で、第５図は不発明の測定装置の全体構成図
、第６図は補正装置の使用説明図、第７図’ ｅ ｂ
Ｆｉ要部の正。 平面図、第８図はアナログ出力グラフ、第９図は補正原
理説明図である。 ２２ａ 、 ２２ｂ・・・非接触距離計、鵬・・・キャ
リブレーションシリンダー、２１・・・回転外輪、２６
・・・キャリブレーション反射板。 ７？／Ａの ′：ｊＰ５４ｕ う２遡 ブ戸７７１り ０゜
定手段の説明図で、第１図は測定装置の全体構成図、第
２図は距離計の原理図、第３図はアナログ出力グラフ、
第４図は測定原理図、第５図〜第９図は本発明の測定手
段の説明図で、第５図は不発明の測定装置の全体構成図
、第６図は補正装置の使用説明図、第７図’ ｅ ｂ
Ｆｉ要部の正。 平面図、第８図はアナログ出力グラフ、第９図は補正原
理説明図である。 ２２ａ 、 ２２ｂ・・・非接触距離計、鵬・・・キャ
リブレーションシリンダー、２１・・・回転外輪、２６
・・・キャリブレーション反射板。 ７？／Ａの ′：ｊＰ５４ｕ う２遡 ブ戸７７１り ０゜
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （ＩＪ 外輪を回転しながら非接触距離測定器とビレ
ット表面間の距離を測定してビレットの対辺の寸法を求
め、その値にキャリブレーション反射板と２対の非接触
測定器の距離を測定することＫよって求めた値を補正す
るビレット寸法測定方法。 （２） 外輪に軸心と対称位置に相対する２対の非接
触測定器とキャリブレーション反射板を設け、上記外輪
を回転させる機構を設けたことを特徴とする特許梢求の
範囲第１項に記載の発明の実施に直接使用するビレット
寸法測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1445682A JPS58131503A (ja) | 1982-02-01 | 1982-02-01 | ビレツト形状測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1445682A JPS58131503A (ja) | 1982-02-01 | 1982-02-01 | ビレツト形状測定方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58131503A true JPS58131503A (ja) | 1983-08-05 |
Family
ID=11861538
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1445682A Pending JPS58131503A (ja) | 1982-02-01 | 1982-02-01 | ビレツト形状測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58131503A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1154226A2 (de) * | 2000-05-11 | 2001-11-14 | LAP GmbH Laser Applikationen | Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Dicke und Unrundheit von länglichen Werkstücken |
| WO2003087714A1 (en) * | 2002-04-05 | 2003-10-23 | Varco I/P, Inc. | An apparatus and method for inspecting a tubular |
-
1982
- 1982-02-01 JP JP1445682A patent/JPS58131503A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1154226A2 (de) * | 2000-05-11 | 2001-11-14 | LAP GmbH Laser Applikationen | Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Dicke und Unrundheit von länglichen Werkstücken |
| EP1154226A3 (de) * | 2000-05-11 | 2002-05-02 | LAP GmbH Laser Applikationen | Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Dicke und Unrundheit von länglichen Werkstücken |
| WO2003087714A1 (en) * | 2002-04-05 | 2003-10-23 | Varco I/P, Inc. | An apparatus and method for inspecting a tubular |
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