JPS58111750A - イオン電極用参照電極 - Google Patents
イオン電極用参照電極Info
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- JPS58111750A JPS58111750A JP21540081A JP21540081A JPS58111750A JP S58111750 A JPS58111750 A JP S58111750A JP 21540081 A JP21540081 A JP 21540081A JP 21540081 A JP21540081 A JP 21540081A JP S58111750 A JPS58111750 A JP S58111750A
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- Japan
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- electrode
- electrolyte
- reference electrode
- hollow tube
- ion
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/28—Electrolytic cell components
- G01N27/30—Electrodes, e.g. test electrodes; Half-cells
- G01N27/301—Reference electrodes
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- Electrolytic Production Of Non-Metals, Compounds, Apparatuses Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はイオン電極装置に用いられるし照寛他に関する
。
。
第１図はフロー型イオン電極装置に便用する従来の蚕照
′ｄｔ極を示す。この参照１ｍ極は中空のガラス管１の
一端にセラミックスなどの多孔性物質や親水性半透膜な
どからなる部材２が接着剤を用いて固定されている。ガ
ラス管１の内部にはＫＣ／などの１！解液３を収容して
あシ、この電解液３には銀−塩化銀電極４の一端が浸さ
れている。銀−塩化銀を惚４の他端はガラス管１の他端
に被着されたキャップ５を貫通ずるビンプラグ６に接続
式れている。
′ｄｔ極を示す。この参照１ｍ極は中空のガラス管１の
一端にセラミックスなどの多孔性物質や親水性半透膜な
どからなる部材２が接着剤を用いて固定されている。ガ
ラス管１の内部にはＫＣ／などの１！解液３を収容して
あシ、この電解液３には銀−塩化銀電極４の一端が浸さ
れている。銀−塩化銀を惚４の他端はガラス管１の他端
に被着されたキャップ５を貫通ずるビンプラグ６に接続
式れている。
このような従来の参照１億の欠点としてはガラス管１の
内部に電解液３を収容しているため、使用時における参
照１を極の向きが特定される。
内部に電解液３を収容しているため、使用時における参
照１を極の向きが特定される。
たとえば参照電極を横向きにして使用すると、銀−塩化
銀電極４と接触しなくなりやすく、特に電解漱竿′減少
するとその傾同が強くなる。また、ガラス管１とキャッ
プ５の接続部分から電解液が漏れやすく、さらに電解液
が蒸発したり部材２から流出したりして電解液の減少が
早いため、しばしばこれを補給してやる必要がある。
銀電極４と接触しなくなりやすく、特に電解漱竿′減少
するとその傾同が強くなる。また、ガラス管１とキャッ
プ５の接続部分から電解液が漏れやすく、さらに電解液
が蒸発したり部材２から流出したりして電解液の減少が
早いため、しばしばこれを補給してやる必要がある。
本発明は上記事情に着目してなされたもので、その目的
とするところは内部に収容する電解液の減少がほとんど
なく、かつその補給をほとんど必要がないとともに、そ
の使用時の向きの制限がないイオン電極用参照電極を提
供することにある。
とするところは内部に収容する電解液の減少がほとんど
なく、かつその補給をほとんど必要がないとともに、そ
の使用時の向きの制限がないイオン電極用参照電極を提
供することにある。
以下、不発明の一犬施例を第２図ないし＠６図にもとづ
いて直間する。
いて直間する。
第２図はフロー型イオン電憧装置の検出部をル１１の一
端には被検液導入宮１２が接続されまた、フローセル１
１の他端には被検液導出管１３が接続されている。捷た
、フローセルｌＩには参照電極１４およびイオン電極１
５が取シ付けられている。この参照を極７４．ｓ−よび
イオン紙種１５は第３図で示すようにその先端外周にお
ねじ１６を形成してこのおねじ１６の部分を７０−セル
１１に形成したねじ孔１７にそれぞれねじ込み、さらに
Ｏリング１８を介して液もれしないように装着されてい
る。
端には被検液導入宮１２が接続されまた、フローセル１
１の他端には被検液導出管１３が接続されている。捷た
、フローセルｌＩには参照電極１４およびイオン電極１
