JPS58106964A - 固体撮像装置の駆動方法 - Google Patents
固体撮像装置の駆動方法Info
- Publication number
- JPS58106964A JPS58106964A JP56205219A JP20521981A JPS58106964A JP S58106964 A JPS58106964 A JP S58106964A JP 56205219 A JP56205219 A JP 56205219A JP 20521981 A JP20521981 A JP 20521981A JP S58106964 A JPS58106964 A JP S58106964A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- charge
- gate
- signal line
- vertical signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/62—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
- H04N25/621—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of blooming
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/62—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
- H04N25/625—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of smear
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、受光部にホトダイオードアレーを設け、読出
し用水平レジスタとして電荷移送素子(Charge
Transfer Device 、以下本明細書にお
いてはOTDと略称する)を設けた2次元固体撮像装置
の駆動方法に関するものである。
し用水平レジスタとして電荷移送素子(Charge
Transfer Device 、以下本明細書にお
いてはOTDと略称する)を設けた2次元固体撮像装置
の駆動方法に関するものである。
第1図は、受光部にダイオードアレーを、読出しレジス
タにOTDを設けたホトセンサの1例を示すものである
(実願昭54−157010号)図中、1はホトダイオ
ード、2id垂直スイッチMIS)ランジスタ、3は垂
直走査回路、4は垂直信号線、 5 (5’)、
6 (6’)、 11 (11’)はゲ−)MI
S )ランジスタ、7(7’)は出力アンプ8(8’)
は水平レジスタとしてのCTD、9 (9’)はOTD
の入力部であり、10(10’)はブルーミング抑圧回
路である。普通、0TD8 (8’)は2相(Hl、H
2パルス)、3相、もしくは擬4相で駆動される。水平
走査期間中に垂直信号線4に蓄積された。ブルーミング
や垂直スメアなどの擬似信号を、水平ブランキング期間
の最初にゲート5と10および11を通して外部に掃き
出す。その後、第1図■で示した横−行の画素が選択さ
れ一行分の信号は一括して上方のAチャ坏ルのOTDレ
ジスタ8に移送され、それぞれのメモリ部にストアされ
る。
タにOTDを設けたホトセンサの1例を示すものである
(実願昭54−157010号)図中、1はホトダイオ
ード、2id垂直スイッチMIS)ランジスタ、3は垂
直走査回路、4は垂直信号線、 5 (5’)、
6 (6’)、 11 (11’)はゲ−)MI
S )ランジスタ、7(7’)は出力アンプ8(8’)
は水平レジスタとしてのCTD、9 (9’)はOTD
の入力部であり、10(10’)はブルーミング抑圧回
路である。普通、0TD8 (8’)は2相(Hl、H
2パルス)、3相、もしくは擬4相で駆動される。水平
走査期間中に垂直信号線4に蓄積された。ブルーミング
や垂直スメアなどの擬似信号を、水平ブランキング期間
の最初にゲート5と10および11を通して外部に掃き
出す。その後、第1図■で示した横−行の画素が選択さ
れ一行分の信号は一括して上方のAチャ坏ルのOTDレ
ジスタ8に移送され、それぞれのメモリ部にストアされ
る。
図中、TXIは過剰電荷掃出し端子、BLDおよびBL
Gはそれぞれブルーミング抑圧回路の電源端子およびゲ
ート端子、TX2およびTX3はゲートMIS)ランジ
スタのゲート端子でそれらの後に付されたAおよびBは
それぞれAおよびBチャネルに属することを示す。同様
に、ダッシュを付さない走査回路の引用番号はAチャネ
ルに属しダッシュを付された対応する引用番号はBチャ
イ、AK属する。TX2には直流電圧が印加されており
、トランジスタ11.11’はゲートの役を果さず、ダ
イオードアレーと走査回路の間に電位差を設ける役をし
、これに関しては本出願人による前の出願(実願昭56
−77207号)に記載されている。
