JPH1194596A - 回転角度検出装置 - Google Patents

回転角度検出装置

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Publication number
JPH1194596A
JPH1194596A JP27340697A JP27340697A JPH1194596A JP H1194596 A JPH1194596 A JP H1194596A JP 27340697 A JP27340697 A JP 27340697A JP 27340697 A JP27340697 A JP 27340697A JP H1194596 A JPH1194596 A JP H1194596A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
light
rotation angle
fixed electrode
phosphor pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP27340697A
Other languages
English (en)
Inventor
Takayuki Nakamura
高幸 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yaskawa Electric Corp
Original Assignee
Yaskawa Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Yaskawa Electric Corp filed Critical Yaskawa Electric Corp
Priority to JP27340697A priority Critical patent/JPH1194596A/ja
Publication of JPH1194596A publication Critical patent/JPH1194596A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 放電を利用し、低い印加電圧で電極消耗が少
なく安定した出力を得ることができる回転角度検出装置
を提供する。 【解決手段】 回転体1と同一回転角で回転する円板状
の回転電極11と、この回転電極11と空隙を介して対
向する針状の固定電極2と、回転電極11と固定電極2
の間に電圧を印加する放電用の電源6と、を備えた回転
角度検出装置において、回転電極11の表面に放射状に
等間隔で、且つ、同一幅に形成された固定電極2からの
放電により発光する蛍光体パターン12と、蛍光体パタ
ーン12と対向する位置にスリット4を介して設けた蛍
光体パターン12からの光を検出する光検出手段3と、
光検出手段3より得られた光の検出回数をカウントし
て、この光検出回数と蛍光体パターン12の配置角度と
の積を求めることにより回転電極11の回転角度を演算
する回転角度演算器7とを設けたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、回転体の回転角を
放電現象を利用して検出する回転角度検出装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、回転角を放電現象を利用して検出
するものとして、例えば、図4に示すような放電パルス
をカウントして回転角を検出するようにしたものが開示
されている(例えば、特開昭54−24648号公
報)。図において、100はモータなどの被測定体とな
る回転体、200は回転体100に固定された絶縁円
板、300は絶縁円板200の外周付近の同心円状に等
間隔で同一幅に形成された複数のスリット、400はス
リット300を挟むように絶縁板200の一方側に設け
られた板状導電体、500は板状導電体400とスリッ
ト300を挟んで対向して設けられた針状の固定電極、
600は直流電流からなる放電用の電源、700は負荷
抵抗、800は出力電圧を増幅するための増幅回路であ
る。このような構成により、針状の固定電極500に放
電用の電源600より高電圧を印加してコロナ放電させ
ると、絶縁円板200に形成されたスリット300を通
り、板状の導電体400に放電電流が検出される。絶縁
円板200は回転体100と一体に回転するから回転速
度の増加に応じて間隔が狭くなるパルス状の出力特性が
得られ、その出力性から回転角または回転数を検出す
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来技
術では、コロナ放電による放電電流を検出するため、コ
ロナ放電が発生するように高い電圧を放電電極に印加し
なければならず、高い電圧を印加すると放電電極が消耗
するといった問題があった。また、コロナ放電の停止に
よる信号の停止、火花放電の発生による電極の破損が発
生しやすいといった問題があった。そこで、本発明は、
放電を利用し、低い印加電圧で電極消耗が少なく安定し
た出力を得ることができる回転角度検出装置を提供する
ことを目的とするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するた
め、本発明は、回転体と同一回転角で回転する円板状の
回転電極と、この回転電極と空隙を介して対向する針状
の固定電極と、前記回転電極と前記固定電極の間に電圧
を印加する放電用の電源と、を備えた回転角度検出装置
において、前記回転電極の側面に放射状に等間隔で、且
つ、同一幅に形成された前記固定電極からの放電により
発光する蛍光体パターンと、この蛍光体パターンに対向
して前記固定電極の近傍に、且つ、略同一半径上に配設
したスリットと、このスリットに対向して前記蛍光体パ
ターンの反対側に設けられ、前記スリットを通過してき
た光を検出する光検出手段と、前記光検出手段より得ら
れた光の検出回数をカウントして、この光検出回数と前
記蛍光体パターンの配置角度との積を求めることにより
前記回転電極の回転角度を演算する回転角度演算器と、
を設けたことを特徴とするものである。また、前記蛍光
体パターンは、残光性を有するZn S:Cu からなる蛍
光物質で構成されるものである。上記手段により、回転
電極の表面に固定電極からの放電により発光する蛍光体
パターンと、蛍光体パターンと対向する位置に配設した
スリットを通して設けた蛍光体パターンからの光を検出
する光検出手段とを設け、光検出手段の光検出回数と蛍
光体パターンの配置角度の関係から回転角度を検出した
ので、放電のために印加する電圧を低くすることが出
来、しかも固定電極の消耗が少なく、また、蛍光物質の
残光を利用することで断続した放電でも動作可能な回転
角度検出装置が得られる。
【0005】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図にもと
づいて説明する。図1は本発明の実施例を示す回転角度
検出装置の斜視図、図2は回転電極表面の蛍光体パター