５が取シ付けられている。この参照を極７４．ｓ−よび
イオン紙種１５は第３図で示すようにその先端外周にお
ねじ１６を形成してこのおねじ１６の部分を７０−セル
１１に形成したねじ孔１７にそれぞれねじ込み、さらに
Ｏリング１８を介して液もれしないように装着されてい
る。
上記参照屯憾１４は第４図で示すように′眠気的絶縁性
の材料、たとえばガラス製の中空管２１の一端にセラミ
ックスなどの多孔性物質または親水性半透膜などからな
る板状の先端部材２２が接着剤２３を用いて液密的にＪ
ｉｌＲ付は固定されている。また、中空管２１の他端に
は液密的にキャップ２４が取り付けられている。中空管
２１の内部には吸水性および保水性のめる材料、たとえ
ばカラヤゴムなどからなる物質２５が密に収容されてい
る。さらに、この物質２５には０．１ｍｏｌのＫＣ／水
溶液などの電解液が浸み込まれている。電解液を浸み込
ませた物質２５には銀−塩化銀−ＦＷ、極２６が浸され
ており、この・銀−塩化・銀′電極２６はキャップ２４
を貫通するビンプラグ２７に接続されている。
の材料、たとえばガラス製の中空管２１の一端にセラミ
ックスなどの多孔性物質または親水性半透膜などからな
る板状の先端部材２２が接着剤２３を用いて液密的にＪ
ｉｌＲ付は固定されている。また、中空管２１の他端に
は液密的にキャップ２４が取り付けられている。中空管
２１の内部には吸水性および保水性のめる材料、たとえ
ばカラヤゴムなどからなる物質２５が密に収容されてい
る。さらに、この物質２５には０．１ｍｏｌのＫＣ／水
溶液などの電解液が浸み込まれている。電解液を浸み込
ませた物質２５には銀−塩化銀−ＦＷ、極２６が浸され
ており、この・銀−塩化・銀′電極２６はキャップ２４
を貫通するビンプラグ２７に接続されている。
ところで、上記物質２５に使用するカラヤゴムは非常に
吸水性および保水性がよいため、放置してもほとんど乾
燥しない。また、このカラヤゴム自体導電性を持ってい
るが、そのインピーダンスは５０ ＫＨｚで約６５にΩ
・鴎である。ここで、５ｑｂｍ度の、食塩（ＮａＣ／
）を含有させて２時間程度飽和水蒸気中に放置すると、
数百Ω・１程式になる。この性質を利用し、カラヤゴム
を０．１ ｍｏｌ ＫＣＩ水溶液につけてよく浸み込ま
せたものを従来の′電解液３の代シに使用するのである
。きらに、カビなど１類の繁殖を防ぐため、フェノール
などの防菌剤も添加しておくとよい。
吸水性および保水性がよいため、放置してもほとんど乾
燥しない。また、このカラヤゴム自体導電性を持ってい
るが、そのインピーダンスは５０ ＫＨｚで約６５にΩ
・鴎である。ここで、５ｑｂｍ度の、食塩（ＮａＣ／
）を含有させて２時間程度飽和水蒸気中に放置すると、
数百Ω・１程式になる。この性質を利用し、カラヤゴム
を０．１ ｍｏｌ ＫＣＩ水溶液につけてよく浸み込ま
せたものを従来の′電解液３の代シに使用するのである
。きらに、カビなど１類の繁殖を防ぐため、フェノール
などの防菌剤も添加しておくとよい。
しかして、フローセル１１に試料や標準液などの被検液
を流し、該層ＴｆｌｉｆＭｚ４およびイオン電極１５の
各検出端に被検液を接触させる。診照′電極１４ではそ
の先端部材２２に被検液が触れるため、先端部材２２の
細孔を通じて中空管２１の内部における電解液を浸み込
１せた物質２５測へ侵入する。その物質２５に浸み込ん
でいる電解液と接触して特定イオンの濃度に関係なく電
位が発生する。この電位を不分極電極である憾−塩化銀
電極２６で検出し、ビンプラグ２７を通じて計測用増幅
器２８へ入力させる。
を流し、該層ＴｆｌｉｆＭｚ４およびイオン電極１５の
各検出端に被検液を接触させる。診照′電極１４ではそ
の先端部材２２に被検液が触れるため、先端部材２２の
細孔を通じて中空管２１の内部における電解液を浸み込
１せた物質２５測へ侵入する。その物質２５に浸み込ん
でいる電解液と接触して特定イオンの濃度に関係なく電
位が発生する。この電位を不分極電極である憾−塩化銀
電極２６で検出し、ビンプラグ２７を通じて計測用増幅
器２８へ入力させる。
一方、イオン１ｆｆｉ、１５では感応イオンの濃度に応
じた電位が発生する。この電位は上記計測用増幅器２８
によシ癖照［極１４からの電位と比較し、その電位差を
差動増幅する。ところで、第６図で示すようにフローセ
ル１１に被検液が流入したｔ。から一定時間後の１．に
おいて参照電極１４とイオン電極１５間の電位差が一定
になるので、ｔ、において第５図で示すようにＣＰＵ２
９からゲート信号３０がサンプルホールド回路Ｊ２％Ａ
／Ｄｆ換回路３２に与えられ、計測用増幅器２８の出力
はサンプルホールド、Ａ／Ｄ変換され、ディジタル値で
ＣＰＵ２９に入力される。さらに、ＣＰＵ２９において
演算処理することによシ上記′電位差をイオン濃度値に
ＫＭされてディスプレイ３３において表示される。
じた電位が発生する。この電位は上記計測用増幅器２８
によシ癖照［極１４からの電位と比較し、その電位差を
差動増幅する。ところで、第６図で示すようにフローセ
ル１１に被検液が流入したｔ。から一定時間後の１．に
おいて参照電極１４とイオン電極１５間の電位差が一定
になるので、ｔ、において第５図で示すようにＣＰＵ２
９からゲート信号３０がサンプルホールド回路Ｊ２％Ａ