Gはそれぞれブルーミング抑圧回路の電源端子およびゲ
ート端子、TX2およびTX3はゲートMIS)ランジ
スタのゲート端子でそれらの後に付されたAおよびBは
それぞれAおよびBチャネルに属することを示す。同様
に、ダッシュを付さない走査回路の引用番号はAチャネ
ルに属しダッシュを付された対応する引用番号はBチャ
イ、AK属する。TX2には直流電圧が印加されており
、トランジスタ11.11’はゲートの役を果さず、ダ
イオードアレーと走査回路の間に電位差を設ける役をし
、これに関しては本出願人による前の出願(実願昭56
−77207号)に記載されている。
以上の動作を水平ブランキング期間の前半に行ない、後
半は同様に第1図下方のBチャネルのOTDレジスタに
図中■で示したホトダイオードの横−桁分の信号を移送
しストアする。水平走査期間はゲー)6.6’をオフと
し、OTDを駆動して出力アンプ7と7′から2ライン
の信号が同時にのは、単板カラーセンサとしての画像の
解像度を向上させるためである。第2図に各パル孔特に
水平ブランキング期間前半のタイミングチャートが示さ
れている。
半は同様に第1図下方のBチャネルのOTDレジスタに
図中■で示したホトダイオードの横−桁分の信号を移送
しストアする。水平走査期間はゲー)6.6’をオフと
し、OTDを駆動して出力アンプ7と7′から2ライン
の信号が同時にのは、単板カラーセンサとしての画像の
解像度を向上させるためである。第2図に各パル孔特に
水平ブランキング期間前半のタイミングチャートが示さ
れている。
さて1以上の従来例には以下に示す問題点がある。第1
図において垂直信号線4[蓄えられているプルーミング
や垂直スメアの過剰雑音電荷を掃き出す際に1図中B、
LDA (BLDB)から電荷が垂直信号線4へ注入さ
れる。この時、注入される電荷が各垂直信号線によって
ばらつくと、そのばらつきの一部が掃出し時に残留して
固定パターン雑音となる。注入ばらつきを少なくするた
めに注入時間を十分長くとると垂直信号線への注入電荷
が多くなりすぎて、与えられた時間内に十分な掃出しが
行なえなくなる。の二つの問題点が生じる。
図において垂直信号線4[蓄えられているプルーミング
や垂直スメアの過剰雑音電荷を掃き出す際に1図中B、
LDA (BLDB)から電荷が垂直信号線4へ注入さ
れる。この時、注入される電荷が各垂直信号線によって
ばらつくと、そのばらつきの一部が掃出し時に残留して
固定パターン雑音となる。注入ばらつきを少なくするた
めに注入時間を十分長くとると垂直信号線への注入電荷
が多くなりすぎて、与えられた時間内に十分な掃出しが
行なえなくなる。の二つの問題点が生じる。
本発明の目的は、したがって、与えられた時間内に十分
な掃出しを行なうことを保証しながら上記固定雑音パタ
ーンを除去することを可能にする背戸に述べた種類の固
体撮像素子の駆動方法を提供することである。
な掃出しを行なうことを保証しながら上記固定雑音パタ
ーンを除去することを可能にする背戸に述べた種類の固
体撮像素子の駆動方法を提供することである。
上記目的を達成するために1本発明による駆動方法は水
平ブランキング期間で垂直信号線の擬似信号を読み出し
、その後、垂直信号線の信号を水平レジスタに読み出し
、水平走査期間中は上記水平レジスタを駆動して信号読
み出しを行なう固体撮像装置において、過剰電荷掃出し
端子から素子内へ注入されることなく、上記過剰電荷掃
出し端子と上記垂直信号線の間に存在する容量に電荷が
蓄積された後にその電荷が垂直信号線へ注入されること
を要旨とする。すなわち1本発明は、過剰電荷掃出し用
のバイアス電荷を注入する際、垂直信号線の容量Cvよ
り小さいバッファ容量02(第1図12.12’)に−
担電荷を蓄え、その後ゲートMISトランジスタ11.
11’を動作させてC2の電荷を垂直信号線の容量Cv
へ移送することにより固定パターン雑音を低減させるも
のであるすなわち1本発明による装置の等価回路図は実
願昭56−77207号に記載されているものと同じで
ある。しかしながら、MID)ランジスタ11のゲート
は速度を高めるために、チャネル寸法比(W/L)を大
きく選ぶのが有利である。このため本発明の方法を実施
するための装置においては、第3図に示すように、上記
ゲートは屈折しているのが好ましい。第4図は第3図の
IV−IV’断面図で1図中、13は半導体基板、14
はp型エピタキシャル層、15および16はn 型領域
。
平ブランキング期間で垂直信号線の擬似信号を読み出し
、その後、垂直信号線の信号を水平レジスタに読み出し
、水平走査期間中は上記水平レジスタを駆動して信号読
み出しを行なう固体撮像装置において、過剰電荷掃出し
端子から素子内へ注入されることなく、上記過剰電荷掃
出し端子と上記垂直信号線の間に存在する容量に電荷が
蓄積された後にその電荷が垂直信号線へ注入されること
を要旨とする。すなわち1本発明は、過剰電荷掃出し用
のバイアス電荷を注入する際、垂直信号線の容量Cvよ
り小さいバッファ容量02(第1図12.12’)に−
担電荷を蓄え、その後ゲートMISトランジスタ11.