ンの一例を示す平面図、図3は本発明の実施例を示す蛍
光体パターンと光検出手段の要部を示す模式図である。
図1において、11は回転体1と同一回転角で回転し、
回転体1の外側に設けた金属製で円板状の回転電極で、
回転体1の一方端に嵌着されたスリップリング5を介し
て電源6の正極に接続されている。2は回転電極11上
の蛍光体パターン12と対向する面に配置された先端の
鋭利な固定電極であり、電源6の負極に接続されてい
る。次に、従来例と異なる点を説明する。回転電極11
の表面には、図2に示すように所定の間隔で残光性を持
つ蛍光物質を印刷等することにより作製された蛍光体パ
ターン12が、固定電極2の近傍に、且つ、略同一半径
上に配設されている。また、図3に示すように蛍光体パ
ターン12と対向し、蛍光体パターン12からスリット
4を通過してきた光を検出できるように光検出手段3が
設けられており、光検出手段3は回転角度演算器7に接
続されている。蛍光体パターン12に用いる蛍光物質
は、発光性鉱物に付加剤(不純物)を加えて高い発光効
率を得る物質として知られる、例えばZn S:Cu を用
いており、そのほかZn S:Ag、Zn 2 SiO4 :M
2+、γーZn3 (PO4 2 :Mn2+、SrAl2
4:Eu2+等でも良く、蛍光物質であれば限定されな
い。次に動作について説明する。上記のような構成にお
いて、回転電極11を正、固定電極2を負として電圧を
印加すると、放電により固定電極2から電子が飛び出
し、蛍光体パターン12が発光する。放電には電圧の低
い方から、おおまかに、暗流、コロナ放流、火花と呼ば
れる形態があり、暗流を利用することで印加電圧を低く
することができ、蛍光体パターンは残光性を有するの
で、回転電極11が回転し固定電極2から遠ざかり電子
が当たらなくなっても発光を続ける。回転電極11がさ
らに回転し発光した蛍光体パターン12が光検出手段3
と対向する位置に来るとスリット4を通して光が検出さ
れる。ここで、蛍光体パターン12の配置角度をθ、光
検出回数をnとした場合、回転角度演算器7を用いて光
検出手段3より得られた検出光の光検出回数nをカウン
トし、蛍光体パターン12の配置角度θと光検出回数n
との積n×θを求めることにより回転電極11の回転角
度を知ることができる。また、本例では、光検出手段を
1つしか用いていないため回転方向を知ることが出来な
いが、複数個の光検出手段を適切に配置することにより
回転方向を知ることも可能となる。さらに、電極への印
加電圧は、電子が電極から飛び出すならばコロナ放電発
生電圧よりも低くても良く、また、長残光性を有する蛍
光物質を用いることで放電が断続的になっても良い。な
お、固定電極には本実施の形態で用いた以外にも様々な
形状が考えられ、蛍光体パターンにおいてもパターン形
状や配置位置など様々な形態が考えられる。
【0006】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば放電
のために印加する電圧を低くすることが出来るので、固
定電極の消耗が少なく、また、蛍光物質の残光を利用す
ることで断続した放電でも動作可能である放電を利用し
た回転角度検出を提供できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例を示す回転角度検出装置の斜
視図である。
【図2】 回転電極表面の蛍光体パターンの一例を示す
平面図である。
【図3】 固定電極と光検出手段の要部を示す模式図で
ある。
【図4】 従来例を示す回転角度検出装置の側面図であ
る。
【符号の説明】
1 回転体 11 回転電極 12 蛍光体パターン 2 固定電極 3 光検出手段 4 スリット 5 スリップリング 6 電源 7 回転角度演算器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転体と同一回転角で回転する円板状の
    回転電極と、この回転電極と空隙を介して対向する針状
    の固定電極と、前記回転電極と前記固定電極の間に電圧
    を印加する放電用の電源と、を備えた回転角度検出装置
    において、 前記回転電極の側面に放射状に等間隔で、且つ、同一幅
    に形成された前記固定電極からの放電により発光する蛍
    光体パターンと、 この蛍光体パターンに対向して前記固定電極の近傍に、
    且つ、略同一半径上に配設したスリットと、 このスリットに対向して前記蛍光体パターンの反対側に
    設けられ、前記スリットを通過してきた光を検出する光
    検出手段と、 前記光検出手段より得られた光の検出回数をカウントし
    て、この光検出回数と前記蛍光体パターンの配置角度と
    の積を求めることにより前記回転電極の回転角度を演算
    する回転角度演算器と、を設けたことを特徴とする回転
    角度検出装置。
  2. 【請求項2】 前記蛍光体パターンは、残光性を有する
    Zn S:Cu からなる蛍光物質で構成される請求項1に
    記載の回転角度検出装置。
JP27340697A 1997-09-19 1997-09-19 回転角度検出装置 Pending JPH1194596A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27340697A JPH1194596A (ja) 1997-09-19 1997-09-19 回転角度検出装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP27340697A JPH1194596A (ja) 1997-09-19 1997-09-19 回転角度検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1194596A true JPH1194596A (ja) 1999-04-09

Family

ID=17527453

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27340697A Pending JPH1194596A (ja) 1997-09-19 1997-09-19 回転角度検出装置

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JP (1) JPH1194596A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2014141516A1 (ja) * 2013-03-13 2017-02-16 オリンパス株式会社 光分析装置の評価方法およびファントムサンプル

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2014141516A1 (ja) * 2013-03-13 2017-02-16 オリンパス株式会社 光分析装置の評価方法およびファントムサンプル

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