／Ｄｆ換回路３２に与えられ、計測用増幅器２８の出力
はサンプルホールド、Ａ／Ｄ変換され、ディジタル値で
ＣＰＵ２９に入力される。さらに、ＣＰＵ２９において
演算処理することによシ上記′電位差をイオン濃度値に
ＫＭされてディスプレイ３３において表示される。
なお、本発明の参照電極はディラグ型イオン１１ｔ極装
置にも通用できる。
置にも通用できる。
以上説明したように本発明における参照電極は内部に収
容する電解液をカラヤゴムのように吸水性、保水性のあ
る物質に浸み込ませておくようにしたので、大気中や被
検液からの水分吸収と保水効果により乾燥が防止される
。したがって、電解液の補給をほとんど必要としない。
容する電解液をカラヤゴムのように吸水性、保水性のあ
る物質に浸み込ませておくようにしたので、大気中や被
検液からの水分吸収と保水効果により乾燥が防止される
。したがって、電解液の補給をほとんど必要としない。
さらに、参照電極を１到した向きで使用しても電解、液
は保水性にすぐれたゲル状になっているだめ漏れるおそ
れがない。つ捷シ、使用時の向きが特定されない。
は保水性にすぐれたゲル状になっているだめ漏れるおそ
れがない。つ捷シ、使用時の向きが特定されない。
第１図は従来の参照！極の断面図、第２図は本発明の一
実／Ｍ列におけるフロー型イオン電極装置の検出部の斜
視図、第３図は同じくその検出部の断面図、第４図は同
じく参照電極の断面図、第５図は同じく上記実施例にお
ける検出電気回路図、第６図は同じくその検出信号（電
位差）の変化を示す図である。 １４・・・参照電極、２Ｉ・・・中空管、２２・・・先
端部材、２５・・・物質、２６・・・銀−塩化４ｓ１！
極。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦７一
実／Ｍ列におけるフロー型イオン電極装置の検出部の斜
視図、第３図は同じくその検出部の断面図、第４図は同
じく参照電極の断面図、第５図は同じく上記実施例にお
ける検出電気回路図、第６図は同じくその検出信号（電
位差）の変化を示す図である。 １４・・・参照電極、２Ｉ・・・中空管、２２・・・先
端部材、２５・・・物質、２６・・・銀−塩化４ｓ１！
極。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦７一
Claims (1)
- Ｗ１検欧中のイオン濃度を測定する化学分析装置に用い
るイオン醒極用参照電極において、電気的絶縁性の中空
管と、この中空管の一端開口部分に設けられその開口を
閉基するとともに多孔性＠質からなる先端部材と、上記
中空管の内部に収容され吸水性保水性があシ′＃Ｌ屏欣
を浸み込ませた物質と、この物質中に浸漬場せた不分極
篭悌とを具備したことを特徴とするイオン電悌用参照′
醒極。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21540081A JPS58111750A (ja) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | イオン電極用参照電極 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21540081A JPS58111750A (ja) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | イオン電極用参照電極 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58111750A true JPS58111750A (ja) | 1983-07-02 |
Family
ID=16671691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21540081A Pending JPS58111750A (ja) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | イオン電極用参照電極 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58111750A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01296156A (ja) * | 1988-05-24 | 1989-11-29 | Nippon Steel Corp | 構造体インピーダンス測定用センサーおよび被膜防蝕機能診断方法 |
-
1981
- 1981-12-25 JP JP21540081A patent/JPS58111750A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01296156A (ja) * | 1988-05-24 | 1989-11-29 | Nippon Steel Corp | 構造体インピーダンス測定用センサーおよび被膜防蝕機能診断方法 |
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