11’を動作させてC2の電荷を垂直信号線の容量Cv
へ移送することにより固定パターン雑音を低減させるも
のであるすなわち1本発明による装置の等価回路図は実
願昭56−77207号に記載されているものと同じで
ある。しかしながら、MID)ランジスタ11のゲート
は速度を高めるために、チャネル寸法比(W/L)を大
きく選ぶのが有利である。このため本発明の方法を実施
するための装置においては、第3図に示すように、上記
ゲートは屈折しているのが好ましい。第4図は第3図の
IV−IV’断面図で1図中、13は半導体基板、14
はp型エピタキシャル層、15および16はn 型領域
。
17は絶縁層を示し、端子TX2AK接続されたMIS
)ランジスタ5のゲートと端子TX3Aに接続されたM
IS)ランジスタ11のゲートの間に存在するn 型領
域15はMIS)ランジスタ5のゲートのW/Lを大き
く保つのに役立ち、この領域15が形成する容量が容量
C2を構成する。
)ランジスタ5のゲートと端子TX3Aに接続されたM
IS)ランジスタ11のゲートの間に存在するn 型領
域15はMIS)ランジスタ5のゲートのW/Lを大き
く保つのに役立ち、この領域15が形成する容量が容量
C2を構成する。
以下本発明の実施例を第3図により説明する。
第5図は低雑音駆動法の一例である。第2図の従来例と
異なる点はつぎの通りである。
異なる点はつぎの通りである。
(1)第5図において、BLDAがオンして立ち上がる
時点はBLGAがオフして立ち下がる時点より後である
。また、この時TX3Aはパルスで低レベルとなってい
る。したがって第1図において画素部と水平電荷移送素
子の結合部9点■と■のみがBLDAの低レベル′vB
Lに充電されかつ保持されることになる。これに対して
第2図の従来例では1点■と■だけでなく、垂直信号線
4もB LDAの低レベルVBLになり、パルスBLD
Aがオンして立ち上がると点■と■、および垂直信号線
4の電位も変化する。
時点はBLGAがオフして立ち下がる時点より後である
。また、この時TX3Aはパルスで低レベルとなってい
る。したがって第1図において画素部と水平電荷移送素
子の結合部9点■と■のみがBLDAの低レベル′vB
Lに充電されかつ保持されることになる。これに対して
第2図の従来例では1点■と■だけでなく、垂直信号線
4もB LDAの低レベルVBLになり、パルスBLD
Aがオンして立ち上がると点■と■、および垂直信号線
4の電位も変化する。
(2)上記の動作により1本発明では端子BLDAから
のバイアス電荷はゲー)TX2Aのゲート容量と第1図
の点■の容量C2に蓄えられる。
のバイアス電荷はゲー)TX2Aのゲート容量と第1図
の点■の容量C2に蓄えられる。
これに対し第2図の従来例ではバイアス電荷は垂直信号
線容量Cvに直接注入される。
線容量Cvに直接注入される。
(5)本発明において、その後TX2AがオフしTX3
Aがオンすると、第1図のゲー)TX2Aと点■に蓄え
られていた電荷が垂直信号線4へ転送され、過剰電荷掃
出し用のバイアス電荷として働らくことになる。その後
の各パルスは従来例と同じである。
Aがオンすると、第1図のゲー)TX2Aと点■に蓄え
られていた電荷が垂直信号線4へ転送され、過剰電荷掃
出し用のバイアス電荷として働らくことになる。その後
の各パルスは従来例と同じである。
(4)ところが第2図に示す従来例では、バイアス電荷
はBLDAから垂直信号線へ直接注入される。この注入
される際の時定数τは、トランジスタ5.6.11のウ
チコンダクタンスの一番小さいトランジスタのコンダク
タンスg と垂直信号線4の容量Cvで次式で求められ
る。
はBLDAから垂直信号線へ直接注入される。この注入
される際の時定数τは、トランジスタ5.6.11のウ
チコンダクタンスの一番小さいトランジスタのコンダク
タンスg と垂直信号線4の容量Cvで次式で求められ
る。
τ=Cv/grn(1)
したがって注入される電荷はトランジスタのチャネル寸
法比(W/L)のばらつき、酸化膜厚のほらつき、閾電
圧のばらつき、垂直信号線容量Cvのばらつきなどによ
りばらつき、固定パターン雑音の原因となる。また、注
入される電荷量そのものが、大きな(2〜4pF)垂直
信号線容量Cvに比例して大きく、与えられた掃出し時
間内に全て掃き出すことはむずかしい。
法比(W/L)のばらつき、酸化膜厚のほらつき、閾電
圧のばらつき、垂直信号線容量Cvのばらつきなどによ
りばらつき、固定パターン雑音の原因となる。また、注
入される電荷量そのものが、大きな(2〜4pF)垂直
信号線容量Cvに比例して大きく、与えられた掃出し時
間内に全て掃き出すことはむずかしい。
(5)これに対して第5図に示す本発明による実施例で
は、BLDAからのノくイアスミ荷は一担。
は、BLDAからのノくイアスミ荷は一担。
第1図のゲートTX2Aと02に蓄えられるのでばらつ
きが小さく、電荷量そのものも比較的小さい(Cの値は
005〜”’C1,2pF ’) 、、したがって本発
明の駆動方法によれば、従来例に比べて固定ノくターン
雑音がJJ\さく、ノ(イアスミ荷が十分掃き出せる固
体撮像装置を実現することができる。
きが小さく、電荷量そのものも比較的小さい(Cの値は
005〜”’C1,2pF ’) 、、したがって本発
明の駆動方法によれば、従来例に比べて固定ノくターン
雑音がJJ\さく、ノ(イアスミ荷が十分掃き出せる固
体撮像装置を実現することができる。
第5図およびつぎに示す第6図には、第2図におけると
同様にAチャネル動作のみが示されており1.この後に
全く同様なりチャネル動作が続く。
同様にAチャネル動作のみが示されており1.この後に
全く同様なりチャネル動作が続く。
第6図は本発明の他の実施例を示す。第6図ではTX2
Aがオフした後にBLGAがオフしている。
Aがオフした後にBLGAがオフしている。
このためBLDAからのバイアス電荷が第1図の点■の
容量C2vcのみ蓄えられ、ゲー)TX2Aには蓄えら
れない。このためバイアス電荷の量をさらに小さく押さ
えることができ、ばらつきも小さくなる。駆動の原理そ
のものは第5図の実施例と何ら変わる所はない。
容量C2vcのみ蓄えられ、ゲー)TX2Aには蓄えら
れない。このためバイアス電荷の量をさらに小さく押さ
えることができ、ばらつきも小さくなる。駆動の原理そ
のものは第5図の実施例と何ら変わる所はない。
以上説明した通り9本発明による固体撮像素子の駆動方
法によれば、与えられた時間内に十分な掃出しを行なう
ことを保証しながら、固定雑音パターンを除去すること
ができる。
法によれば、与えられた時間内に十分な掃出しを行なう
ことを保証しながら、固定雑音パターンを除去すること
ができる。
第1図は固体撮像素子の回路構成図、第2図は従来の動
作パルスタイミングチャート、第6図は本発明による方
法を実施するのに有利な半導体装置の平面図、第4図は
第3図に示す装置のIV−IV’線に沿って切った断面
図、第5図および第6図は本発明によるパルスタイミン
グチャートを示す図である。 1・・ホトダイオード 2・・・垂直スイッチMIS)ランジスタ3・・垂直走
査回路 4・・垂直信号線 5、 5’、 6. 6’、 11. 11’
・・ゲートMISトランジスタ 7.7′・・・出力アンプ 88′ ・・・水平レジスタとしての0TD9.9′
・・・OTDの入力部 10.10’・・・ブルーミング抑圧回路12.12’
・・・バッファ容量 13・・・半導体基板 14・・・p型エピタキシャル層 15.16・・・計型領域 17・・・絶縁層代理
人弁理士 中村純之助 第1頁の続き (塑合 明 者 青木正和 国分寺市東恋ケ窪−丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内 0発 明 者 竹本−へ男 国分寺市東恋ケ窪−丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内 0発 明 者 今出宅哉 横浜市戸塚区吉田町292番地株 式会社日立製作所家電研究所内 0発 明 者 高橋健二 国分寺市東恋ケ窪−丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内 0発 明 者 秋山俊之 国分寺市東恋ケ窪−丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 0発 明 者 長原脩策 国分寺市東恋ケ窪−丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内
作パルスタイミングチャート、第6図は本発明による方
法を実施するのに有利な半導体装置の平面図、第4図は
第3図に示す装置のIV−IV’線に沿って切った断面
図、第5図および第6図は本発明によるパルスタイミン
グチャートを示す図である。 1・・ホトダイオード 2・・・垂直スイッチMIS)ランジスタ3・・垂直走
査回路 4・・垂直信号線 5、 5’、 6. 6’、 11. 11’
・・ゲートMISトランジスタ 7.7′・・・出力アンプ 88′ ・・・水平レジスタとしての0TD9.9′
・・・OTDの入力部 10.10’・・・ブルーミング抑圧回路12.12’
・・・バッファ容量 13・・・半導体基板 14・・・p型エピタキシャル層 15.16・・・計型領域 17・・・絶縁層代理
人弁理士 中村純之助 第1頁の続き (塑合 明 者 青木正和 国分寺市東恋ケ窪−丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内 0発 明 者 竹本−へ男 国分寺市東恋ケ窪−丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内 0発 明 者 今出宅哉 横浜市戸塚区吉田町292番地株 式会社日立製作所家電研究所内 0発 明 者 高橋健二 国分寺市東恋ケ窪−丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内 0発 明 者 秋山俊之 国分寺市東恋ケ窪−丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 0発 明 者 長原脩策 国分寺市東恋ケ窪−丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内
Claims (1)
- 水平ブランキング期間に垂直信号線の擬似信号を読み出
し、その後、垂直信号線の信号を水平レジスタに読み出
し、水平走査期間中は上記水平レジスタを駆動して信号
読出しを行なう固体撮像装置において、過剰電荷掃出し
端子から素子内へ注入されるバイアス電荷が直接垂直信
号線へ注入されることなく、上記過剰電荷掃出し端子と
上記垂、直信号線の間に存在する容量に電荷が蓄積され
た°後にその電荷が垂直信号線へ注入されることを特徴
とする固体撮像装置の駆動方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56205219A JPS58106964A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 固体撮像装置の駆動方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56205219A JPS58106964A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 固体撮像装置の駆動方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106964A true JPS58106964A (ja) | 1983-06-25 |
Family
ID=16503375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56205219A Pending JPS58106964A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 固体撮像装置の駆動方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58106964A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01252078A (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
-
1981
- 1981-12-21 JP JP56205219A patent/JPS58106964A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01252078A (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4450484A (en) | Solid states image sensor array having circuit for suppressing image blooming and smear | |
| US6747699B2 (en) | Solid state image pickup apparatus | |
| US5808677A (en) | Solid-state imaging device having a reset switch for resetting potential of capacitor | |
| US4189749A (en) | Solid state image sensing device | |
| JPS6343951B2 (ja) | ||
| JP2525781B2 (ja) | 固体撮像装置の駆動方法 | |
| US20020167601A1 (en) | Solid state image pickup apparatus | |
| US4551757A (en) | Method for driving solid-state image sensor | |
| US4734776A (en) | Readout circuit for an optical sensing charge injection device facilitating an extended dynamic range | |
| US5274459A (en) | Solid state image sensing device with a feedback gate transistor at each photo-sensing section | |
| US4301477A (en) | Solid-state imaging device | |
| US6831691B1 (en) | Solid-state image pickup device | |
| US5748232A (en) | Image sensor and driving method for the same | |
| US4963983A (en) | Ccd image sensor with vertical overflow drain | |
| JPS6155784B2 (ja) | ||
| US4340909A (en) | Solid state area imaging apparatus | |
| JPH0771235B2 (ja) | 電荷検出回路の駆動方法 | |
| JPS58106964A (ja) | 固体撮像装置の駆動方法 | |
| Sadashige | SMPTE Tutorial Paper: An Overview of Solid-State Sensor Technology | |
| JP2545469B2 (ja) | 光電変換装置 | |
| JP2001177769A (ja) | 固体撮像素子の駆動方法 | |
| JPS61127277A (ja) | 固体撮像装置 | |
| JPH0528031B2 (ja) | ||
| JPH0320108B2 (ja) | ||
| KR850000366B1 (ko) | 고체촬상소자 |